「defect detection」に関連した英語例文の一覧と使い方(24ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an optical disk player capable of accurately performing the mirror detection even through the normal defect that the playback amplitude is largely reduced is in existence and even when the playback amplitude is reduced at the part where a stain such as fingerprint is in existence.例文帳に追加

再生振幅が大きく低下する通常の欠陥があっても、また指紋等の汚れのある部分で再生振幅が減少したような時にも正確にミラー検出を行うことができる光ディスク再生装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sensitivity table data creation device which creates sensitivity data required for creating a sensitivity table giving proper defect detection ratio of a product mask, a mask inspection system and a sensitivity table data creation method.例文帳に追加

製品マスクの欠陥検出率を適正に把握することが可能な感度表を作成するために必要な感度表データを作成する感度表データ作成装置、マスク検査システム及び感度表データ作成方法を提供する。 - 特許庁

Then, noise removal processing by means of moving average is given to the generated detection signal by using an LPF to perform signal emphasis on a defect signal by giving integration difference processing and cross-correlation processing to the processed signal.例文帳に追加

次いで、生成された検出信号に対し、移動平均によるＬＰＦを用いてノイズ除去処理を施し、その処理信号に積算差分処理及び相互相関処理を施して欠陥信号の信号強調を行う。 - 特許庁

To provide a device capable of optimizing scanning according to a situation/objective, reducing distortion of an image, and improving throughput, image quality and a defect detection rate by controlling deflection of a charged particle beam in a stage following method.例文帳に追加

ステージ追従方式において荷電粒子線の偏向を制御する事で、状況・目的に応じて走査を最適化し、画像の歪みを低減し、スループット，画質，欠陥検出率が向上した装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In the case that the result of correct/error detection is a defect, the respective DC power sources 53 in the power source part 23 are not started, the fixing heater is not lighted, and since the respective DC power sources 53 are not started, a system as the image forming apparatus is down.例文帳に追加

正誤検知の結果が不良の場合、電源部２３における各ＤＣ電源５３が立ち上がらず、定着ヒータは点灯せず、各ＤＣ電源５３が立ちあがらないため、画像形成装置としてのシステムがダウンする。 - 特許庁

To easily find an illumination angle with high accuracy for detecting an image having a high contrast by diffracted light so as to detect the image of a defect in a periodical pattern of an inspection object, and to suppress variation in detection accuracy among workers.例文帳に追加

被検査物の周期性パターンの欠陥を画像検出するために、回折光によるコントラストの高い画像を検出する照明角度を容易に精度良く見出し、作業者間の検査精度のばらつきを抑えること。 - 特許庁

The difference detection circuit 11 compares two image signals and if the difference is larger than a specified value, a defect judging section 12 judges the chip defective based on the difference signal and the optimal threshold of a threshold register 14.例文帳に追加

差分検出回路１１では、２つの画像信号を比較し、その差が一定以上であるときには、その差分信号としきい値レジスタ１４の最適しきい値とに基づいて、欠陥判定部１２によって欠陥を判定する。 - 特許庁

A transmission circuit 61 transmits a test signal for a defect detection of a mobile telephone 21, and a reception circuit 64 receives the transmitted test signal through a reception antenna 83, a coaxial connector 82, and a coaxial connector 47.例文帳に追加

送信回路６１は、携帯電話機２１の不具合検出用の試験用信号を送信し、受信回路６４は、送信された試験用信号を、受信アンテナ８３、同軸コネクタ８２及び同軸コネクタ４７を介して受信する。 - 特許庁

The defect detection apparatus has a configuration, in which dc voltage is applied to the coaxial flexible piezoelectric body 2 through an electrode means 5 for inspection which makes contact with an outer peripheral surface of a piezoelectric tube 3 while winding up the piezoelectric tube 3.例文帳に追加

圧電体チューブ３の外周面と接触する検査用電極手段５を経て、圧電体チューブ３を巻取りながら同軸状可撓性圧電体２に直流電圧を印加する構成の欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

By repeating the adjustment of the length TP and photographing until the brightness of an image obtained by this photographing becomes a predetermined referential state, necessary settings are made for generating an image having brightness suitable for the defect detection.例文帳に追加

この撮影により得た画像の明るさがあらかじめ定めた基準の状態になるまで、ＴＰの長さ調整と撮影とを繰り返すことにより、欠陥の検出に適した明るさの画像を生成するのに必要な設定がなされる。 - 特許庁

To solve a problem wherein, when performing vertical illumination with a catadioptric objective lens, specularly reflected light from a defect which passes through the center of the catadioptric objective lens does not provide an image, thereby causing a flare component on a detection surface and resulting in a low SN.例文帳に追加

反射屈折型対物レンズを用いた垂直落射照明を行う場合、反射屈折型対物レンズ中心を通過する欠陥からの正反射光が結像されないため、検出面ではフレア成分となり低SNになる。 - 特許庁

In this surface inspection instrument, a first detection means 2a, 2b outputs a detective signal by finding the reflected light of a light-beam corresponding to the defect on the surface of the frontal side of the light- penetrating substrate having the semi-transparent film.例文帳に追加

第１の検出手段２ａ及び２ｂは、表面に半透明膜を有してなる透光性基板の基板表面側で該基板表面の欠陥に応じた光ビームの反射光を検出して、検出信号を出力する。 - 特許庁

To provide a pattern defect detection device that detects a fluorescent image, a diffusion light image, and a reflection light image of a substrate formed by laminating dry films so as to easily detect various defects occurring in an exposure process.例文帳に追加

ドライフィルムが積層された基板の蛍光イメージと散乱光イメージ、そして反射光イメージをさらに検出して、露光工程で発生する様々な欠陥を容易に検出できるようにしたパターン欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device and its method requiring no pin to be brought into contact with circuit wiring in supply of an inspection signal to the circuit wiring and allowing detection of a minute defect indistinguishable by a naked eye.例文帳に追加

回路配線に検査信号を供給するにあたり、該回路配線に接触するピンを不要とし、また、肉眼により識別できないような微細な欠陥をも検出し得る検査装置及び検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a test mask, having several kinds of transmittances and patterns that have different dimensions at various kind of transmittance, and to provide a method for controlling the detection sensitivity of a defect inspection apparatus that uses the test mask.例文帳に追加

数種類の透過率を有し、かつ各々の種類の透過率において寸法の異なるパターンを有するテストマスクにより半透明欠陥に対する欠陥検査装置の検出感度調整することを目的とする。 - 特許庁

Thereby, visibility of the substrate 1 for the magnetic recording medium is enhanced, sensing of the substrate for the magnetic recording medium by a ray such as a laser light is made easy and detection of a defect and the like is made easy in a surface appearance inspection step.例文帳に追加

これにより、磁気記録媒体用基板１の視認性が向上し、レーザ光などの光線による磁気記録媒体用基板の検知が容易になり、さらに、表面外観検査工程において欠陥などの検出が容易になる。 - 特許庁

To provide a magnetic card reader and a magnetic card defect detection method capable of detecting that a magnetic card is defective when a folded or cracked magnetic card or a magnetic card to which a deposit adheres is used by a user.例文帳に追加

折れたり、ひび割れたりした磁気カード、或いは、付着物がついた磁気カードを顧客が使用したとき、磁気カードが不良であることを検出できる磁気カード読み取り装置、磁気カード不良検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide an internal defect detecting method for a structure requiring no new expense for heating or cooling, dispensing with a technique for uniform heating or cooling, and hardly generating a detection error even in a very small temperature difference.例文帳に追加

加熱・冷却のために新たな費用を必要とせず、また均一加熱もしくは冷却のための技術も不要であり、かつ、わずかな温度差であっても検出誤差が生じにくい、構造体内部欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁

To specify a defect position without wrong detection from an image taken in first magnification, and to enable imaging in second magnification, in a method for observing many defects in a short time by using an image acquisition means, concerning defects of a sample.例文帳に追加

試料上の欠陥を，画像取得手段を用いて短時間に多数の欠陥観察を行う方法において，第１の倍率で撮像した画像から誤検出なく欠陥位置を特定し，第２の倍率での撮像を可能とする。 - 特許庁

To provide an intelligent ultrasonic flaw detection system by utilizing a neural network that automatically inspects defect of an object to be inspected with the analysis of an ultrasonic pulse echo waveform from the object.例文帳に追加

本発明の課題は、検査対象物からの超音波のパルスエコー波形の分析により、自動的に検査対象物の欠陥等を検査することが可能なニューラルネットワークを利用した知能化超音波探傷システムを提供することにある。 - 特許庁

A laser beam emitted from the light source 510 of a pickup 500 is diffracted to be an RF signal light, a focus signal light, a tracking signal light or a defect detection light by the diffraction grating 522 of a diffraction element 520.例文帳に追加

ピックアップ５００における光源５１０から出射したレーザ光は、回折素子５２０における回折格子５２２によってＲＦ信号光、フォーカス信号光、トラッキング信号光、及び欠陥検出光に回折される。 - 特許庁

In addition to the above, a defect detection method of a magnetic disk device has the channel circuit and uses first means for registering a sector, of which the variation of amplitude has been detected, as a defective sector and second means for registering an irreproducible sector as the defective sector.例文帳に追加

また、前記チャネル回路を有し、振幅の変化を検出したセクタを欠陥として登録する第一の手段と、再生不能なセクタを欠陥として登録する第二の手段を用いた、磁気ディスク装置の欠陥検出方法。 - 特許庁

To easily and surely detect a coating defect of an insulation film coated on an inner circumferential side face of a pipe or tubular container, without using an electrolyte requiring complicated and troublesome work, and a conductive brush or the like having the tendency that the detection of the coating defect is unsure, and having the possibility of damaging a surface of the inside of an inspection object.例文帳に追加

煩雑な作業が必要となる電解質や被覆欠陥の検知が不確実になりやすくかつ検査対象の内部の表面を損傷するおそれのある導電性ブラシなどを用いることなく、管または管状の容器の内周側面にコーティングされた絶縁膜の被覆欠陥を簡易かつ確実に検知する検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

To improve detection accuracy of short circuit accident more than conventional one by adapting this invention to an image display of an active matrix type by an organic EL element, in an image display, a defect detecting method, and a short circuit accident restoring method.例文帳に追加

本発明は、画像表示装置、欠陥検出方法及び短絡事故の修復方法に関し、例えば有機ＥＬ素子によるアクティブマトリックス型の画像表示装置に適用して、短絡事故の検出精度を従来に比して向上する。 - 特許庁

To overcome problems in a conventional defect detection technique in which defects of electric resistance welded parts cannot be detected sufficiently, and mixing of an electric resistance welded pipe including a local part deteriorated in mechanical properties into a resultant product cannot be prevented in some cases.例文帳に追加

従来の欠陥検出技術では電縫溶接部の欠陥を十分に検出できるまでには至っておらず、機械的特性の劣化した局部を含む電縫鋼管が製品に混入する場合があるという事態を防ぎ難い。 - 特許庁

Hereby, the detector behaves as if it has no lattice defect, and gamma detection is performed in this state, and energy resolution is temporarily recovered.例文帳に追加

放射線損傷を受けたＧｅ検出器に規定電圧をかけ、強いガンマ線源を検出器の近くに置き、十分多くの電子・空孔対を生成させると、これらが格子欠陥に取り込まれ、あたかも格子欠陥がなくなったかのような振る舞いをするようになる。 - 特許庁

To provide a method for detecting whole living cells including gram- negative bacteria in a logarithmic growth phase by solving a problem that gram-negative bacteria in a logarithmic growth phase cannot be dyed, which is a defect in a conventional method for living cell detection.例文帳に追加

従来の生細胞の検出方法における欠点である対数増殖期にあるグラムネガティブ細菌を染色できないことを解消し、対数増殖期にあるグラム陰性細菌を含む全ての生細胞の検出方法を提供すること。 - 特許庁

To dispense with a large capacity of memory for recording reference data, and to enable a defect part detection over the whole area of a disk including an ID part.例文帳に追加

リファレンスデータの記録に大容量のメモリを必要としない、欠陥検査方法及びその欠陥検査装置、並びに、ＩＤ部を含むディスクの全域にわたって欠陥部を発見することができる欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

In this distortion detection sensor, a shield film 6a is sandwiched between a contact part 5a made of a metal such as aluminum and an insulating film (layer) 20 to prevent thinning, cutting due to a step, a defect in conductivity, or the like of the shield film 6a in the step between the contact part 5a and the insulating film 20.例文帳に追加

シールド膜６ａをアルミニュウムなどの金属からなるコンタクト部５ａと絶縁膜（層）２０とで挟むことにより、コンタクト部５ａと絶縁膜２０との段差でのシールド膜６ａの薄膜化、段切れ、導通不良等が防げる。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus for detecting finer defects with high sensitivity by varying illumination conditions for irradiating a sample with light arbitrarily and easily, and further by changing the transmittance of a pupil filter at a detection side and by changing phase conditions.例文帳に追加

試料に照明する照明条件を任意かつ容易に可変でき、さらに検出側の瞳フィルタの透過率、位相条件を変えることによって、より微細な欠陥を高感度に検出することができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The defect detection device 50 for detecting defects in a weak pin 30 includes a carbon rod 53, a soft holding tube 55 for holding the carbon rod 53, and lead wires 57A, 57B connected to a shaft end of the carbon rod 53.例文帳に追加

弱点ピン３０の欠損を検出する欠損検出素子５０であって、炭素棒５３と、前記炭素棒５３を収容する軟質性の収容管５５と、前記炭素棒５３の軸端に接続されるリード線５７Ａ、５７Ｂとを備える。 - 特許庁

A focus deviation detection device according to the present invention detects the focus deviation of an imaging device in a surface defect inspection device inspecting surface defects based on image data that is produced by imaging the surface of a test subject being transported with the imaging device.例文帳に追加

本発明の焦点ズレ検出装置は、搬送される被検査体の表面を撮像装置により撮像した画像データに基づいて、表面欠陥を検査する表面欠陥検査装置において、撮像装置の焦点ズレを検出する。 - 特許庁

To prevent stray light, such as lens-reflected light reaching an image surface from disturbing the inspection sensitivity in a dark field defect detection method by high elevation angle illumination for detecting groove bottom short-circuit defects or scratch, after the completion of etching.例文帳に追加

エッチング完了後の溝底ショート欠陥やスクラッチを検出するための高仰角照明による暗視野欠陥検出方法において、レンズ反射光などの迷光が像面に到達することによる検査感度を阻害することを防止する。 - 特許庁

A frequency component determined by the calculated number of bladder grooves is removed from the frequency components subjected to the Fourier expansion, inverse Fourier expansion of the residual frequency components is performed, and defect detection processing is performed on the basis of the image subjected to the inverse Fourier expansion.例文帳に追加

フーリエ展開された周波数成分から、算出されたブラダーグルーブの本数で決まる周波数成分を除去し、残余の周波数成分を逆フーリエ展開し、逆フーリエ展開された画像に基づいて欠陥検出処理を行う。 - 特許庁

In the defect detection method for a fuel cell material, defects of the fuel cell materials are detected by using a displacement sensor, a transmission type photoelectric sensor, a CCD (charge-coupled device) line sensor, and/or a reflection-type photoelectric sensor.例文帳に追加

本発明は、変位センサー、透過型光電センサー、ＣＣＤ（チャージ・カップルド・デバイス）ラインセンサーおよび／または反射型光電センサーにより、燃料電池材料の欠陥を検出することを特徴とする燃料電池材料の欠陥検出方法である。 - 特許庁

In a self discharge defect detection device 10 for a secondary battery 1, charging means 2 charges the secondary battery 1 as a test object, and determination means 5 calculates an input capacity of charged current required to reach charge finish current.例文帳に追加

二次電池１の自己放電不良検出装置１０において、充電手段２は、検査対象である二次電池１を充電し、判定手段５は、電流が充電終了電流に到達するまでに要した投入容量を計算する。 - 特許庁

In this defect detection device 1, two-dimensional image data of a swath which is a belt-like domain corresponding to one divided pattern among a plurality of divided patterns acquired by dividing a unit pattern on one die on a substrate 9 are acquired.例文帳に追加

欠陥検出装置１では、基板９の１つのダイ上において、単位パターンを分割して得られる複数の分割パターンのうち、１つの分割パターンに対応する帯状の領域であるスワスの２次元の画像データが取得される。 - 特許庁

The method for detecting the hollow fiber involves soaking the fiber in the glass cloth state in a solution having a refraction index near to that of the glass when detecting the hollow fiber which is a defect of the glass filament (yarn) the detection of which is a constituent requirement of the glass cloth for the laminated plate.例文帳に追加

積層板用ガラス布の構成要件であるガラスフィラメント（糸）の欠陥であるホローファイバーを検出する際に、屈折率がガラスと近似した溶液にガラス布の状態で浸漬することを特徴とするホローファイバーの検出方法。 - 特許庁

To provide a method for detecting defects of a welding gun for a capacitor discharge type stud welding, enabling visual capturing, being capable of carrying out data inspection and being capable of exactly detecting defects in action of the welding gun, and also to provide a defect detection device.例文帳に追加

視覚的に捉えることができ、データ的点検が可能で、しかも正確に溶接ガンの作動良否の判定を行うことができるコンデンサ放電型スタッド溶接用溶接ガンの良否判定方法及び良否判定装置を提供する。 - 特許庁

In order to control the entire system of a video camera, a CPU 11 is provided with a key input part 12, an EEPROM control part 13, a defect detection/correction information preparation part 14, a camera signal control part 15, a TG control part 16 and a diaphragm control part 17.例文帳に追加

ビデオカメラのシステム全体を制御するためにＣＰＵ１１は、キー入力部１２、ＥＥＰＲＯＭ制御部１３、欠陥検出・補正情報作成部１４、カメラ信号制御部１５、ＴＧ制御部１６、絞り制御部１７を有している。 - 特許庁

In the defect detection method in the sheet-like printed matter (10) for continuously printing the same pattern on the continuous sheet, mask treatment (14) is made to a part (12) outside a pattern range that does not become a product, thus inspecting only a product section (11).例文帳に追加

連続するシート上に同一の絵柄が連続して印刷されるシート状印刷物（１０）の欠陥検出方法であって、製品とはならない絵柄範囲外の部分（１２）にマスク処理（１４）して製品部分（１１）のみ検査できるようにした。 - 特許庁

To provide a defect detection method and its program for calculating a quasi-straight line with accuracy that will not deteriorate, by using a simple means, in a state of on-line real time where inspecting objects are flowing, when detecting defects in the profile shapes of the inspecting objects.例文帳に追加

検査物の外形の欠点を検出する場合に、検査物が流れているオンラインリアルタイムの状態で、簡易な手法により、精度が低下することのない疑似直線を算出可能な欠点検出方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a calibration device for array type magnetic flaw detection equipment capable of calibrating easily sensitivity of an individual magnetic sensor for a micro-fine defect of a running thin steel sheet, in the array type magnetic-field test equipment, and a calibration method therefor.例文帳に追加

本発明は、アレイ型磁気探傷装置において、走行中の薄鋼板の微小欠陥に対する個々の磁気センサの感度校正が容易に行えるアレイ型磁気探傷装置の校正装置、及びその校正方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The presence or absence, and dimensions of the hole-like defect are inspected based on the light intensity of regular reflection light 29 and the irregular reflection light 31 that are displayed on a display means 33 in response to the detection output of the first and second photosensors 30 and 32.例文帳に追加

第１および第２光センサ３０，３２の検出出力に応答して表示手段３３に表示される正反射光２９および乱反射光３１の光強度に基づいて孔状欠陥の有無および寸法を検査する。 - 特許庁

The wafer appearance inspection device 201 includes: a measuring stage 205; a monitor camera 203 for imaging a surface shape of a wafer 204 placed on the stage; and a control computer 202 for executing detection processing of surface shape defect of the wafer 204.例文帳に追加

ウェーハ外観検査装置２０１は、測定ステージ２０５と、その上に載置されたウェーハ２０４の表面形状を撮像するモニタカメラ２０３と、ウェーハ２０４の表面形状欠陥の検出処理を実行する制御用コンピュータ２０２を備える。 - 特許庁