「defect detection」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

Error detection is carried out when reproducing continuous image information, such as animation images and when an error is detected, the physical address information of the defect region is recorded in a management information recording region of a recording medium, by which the information may be recorded by averting the defect region when the information is next recorded to the same recording medium.例文帳に追加

動画等の連続した画像情報を再生する際に、エラー検出を行い、エラーが検出された場合には、記録媒体の管理情報記録領域に、欠陥領域の物理アドレス情報を記録することにより、次に同一の記録媒体に記録する場合、欠陥領域を避けて記録することが出来る。 - 特許庁

To provide a hollow fiber membrane selection method capable of easily performing selection and detection of a leak thread of a hollow fiber membrane module having a defect part in which a content such as a coloring liquid and a fluorescent dye does not remain on the membrane even after selection, and to provide a method for manufacturing the hollow fiber membrane repairing the subsequently detected defect part.例文帳に追加

欠陥部を有する中空糸膜モジュールのリーク糸の選別、検出を容易に実施でき、しかも選別後であっても、膜に着色液や蛍光染料などの含有成分が残存しない中空糸膜選別方法、及び引き続き検出した欠陥部を補修する中空糸膜製造法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method and system capable of accurately removing in a short time a chip including a defect such as a microvoid which is formed on a wafer stuck by a direct bonding method or through an adhesive and is difficult and takes time to be found by visual observation, and to provide a method of manufacturing a light emitting device.例文帳に追加

直接接合方法または接着剤を介して貼り合わせたウエーハにできる目視では発見が困難で時間がかかるマイクロボイド等の欠陥を含むチップを、正確にそして短時間で取り除くことができる欠陥検出方法および欠陥検出システムならびに発光素子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To restrain detection precision of a defect from being lowered by reflection of irradiated light due to an image-focusing lens or the like, when the defect is detected by irradiation of the light, in a photomask formed with fine patterns.例文帳に追加

本発明は、微細なパターンが形成されたフォトマスクにおいて、光を照射することにより欠陥を検出する際に、照射した光が結像レンズなどにより反射されることで欠陥の検出精度を低下させることを抑制するための欠陥検出装置及び欠陥検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

When a release force that is applied in the case of mold releasing for separating a molded article and a mold 30 is detected and the molded article is continuously molded, a control section 50 determines whether there is a transfer defect in the molded article after transferring according to a variation in the detected release force to achieve transfer defect detection.例文帳に追加

被成形物とモールド３０とを引き離す離型時に加わる力である離型力を検出し、被成形物の形成を連続して行う場合に、制御部５０によって、検出された離型力の変動から、転写後の被成形物に転写欠陥があるかどうかを判定することで実現する。 - 特許庁

This pattern defect inspection device detects a defect by comparing a detection image acquired by scanning patterns, which are sequentially arranged in the line direction at equal intervals on the object under inspection and provided with the same shape, by means of an image sensor with a reference image acquired by scanning the patterns arranged adjacently in the line direction and provided with the same shape.例文帳に追加

被検査物体上に行列方向に等間隔で連続的に配列された同一形状を有するパターンをイメージセンサを走査して得られる検出画像とその行列方向に隣接する同一形状のパターンを走査して得られる参照画像とを比較して欠陥を検出するパターン欠陥検査装置である。 - 特許庁

A defect correction circuit 114 carrys out correction processing of a defective pixel on the basis of an instruction from a pixel detection circuit 113 and carrys out replacement processing of a pixel signal to an optional pixel designated from an operation section on the basis of pixel designation information set to the defect correction circuit 114 via a microcomputer 117.例文帳に追加

欠陥補正回路１１４は、画素検出回路１１３からの指示に基づいて欠陥画素の補正処理を行うとともに、マイクロコンピュータ１１７を介して欠陥補正回路１１４に設定された画素の指定情報に基づいて、操作部から指定された任意の画素に対して画素信号の置換処理を行う。 - 特許庁

Also by the structure that the perfect Cr shading part is the Cr recessing type, the dicing mark part is the Cr recessing type and the pattern part is the HT pattern, the resist shape on the wafer after the photomask pattern exposure is improved and defect detection sensitivity in the photomask defect inspection can be sufficiently obtained too.例文帳に追加

完全Ｃｒ遮光部はＣｒ後退型、ダイシングマーク部はＣｒ後退型、パターン部はＨＴパターンという構造を有することによっても、同様にフォトマスクパターン露光後のウェーハ上のレジスト形状を良好にし、かつフォトマスク欠陥検査時における欠陥検出感度を十分に得ることができる。 - 特許庁

To provide a transmission system capable of easily avoiding a defect of detecting an Alarm by each Alarm detection point in a state that line setting is finished and a signal is intentionally interrupted.例文帳に追加

回線の設定が終了し、かつ、信号を意図的に切断している状態でＡｌａｒｍ検出ポイント毎にＡｌａｒｍを検出してしまう不具合を容易に解消することのできる伝送装置を提供する。 - 特許庁

If the bonding face has a vertical part 16i, the ultrasonic wave is allowed to enter obliquely against the vertical part 16i, and the reflected echo reflected by the vertical part 16i is detected (second defect detection process).例文帳に追加

また、接合面が垂直部１６_ｉを有している場合には、垂直部１６_ｉに対して斜めに超音波を入射し、垂直部１６_ｉで反射した反射エコーを検出する（第２欠陥検出工程）。 - 特許庁

To enable detection of damage to a material such as peeling defect to be performed in a nondestructive manner and to realize a repair which is more effective in terms of time and cost than a conventional technology when repairing the detected damage to the material.例文帳に追加

材料中の剥離欠陥等の損傷を非破壊で検出でき、検出した材料中の損傷を補修するにあたり、時間及びコスト面で従来よりも効率的な補修を実現する。 - 特許庁

When a signal-treating circuit substrate 21 containing a defect presence or absence-judging means outputs a malfunction detection signal in a weaving state, an output circuit 39 outputs a loom-stopping signal to a loon control computer Co.例文帳に追加

製織状態において、欠点有無判定手段を含む信号処理回路基板２１が異常検出信号を出力すると、出力回路３９は、製織停止信号を織機制御コンピュータＣｏに出力する。 - 特許庁

To provide a withstand voltage test method of power equipment dispensing with test equipment comprising a large-scale exclusive test power source or the like, capable of applying a variable voltage over a rated voltage, and having high defect detection accuracy.例文帳に追加

大規模な専用の試験電源等からなる試験設備が不要で、定格電圧以上の可変電圧を印加することができる欠陥検出精度が高い電力設備の耐電圧試験方法を提供する。 - 特許庁

Since the reflected beam from the sample surface is detected by each light receiving element (19) separated by a light shielding member, a con-focal optical system is established, resulting in higher resolution for defect detection.例文帳に追加

さらに、試料表面からの反射ビームは、遮光部材により分離された各受光素子（１９）により受光されるので、コンフォーカル光学系が構成され、この結果、欠陥検出の分解能が一層高くなる。 - 特許庁

To provide a developing device capable of suppressing the occurrence of an image defect by keeping the circulation of a developer in a developer container constant while enhancing the detection accuracy of a magnetic permeability detecting sensor.例文帳に追加

本発明は、透磁率検知センサの検出精度を高めつつ、現像容器内の現像剤の循環を一定に保つことで画像の不具合の発生を抑制できる現像装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory testing device capable of preventing the degradation of defect detection capability by making it possible to test an aimed address or the address other than the aimed address without changing a test pattern and a pattern program.例文帳に追加

テストパターンやパターンプログラムを変更することなく、着目するアドレスまたは該アドレスを除外した試験を可能にして、不良検出能力の低下を防止できる半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

In correcting a defect in a local object in an image, the object is detected and the detection information of the detected object and the image of the object before the correction are homologized and stored.例文帳に追加

画像中の局所的な対象における不具合を修正するにあたってその対象を検出し、検出された対象の検出情報と、その対象が修正される前の画像とを対応付けて保存する。 - 特許庁

When detecting using the reflected light, since two kinds of light (red, green) having different irradiation angles and wavelengths are used, the defect detection accuracy is improved, as compared with the case of using a light having one kind of irradiation angle.例文帳に追加

反射光で検出する場合、照射角度、及び波長の異なる２種類の光（赤、緑）を用いているので、照射角度が１種類の光を用いる場合に比較して欠陥の検出精度が向上する。 - 特許庁

To provide a three-dimensional ultrasonic flaw detector and a three-dimensional ultrasonic flaw detection method for three-dimensionally and easily measuring a distance between echoes in a sizing work of a defect such as a crack.例文帳に追加

き裂等の欠陥のサイジング作業において、エコー間の距離を３次元的に容易に測定することができるようにした３次元超音波探傷装置及び３次元超音波探傷方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a detection device or the like such as a hybrid imaging apparatus connected by bonding bumps, which is superior in economic efficiency by eliminating a pixel defect and hardly causes damage on the body of a photodetector array or the like.例文帳に追加

接合バンプで接続されたハイブリッド型撮像装置などの検出装置等において、画素不良をなくし、経済性に優れ、かつ受光素子アレイ等の本体にダメージが生じにくい、検出装置等を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a method thereof for highly accurately distinguishing noise or nuisance defects from real defects by unifying inspection results different from each other in lighting conditions or detection conditions.例文帳に追加

照明条件、もしくは検出条件の異なる検査結果を統合することで、ノイズやNuisance欠陥と真の欠陥を高精度に判別することができる欠陥検査装置及びその方法を提供することにある。 - 特許庁

Information related to a solid geometric shape of the defect D can be obtained even be the single electron beam detector by calculations with the use of a plurality of detection signals of the obtained secondary electron beams.例文帳に追加

そして、得られた二次電子線の複数の検出信号を用いて演算することにより、単一の電子線検出器を用いても、欠陥Ｄの立体的な幾何学的形状に関する情報を取得できる。 - 特許庁

The variation in the optical path length from the reflecting section to the optical sensor 190 is suppressed, and accordingly, the detection accuracy for detecting the image defect etc. in the image formed on the sheet member P by the inline sensor unit 180 is improved.例文帳に追加

反射部から光センサ１９０までの光路長の変化が抑制されることで、インラインセンサユニット１８０よるシート部材Ｐに形成された画像の画像欠陥等を検出する検出精度が向上する。 - 特許庁

To realize a defect inspecting apparatus which eliminates the need for resetting of two or more different thresholds, conducts a stable inspection, improves detection precision of defective strength and enables defective strength values to be compared with one another.例文帳に追加

異なる複数の閾値の再設定の必要がなく、安定した検査ができると共に欠陥強度の検出精度を向上させ、欠陥同士の強度の比較を可能とする欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

Since slits according to the inclination of the defect M are provided on the respective front surfaces of the projectors L1-L12 and the light receivers S1-S12, respectively, the intensity change of the transmitted light can be made remarkable to facilitate the detection.例文帳に追加

その際、投光器Ｌ１〜Ｌ１２、および受光器Ｓ１〜Ｓ１２のそれぞれの前面には欠陥Ｍの傾斜に応じたスリットが設けてあるので透過光の強度変化が顕著になり検出しやすい。 - 特許庁

When the original size detection sensor 15 has detected the original (YES in S13), since this means that the user has not set the original correctly, this is decided as a defect in original setting and display is made to this effect at a display part (S14).例文帳に追加

原稿サイズ検出センサ１５が原稿を検出していれば（Ｓ１３でＹＥＳ）、ユーザが原稿を正しくセットしていないということであるから、原稿セット不良としてその旨を表示部に表示する（Ｓ１４）。 - 特許庁

On the occurrence of a defect in the connection to an optical multiplexer section 22, an optical signal detection section 531 receives an optical signal S22a1, i.e., a reflected light of an optical signal S511, via an optical branch section 521.例文帳に追加

光送信部２１_1 では、光合波部２２との接続に不具合がある場合に、光信号Ｓ５１_1 の反射光である光信号Ｓ２２ａ_1 が、光分岐部５２_1 を介して光信号検出部５３_1 で受光される。 - 特許庁

A defect detection sensor 5 is provided at a prescribed conveyance position on a turntable 2, and detects the elevating and lowering position of the push-up punch 10 every time the push-up punch 10 passes through the prescribed conveyance position.例文帳に追加

不良検出センサ５は、ターンテーブル２における所定の搬送位置に設けられており、所定の搬送位置を突き上げパンチ１０が通過する毎に、この突き上げパンチ１０の昇降位置を検出する。 - 特許庁

To provide a defect detection method, capable of precisely, easily, and quickly confirming and evaluating a defective part of a transparent gas barrier film, having a transparent inorganic oxide evaporation layer laminated on a transparent plastic base member.例文帳に追加

透明プラスチック基材に透明無機酸化物蒸着層を積層した透明ガスバリアフィルムの欠陥箇所を、正確に、簡便且つ迅速に確認し、評価することができる欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for displaying printing defects in which defect detection data are collected and processed, and displayed as a graph on a desired time axis for each desired segment in a width direction of a printing machine.例文帳に追加

印刷機幅方向における所望の区間ごとに、所望の時間軸において、欠陥検出データを集計処理し、それをグラフとして表示する印刷欠陥表示方法および装置を提供する。 - 特許庁

The defect pixel detection method for the solid-state image pickup element compares a mean value of pixel data of pixels around a target pixel with pixel data of the target pixel so as to discriminate whether or not the target pixel is defective.例文帳に追加

固体撮像素子の欠陥画素検出方法において、注目画素の周囲の画素データの平均値と、注目画素の画素データとを比較することによって、注目画素が欠陥画素である否かを判定する。 - 特許庁

To provide a reflection type or a translucent type liquid crystal display provided with a protective film and its manufacturing method, wherein detection accuracy of a defect can be highly maintained while manufacturing costs are reduced.例文帳に追加

保護フィルムを備える反射型または半透過型の液晶表示装置及びその製造方法において、製造コストの低減を図りつつ、欠陥の検出精度を高く保つことのできる装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The method for detecting and classifying pixel defects of the TFT array substrate includes a signal acquiring step for acquiring a detection signal from a plurality of detection signal acquiring points in one pixel and a signal processing step for dividing one pixel into a plurality of regions and performing defect judgement in the pixel using the divided region as one unit by using the detection signal in the detection signal acquiring point existing in each divided division processing region.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ基板のピクセル欠陥を検出し分類する方法であり、１ピクセル内の複数の検出信号取得点から検出信号を取得する信号取得工程と、１ピクセルを複数の領域に分割し、分割した各分割処理領域内に存在する検出信号取得点の検出信号を用いて、分割領域を単位としてピクセル内の欠陥判定を行う信号処理工程とを備える。 - 特許庁

To provide a method capable of performing defect detection even when design data can not be obtained since importance of a defect can be determined by prior art while taking relative relation with a formation such as wiring on a wafer into consideration by using design data, but the determination can not be made without the design data.例文帳に追加

従来の技術においては、設計データを用いることにより、ウェーハ上の配線等の構成物との相対関係を考慮し、欠陥の重要度の判定は可能であるが、設計データが無い場合は、判定ができなかったので、設計データが入手できない場合についても欠陥検出の実施を可能とする方法を提供する。 - 特許庁

An installation defect detection unit 242 of the observation device 200 is configured to compare a reinstallation focus position, which shows a focal axis position obtained when being focused on the object to be observed after reinstalling the container on the XY stage, with the appropriate focus position stored in the memory 243, and thereby detect the installation defect of the container in the optical axis direction.例文帳に追加

観察装置２００の設置不備検出部２４２が、容器がＸＹステージに再設置された後に観察対象物に焦点が合ったときのフォーカス軸位置を示す再設置合焦位置を、メモリ２４３に記憶されている適正合焦位置と比較することによって、光軸方向における容器の設置不備を検出する。 - 特許庁

When performing detection/automatic classification of a defect of the inspection object 1 having a repeated pattern such as a liquid crystal display device or a semiconductor wafer, the repeated pattern is divided beforehand into a plurality domains, and databases 71, 72, 73 for automatic classification differentiated by a domain on the repeated pattern to which a defect portion detected from an inspection image belongs are created.例文帳に追加

液晶表示装置や半導体ウェハ等の繰り返しパターンを持つ検査対象物１の欠陥を検出・自動分類する際、繰り返しパターンを予め複数の領域に分割し、被検査画像から検出された欠陥部位が上記繰り返しパターンのどの領域に属するによって異なった自動分類用データベース７１，７２，７３を作成しておく。 - 特許庁

With a reception waveform obtained in the defect section region of a specimen as a measurement raw signal and with a reception waveform obtained in the sound section region of a specimen as a reference signal, a differential signal waveform is taken out by performing the substraction processing of the measurement raw signal and the reference signal, thus performing the defect flaw detection or material characteristic evaluation of the specimen.例文帳に追加

被検体の欠陥部領域で得られる受信波形を計測生信号とし、被検体の健全部領域で得られる受信波形を参照信号として、前記計測生信号と前記参照信号を減算処理することで差分信号波形を取り出し、被検体の欠陥探傷あるいは材料特性評価を行う。 - 特許庁

This defect detection device 1 for detecting an internal defect of the molding 2 is characterized by being provided with a drill part 3 for penetrating the molding 2, and a viscometer 4 for measuring the viscosity generated in company with operation of the drill part 3 when the drill part 3 penetrates the molding 2, and calculating the viscosity as a torque by using a proper operation expression.例文帳に追加

成形体２の内部欠陥を検出する欠陥検出装置１において、成形体２に貫入するドリル部３と、ドリル部３が成形体２に貫入したときに、ドリル部３の作動に伴って生ずる粘度を測定し、その粘度を適宜の演算式を用いてトルクとして算出する粘度計４とを備えることを特徴とする。 - 特許庁

The device for inspecting the image defects is configured so that defect detecting processing S3 detecting the defects appearing in the sensed image on the sample surfaces, and reinspection processing S6 conducting reinspection or deciding truth or falsehood at a place of detection in the sensed image regarding the defects detected by the defect detecting processing are carried out by the same processor element.例文帳に追加

試料の表面の撮像画像に現れる欠陥を検出する欠陥検出処理Ｓ３と、この欠陥検出処理欠陥により検出された欠陥に関して撮像画像中の検出箇所を再検査する又は真偽を判定する再検査処理Ｓ６とが、同一のプロセッサエレメントによって実行されるように画像欠陥検査装置を構成する。 - 特許庁

Further, since conventionally the connection test has been conducted between the logic section and the line address, the column address in the whole LSI operation test resulted in low defect detection rate; however it can be conducted in a scan test and a test pattern which has a high detection rate of the circuit defects can be created automatically.例文帳に追加

さらには、ロジック部とメモリ間の行アドレス及び列アドレスの接続テストを従来は、ＬＳＩ全体の実動作テストで行っていたため、回路の故障検出率を低かったが、この発明によりスキャンテストにより行うことができ、回路の故障検出率が高いテストパターンを自動で作成することができる。 - 特許庁

To provide a signal processing apparatus of an optical signal output device which can check reliability under influence of defect and the like on scale, while maintaining resolution and stability of position detection at a high level over a large displacement detection range, and an optical displacement detecting device including such a signal processing apparatus.例文帳に追加

位置検出の分解能及び安定性を広い変位検出範囲に渡って高いレベルで維持しつつ且つスケール上の欠陥等の影響による信頼度をもチェックできる光学式信号出力装置の信号処理装置及びそのような信号処理装置を備えた光学式変位検出装置を提供すること。 - 特許庁

The repair circuit comprises: a repair address detection part for determining the presence of a defect on the basis of a plurality of test data signals output from a memory block and storing an address corresponding to a memory block determined to be defective; and an anti-fuse part for electrically programming repair addresses stored in the repair address detection part.例文帳に追加

メモリブロックから出力される複数のテストデータ信号によって不良の可否を判断し、不良と判断されたメモリブロックに該当するアドレスを格納するリペアアドレス検出部と、リペアアドレス検出部に格納されたリペアアドレスを電気的にプログラミングするアンチヒューズ部とを備えることを特徴とする。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus such as a printer, a copying machine or an ink jet printer which performs control by automatically selecting an image forming condition in accordance with a medium by a medium detection sensor and which is prevented from causing an image defect or the like even when the medium detection sensor breaks down because of disconnection or short-circuit.例文帳に追加

メディア検知センサにより、メディアに応じた画像形成条件を自動的に選択し制御を行うプリンタ、複写機、あるいはインクジェットプリンタ等の画像形成装置において、メディア検知センサが断線やショートにより故障しても、画像不良等の発生しない画像形成装置を提供する。 - 特許庁

A face contained in image data is detected using a face detection means, and a defect in white balance is calculated from a color evaluated value of a face region, thus calculating a desirable white balance correction coefficient by means of usual white balance calculation and weighting addition.例文帳に追加

顔検出手段を用いて画像データに含まれる顔を検出し、顔領域の色評価値からホワイトバランスの不具合を演算し、通常ホワイトバランス演算との加重加算により所望なホワイトバランス補正係数を算出する。 - 特許庁

At this time, in a test mode, a control logic (26) for stopping the bit line drive functions of the first drive circuits is provided so as to enable detection of a defect when the transfer MOS transistors does not operate normally.例文帳に追加

このとき、テストモードにおいて、上記第１駆動回路によるビット線駆動機能を停止させるための制御論理（２６）を設けることで、トランスファＭＯＳトランジスタが正常に動作しない場合の不良を検出可能にする。 - 特許庁