「defect detection」に関連した英語例文の一覧と使い方(21ページ目) - Weblio英語例文検索

This defect detection method of the roller bearing by torque monitoring is a method for detecting a defect on either or both of the rolling contact surface of an outer ring and the roller in the roller bearing equipped with the outer ring and a plurality of rollers rolling along the rolling contact surface of the outer ring.例文帳に追加

この発明のトルク監視によるころ軸受の欠陥検出方法は、外輪およびこの外輪の転走面を転動する複数のころを備えたころ軸受において、前記外輪の転走面およびころのいずれか一方または両方の欠陥を検出する方法である。 - 特許庁

To provide a detection method for medium defect of information storage device by which a minute medium defect is surely detected, and an information storage device having error-correcting ability.例文帳に追加

エラー訂正能力をもつ情報記憶装置の媒体の欠陥を検出するための媒体欠陥検出方法及び情報記憶装置に関し、微小な媒体欠陥を確実に検出できる媒体欠陥検出方法及び情報記憶装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Since defect detection is performed by utilizing a focus error signal and an index signal which are used in the master disk cutting machine 10, the master disk defect measuring device 50 can be easily installed in the master disk cutting machine 10 without incurring large scale reconstruction.例文帳に追加

本発明によれば、原盤カッティング機１０で用いられているフォーカスエラー信号及びインデックス信号を利用してディフェクトの検出を行うため、大幅な改造を行わずとも原盤ディフェクト測定装置５０を原盤カッティング機１０に容易に設置することができる。 - 特許庁

To provide an inspection device using a charged particle beam, capable of accurately detecting a defect hard to detect by an optical image by using an electron beam and of reducing erroneous detection of the defect without degrading inspection resolution by reducing noise of the inspection image causing trouble at that time.例文帳に追加

光学画像では検出困難な欠陥を電子線を用いて高精度に検出するとともに、その際問題となる検査画像のノイズを低減して、検査分解能をさげることなく欠陥の誤検出を低減することができる荷電粒子線を用いた検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a signal detecting circuit capable of detecting the defect at the same detection level even when the defect is detected on either the inner periphery or the outer periphery of a disk and also capable of detecting a mirror part even when the attenuation amount of an RF signal in the case of the mirror is less than that of a CD or DVD like the case of a DVD-R or DDCD.例文帳に追加

ディスクの内周においても外周においてもディフェクト検出の際に同じ検出レベルで検出することができ、また、DVD-RやDDCDのようにミラー時のRF信号の減衰量がCDやDVDよりも小さい場合にもミラー部を検出することができる信号検出回路を提供する。 - 特許庁

To obtain an unevenness defect detection method for enhancing unevenness constituents only and detecting unevenness more reliably, to provide a device for detecting unevenness defects automatically, and to provide an inspection system, or the like.例文帳に追加

ムラ成分だけを強調でき、より確実なムラ検出を行うことができるようなムラ欠陥検出方法、自動的にムラ欠陥検出を行うための装置、検査システム等を得る。 - 特許庁

To provide an eddy current examination method and an eddy current examination sensor capable of improving detection accuracy relative to a defect having a possibility of existing on the inspection surface of a work.例文帳に追加

ワークの被検査面に存在し得る欠陥に対する検出精度を向上させることができる渦流探傷方法、渦流探傷センサを提供することを課題とするにある。 - 特許庁

To shorten inspection time, also to contrive the effective use of space in a works and to perform exact inspection by enabling in-line detection of the internal defect of a wire.例文帳に追加

線材の内部欠陥をインラインで検出し得るようにすることで、検査時間を短縮すると共に工場内でのスペースの有効利用を図ることができ、また正確な検査を行なう。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a reflection type mask blank that can eliminate a decrease in yield due to discrepancy between the detection limit of a defect on a substrate surface and a demand for the number of defects of an EUV mask blank.例文帳に追加

基板表面の欠点の検出限界と、ＥＵＶマスクブランクの欠点数に関する要求とのずれによる歩留りの低下を解消することができるマスクブランクの製造方法。 - 特許庁

To provide an image inspecting device for deciding the quality of an imaged image by comparing the imaged image with a reference image to improve the positioning of both images or the precision of image defect detection.例文帳に追加

撮像画像と基準画像を比較して撮像画像の良否を判定する画像検査装置において、両画像の位置合わせや画像欠陥検出の精度が向上するようにする。 - 特許庁

Light is emitted from the light source with the light receiving space 42 sealed, and based on a detection result by the light receiving device at that time, presence/absence of a defect of the sheet metal workpiece is inspected.例文帳に追加

そして、受光空間４２を密閉した状態で光源から光を照射し、このときの受光機の検知結果に基づいて、板金ワークの欠陥の有無を検査する。 - 特許庁

At the time of assembling a camera, a finger or other members are prevented from being brought into contact with the brush member 5, so that defect in the detection of the lens position information caused by the deformation of the brush member 5 is restrained.例文帳に追加

カメラ組み立て時に、指や他の部材がブラシ部材５に接触することがなく、ブラシ部材５の変形によるレンズ位置情報の検出不良の発生が抑えられる。 - 特許庁

Then, since the imaging device 13 is in the status that light does not enter by the light blocking device 12b, all black images are photographed in the meantime, and the images are outputted to a defect detection unit 15.例文帳に追加

その後、撮像素子１３は遮光装置１２ｂにより光が入らない状態となるので、この間に全黒画像を撮像し、この画像を欠陥検出部１５に出力する。 - 特許庁

The apparatus 100 detects a defect on the surface of the semiconductor chip 1 from the input image signal, and determines based on a result of detection whether or not the semiconductor chip is defective.例文帳に追加

画像処理／制御装置１００は、入力した画像信号から半導体チップ１の表面の欠陥を検出し、検出結果に基づいて半導体チップの合否を判断する。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus, an image processing method, an image processing program, and a defect detection apparatus capable of detecting a circular part with high accuracy from a captured image of an inspection target.例文帳に追加

被検査物の撮像画像から円形状の部分を高精度に検出できる画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラム、及び欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁

To facilitate performing defect detection for a pixel at an image capturing apparatus having a solid-state imaging object with a plurality of pixels, without hindering improvement in the speed and without an increase in cost.例文帳に追加

複数の画素を備える固体撮像体を有する撮像装置において、高速化の妨げになることなく、しかもコストアップすることなく、容易に画素の欠陥検出を行う。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus capable of performing feedback control by the detection of an image on recording paper in arbitrary timing, while improving such a defect that the recording paper of a user is wastefully used.例文帳に追加

ユーザーの記録紙を無駄にしてしまうという欠点を改善しつつ，任意のタイミングで記録紙上画像検知によるフィードバック制御を行える画像形成装置を提供する． - 特許庁

To reduce noise due to a circuit pattern for performing highly sensitive detection of foreign matter or a defect causing real damage on a test object having a transparent film such as an oxidation film.例文帳に追加

酸化膜などの透明膜が存在する被検査対象に対して、回路パターンに起因するノイズを低減させることで、実害になる異物又は欠陥を高感度に検出可能とする。 - 特許庁

An ultrasonic wave is allowed to enter vertically to the taper part 14i of the metal pipe bonded body 10, and reflected echo reflected by the taper part 14i is detected (first defect detection process).例文帳に追加

金属管接合体１０のテーパ部１４_ｉに対して垂直に超音波を入射し、テーパ部１４_ｉで反射した反射エコーを検出する（第１欠陥検出工程）。 - 特許庁

To provide a method for inspecting the cleaning performance of a blank material cleaning device where constitution is made simple, so as to suppress the increase of cost, and further, the swift and secure detection of a cleaning defect is performed.例文帳に追加

ブランク材洗浄装置の洗浄性能検査方法において、簡素な構成としてコストアップを抑えた上で、迅速かつ確実な洗浄不良の検出を可能とする。 - 特許庁

To provide an electron beam type inspecting device which can actualize its original defect detecting performance without being affected by electric noise nor decreasing the detection speed.例文帳に追加

電気的なノイズの影響を受けないで、しかも検出速度の低下をさせることなく、本来の欠陥検出性能を実現できるようにした電子線式検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection method capable of detecting surely a micro internal defect, irrespective of a cross-sectional dimension different in every inspected material, and an ultrasonic flaw detector used therefor.例文帳に追加

被検査材ごとの異なる断面寸法に拘わらず、微小な内部欠陥を確実に検出できる超音波探傷方法、およびこれに用いる超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁

An operation point F(t) of a detection operation for detecting the defect of a moving body 1 is synchronized with a position point G(t(X0)) when the moving body 1 is located at a specific movement position X0.例文帳に追加

動体１の欠陥を検出するための検出動作の動作時点Ｆ（ｔ）とその動体１が特定の運動位置Ｘｏにある時の位置時点Ｇ（ｔ（Ｘｏ））を同期させる。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for inspecting an external form of a lumber product, capable of automating a sensor-based detection of a defect of a surface-machined lumber product and improving production efficiency.例文帳に追加

表面が加工された製材品の欠陥部をセンサによって検出して自動化を図り、生産効率を高めるようにした製材品の外形検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To enable detection of a defect in a conductive pattern portion that faces an electrode, in a circuit pattern inspection device using the electrode capacitive-coupled to a conductor pattern in a non-contact state.例文帳に追加

非接触で導体パターンに容量結合する電極を用いた回路パターン検査装置において、電極と対向する導電パターン部分の欠陥を検出可能にする。 - 特許庁

This method includes a step of performing a test in a domain and implementing a first subset of a domain of a plurality of circuits provided with a dynamic defect detection test pattern.例文帳に追加

１つの実施形態では、方法は、ドメイン内テストを実施して、動的欠陥検出テストパターンを実装する複数の回路のドメインの第１サブセットを実行する段階を含む。 - 特許庁

Moreover, it prepares a detection unit 24 which detects a defect of pixels included in the imaging elements as a defective pixel based on the pixel values of the digital image signals synchronously added for each line.例文帳に追加

また、ライン毎に同期加算されたデジタル画像信号の画素値に基づいて、撮像素子に含まれる画素の欠陥を欠陥画素として検出する検出部２４を備える。 - 特許庁

Methods and devices are described using different defect detection standards to detect and map defects of different sizes and in specific regions that can affect a drive operation.例文帳に追加

サイズが異なり、特定の領域においてドライブ動作に影響し得る欠陥を検出してマップするために、異なる欠陥検出基準を用いる方法及び装置が説明される。 - 特許庁

To provide a water leakage detecting device for endoscopes for automatically performing quick and accurate detection of water leakage even at a place of the leakage due to a defect such as tiny pinholes.例文帳に追加

微小なピンホール等の欠陥による漏洩箇所であっても迅速かつ正確な漏水検知を自動化して行うことのできる内視鏡の漏水検知装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus improving image uniformity and contrast quality in detection of defects in a patterned semiconductor substrate by a charged particle utilization type defect inspection device.例文帳に追加

帯電粒子利用型欠陥検査装置によるパターン形成ずみの半導体基板の欠陥の検出に、画像の均一性およびコントラストの質を改善する方法及び装置を提供する。 - 特許庁

A method is provided that includes a defect detection step to detect one or more defects in a software application composed of heterogeneous languages using a configurable web services architecture.例文帳に追加

設定可能なウェブサービスアーキテクチャにより異種言語から成るソフトウェアアプリケーションにおける１又はそれ以上の欠陥を検出する欠陥検出段階を有する方法が提供される。 - 特許庁

Since the automatically detected integrated hot water injection quantity L0 to the reference level P0 is taken as the bunged-off quantity Ld, an automatic bung defect detection corresponding to the bathtub size can be performed.例文帳に追加

自動的に検出する基準水位Ｐ０までの積算注湯量Ｌ０を栓抜け判定量Ｌｄとするため、浴槽サイズに対応した自動栓抜け検出を行なうことができる。 - 特許庁

The amount of information of the image is cut down and recorded at the down and recorded at the same time recording density of an information block is lowered and recorded in a region where the defect detection frequency of the optical disk is high.例文帳に追加

光ディスクのディフェクト検出頻度が高い領域において情報ブロックの記録密度を低下させて記録すると同時に画像の情報量も落として記録する。 - 特許庁

To provide a magnetic flaw detection method, capable of satisfactorily detecting a flaw with S/N ratio, even if an electrical noise is generated or when something other than the defect exerting an influence on a leakage flux exists.例文帳に追加

電気的ノイズが発生したり、漏洩磁束に影響を与える欠陥以外のものが存在する場合にも、Ｓ／Ｎ比良く欠陥を検出できる磁気探傷方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical disk device provided with a detection mechanism capable of clearly distinguishing a defect of an optical disk from a shock to the optical disk caused by a disturbance, to recognize them.例文帳に追加

光ディスクのディフェクトと、外乱等による光ディスクのショックとを明確に区別して認識できる検出機構を備え、誤記録を防止するようにした光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

To solve a problem of a conventional memory control method that when the number of defective pixels in existence exceeds a permissible storage capacity of a memory in the detection of the defective pixels defect data as to the defective pixels detected thereafter cannot be stored.例文帳に追加

欠陥検出の際に、存在する欠陥画素数がメモリの記憶許容数を越えている場合、それ以降検出した欠陥画素についての欠陥データを記憶できない。 - 特許庁

To detect a flat-faced defect in a wide flaw detection area without moving a relative position between a transmission probe and a reception probe.例文帳に追加

送信用探触子と受信用探触子との相対位置を動かすことなく広い探傷領域で平坦面状の欠陥を検出することができる超音波レール探傷装置を提供する。 - 特許庁

To prevent reduction of an inspection time and detection of a falsely reported defect, by putting an inspection region within a scannable range of an electron beam, even if a substrate is tilted against the moving direction.例文帳に追加

基板が移動方向に対して傾いていても電子線の走査可能範囲に検査領域がはいるようにして、検査時間の低下や虚報欠陥の検出を防止する。 - 特許庁

In the imaging apparatus (camera apparatus) employing the imaging element 13 of a CCD type or a CMOS type, a defect detection circuit 24 detects a defect by using a luminance level of the imaging element 13 when a lens 11 is in an out of focus state, a system controller 26 stores an address of the detected defective pixel and the defect is corrected at the address position.例文帳に追加

ＣＣＤ型やＣＭＯＳ型などの撮像素子１３を用いてなる撮像装置（カメラ装置）において、レンズ１１が非合焦状態にあるときの撮像素子１３の輝度レベルを用いて欠陥検出回路２４で欠陥検出を行い、その検出した欠陥画素のアドレスをシステムコントローラ２６内に保持し、そのアドレス位置で欠陥補正を行うようにする。 - 特許庁

Further, a defect is detected by a missing component and/or presence of a defect identification mark for the component mounting region positioned at the defective component detection position, whereby an operation of stamping out the component on the component mounting region is skipped when the region detected as the one including the missing component or the defect identification mark is positioned at the stamping position.例文帳に追加

さらに、不良品検出位置において位置決めされた部品搭載領域に対して、部品の欠損及び／又は不良品識別マークの有無により不良を検出することで、部品欠損あるいは不良品識別マーク有りと検出された部品搭載領域が打ち抜き位置に位置された際に、その部品搭載領域に対する部品打ち抜き動作をスキップさせる。 - 特許庁

Hereby, since self-diagnosis of an operation defect of each receiving element R2-R4 can be performed without preparing an external detection object of the ultrasonic sensor 30, transmitting an ultrasonic wave, and using a reflected wave from the detection object, the operation defect of the ultrasonic sensor 30 can be diagnosed at a desired timing, and reliability of the ultrasonic sensor 30 can be improved.例文帳に追加

これにより、超音波センサ３０の外部の被検出体を用意して超音波を送信し、被検出体からの反射波を用いることなく、受信素子Ｒ２〜Ｒ４の動作不良を自己診断することができるので、所望のタイミングで超音波センサ３０の動作不良を診断することができ、超音波センサ３０の信頼性を向上することができる。 - 特許庁

To provide a defect detection method that automatically sets appropriate detection sensitivity for every pixel of an image according to both intra-image luminance variation and inter-image luminance variation with the use of a plurality of non-defective images imaging a plurality of non-defective units.例文帳に追加

本発明は、複数の良品を撮影した複数の良品画像を用いて、画像内輝度変動と画像間輝度変動の両方に基づき、画像の各画素毎に適切な検出感度を自動設定する欠陥検出方法の提供を目的とする。 - 特許庁

In the circuit pattern inspection system, when a semiconductor wafer having a plurality of chip areas (dies) having the same circuit pattern is inspected, a detection image for each chip area is displayed on a monitor, and a circuit pattern defect is inspected based on the detection image for each chip area.例文帳に追加

回路パターン検査装置では、同一の回路パターンを有する複数のチップ領域（ダイ）を有する半導体ウエハを検査するとき、チップ領域毎の検出用画像をモニタに表示し、チップ領域毎の検出用画像から、回路パターンの欠陥を検査する。 - 特許庁

To reduce the influence by the noise components contained in an inspection image, when detecting a gray level difference or determining a detection threshold, in defect inspection for detecting the difference between each pixel, by comparing the gray level difference between each pixels which should be mutually identical, with a prescribed detection threshold.例文帳に追加

互いに同一であるべき画素同士のグレイレベル差を所定の検出閾値と比べて画素同士の違いを検出する欠陥検査において、グレイレベル差を検出し又は検出閾値を決定する際に、検査画像に含まれるノイズ成分による影響を低減する。 - 特許庁

Polarization elements are provided, respectively in the first and second detection optical paths branched in a dark field optical system, and are set to bring lights transmitted, through the polarizing elements arranged in the first and second detection optical paths into different characteristics, and the defect-capturing rate is enhanced thereby.例文帳に追加

また、暗視野光学系にて分岐した第１及び第２の検出光路にそれぞれ偏光素子を備え、第１と第２の検出光路に配置した偏光素子を透過する光が異なる特性となるように設定し、欠陥の捕捉率を向上する。 - 特許庁