「defect detection」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a pinball game machine in which an abnormal operation is not started even when an element defect or disconnection or the like occurs in the detection part of a proximity switch or the like.例文帳に追加

近接スイッチなどの検出部に素子不良や断線などが生じても、異常動作が開始されることのない弾球遊技機を提供する。 - 特許庁

To allow defect detection with a high S/N ratio without using plural magnetizers, and without adding a complicated function.例文帳に追加

複数の磁化器を使用せず、かつ複雑な機能を付加することなく、Ｓ／Ｎ日の高い欠陥検出能を有する漏洩磁束探傷法を提供する。 - 特許庁

To provide an alignment apparatus which easily and promptly implements alignment of design data and measurement data, a defect detection device and an alignment method.例文帳に追加

容易に、かつ迅速に設計データと計測データとの位置合わせを実施する位置合わせ装置、欠陥検出装置、および位置合わせ方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus capable of detecting a focusing position of an oblique detection system and a position of illumination with high accuracy, and setting the position of illumination with high accuracy.例文帳に追加

斜方検出系の合焦位置と照明の位置とを高精度に検出し、照明の位置を高精度に設定可能な欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

To determine a binarization threshold, coping with a brightness fluctuation in various magnetic particle flaw inspection images, reduce misdetections, and attain a high defect detection rate.例文帳に追加

様々な磁粉探傷画像の輝度変動に対応可能な２値化のしきい値の決定して、誤検出を少なくすると共に高い欠陥検出率を実現する。 - 特許庁

As a result, a detection defect of the cover can be prevented and a decrease in sealing performance between the container body and cover can be prevented.例文帳に追加

その結果、蓋体の検出不良を防止することができると共に、容器本体と蓋体との間のシール性能の低下を防止することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device test circuit where a defect detection rate has been improved and a semiconductor memory device where a repair efficiency has been improved.例文帳に追加

不良検出率を向上させた半導体メモリ装置のテスト回路及びリペア効率性を向上させた半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁

To suppress effectively generation of pseudo-defects, in defect detection for detecting pattern defects on a sample surface, by inspecting a photographed image on the sample surface.例文帳に追加

試料表面の撮像画像を検査して試料表面のパターンの欠陥を検出する欠陥検出において疑似欠陥の発生を効果的に抑制する。 - 特許庁

To easily and quickly set or change an optimum defect detection level according to the state change in a glass substrate, even if the state of the glass substrate is changed.例文帳に追加

ガラス基板の状態が変化しても、ガラス基板の状態変化に応じた最適な欠陥検出レベルを容易にかつ短時間に設定変更すること。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a multilayer substrate with high precision that reduces a permeation defect of paste, shortens a detection time for a position shift, and obtains efficiency.例文帳に追加

ペーストの滲み不良の発生の低減を位置ずれの検出時間の短縮と効率化を可能にする、高精度な多層基板の製造法を提供する。 - 特許庁

To obtain a method and apparatus for inspecting the appearance of a semiconductor device which can improve defect detection accuracy by optimumly determining the segmentation of pixels.例文帳に追加

各画素のセグメント化を最適に決定することにより欠陥検出精度を向上させた半導体装置の外観検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

A detection part 6 detects defect of a wiring pattern 11 based on the image data acquired by imaging the printed board 1 using an imaging part 4.例文帳に追加

そして、プリント基板１を撮像部４により撮像して得られた画像データに基づいて検出部６によって配線パターン１１の欠陥を検出する。 - 特許庁

By computing two signals of them, it is possible to cancel a noise component commonly contained in them and perform defect detection with a satisfactory signal-to-noise ratio.例文帳に追加

この２つの信号を演算することにより、両者に共通に含まれるノイズ成分をキャンセルすることができ、Ｓ／Ｎ比の良い欠陥検出が可能である。 - 特許庁

To correctly inspect the discharge state of a nozzle without requiring a complicated mechanism and to enhance treating efficiency by performing detection before occurrence of the defect of the nozzle.例文帳に追加

複雑な機構を要することなくノズルの吐出状態を正確に検査し、ノズルが不良になる前に検出して処理効率の向上を図る。 - 特許庁

To cope with detection/classification of a defect on different patterns photographed at different places of an inspection object, and to improve accuracy of an automatic classification result.例文帳に追加

検査対象物の異なる場所で撮影した違うパターン上の欠陥の検出・分類に対応し、なおかつ自動分類結果の精度を向上させる。 - 特許庁

To provide a defect detection method and device which can easily detect defects, and can detect even defects at a corner part of an object to be inspected.例文帳に追加

被検査物の隅部であっても欠陥を検出でき、かつ、欠陥を容易に検出することができる欠陥検出方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pixel defect detection method that can properly detect pixel defects, while taking characteristics of pixels into account, and to provide an electronic camera adopting the method.例文帳に追加

画素の特性を考慮した上で、適切な画素欠陥を検出できる欠陥画素検出方法及びそれを用いた電子カメラを提供する。 - 特許庁

To suppress deterioration in sensitivity in imaging without causing a state similar to a pixel defect in the imaging while focus state detection is possible.例文帳に追加

焦点検出が可能でありながら、撮像時に画素欠陥と同様の状態を引き起こすことがなく、しかも、撮像時の感度の低下を抑制する。 - 特許庁

In the case that the read control part 112 detects the transport defect of the original, the output processing part 116 displays the detection result at the display part 118 or the like.例文帳に追加

出力処理部１１６は、読取制御部１１２が原稿の搬送不良を検出した場合に、その結果を表示部１１８等に表示させる。 - 特許庁

To provide an aging device capable of effectively and efficiently implementing detection of a deterioration characteristic of an organic EL element and a defect of a pixel.例文帳に追加

有機ＥＬ素子の劣化特性や画素の欠陥検出を従来装置に比して効果的かつ効率的に実施できるエージング装置が求められる。 - 特許庁

To evaluate a defect signal from data in flaw detection tests directly and easily, and to reduce inspection time without being affected by noise generated in lift-off.例文帳に追加

探傷試験時のデータから直接簡便に欠陥信号を評価し、リフトオフ時に生ずるノイズに影響されず、かつ、検査時間の短縮を実現する。 - 特許庁

To efficiently implement an appearance inspection for a transfer mold formed from a translucent material such as glass, etc., without degrading a detection rate of defect locations.例文帳に追加

ガラス等の光を透過する素材で作成された転写用型の外観検査を、不具合箇所の検出率を低下させることなく、効率よく行う。 - 特許庁

If the result of processing in a co-processor which receives a calculation instruction is not correct, the co-processor asserts an exceptional flag, and outputs it to a defect detection part.例文帳に追加

たとえば、演算命令を受信したコプロセッサでの処理結果が誤りである場合、そのコプロセッサは例外フラグをアサートし、不良検出部に出力する。 - 特許庁

To realize cost and space reduction as well as productivity improvement by shortening detection time for a two-ply defect and a crack, or a breakage.例文帳に追加

二枚重ね不良及び割れ・欠け不良の検出時間を短縮し生産性を向上させるとともに、製造原価のコストダウン及び省スペース化を図る。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for which a threshold can be set so as to match an illuminance distribution of inspection light detected by a detection optical system.例文帳に追加

検出光学系で検出された検査光の照度分布に適合するようにしきい値の設定が可能な欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

Namely, a defect detection reliability judging part 112e calculates the average value of outputs (dark electric charge level) of 64×64 pixels at a center part of an image pickup area.例文帳に追加

すなわち、欠陥検出信頼性判定部１１２ｅは、「撮像エリアの中央部６４×６４画素の出力（暗電荷レベル）の平均値を求める。 - 特許庁

To keep detection precision as to foreign matter, a defect, etc., uniform above a constant level and to enable highly reliable inspection.例文帳に追加

異物や欠陥等の検出精度を均一、かつ一定の水準以上に維持できるようにすると共に、信頼性の高い検査をできるようにする。 - 特許庁

The coordinates conversion in the detection system with respect to the rotationally symmetric object 11 is dispensed with and the surface defect of the object can be detected at a high speed.例文帳に追加

回転対称な対象物１１に対して検出系での座標変換を不要とし、高速に表面欠陥を検出することが可能となる。 - 特許庁

To provide a pattern inspecting apparatus that has less erroneous detection and enables relatively easy defect inspection even in a wiring pattern having different wiring widths.例文帳に追加

異なる配線幅からなる配線パターンであっても、誤検出が少なく、比較的容易な欠陥検査を可能とするパターン検査装置を提供する。 - 特許庁

To correctly detect a synchronizing signal and also to suppress the deterioration of wrong detection probability small even when a large defect exists in a synchronizing signal part.例文帳に追加

同期信号部に大きなディフェクトが存在する場合でも同期信号を正しく検出すると共に誤検出確率の悪化を小さく抑える。 - 特許庁

This print defect automatic detection device 1 is equipped with a video camera 55 having a varifocal lens 56, and has an illumination unit 10 automatically movable on an arm 30.例文帳に追加

印刷欠陥自動検出装置（１）は、可変焦点レンズ（56）を有するビデオカメラ（55）を備えていて、アーム（30）上で自動的に運動できる照明ユニット（10）を有する。 - 特許庁

Then, on the basis of distance signals from the exciting coils 18, flaw detection signals from the respective detecting coils 20 are corrected, and a defect is judged on the basis of their correction signals.例文帳に追加

そして、励磁コイル１８からの距離信号を基に、各検知コイル２０からの探傷信号を補正した後、その補正信号を基に欠陥判定する。 - 特許庁

To solve the problem that there is no ultrasonic flaw detecting device which can easily determine a defect, in the case where the inspection result, in ultrasonic flaw detection by TOFD method, is evaluated.例文帳に追加

ＴＯＦＤ法による超音波探傷において、その検査結果を評価する場合に、容易に欠陥を判定できる超音波探傷装置がない。 - 特許庁

A defect on the inspection object 6 is inspected based on a detection signal obtained by detecting the light having passed through the inspection object 6 by a monitor camera 8.例文帳に追加

検査対象物６を経た光をモニタカメラ８で検出して得られる検出信号に基づき、検査対象物６における欠陥を検査する。 - 特許庁

In the defect detection method, a captured image creating process S1 of an inspection region captures an image of a to-be-inspected object and creates a captured image.例文帳に追加

本発明の欠陥検出方法において、検査領域の撮像画像作成工程Ｓ１は、検査対象物を撮像し、撮像画像を作成する。 - 特許庁

A defect such as a chip or crack is detected based on the variation of the first and second detection positions when the inspection part is scanned along the edge.例文帳に追加

そしてエッジに沿って検査部位を走査したときの第１および第２の検出位置の変化から欠けやひび割れ等の欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a pinhole detection method and a pinhole detection device detecting a pinhole defect highly accurately even in the case of a film whose pinhole is difficult to be detected by a conventional pinhole detection method, such as a transparent or translucent film formed on an opaque film.例文帳に追加

不透明の膜上に形成された透明・半透明のフィルムのように従来のピンホール検出方法では検出が困難なフィルムにおいても、ピンホール欠陥を高精度に検出するピンホール検出方法及びピンホール検出装置を提供する。 - 特許庁

A same defect is lit in plural times in a single inspection by an illumination optical system performing linear lighting and a detection optical system dividing illuminated region by a line sensor and performing detection, and scattering light is added, and thereby, the detection sensitivity is improved.例文帳に追加

線状照明を行う照明光学系、被照明領域をラインセンサで分割して検出する検出光学系により、一度の検査で同一欠陥を複数回照明し、それらの散乱光を加算することにより検出感度を向上させる。 - 特許庁

An image processing/defect detection part 300 receives image data acquired by scanning on a wafer W from an image input part 72, determines whether a defect exists by comparing the image data with reference image data, and outputs defect inspection result data, showing the result to a control part 401 of a PC terminal.例文帳に追加

画像処理／欠陥検出部３００は、ウエハＷ上の走査により得られた画像データを画像入力部７２から受け取り、該画像データを参照画像データと対比して欠陥が存在するか否かを判定し、それを表す欠陥検査結果データをＰＣ端末の制御部４０１に出力する。 - 特許庁

Defect/image information output from an inspection device is butted on ADR/ADC information output from an observation means on a data processor, they are listed and displayed, and a relation between the defect characteristic amount and average detection ratio is displayed using the data, and the defect characteristic amount and the number of detections are displayed every review category.例文帳に追加

検査装置から出力される欠陥・画像情報と、観察装置から出力されるADR・ADC情報とをデータ処理装置上で突き合わせをし、一覧表示させると共に、そのデータを用いて欠陥特徴量と平均検出率の関係や、レビューカテゴリごとにその欠陥特徴量と検出数を示す。 - 特許庁

It lowers detection sensitivity from a case of comparing and inspecting other parts when detecting defect of the OPC pattern by comparing and inspecting a detection image obtained to scan the optical proximity effect mask with the reference image 3'.例文帳に追加

光学近接効果マスクをスキャンして得た検出画像と、参照画像３’とを比較検査することにより、ＯＰＣパターンの欠陥検査を行う際に、他の部分の比較検査する場合よりも検査感度を下げる。 - 特許庁

The output circuit 39 outputs the defect presence detection signal to a loom control computer Co in response to the mulfunction detection signal outputted from a reference circuit 37, and is simultaneously kept in an inspection-nullifying state.例文帳に追加

出力回路３９は、比較回路３７から出力される異常検出信号の入力に応じて欠点有検出信号を織機制御コンピュータＣｏに出力すると共に、検反無効化状態に入る。 - 特許庁

To provide an optical disk device which has high noise resistance so as not to interfere with detection of an LPP and has excellent detection accuracy of the LPP as a result even for a poor-quality optical disk having LPP-shaped noise in terms of a signal caused by defect of a land part.例文帳に追加

ランド部の不良による、信号的にはＬＰＰ状のノイズのある粗悪な光ディスクにおいても、ＬＰＰの検出に支障のないようなノイズ耐性を高くし、ＬＰＰの検出精度を上げる。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detection probe for a pulsed eddy current flaw detector inspecting magnetic materials, such as carbon steel, capable of detecting defects inherent in an inspection object at a high resolution, while maintaining defect detection sensitivity.例文帳に追加

炭素鋼等の磁性材に対する検査を行うパルス渦電流探傷装置の渦電流探傷プルーブにおいて、被検査体に内在する欠陥を、欠陥検出感度を維持しつつ高分解能で検出する。 - 特許庁

Inspection systems, circuits and methods are also provided to enhance defect detection by addressing saturation levels of the amplifier and analog-digital circuitry as a limiting factor of the measurement detection range of an inspection system.例文帳に追加

検査システムの測定検出範囲の制限要因として増幅器及びアナログ・デジタル回路の飽和レベルに対処することによって欠陥検出を強化するための検査システム、回路及び方法も提供される。 - 特許庁