例文 (535件) |
emitter regionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 535件
An opening is formed at the upper part of the collector region of the bipolar transistor, an intrinsic base layer with a recessed part is formed at the opening, and an emitter layer is formed at the recess of the intrinsic base layer.例文帳に追加
バイポーラトランジスタのコレクタ領域の上部に開口を設け、この開口に凹部を有する真性ベース層を設けるとともに、この真性ベース層の凹部にエミッタ層を設ける。 - 特許庁
Switching loss is lowered and total loss generated can also be lowered, while the on-voltage of the trench type IGBT is kept as low as that of the IEGT by dividing the mesa region held by the trenches into a plurality of p-type base regions and forming the restricted region in the mesa region as the emitter structure.例文帳に追加
トレンチで挟まれるメサ領域内を複数のP型ベース領域に分割し、メサ領域内のある限られた領域をエミッタ構造とすることで、トレンチ型IGBTのオン電圧をIEGT並みの低い状態のままで、スイッチング損失も低くし、トータルの発生損失を低減することができる。 - 特許庁
The heterobipolar transistor has laminated on a Si substrate 10 a Si collector-embedded layer 11; a first base region 12, formed of an SiGeC layer containing C with high content; a second base region 13, formed of an SiGeC layer containing C with low content or SiGe layer; and an Si-capping layer 14, inclusive of an emitter region 14a.例文帳に追加
Si基板10に、Siコレクタ埋め込み層11と、C含有率の高いSiGeC層からなる第1ベース領域12と、C含有率の低いSiGeC層又はSiGe層からなる第2ベース領域13と、エミッタ領域14aを含むSiキャップ層14とを積層している。 - 特許庁
To provide a bipolar transistor with vertical geometry including a base region (1) provided with a base contact (21), emitter and collector regions (2, 3) arranged to extract minority carriers from the base region, and an excluding structure for counteracting entry of minority carriers into the base region via the base contact.例文帳に追加
ベース・コンタクト(21)が設けられたベース領域(1)と、ベース領域から少数キャリアを抽出するように構成されたエミッタ領域およびコレクタ領域(2、3)と、ベース・コンタクトを経由してベース領域内への少数キャリアの侵入を妨げるための排除構造とを有する縦型構造のバイポーラ・トランジスタを提供する。 - 特許庁
A second conductivity emitter region 18 is formed inside the first conductivity body layer 12, and a gate electrode 22 to the second conductivity drift layer 10 through the second conductivity emitter region 18 is formed.例文帳に追加
ドレイン電極2、高濃度第1導電型半導体基板4、高濃度第2導電型バッファ層6、第1導電型ドリフト層8、第2導電型ドリフト層10、第1導電型ボディ層12の順で積層し、第1導電型ボディ層12内に第2導電型エミッタ領域18を形成し、第2導電型エミッタ領域18を貫通して第2導電型ドリフト層10に達するゲート電極22を形成する。 - 特許庁
The vertical IGBT 10 includes a p-type collector region 21 provided on a rear layer part of a semiconductor substrate 20 and electrically connected with a collector electrode, an n-type emitter region 26 provided on a front layer part of the substrate 20 and electrically connected with an emitter electrode, and an insulative insulation wall 36 provided around an element part.例文帳に追加
縦型IGBT10は、半導体基板20の裏層部に設けられているとともにコレクタ電極に電気的に接続されているp型のコレクタ領域21と、半導体基板20の表層部に設けられているとともにエミッタ電極に電気的に接続されているn型のエミッタ領域26と、素子部の周縁に設けられている絶縁体の絶縁壁36を備えている。 - 特許庁
To provide a semiconductor device which can reduce the collector resistance of a bipolar transistor having an intrinsic emitter region, intrinsic base region and intrinsic collector region arranged in the vertical direction in a thin SOI layer of several tens to several hundreds of nanometers, and avoid deteriorating characteristics due to current concentration on the intrinsic collector region.例文帳に追加
本発明は、厚さ数10nm〜数100nm程度の薄膜SOI層中に、トランジスタの真性エミッタ領域、真性ベース領域及び真性コレクタ領域が垂直方向に配列しているバイポーラ・トランジスタのコレクタ抵抗の低減と、この真性コレクタ領域での電流の集中による特性劣化を防ぐことができる半導体装置を提供することである。 - 特許庁
An SiGe alloy layer 4 serving as a base layer and an n-type diffusion layer 5 serving as the emitter layer are provided on the active region 2a, and a groove 60 is formed on the surface of the region 2a between the SiGe alloy layer 4 and the element isolation film 3.例文帳に追加
活性領域2aの上には、ベース層として機能するSiGe合金層4およびエミッタ層として機能するn型拡散層5を設け、SiGe合金層4と素子分離膜3との間の活性領域2aの表面に溝60が設けられる。 - 特許庁
The emitter region 6 and the collector region are arranged separately in the width direction of the side wall and the depth direction of the semiconductor substrate 1 through the second conductive type impurity diffusion layer 5, and they are arranged in the closest position in width direction of the side wall.例文帳に追加
前記エミッタ領域6と前記コレクタ領域とは前記第2導電型の不純物拡散層5を介してサイドウオールの幅方向及び半導体基板1の深さ方向に離間して配置され、かつサイドウオールの幅方向において最近接して配置されている。 - 特許庁
After forming an n-type buffer layer 7, a surface of the n-type buffer layer 7 is covered with a protecting film 8, then flaws 6, which are generated in forming the n-type buffer layer 7, are removed by a mirror polishing, and a p-type base region and an n-type emitter region are formed on the surface.例文帳に追加
n型バッファ層7を形成した後で、このn型バッファ層7の表面を保護膜8で被覆し、n型バッファ層7を形成したたきに付いたキズ6を鏡面研磨で除去し、その面に、p型ベース領域やn型エミッタ領域を形成する。 - 特許庁
To provide an organic electroluminescent element having high brightness and durability obtained by converting substantially colorless light of violet or ultraviolet region, which is emitted from a light emitter, to a light in the visible region using a fluorescence conversion filter.例文帳に追加
発光体から発する実質上無色の紫色領域〜紫外領域の光を、蛍光変換フィルターを用いて可視領域の発光に変換するした発光輝度が高く、かつ耐久性が優れた電界発光素子である有機エレクトロルミネッセンス素子を提供する。 - 特許庁
To obtain a fabrication method of Bi-CMOS semiconductor device in which ion implantation conditions can be set independently for the emitter region of a vertical PNP bipolar transistor and the source-drain region of a PMOS transistor without requiring additional photoresist processes.例文帳に追加
Bi−CMOS半導体装置の製造方法において、フォトレジスト工程を追加することなく、縦型PNP型バイポーラトランジスタのエミッタ領域とPMOSトランジスタのソース/ドレイン領域とのイオン注入条件をそれぞれ独立に設定することができるようにする。 - 特許庁
A semiconductor device has an IGBT cell including a base region 14 and an emitter region 15 that are formed in an n-type drift layer 11, and a p-type collector layer 12 disposed below the drift layer 11 via an n-type buffer layer 13.例文帳に追加
半導体装置は、n−型のドリフト層11に形成されたベース領域14およびエミッタ領域15と、ドリフト層11の下にn型のバッファ層13を介して配設されたp型のコレクタ層12とにより構成されるIGBTセルを有している。 - 特許庁
An emitter mesa 39 is formed on an inner base region 35a with a small carrier density that is located at the upper portion of the flat part of the substrate, and a base electrode 42 is formed on an external base region 35b with a large carrier density that is located at the upper portion of the inclined surface of the substrate.例文帳に追加
基板平坦部の上方に位置するキャリア密度の小さな内部ベース領域35aの上にエミッタメサ39を形成し、基板斜面の上方に位置するキャリア密度の大きな外部ベース領域35bの上にベース電極42を形成する。 - 特許庁
A polycrystalline silicon film 41 is formed on a silicon substrate 1 in a state where a Vth adjusting region 16 and gate oxide film 21 of CMOSFET are formed, a base 17 of the bipolar transistor is formed and an emitter formed region of the base 17 is exposed.例文帳に追加
CMOSFETのVth調整領域16およびゲート酸化膜21が形成され、バイポーラトランジスタのベース17が形成され、このベース17のエミッタ形成領域を露出させた状態のシリコン基板1上に、多結晶シリコン膜41を形成する。 - 特許庁
On an emitter region 10, a first insulating film 4 having a first opening, and a second insulating film 6 having a second opening being smaller than the first one on the first opening are provided, and an emitter electrode material 9 where impurities are doped is buried in the first and second opening parts.例文帳に追加
エミッタ領域10上に、第1の開口部を有する第1の絶縁膜4と、第1の開口部上に第1の開口部より小さい第2の開口部を有する第2の絶縁膜6と、が設けられ、第1及び第2の開口部に不純物が導入されたエミッタ電極材料9が埋め込まれてなる。 - 特許庁
To solve the problem that electrical field concentration occurs in a gate electrode bottom of an outermost periphery of an actual active region in the conventional power MOSFET, resulting in degradation of its breakdown voltage between source and drain (or between collector and emitter).例文帳に追加
従来のパワーMOSFETでは実動作領域最外周のゲート電極底部に電界集中が発生しドレイン−ソース(又はコレクタ−エミッタ)間の耐圧劣化を招いている。 - 特許庁
In a peripheral high voltage breakdown section, a pn junction section by a p^+-type contact region 22 electrically connected to an emitter electrode 11 and an n^--type layer 1B is formed in a surface section of an n^--type layer 1B.例文帳に追加
外周耐圧部において、n^-型層1Bの表層部に、エミッタ電極11に電気的に接続されたp^+型コンタクト領域22とn^-型層1Bとによるpn接合部を有する構造とする。 - 特許庁
The region of the emitter 17 is sufficiently heated and hardened, the adhesive strength between the carbon paint film 17a and the substrate 11 is increased, and the adhesive strength between the carbon grains and the thermosetting resin is increased.例文帳に追加
エミッタ17となる領域は十分に加熱されて硬化し、カーボン塗膜17aと基板11との密着力が強くなり、カーボン粒子と熱硬化性樹脂との密着力も強くなる。 - 特許庁
In this NPN-type bipolar transistor equipped with an operation region, a collector contact part (10), a base contact part (11) and an emitter contact part (12) are disposed on the surface of an epitaxial layer (2) formed on a semiconductor substrate (1).例文帳に追加
動作領域を備えたNPN型のバイポーラトランジスタにおいて、半導体基板(1)上に形成したエピタキシャル層(2)の表面に、コレクタコンタクト部(10)、ベースコンタクト部(11)、エミッタコンタクト部(12)を設ける。 - 特許庁
Thus, a collector- emitter voltage of the output TR 36 is always a VF (about 0.7 V) or over and the output TR 36 is active only in an active region so as to suppress production of waveform distortion accompanying saturation.例文帳に追加
これにより、出力トランジスタ36のコレクタ・エミッタ間電圧は常にVF(約0.7V)以上となり、出力トランジスタ36は能動領域でのみ動作し、飽和に伴う波形歪みの発生を抑える。 - 特許庁
A semiconductor device 20A is formed with an emitter pad electrode 23E, a collector pad electrode 23C, and a base pad electrode 23B connected with an active region 21, on the surface of a semiconductor substrate 25.例文帳に追加
本発明の半導体装置20Aは、半導体基板25の表面に活性領域21と接続されたエミッタパッド電極23E、コレクタパッド電極23Cおよびベースパッド電極23Bが形成されている。 - 特許庁
A high efficiency phototransistor can be fabricated by composing the emitter region of the phototransistor of polycrystalline silicon and single crystal silicon diffused with impurities from the polycrystalline silicon.例文帳に追加
フォト・トランジスタのエミッタ領域を多結晶シリコンと多結晶シリコンからの不純物の拡散された単結晶シリコンとで構成することにより、高効率なフォト・トランジスタを形成できることを特徴とする。 - 特許庁
A base layer 4 is selectively formed on a substrate 1, and an AlGaAs emitter layer 5 with an opening part in a base electrode formation region is selectively formed on the base layer 4.例文帳に追加
基板1の上にはベース層4が選択的に形成されており、このベース層4の上にベース電極形成領域に開口部を有するAlGaAsエミッタ層5が選択的に形成されている。 - 特許庁
In the bipolar transistor using the temperature characteristics of the forward voltage generated between emitter-base, a heavily doped region for a base electrode which is a second conductive type, and a heavily doped region for a collector electrode which is a first conductive type are directly contacted, the element area is reduced by not forming an unnecessary isolation region.例文帳に追加
エミッタ-ベース間に発生する順方向電圧の温度特性を利用するバイポーラトランジスタにおいて、第二の導電型であるベース電極用高濃度不純物領域と、第一の導電型であるコレクタ電極用高濃度不純物領域とを直接に接触させ、不要な分離領域を形成しないことで素子面積を縮小する。 - 特許庁
When forming the emitter region 2e and the collector region 2c, the acceleration voltage is set at 20 kV and the ion current is set at 10 μA by a secondary ion microanalyzer (IMA) and the two points on the Si substrate 1 are irradiated with Ar^+ and He^+, which are rare gas element ions, for about two hours.例文帳に追加
エミッタ領域2e及びコレクタ領域2cの形成に当たっては、二次イオン質量分析器(IMA)により加速電圧を20kV、イオン電流を10μAとして、希ガス元素のイオンであるAr^+及びHe^+を2時間程度、Si基板1の2箇所にイオン照射する。 - 特許庁
Some p-type base regions 12 of the p-type base regions 10 and 12 without any n-type source region 3 are electrically connected with an emitter electrode 7 via contact holes 11 provided in the vicinity of the terminal ends of the trenches 21 and provided on the both sides of a gate runner 14 in an active region.例文帳に追加
そして、n型ソース領域3のないp型ベース領域10,12のうちの一部のp型ベース領域12とエミッタ電極7とを、トレンチ21の終端部近傍と活性領域内のゲートランナー14の両脇にそれぞれ設けたコンタクトホール11を介して、電気的に接続する。 - 特許庁
The warpage of an IGBT chip 1 is reduced by suppressing the bimetal effect by partially removing a Ni film not shown in the Fig. in a divided region 11 on the side of a collector electrode 10 onto which a divided region 9 of the emitter electrode 2 divided by the gate wire 4 is vertically projected.例文帳に追加
ゲート配線4で分割されるエミッタ電極2の分割領域9を垂直投影したコレクタ電極10側の分割領域11の図示しないNi膜を部分的に除去することでバイメタル効果を抑制して、IGBTチップ1の反り量を低減する。 - 特許庁
A method for manufacturing the semiconductor device comprises the steps of forming a gate electrode 3 on a semiconductor substrate 1 via an insulating film 2, and forming a p-type base region 6 and an n+ type emitter region 7 on a thin film semiconductor layer 11 formed on the electrode 3 via an insulating film 5 through a coupled semiconductor 12 from the surface of the substrate 1.例文帳に追加
半導体基板1 上に絶縁膜2 を介してゲート電極3 を形成し、半導体基板1 表面から連結半導体部12を経てゲート電極3 上に絶縁膜5 を介して形成された薄膜半導体層11にpベース領域6 、n^+ エミッタ領域7 を形成する。 - 特許庁
The spin valve transistor has a collector region 1 made of a semiconductor, a base region 2 having a first ferromagnetic body layer 12 where a magnetization direction is changed according to the direction of an external magnetic field, a barrier layer 3 made of an insulator formed on the base region 2 or the semiconductor, and an emitter region 4 having a second ferromagnetic body layer 15 where the magnetization direction is fixed.例文帳に追加
半導体からなるコレクタ領域1と、コレクタ領域1上に形成され、外部磁界の方向に応じて磁化方向が変化する第1の強磁性体層12を有するベース領域2と、ベース領域2上に形成された絶縁体又は半導体からなるバリア層と3、ベース領域2上に形成され、磁化方向が固定された第2の強磁性体層15を有するエミッタ領域4とを備える。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a hetero-junction bipolar transistor having a raised base of which the base resistance is decreased by forming silicide extending to an emitter region in a self-aligning manner on a raised base.例文帳に追加
盛上ったベース上にエミッタ領域まで自己整合的に延びるシリサイドを形成することによって、ベース抵抗が低下した盛上ったベースを備えるヘテロ接合バイポーラ・トランジスタの製作方法を提供すること。 - 特許庁
A collector layer 1 of a first conductivity-type (n-type) semiconductor is joined to provide a base layer 2 of a second conductivity-type (p-type), and an emitter region 3 of the first conductivity-type (n-type) is provided in the base layer 2.例文帳に追加
第1導電形(n形)半導体からなるコレクタ層1と接合して第2導電形(p形)のベース層2が設けられ、そのベース層2内に第1導電形(n形)のエミッタ領域3が設けられている。 - 特許庁
In the epitaxial layer 4, p-type diffusion layers 31, 32 for base regions, n-type diffusion layers 27, 28, 29, 30 for collector regions and an n-type diffusion layers 35 for an emitter region are formed.例文帳に追加
エピタキシャル層4には、ベース領域としてのP型の拡散層31、32と、コレクタ領域としてのN型の拡散層27、28、29、30と、エミッタ領域としてのN型の拡散層35が形成されている。 - 特許庁
In this manner, the occurrence of defects is avoided when the emitter region 12E is formed in contact with the element separation layer 11, thus improving transistor characteristics without increasing the number of processes.例文帳に追加
このようにしてエミッタ領域12Eが素子分離層11に接して形成される場合の欠陥発生を回避して、トランジスタ特性の向上を、工程数を増加させることなく構成することができるようにする。 - 特許庁
A gate oxide film 12 of the CMOSFET is formed, a base 17 of the bipolar transistor is formed, and the polycrystal silicon film 41 is formed on the silicon substrate 1 where an emitter region of the base 17 is exposed.例文帳に追加
CMOSFETのゲート酸化膜12が形成され、バイポーラトランジスタのベース17が形成され、このベース17のエミッタ領域を露出させた状態のシリコン基板1上に、多結晶シリコン膜41を形成する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device having a transistor which can increase its main current capacity by increasing a junction area between emitter and base regions and decreasing the resistive value of a collector contact region.例文帳に追加
エミッタ領域−ベース領域間の接合面積を増加させつつ、コレクタコンタクト領域の抵抗値を減少させることにより、主電流容量を増加させることができるトランジスタを備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁
Laser diode beam from the light emission region of an emitter 2 is propagated inside a fiber 3, by reflecting it to an optical axis direction with a tapered part 13 in a tip of the fiber 3.例文帳に追加
エミッタ2の発光領域からのレーザーダイオード光を、ファイバ3の先端部のテ−パ形状をなすテ−パ形状部分13にて光軸方向に反射させることによりファイバ3内を伝搬させるようにした。 - 特許庁
Further, since the channel region of the J-FET can be formed simultaneously with emitter diffusion, IDSS and a pinch-off voltage become stable, and variance in consumption current as the amplifying element is reduced to improve productivity.例文帳に追加
また、J−FETのチャネル領域は、エミツタ拡散31と同時に形成できるため、IDSSSや、ピンチオフ電圧が安定し、増幅素子としての消費電流のばらつきが低減し、生産性が向上する。 - 特許庁
The carrier accumulation layer 3 is formed of phosphorus doped to provide the maximum impurity concentration at the predetermined depth, the base region 2 is formed of boron doped to provide the maximum impurity concentration at the location shallower than the depth of the base region 2, and the emitter region 4 is formed of arsenic to provide the maximum impurity concentration at the front surface of the N-substrate.例文帳に追加
キャリア蓄積層3は、所定の深さにおいて不純物濃度が最大となるように注入されたリンによって形成され、ベース領域2はその深さよりも浅い位置において不純物濃度が最大となるように注入されたボロンによって形成され、エミッタ領域4はN−基板の表面において最大となるように注入された砒素によって形成されている。 - 特許庁
The plate includes a first surface defining an outer peripheral part and a second surface equipped with an opening part, the second surface continuously contacts to an outer surface of the VED on a region between a first end part and an emitter region, the first surface is equipped with an interface continuously contacting to an enclosure wall (inner wall).例文帳に追加
プレートは、外周部を定める第1の表面と開口部を備えた第2の表面を有し、第2の表面は第1の端部とエミッタ領域との間の領域でVEDの外面と連続接触するようになっており、第1の表面はエンクロージャ壁(内壁)と連続接触するようになったインタフェースを備えている。 - 特許庁
In this HBT, a collector layer is comprised of a first collector layer 26, in contact with a collector contact layer 25 and a second collector layer 27 in contact with a base layer 28, and is further formed of an intrinsic collector region facing a mesa type emitter layer 29 and an external collector region outside the intrinsic collector area.例文帳に追加
HBTにおいて、コレクタ層を、コレクタコンタクト層25に接する第1のコレクタ層26とベース層28に接する第2のコレクタ層27とで構成するとともに、メサ型のエミッタ層29に対向する真性コレクタ領域とこの真性コレクタ領域の外側に位置する外部コレクタ領域とで形成している。 - 特許庁
A selective epitaxial growth is performed in this region to form collector layers 210a, 210b, and a base layer 213 is formed on the collector layer 210a, and an emitter layer 216 is formed on a partial surface of the base layer 213.例文帳に追加
この領域に選択的エピタキシャル成長を行ってコレクタ層210a及び210bを形成し、コレクタ層210a上にベース層213を形成し、ベース層213の表面のー部分にエミッタ層216を形成する。 - 特許庁
A base electrode 11, in a collector top heterojunction bipolar transistor is brought into contact with the side plane of a base layer 5 which has not been subjected to ion implantation and with the front surface of a high resistance parasitic emitter region 14, which has been subjected to the ion implantation.例文帳に追加
コレクタトップヘテロ接合バイポーラトランジスタにおけるベース電極11がイオン打ち込みがなされていないベース層5の側面およびイオン打ち込みがなされた高抵抗寄生エミッタ領域14の表面に接するようにする。 - 特許庁
Provided is a system which executes interactive communication by an optical signal between a vehicle-mounted device 2 mounted in a vehicle C and a light emitter and receiver 8 of an optical beacon 4 in a communication area A provided in a prescribed region on a road R.例文帳に追加
本発明は、道路Rの所定範囲に設定された通信領域Aにおいて、車両Cに搭載された車載機2と光ビーコン4の投受光器8との間で光信号による双方向通信を行うシステムに関する。 - 特許庁
A bipolar transistor is provided with a polysilicon layer 21 connected to one of the emitter, collector, and base inside an element isolation region, and uses the polysilicon layer 21 as a resistance, so that although it is constituted with the resistance is connected to one of the emitter, collector; and base, the element area is prevented from increasing and the high integration can be actualized.例文帳に追加
本発明のバイポーラトランジスタは、素子分離領域の内側において、エミッタ、コレクタまたはベースの中のいずれか1つと接続されるようにポリシリコン層21を設け、このポリシリコン層21を抵抗として使用するように構成したので、エミッタ、コレクタまたはベースの中のいずれか1つに抵抗を接続するように構成しながら、素子面積が増えることを防止でき、高集積化を実現できる。 - 特許庁
In a horizontal bipolar transistor, containing thermally diffused impurities provided on the upper part of a base region, contains a semiconductor layer, and has a collector diffusion layer and an emitter diffusion layer juxtaposed, and a semiconductor device that has such a transistor, the semiconductor layer is laid down to further implant impurities, and then, subjected to heat treatment, to make a collector diffusion layer and an emitter diffusion layer.例文帳に追加
ベース領域の上部に設けた不純物を含有する半導体層の前記不純物を熱拡散させてコレクタ拡散層とエミッタ拡散層とを並設してなる横型バイポーラトランジスタ、およびそれを有する半導体装置において、半導体層を横断させて不純物をさらにイオン注入した後に熱処理することによってコレクタ拡散層とエミッタ拡散層とを設ける。 - 特許庁
To provide a field emission type electron emitter having higher efficiency than conventional technology in technical fields for the field emission type electron emitter, being formed more consistently at lower cost than the conventional technology, eliminating the need for consideration of having effect on environment and for high vacuum environment typically required for the conventional technology, and having superiority to the conventional technology and high emitting efficiency around the center region of a flat electron emitter element.例文帳に追加
電界放出型電子放出器の技術分野において、従来技術よりも高い効率を提供し、従来技術よりも低コストでより一貫して形成することができ、環境の影響への配慮および従来技術において典型的に必要とされる高真空環境の必要性をなくし、従来技術よりも優れた、平坦型電子放出素子の中央領域周囲における高い放出効率を有する電界放出型電子放出器を提供することである。 - 特許庁
In an n channel type horizontal IGBT 10, a metal silicide layer 9a is formed on a P+ diffusion layer 12 which is isolated from an N-epitaxial layer 4 with a p-base 11 therebetween and an N+ diffusion layer 13 for use as an emitter region.例文帳に追加
nチャネル型の横型IGBT10では、N-エピタキシャル層4とはpベース11を介在させて隔てられているP+拡散層12と、エミッタ領域としてのN+拡散層13とには、金属シリサイド層9aが形成されている。 - 特許庁
In the semiconductor device, a semiconductor region 13 having P^+ conductivity type opposite to that of an emitter layer 7 is provided in the vicinity of the corner part 11b of a cell 11 partitioned by a trench 4, as shown at (a).例文帳に追加
本発明の半導体装置では、(a)に示されるように、トレンチ4仕切られたセル11の角部11bの近傍に、エミッタ層7の導電型と反対の導電型、即ちP^+型の半導体領域13を設けたことを特徴としている。 - 特許庁
The emitter extraction electrodes 21 are located on both sides of the polycrystalline silicon film 7 which is continuously formed from above the element isolation film 3 on a side over the active region 2a to the top of the element isolation film 3 on the opposite side.例文帳に追加
ここで、エミッタ引き出し電極21は、一方の素子分離膜3の上から活性領域2aの上を通って反対側の素子分離膜3の上にまで連続して設けられた多結晶シリコン膜7の両側に配置されている。 - 特許庁
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