「defect detection」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

To detect a defect position in which a detection of an image formed based on a detecting content of secondary particles to be radiated by irradiating the image with a charged beam is difficult.例文帳に追加

荷電ビームの照射により放出される２次粒子の検出量をもとに形成する画像からは検出が困難であった欠陥箇所を検出する。 - 特許庁

To protect an inspection coil system from a heating action caused by inspected steel to improve detection sensitivity as to a location and a laying length of a defect portion contained in an inspected material.例文帳に追加

検査コイルシステムを被検査鋼による加熱作用から保護し、被検査材料に含まれている欠陥個所の場所および延在長さに関する検出感度を改善する。 - 特許庁

To properly detect various defects by securing sufficient defect detection sensitivity regarding an optical disk device, e.g. a phase change optical disk device.例文帳に追加

本発明は、光ディスク装置に関し、例えば相変化型光ディスク装置に適用して、充分なディフェクト検出の感度を確保して、種々のディフェクトを適切に検出する。 - 特許庁

To perform precise defect detection by excluding an influence of variations in imaging, as much as possible, without correcting printing unit images to be inspected.例文帳に追加

検査対象の印刷単位画像を補正することなく、撮像時における変動の影響を可及的に排除し、精度の高い欠陥検出を行うことができる。 - 特許庁

To securely detect luminance unevenness characteristic of an object of inspection to be detected in automatic detection of a picture defect without erroneously detecting illumination unevenness.例文帳に追加

画面欠陥の自動検出において、照度ムラを誤検出することなく、検出しようとする検査対象に固有の輝度ムラを確実に検出可能にする。 - 特許庁

This method also includes a step of performing a test among the domains and implementing a second subset of the domain of the plurality of circuits provided with the dynamic defect detection test pattern.例文帳に追加

本方法はまた、ドメイン間テストを実施して、動的欠陥検出テストパターンを実装する複数の回路のドメインの第２サブセットを実行する段階を含む。 - 特許庁

Thus, the defect detection precision can be improved more in the case in which the amplitude level of the RF signal decreases, inclining toward the maximum value or the minimum value.例文帳に追加

これにより、ＲＦ信号の振幅レベルが最大値側又は最小値側に偏って低下した場合におけるデフェクト検出精度をより向上させることができる。 - 特許庁

To allow the work for irradiating a defect detection object with a radiation while detecting the defects of its solid insulator to be performed efficiently and easily without erroneous determination.例文帳に追加

欠陥検出対象物に放射線を照射しながらその固体絶縁物の欠陥を検出する作業を、効率よく且つ誤判定なく容易に実施する。 - 特許庁

To provide a defect detection method and apparatus for a wafer which can detect defective notch parts occurring at the peripheral part of a semiconductor wafer with high precision.例文帳に追加

半導体ウェハにおいて、その周縁部に発生する欠陥切欠き部分を精度よく検出することができるウェハの欠陥検出方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspecting apparatus dispensing with the coordinates convertion in a detection system with respect to a rotationally symmetric object and capable of easily performing inspection.例文帳に追加

回転対称な対称物に対して検出系での座標変換を不要とし、検査を容易に行うことを可能とした表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fluid control valve which allows for accurate detection of leakage of a fluid in a seal part due to a defect in a seal member or a dimensional error in a housing part therefor.例文帳に追加

シール部材の不良やその収容部の寸法誤差等によるシール部での流体の漏洩を、正確に検出させることができる流体制御弁を提供する。 - 特許庁

To provide a reflective mask capable of preventing deterioration of defect detection sensitivity in mask pattern inspection while reducing an influence of a flare in exposure.例文帳に追加

露光時のフレアの影響を低減しつつ、マスクパターン検査の際に欠陥検出感度の低下を防止できる反射型マスクおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a flaw detection method and flaw detector of a metallic machine component that allows automated and unmanned defect determining operation of a machine component and can achieve high efficiency and cost reduction of flaw detection, by automating the scanning of a flaw detection probe to the machine component by incorporating a flaw detection mechanism into an existing NC unit.例文帳に追加

探傷機構を既存のＮＣ装置に組み込むことによって、機械部品に対する探傷プローブの走査を自動化することにより、機械部品の欠陥判別操作を自動化、且つ、無人化することを可能にし、以て探傷検査の高効率化と低コスト化を実現し得る金属製機械部品の探傷方法及び探傷装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a detection method and a detection apparatus of stain defects that have high detection output also for a defect having a low contract or a small size, automatically determine a threshold for detection as the stain defects, based on statistical brightness data in a detected image, and further achieve the quantitative evaluation of the detected stain defects.例文帳に追加

コントラストの低い、あるいはサイズの小さい欠陥に対しても高い検出力を有するとともに、シミ欠陥として検出するための閾値を検出画像内の輝度統計データに基づいて自動的に決定し、さらに検出されたシミ欠陥の定量評価を可能にしたシミ欠陥の検出方法及びその検出装置を提供する。 - 特許庁

In the induction current detection type defect detection process, the surface of the electrophotographic photoreceptor and at least one detection electrode are relatively moved, an induction current is generated at least on one detection electrode by a potential change on the surface of the electrophotographic photoreceptor, and by detecting the induction current, the defective part of the electrophotographic photoreceptor is detected.例文帳に追加

誘導電流検出式欠陥検出工程は、電子写真感光体の表面と少なくとも１つの検知電極とを相対的に移動させ、電子写真感光体の表面の電位変化により少なくとも１つの検知電極に誘導電流を発生させ、誘導電流を検出することによって電子写真感光体の欠陥部を検出する。 - 特許庁

In the printed matter inspecting method, a periphery of a detected defect candidate is searched after performing first positional correction using a standard image and the inspected image, and whether it is a real defect is determined by performing second positional correction relating to the defect candidate determined to have high possibility of error detection caused by the geometric distortion.例文帳に追加

基準画像と検査画像を用いて第一の位置補正を行った後に、検出された欠陥候補に対してその周辺部を探索し、幾何学的歪みに起因した誤検知の可能性が高いと判定された欠陥候補に対しては、第二の位置補正を行い真の欠陥であるかを判定することを特徴とする印刷物検査方法。 - 特許庁

To provide a defect detection device capable of determining a defect with a proper criterion in accordance with the proportion of included colors, even when the defect includes a pixel of a plurality of colors, in a technique for detecting defects of a display panel, by picking up by a camera an image displayed on the display panel, including pixels of a plurality of colors such as a color LCD panel.例文帳に追加

本発明は、カラーＬＣＤパネル等の複数の色の絵素を備える表示パネルに表示された画像をカメラで撮像し、表示パネルの欠陥を検出する技術に関し、欠陥が複数の色の絵素を含む場合においても、含まれる色の割合に応じて適切な基準で判断することができる欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

This device is configured such that when a defect is detected in an optical disk, a signal input to a pickup drive part is a difference signal between the output signal of a pickup simulation circuit equivalent to a tracking error signal before the defect is detected and the output signal of the pickup simulation circuit during defect detection.例文帳に追加

本実施形態に記載のサーボ制御装置は、光ディスクにおいて欠陥が検出された場合に、ピックアップドライブ部に入力される信号が、欠陥が検出される前のトラッキングエラー信号に相当するピックアップ摸擬回路の出力信号と、欠陥検出中におけるピックアップ模擬回路の出力信号の差分信号となるような構成を有することとした。 - 特許庁

In a memory tester for detecting a defective bit by probing a memory to be measured and performing the operation of replacing the defective bit by a redundant cell in a memory to be measured, a line defect detecting circuit (10) for performing detection of a defective bit is constituted of a forward line defect detecting circuit (11) and a backward line defect detecting circuit (12).例文帳に追加

被測定対象メモリをプローブして不良ビットを検出し、当該不良ビットを被測定対象メモリ上の冗長セルへの置き換え演算を実行するメモリテスタにおいて、不良ビットの検出を実行するためのライン不良検出回路(10)を、順方向ライン不良検出回路(11)及び逆方向ライン不良検出回路(12)とで構成する。 - 特許庁

To provide an accurate and efficient defect detection method, along with a program and device, by suppressing effect of allowable expansion, contraction or deformation of an inspecting object on a detection result when a defect on a contour of the inspecting object is detected using an image processing technology.例文帳に追加

画像処理技術を用いて検査対象物の輪郭線上の欠陥を検出するにあたり、検出結果に対する、前記検査対象物の許容される膨張、収縮、或いは変形の影響を抑制し、かつ、計算処理量を少なくすることで、高精度かつ効率的な欠陥検出方法、プログラム、及び装置を提供する。 - 特許庁

A disk physical distortion correction signal generating means 11 outputs a signal by which a phase compensation signal S8 is obtained through an LPF in a normal period as a disk physical distortion correction signal S11 and outputs an output signal of the LPF, sampled at a defect detection start as the signal S11 during the defect detection period.例文帳に追加

ディスク物理的歪補正信号発生手段１１は、通常期間に位相補償信号Ｓ８がＬＰＦを介して得られる信号をディスク物理的歪補正信号Ｓ１１として出力し、欠陥検出期間は欠陥検出開始時にサンプリングしたＬＰＦの出力信号をディスク物理的歪補正信号Ｓ１１として出力する。 - 特許庁

The use of a waveform which reduces an ejection velocity to be lower than the recording waveform is effective for defect detection by an abnormality cause in the nozzle, and the use of a waveform which causes an amount of liquid raised from the nozzle to be larger than the recording wave form is effective for defect detection by an abnormality cause outside the nozzle.例文帳に追加

異常ノズル検知用波形として、記録用波形よりも吐出速度を低下させる波形を用いることにより、ノズル内部の異常原因による不良検知に効果的である、また、記録用波形よりもノズルからの液の盛り上がり量が大きくなる波形を用いることにより、ノズル外部の異常原因による不良検知に効果的である。 - 特許庁

To provide a practical method and device for detecting a small surface irregularity defect, capable of detecting surely a small concave and convex defect having a contour of the irregularity of several micrometers which is difficult to an automatic detection like the detection by a grinding stone, in an object to be inspected with a coarse surface roughness and a visual inspection which is usually difficult.例文帳に追加

表面粗さの粗い被検査対象物において通常視認困難で、砥石がけ検査により検出しているような自動検出が困難な凹凸が数μm程度でなだらかな輪郭を持つ微小凹凸性疵を確実に検出できる実用的な微小凹凸表面欠陥の検出方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a defect detection apparatus capable of shortening an imaging tact as further as possible when detecting a defect in a plane display panel such as a liquid crystal panel in which pixels of a plurality of colors constituting a picture element are arranged in a matrix shape through pixel displacement.例文帳に追加

絵素を構成する複数色の画素がマトリクス状に配列された液晶パネルなどの平面表示パネルにおける欠陥を画素ずらしによって検出する場合に、撮像タクトを可及的に短縮することができる欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

A defect detecting device 1 compares a bottom hold signal S2 obtained by detecting a bottom level of a peak hold signal S1 in which a peak level of an input RF signal is detected with a voltage threshold value Vth in a comparing circuit 12, and outputs a defect detection signal.例文帳に追加

欠陥検出装置１は、入力されたＲＦ信号のピークレベルを検出したピークホールド信号Ｓ１のボトムレベルを検出して得られるボトムホールド信号Ｓ２と、電圧閾値Ｖｔｈとを比較回路１２において比較し、欠陥検出信号を出力する。 - 特許庁

In this device equipped with an illumination spot illuminance distribution data table for storing the illuminance distribution in the illumination spot, the coordinate position and the particle size calculation of the foreign matter or the defect are performed based on detection light intensity data from the foreign matter or the defect and the illumination spot illuminance distribution data table.例文帳に追加

照明スポット内の照度分布を格納する照明スポット照度分布データテーブルを備え、異物・欠陥からの検出光強度データと、この照明スポット照度分布データテーブルに基づいて異物・欠陥の座標位置および粒径算出を行う。 - 特許庁

By employing the functions of the pixel detection circuit 113 and the defect correction circuit 114 in a composite way, the designation of a marking pixel is made possible in addition to defect correction and additional functions such as marking of the optional pixel with respect to the image signal and area designation are realized.例文帳に追加

このような画素検出回路１１３および欠陥補正回路１１４の機能を複合的に用いて、欠陥補正だけでなく、マーキング用の画素指定を可能とし、画像信号に対する任意画素のマーキングや領域指定等の付加機能を実現する。 - 特許庁

To provide a defect detecting device for highly accurately detecting a defective pixel, even in a photographing state without camera shake or even for a subject having a high frequency component, without requiring a camera shake detector, and to provide a defect detection method.例文帳に追加

手振れ検出器を必要とせず、手振れがない撮影状態においても、また高周波成分を持った被写体に対しても、高精度に欠陥画素を検出可能な欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an object-shape evaluating device which properly performs congruence transformation on a measurement point group and a reference point group and reducing a defect incorrect detection caused by mold correction, when detecting a defect on the basis of the shift between the reference point group and the measurement point group.例文帳に追加

測定点群と基準点群との合同変換が適正に行われるとともに、基準点群と測定点群とのずれから欠陥を検出する際に型修正に起因する欠陥誤検出が低減される物体形状評価装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus for substrates, which substantially improves accuracy in defect inspection when light reflected from substrates are detected to inspect defects of the substrates on the basis of results of the detection despite a simple constitution and having cost advantage.例文帳に追加

基材からの反射光を検出してその結果に基づいて基材の欠陥検査をおこなうにあたり、構成が簡易であると共にコスト的に有利でありながら、欠陥検査の精度を著しく向上することができる基材の欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To avoid a failure due to a fact that a normal pixel erroneously detected from some reasons in the case of defect detection or a temporarily generated defective pixel are additionally registered as a defective pixel by realizing optimal control of additional registration regarding detected defect data.例文帳に追加

検出欠陥データに関する最適な追記登録制御を実現し、欠陥検出時に何らかの原因で誤って検出された正常画素あるいは一時的に生じた欠陥画素を欠陥画素として追加登録してしまうことによる不具合を回避する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a substrate, which can reduce the number of pseudo-defects that are erroneously detected and detect a real defect that should normally be detected without deteriorating a defect detection sensitivity, and a method for creating a filter image for the substrate inspection.例文帳に追加

誤って検出される擬似欠陥の数を低減できるとともに、欠陥の検出感度を落とすことなく、本来検出されるべき真の欠陥を検出できる基板検査方法及びその基板検査用のフィルタ画像の画像作成方法を提供する。 - 特許庁

The control part 401 discriminates a scanning finished domain from a scanning unfinished domain, based on the defect inspection result data, displays the result on a monitor 402, discriminates a defect detection position in the scanning finished domain, and displays the result on the monitor.例文帳に追加

制御部４０１は、欠陥検査結果データに基づいて、走査終了領域及び走査未終了領域を識別して、モニタ４０２上に表示させるとともに、走査終了領域中の欠陥検出位置を識別して、モニタ上に表示させる。 - 特許庁

To provide a verifying method for verifying whether defect managing area(DMA) information is to be normally generated or updated after reinitialization while a defect list is removed without detection through disk recording/reproducing device and to provide a test device for performing the method.例文帳に追加

ディスク記録及び再生装置を通じ検定せずに欠陥リストを除去しつつ再初期化後に、欠陥管理領域（ＤＭＡ）情報を正常に生成または更新するかを検証するための検証方法及びこれを行うためのテスト装置を開示する。 - 特許庁

To provide an inexpensive quality control system for a manufacturing line which realizes measurement of the operation condition of manufacturing equipment thereby facilitating detection of a step where defect occurs in a product and facilitating pursuit of failure of equipment causing the defect and which enables Ethernet (R) to be used.例文帳に追加

製造装置の稼動状態の測定が可能で、製品不良の発生した工程の発見や、不良原因となった装置不具合の追求が容易かつ、イーサネット（登録商標）の使用が可能で安価な製造ラインの品質管理システムを提供する。 - 特許庁

Further, the controller 212 stores signal levels of the defective pixels, and carries out conversion of the signal level in response to each reading method so that detection of a defect by one reading method permits defect correction by a plurality of the reading methods as its control.例文帳に追加

また、コントローラ２１２は、欠陥画素の信号レベルを記憶して、各読み出し方法に応じてその信号レベルを変換することにより、１つの読み出し方法による欠陥検出によって、複数の読み出し方法の欠陥補正が行えるように制御する。 - 特許庁

The presence of the ultrasonic wave (defect signal) is evaluated by fixing the ultrasonic flaw detection sensor installing fixture, by installing the ultrasonic sensor in the same position as that in the acquisition of the shape signal, and by acquiring the ultrasonic flaw detection to be compared.例文帳に追加

センサの移動の自由度を回転移動と平行移動に限定し、移動量を定量評価可能なよう目盛をつけた超音波探傷センサ設置ジグを、無欠陥で検査対象と同じサイズの基準試験片に固定して形状エコーを取得する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for inspecting a defect of a steel plate surface, capable of detecting a defective part (abnormal part), while suppressing over-detection/un-detection, when inspecting a steel plate as a subject having large variations in a surface property, including a color tone.例文帳に追加

色調まで含め、表面性状変動が大きい鋼板を検査対象にして、過検出・未検出を抑えた、欠陥部（異常部）の検出を行うことができる、鋼板表面欠陥検査方法および装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

The optical information recording and reproducing apparatus of this invention is provided with a defect detection section and a switch section, and the switch section interrupts input of an abnormal jump detection signal to a recording and reproducing signal switching circuit for a time while a light spot detects a defective part and for a prescribed time after passing through the defective part.例文帳に追加

欠陥検出部とスイッチ部を設けて、光スポットが欠陥部を検出している間と欠陥部通過後の所定時間は、スイッチ部によりアブノーマルジャンプ検出信号の記録再生信号切り換え回路への入力を断つ。 - 特許庁

To provide an ink composition for printing a detection mark which is free from a printing defect of a detection mark arranged on the back even in the transfer of a releasing agent of a dye receiving layer to the back of the thermal transfer image receiving sheet, and to provide the thermal transfer image receiving sheet with a detection mark by using the ink composition.例文帳に追加

熱転写受像シートの裏面側に染料受容層の離型剤が転移しても、裏面側に設ける検知マークの印刷不良を防止することができる裏面の検知マーク印刷用インキ組成物と、それを用いて検知マークが形成された熱転写受像シートを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a defect inspection device wherein detection sensitivity and throughput are improved by optimizing shape of illumination when detecting a defect such as foreign matter generated in a production process for forming a pattern on a substrate to manufacture a target object, and to provide a method therefor.例文帳に追加

基板上にパターンを形成し対象物を製作して行く製造工程で発生する異物等の欠陥を検出する際に、照明の形状を最適化することにより、検出感度およびスループットを向上する欠陥検査装置およびその方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a defective pixel detection method and an image processing apparatus, which can accurately detect a position, in which image correction is required, to accurately perform image correction even in the case where normal pixels adjacent to a line defect generate abnormal output signals due to an influence of the line defect.例文帳に追加

線欠陥の影響により、隣接する正常な画素が異常な出力信号を発生する場合でも、画像補正が必要な箇所を正確に検出し、正確に画像補正することができる欠陥画素検出方法および画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method can obtain existence or a kind of a defect of thread comprising a bundle of many continuous single fibers, on an online basis regardless of existence of twist of the thread, and performing speedily quality control of a thread package manufactured by a thread manufacturing process.例文帳に追加

多数の連続した単繊維の束からなる糸条の欠陥の有無や種類を、糸条の撚りの有無にかかわらずオンラインで把握できかつ糸条の製造工程により製造される糸条パッケージの品質管理を、迅速に行うことができる欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

By having a structure in which a perfect Cr shading part is a self-alignment type, a dicing mark part is a Cr recessing type and a pattern part is a HT pattern, the resist shape on the wafer after photomask pattern exposure can be improved and the defect detection sensitivity in the photomask defect inspection can be sufficiently obtained.例文帳に追加

完全Ｃｒ遮光部はセルフアライン型、ダイシングマーク部はＣｒ後退型、パターン部はＨＴパターンという構造を有することにより、フォトマスクパターン露光後のウェーハ上のレジスト形状を良好にし、かつフォトマスク欠陥検査時における欠陥検出感度を十分に得ることができる。 - 特許庁

LINEAR DEFECT DETECTOR, SEMICONDUCTOR SUBSTRATE MANUFACTURING DEVICE, LINEAR DEFECT DETECTION METHOD, SEMICONDUCTOR SUBSTRATE MANUFACTURING METHOD, PROGRAM FOR CAUSING COMPUTER TO FUNCTION AS THE DETECTOR OR THE MANUFACTURING DEVICE, AND STORAGE MEDIUM FOR STORING THE PROGRAM THEREIN例文帳に追加

線状の欠陥の検出装置および半導体基板の製造装置、線状の欠陥の検出方法および半導体基板の製造方法、コンピュータを当該検出装置または当該製造装置として機能させるためのプログラム、ならびに当該プログラムを格納した記録媒体 - 特許庁