「defect detection」に関連した英語例文の一覧と使い方(25ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a detection method for a residual volume of a dispenser and a dispensing material in a liquid crystal liquid display capable of correctly detecting the actual residual volume of the remaining dispensing material in a syringe and removing a defect causing factor in the liquid crystal display panel.例文帳に追加

シリンジの内部に残留するディスペンシング物質の実際の残余量を正確に検出し、液晶表示パネルの不良発生要因を除去し得る液晶表示パネルのディスペンサ及びディスペンシング物質の残余量検出方法を提供する。 - 特許庁

The polarization (α)(an angle (α) from s-polarized light) of light irradiated to a sample of an object of defect detection is computed by substituting conditions of circuit patterns of the sample and an azimuth angle and an angle of incidence of irradiation light into a prescribed formula.例文帳に追加

欠陥検出を行なう被対象物である試料に照射する光の偏光（アルファ）（ｓ偏光からの角度（アルファ））を、試料の回路パターンの条件、照射光の方位角及び入射角を所定の計算式に代入して算出する。 - 特許庁

A microcomputer 240 is operated by a defective pixel selecting program stored in a program ROM 250 to execute processing of the defect detection circuit 211 several times while varying the detection level and narrows down detected pixels so that the number of detected pixels may be within the range of the preliminarily prepared maximum value of the number of pixels which can be subjected to correction processing.例文帳に追加

マイクロコンピュータ２４０では、プログラムＲＯＭ２５０内に格納された欠陥画素の選択プログラムによって動作し、検出レベルを変えながら欠陥検出回路２１１の処理を何度か実行させ、検出画素数が予め用意された処理可能補正画素数の最大値の範囲内に入るように検出画素の絞り込みを行う。 - 特許庁

After the detection of the joint defective pixel, the defect determination of the joint pixel adjacent to the downstream side of a read-out direction of a data bas line of the detected joint defective pixel is performed preferentially by the joint defective pixel detection part 23 to thereby monitor properly the joint defective pixel which is the defective pixel after joint processing.例文帳に追加

そのビニング欠損画素の検出後に、検出されたビニング欠損画素のデータバスラインの読み出し方向の下流側に隣接するビニング画素の欠損判断を優先的にビニング欠損画素検出部２３は行うことで、ビニング処理後（結合後）の欠損画素であるビニング欠損画素（結合欠損画素）を適正に監視することができる。 - 特許庁

To solve the problem that, in a defect inspection system using a plurality of detectors such as an upright detector and an oblique detector, if illumination light and wafer height are adjusted to the detection field of view of one detector, a defocused image is detected by other remaining detectors, resulting in degradation of the detection sensitivity.例文帳に追加

欠陥検査装置において、上方検出系や斜方検出系などの複数の検出系を使用する場合、一つの検出系の検出視野に対して照明光およびウェハ高さを合わせた場合、他の検出系においてデフォーカスした像を検出してしまうため、欠陥検出感度が低下するという問題を解決する。 - 特許庁

To rapidly and efficiently recognize a defect in a report function, and also to investigate the cause of a fault by normally and visually monitoring whether electronic detection is reliably performed or not regardless of a situation during a game when the passage of a game ball is electronically detected, and a game state is changed by the detection.例文帳に追加

遊技球の通過を電子的に検出し、この検出によって遊技状態に変化を持たせる際に、この電子的な検出が確実になされているか否かを遊技中の状況に拘らず、常に目視にて監視することができ、報知機能の不良を迅速、かつ効率よく認識、並びに故障の原因を究明を行うことができる。 - 特許庁

The three sets of optical sensors 3 comprise a first optical sensor for detecting a base of the isotonic drink cap, a second optical sensor provided to detect an over-cap immediately before the detection, and a third sensor for searching slightly above the over-cap, wherein a defect in mounting the isotonic drink cap is determined according to a combination of detection signals from the optical sensors.例文帳に追加

３組の光センサー３は、スポーツキャップの基部を検出する第１の光センサーと、その検出開始直前にオーバーキャップを検出するように設けられた第２の光センサーと、オーバーキャップの僅か上方を検索する第３の光センサーとからなり、これらの光センサーからの検出信号の組合せによってスポーツキャップ装着不良を判定する。 - 特許庁

In the constitution, an AE sensor body 21 for detecting acoustic energy generated when pressurized gas sealed by contacting a detection surface 21a to a vessel surface 1a leaks from a small defect, and a holding means 22 to 25 for holding the AE sensor body 21 and uniformly contacting the detection surface 21a to the vessel surface 1a are provided.例文帳に追加

検出面２１ａを容器表面１ａに接触させて封入した加圧気体が微細欠陥から漏洩するときに発生する音響エネルギを検出するＡＥセンサ本体２１と、ＡＥセンサ本体２１を保持し、検出面２１ａを容器表面１ａに均一に接触させる保持手段２２〜２５とを備えた構成としたものである。 - 特許庁

The substrate inspection method detects the defect on the basis of a plurality of detection brightness values and a plurality of comparison brightness values determined to detect diffusion light from a detection position on a substrate and a comparison position corresponding thereto with a plurality of detectors arranged in different directions under dark field illumination.例文帳に追加

本発明に係る基板検査方法は、暗視野照明下において基板上の検査位置及びこれに対応する比較位置からの散乱光を異なる方向に配置された複数の検出器により検出して得られた複数の検査用輝度値及び複数の比較用輝度値に基づいて欠陥を検出する基板検査方法である。 - 特許庁

A surface wave 9 and the elastic wave 10 in the irradiation are detected with the lapse of time by a laser interferometer 8 for collimating the surface 2 of the diagnosed portion 4, the presence of an internal defect 5 or a buried body in the concrete structure 1 in the diagnosed portion 4 is diagnosed based on a waveform change from detection of the surface wave 9 to detection of the final elastic wave 10.例文帳に追加

被診断部位４の表面２を視準するレーザ干渉計８により前記照射時の表面波９と弾性波10とを経時的に検出し、表面波９の検出から最終の弾性波10の検出までの波形変化から被診断部位４におけるコンクリート構造物１の内部欠陥５又は埋設物の有無を診断する。 - 特許庁

This signal processing means 2 detects, as an echo signal, a flaw detection signal having a height of a predetermined threshold or higher, among flaw detection signals output from the ultrasonic probe 1, and, determines the existence of the defect when continuously detecting the echo signal in the axial direction of the pipe P at a specific position of the circumferential direction of the pipe P.例文帳に追加

信号処理手段２は、超音波探触子１から出力される探傷信号の内、所定のしきい値以上の高さを有する探傷信号をエコー信号として検出し、該エコー信号を管Ｐの周方向の特定位置において管Ｐの軸方向に連続的に検出したときに、欠陥が存在すると判定する。 - 特許庁

A defect correction unit 330 detects respective edges of a first image formed by the pixel values of image generation pixels and a second image formed by the pixel values of phase difference detection pixels among pixel values included in image data generated by an image pickup apparatus comprising plural image generation pixels and plural pairs of phase difference detection pixels.例文帳に追加

欠陥補正部３３０は、画像生成画素と一対の位相差検出画素とのそれぞれを複数備える撮像素子により生成される画像データに含まれる画素値のうち前記画像生成画素の画素値により形成される第１像と、前記位相差検出画素の画素値により形成される第２像とのそれぞれのエッジを検出する。 - 特許庁

An inspected face 2a is irradiated with an inspection light to guide a reflected light to photoelectric transfer means 30-33 via light guides 26-29, and the defect on the inspected face 2a is detected based on detection signals Sa, Sb from the photoelectric transfer means 30-33.例文帳に追加

被検査面（２ａ）に検査光を照射し、その反射光を導光路（２６〜２９）を介して光電変換手段（３０〜３３）に導き、該光電変換手段（３０〜３３）の検出信号（Ｓａ、Ｓｂ）に基づいて前記被検査面（２ａ）の欠陥を検出する。 - 特許庁

As a result, all the six surfaces of the electronic component 1 can be inspected precisely, and especially defect detection accuracy of surfaces s5, s6 covered by external electrodes 3, 4 can be improved, in comparison with the case of inspecting all the six surfaces by using the RGB three-color illumination.例文帳に追加

これによって、電子部品１の６面全てを精度よく検査することができ、特に、６面全てをＲＧＢ三色照明で検査する場合に比して外部電極３，４で覆われている側面ｓ５，ｓ６の欠陥検出精度を向上させることができる。 - 特許庁

Light is emitted toward the steel pipe of an inspection object, reflected light from the first area of the steel pipe surface is received by a two-dimensional camera to measure luminous energy thereof, and a reference level used in defect detection is set based on the measured luminous energy (S3).例文帳に追加

検査対象物である鋼管に光を照射し、鋼管表面の第１領域から反射光を２次元カメラにより受光してその光量を計測し、計測した光量に基づき、欠陥検出の際に用いる基準レベルを設定する（Ｓ３）。 - 特許庁

It is also provided with a suspension type conveyer 12, a screw part detecting means 5 in the carrier process, a vacuum conveyer 99 carrying the detection accepted prodcucts to a next process, and a discharge means 4b discharging the PET preform with defect to the outside of the conveyer line.例文帳に追加

更に、吊り下げ式搬送コンベア１２を設け、この搬送工程中にネジ部検査手段５と、検査合格品を次工程へ搬送するバキュームコンベア９９と欠陥のあるＰＥＴプリフォーム１をコンベアライン外へ排出する排出手段４ｂを設けた。 - 特許庁

If verified, it is decided whether the verification has been performed by the usually used information recording and reproducing device (a usually used drive) and, when it is performed by a drive other than the usually used drive, it is decided that the defect detection is necessary again and the whole surface of the optical disk 1 is automatically verified.例文帳に追加

ベリファイ済みであれば、それが自社機の当該情報記録再生装置（自ドライブ）でなされた否かを判定し、自ドライブ以外でなされた場合には、再度欠陥検出が必要と判断して、光ディスク１の全面を自動的にベリファイする。 - 特許庁

The magneto-optic defect detection method applies a magnetic field to the object 1 to be inspected to detect a leakage magnetic field generated at a defective part 2 on the surface of the object 1 to be inspected by a magneto-optic effect of light penetrated through a magneto-optic element 10 approximated to the object to be inspected.例文帳に追加

被検査物１に磁界を印加して、その表面の欠陥部２に生じた漏洩磁界を、被検査物に近接させた磁気光学素子１０に透過させた光の磁気光学効果により検出する磁気光学式欠陥検出方法である。 - 特許庁

A TFT array inspection apparatus includes: an inspection signal applying means for applying an inspection signal to a TFT array in the panel, and forming a potential distribution in a predetermined pattern on the panel; and a signal processing means for detecting a panel defect by using a secondary electron detection signal.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査装置は、パネルのＴＦＴアレイに検査信号を印加して、パネル上に所定パターンの電位分布を形成する検査信号印加手段と、二次電子の検出信号を用いてパネル欠陥を検出する信号処理手段とを備える。 - 特許庁

To enable displaying red, green, and blue and to improve test and detection capability for defect caused by patterns of each pixel constitution, wirings, and the like even when pixel electrodes are arranged in delta arrangement in a test method for a liquid crystal display device.例文帳に追加

液晶表示装置の検査方法において、画素電極がデルタ配列に配置された場合でも、赤，緑，青の表示を可能とし、かつ各画素構成および前記各配線などのパターンに起因する不良の検査検出力を向上させることを目的とする。 - 特許庁

This is a defect detection device for a coaxial flexible piezoelectric cable in which a piezoelectric tube 3 is provided in the hole 61 of an inspection electrode means 6 and DC voltage is impressed on the coaxial flexible piezoelectric body 2 by moving the piezoelectric tube 3.例文帳に追加

圧電体チューブ３が検査用電極手段６の孔６１に配設され、圧電体チューブ３を移動させながら同軸状可撓性圧電体２に直流電圧を印加する構成の同軸状可撓性圧電体ケーブル欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

In addition, inspection systems, circuits, and methods are provided to enhance defect detection by reducing thermal damage to large particles by dynamically altering the incident laser beam power level supplied to the specimen during a surface inspection scan.例文帳に追加

加えて、表面検査の走査の間に試料に供給される入射レーザ・ビームパワー・レベルを動的に変更することによって大きな粒子に対する熱破損を削減することにより欠陥検出を強化するための検査システムや回路、方法が提供される。 - 特許庁

In the ultrasonic flaw detection method for detecting flaws of the material to be inspected via water by using a piezoelectric oscillator, creeping waves are transmitted to the material to be inspected, and creeping waves reflected by a defect existing in the material to be inspected are received at a position different from the transmission position of the creeping waves.例文帳に追加

圧電型振動子を用い、水を介して、被検査材の探傷を行なう超音波探傷方法において、被検査材に対してクリーピング波を送信し、被検査材に存在する欠陥で反射したクリーピング波を送信位置とは異なる位置で受信する。 - 特許庁

To provide a display device with which detection of the presence of a line defect is conducted by display inspection before mounting a driving signal source, wherein a scanning line and a signal line are mutually independently controlled and inspected, and to provide a method for inspecting the same.例文帳に追加

走査線と信号線とを独立して制御して検査することによって、駆動信号源の実装前における表示検査によって線欠陥の有無を検査することが可能な表示装置及び表示装置の検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an appearance inspection method and system capable of correct and reliable detection of defective regions without mistaking a defect- free region, presenting light-and-shade unevenness because of uneven lighting, for a defective region.例文帳に追加

照明むら等の影響により不良でない領域に濃淡値のむらがあっても、むらの領域を不良領域と誤判定することなく、不良の領域を正確且つ確実に検出することができる外観検査装置及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁

The center position of the light transmitted through the frequency cut filter and the diffraction mask is shifted from the center of the defect detection region in the plate as an object by a distance from one third or more to a half or less of a viewing field of the imager.例文帳に追加

そして、前記周波数カットフィルタ及び回折マスクを透過した光の中心位置が、対象とする板状体の欠陥検出部位の中心から前記撮像装置の視野範囲の１／３以上１／２以下に相当する距離ずらすことを特徴とする。 - 特許庁

To provide an electron beam equipment capable of obtaining an image for inspection with little distortion and enabling a surface observation and a defect detection as well as a device manufacturing method for inspecting a device on the way of a process with a good throughput with the use of the electron beam equipment.例文帳に追加

歪みの少ない検査画像が得られ、信頼性の高い表面観察および欠陥検出を可能にする電子ビーム装置、および、該電子ビーム装置を用いてスループット良くプロセス途中のデバイスを検査するデバイス製造方法を提供すること。 - 特許庁

In reviewing the defects, by irradiating the primary electron beam on the testpiece in such a state that the deflection amount of the electrostatic deflector 12 is reduced than the detection time of defects, and by forming the secondary electron microscopic picture of the defect candidate of the testpiece 19, the three-dimensional SEM image is obtained.例文帳に追加

欠陥レビュー時には、静電偏向器１２の偏向量を欠陥検出時より低下させた状態で１次電子線を試料に照射して試料１９の欠陥欠陥候補の２次電子画像を形成することにより立体的なＳＥＭ像が得られる。 - 特許庁

While a word line, to which a memory cell of a test target is connected, is driven in a defect detection test, driving of a word line to which a memory cell for applying active noise is connected is made possible, wherein data inverse to data written in the memory cell of the test target is written into the memory cell for applying active noise.例文帳に追加

不良検出試験の際に検査対象メモリセルが接続されたワード線を駆動している間に、検査対象メモリセルに書き込まれたデータの逆のデータが書き込まれたアクティブノイズ印加用メモリセルが接続されたワード線を駆動できるようにした。 - 特許庁

In the ultrasonic flaw detection method for detecting flaws of materials to be inspected via water via a piezoelectric oscillator, creeping waves are transmitted to a material to be inspected, and creeping waves reflected at a defect present in the material to be inspected are received at a location different from the transmission location of the creeping waves.例文帳に追加

圧電型振動子を用い、水を介して、被検査材の探傷を行なう超音波探傷方法において、被検査材に対してクリーピング波を送信し、被検査材に存在する欠陥で反射したクリーピング波を送信位置とは異なる位置で受信する。 - 特許庁

The inspection device is provided with a sensor 10 for emitting light on an optical axis OA to detect light returned on the optical axis OA, and a detector 5 for detecting the kind of the container or the defect thereof, based on the presence of light detection by the sensor 10.例文帳に追加

該検査装置は、光軸ＯＡ上に光を出射し光軸ＯＡ上を戻ってくる光を検知するセンサ１０と、センサ１０によって光が検知されるか否かによって前記容器の種類又は前記容器の不具合を検知する検知装置５とを備える。 - 特許庁

The apparatus for restoring the shape of the via hole of a wafer having an imperfect via hole includes a defect detection part for detecting the imperfect via hole, and an etching part for etching the imperfect via hole with a fast atom beam.例文帳に追加

また、不完全なビアホールを有するウェーハのビアホールの形状を修復する装置であって、不完全なビアホールを検出する欠陥検査部、不完全なビアホールを高速原子線によりエッチングするエッチング部、を備えたことを特徴とする形状修復装置を用いる。 - 特許庁

A microcomputer part 106 variably controls an individual defect detection condition for judging a pixel as a defective pixel for each divided range so that a difference between an expected value of defective pixels existing in the range and the number of detected defective pixels falls within a prescribed range.例文帳に追加

マイコン部１０６は、該範囲分けした範囲毎に、該範囲中に存在する欠陥画素の期待値と欠陥画素の検出個数との差分値が所定範囲内に収まるように、画素が欠陥画素であると判定する個別欠陥検出条件を可変制御する。 - 特許庁

To provide a preprocessing method of image processing data of a moving article, an image processing program and a data processor, capable of executing detection processing in a short time, by accurately and surely detecting a defect part of a moving article with an inexpensive device constitution.例文帳に追加

低廉な装置構成により移動物品の欠陥部等を精度よく確実に検出し、しかも検出処理を短時間で行うことのできる移動物品の画像処理用データの前処理方法、画像処理プログラム並びにデータ処理装置を提供する。 - 特許庁

To precisely detect an image defect caused by a foreign matter deposited on a film, a flaw in the film, a foreign matter deposited on a reading system for reading the film or a photographing system for photographing a subject, or the like, without making erroneous detection.例文帳に追加

フィルムに付着した異物、フィルムに付いた傷、フィルムを読み取る読取系または被写体を撮影する撮影系に付着した異物等に起因する画像欠陥を、誤検出なく高精度に検出することができる画像欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image pickup device capable of performing correction coping with an increase in flaws by the secular change of a solid-state image pickup device and temperature rise by detecting an image defect position on the solid-state image pickup device and occasionally updating the detection position information.例文帳に追加

従来は固体撮像素子の経年変化による画素欠陥や、製品内部の温度上昇、あるいは低輝度撮像時に映像信号の増幅率が増加した場合等、後天的な原因に基づく画素欠陥によるキズによる補正が難しい。 - 特許庁

To provide an SEM type inspection device improved in image quality and defect detection sensitivity by reducing pixel displacement when a two-dimensional image is formed by displacement of an electron beam irradiation position by deflection circuit noise generated in a constituent element of a beam deflection control circuit.例文帳に追加

ビーム偏向制御回路の構成素子で発生する偏向回路雑音による電子ビーム照射位置のずれによる二次元画像化したときの画素ずれを低減して画質及び欠陥検出感度を向上させたＳＥＭ式検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To enable selecting an illumination angle for enlarging an effective inspection range and excellently detecting defects by suppressing generation of reflection, and to improve irregularity detection ability with improved image contrast between irregularity defect and a normal part by reducing limitations of illumination angle in an irregularity inspection device and method for detecting irregularity defect of an inspected object having a periodic pattern.例文帳に追加

周期性のあるパターンをもつ被検査体のムラ欠陥を検出するためのムラ検査装置および方法において、映り込みの発生を抑制して、有効な検査範囲の拡大、良好な欠陥の検出が可能な照明角度を選択できるようにすること、また照明角度の制限を減らすことによって、ムラ欠陥と正常部との画像コントラストの向上が期待でき、結果的にムラ検出能力を向上すること - 特許庁

To provide a broadcasting receiver capable of allowing a viewer to continuously view a program by receiving broadcasting signals from a plurality of kinds of transmission equipment and switching branch numbers by the detection of a reception defect, when channel information is stored and managed with the branch numbers concerning a case where the viewer cannot continuously view the program due to the reception defect caused by the position movement of a traveling object.例文帳に追加

移動体における位置移動による受信不良発生によって継続的な番組視聴が提供できないことに対して、複数の送出設備から放送信号を受信し、枝番によりチャンネル情報を記憶管理している場合には、受信不良の検出により枝番を切り換えることで継続した番組視聴を可能とする放送受信装置の提供を目的とする。 - 特許庁

The ultrasonic flaw detection method performs ultrasonic flaw detection of defects, such as cracks that are generated at the fillet-welding section by applying ultrasonic waves that are generated by a transmission probe via welding beads at one side and receiving ultrasonic waves that are reflected by such defect as cracks, using a reception probe via welding beads at the opposite side.例文帳に追加

本発明の請求項１に係る超音波探傷方法は、隅肉溶接部に発生するき裂等の欠陥検出を、送信探触子より発した超音波を片側の溶接ビードを介して入射し、き裂等の欠陥で反射した超音波をその反対側の溶接ビードを介して受信探触子により受信することにより超音波探傷を行うものである。 - 特許庁

A detection part 51 compares an index value calculated by using a pixel value of a prescribed pixel and a pixel value of an ambient pixel of the prescribed pixel with a changed defect detection level in a photographed image acquired by using an image pickup element such as a CCD to thereby determine whether the prescribed pixel is a defective pixel, detecting the defective pixel in the picked-up image.例文帳に追加

そして、検出部５１は、ＣＣＤなどの撮像素子を用いて取得される撮影画像において、所定の画素の画素値と当該所定の画素の周辺画素の画素値とを用いて算出される指標値を、変更された欠陥検出レベルと比較することによって、当該所定の画素が欠陥画素であるか否かを判定し、撮像画像における欠陥画素を検出する。 - 特許庁

To provide a magnetic disk test method or a certifier which reduces a write connecting region of test burst signals in a test track, which become non-test areas, and also reduces error of defect detection of the write connecting region when errors of a magnetic disk are detected.例文帳に追加

未検査エリアとなる検査トラックにおけるテストバースト信号の書きつなぎ領域を低減しかつ磁気ディスクのエラー検出をする際に書きつなぎ領域の欠陥誤検出を低減することができる磁気ディスクの検査方法あるいはサーテファイアを提供することにある。 - 特許庁

To provide a laser light source which can be operated at room temperature and is capable of efficiently generate deep ultraviolet rays and to provide a mask inspection device and an exposure device which have a high defect detection sensitivity due to this deep ultraviolet laser light source and are small-sized and stable.例文帳に追加

室温で動作することが可能な深紫外光を効率良く発生できるレーザ光源を提供することであり、また、この深紫外光レーザ光源により、高い欠陥検出感度を有する小型で安定したマスク検査装置及び露光装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To prevent occurrence of the detection of brake out caused by the defect of the stability in the temperature of a mold frequently shown in the case the content of SiO_2 in mold powder is reduced for dealing with the problem of contamination of the powder to a slab causing the surface flaw of a cold-rolled steel sheet.例文帳に追加

冷間圧延鋼板の表面疵の原因となる鋳片へのモールドパウダーの巻き込みの問題に対処するためパウダーのＳｉＯ_２の含有量を減らした場合に多く見られる、鋳型温度安定度の不良に起因するブレークアウトの検知の発生を防止する。 - 特許庁

The foreign matter sorter includes: a detection sensor 25 for detecting and sorting laver A to which metal C is attached that detects and sorts laver A to which impurities being foreign matter are attached; a control means; and a defect metal sorting means.例文帳に追加

そして、異物である夾雑物が付着した海苔Ａを検出，選別可能であると共に、異物である金属Ｃが付着した海苔Ａを検出，選別可能であり、金属Ｃが付着した海苔Ａの検出，選別用の、探知センサー２５，制御手段，金属不良選別手段を備えている。 - 特許庁