「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(38ページ目) - Weblio英語例文検索

The ticket inspection device 5S determines the existence of the secret key in the ticket holder 4U, by using the electronic signature from the ticket holder 4U, and the public key included in the proving object information.例文帳に追加

チケット検査装置５_sは、チケット保持装置４_uからの電子署名と、被証明情報に含まれる公開鍵とを用いて、チケット保持装置４_uにおける秘密鍵の存否を判定する。 - 特許庁

To introduce a plurality of bioinformation acquisition devices into the internal of a patient at a time and control to release the bioinformation acquisition devices in inspection object sites in the body cavity.例文帳に追加

複数の体内情報取得装置を一度に患者の体内に導入して、体腔内の検査目的部位において体内情報取得装置を放出する制御を行う。 - 特許庁

An object for inspection is a wiring incorporated type suspension in the middle of manufacturing with the tips of its wires in an open state and their roots in a conducting state, and its wires are inspected.例文帳に追加

検査対象となるのは、配線の先端は開放しているが根元が導通している状態の製造途中の配線一体型サスペンションであり、その配線部を検査する。 - 特許庁

A plurality of pieces of classification information for a plurality of inspection data about one defect are allowed to be registered, and classification information of a defect which is an object for analysis is allowed to be arbitrarily selected.例文帳に追加

ひとつの欠陥に複数の検査データに対する複数の分類情報を登録可能とし、解析対象である欠陥の分類情報を任意に選択可能とした。 - 特許庁

For instance, an optimum structural element is a line or a narrow rectangle in the same orientation, with respect to a linear geometrical feature of an inspection object, and the element is a circle with respect to a circle image.例文帳に追加

例えば、最適な構造的要素は、検査対象の直線状形体に対しては、同一方位の線または細い長方形であり、円の画像に対しては、円である。 - 特許庁

A maintenance person 15a goes to respective fields while carrying an information transmitter 16a with photographing function and performs the maintenance/inspection work of the object equipment to be maintained (for example, elevator) installed there.例文帳に追加

保守員１５ａは撮影機能付きの情報発信機１６ａを所持して各現場に出向き、そこに設置された保守対象機器（例えばエレベータ）の保守点検作業を行う。 - 特許庁

To discover properly an irregularity defect or the like generated on the surface of an inspection object having roughness in the degree of visible light, and to apply the method suitably to a manufacture line of a steel plate.例文帳に追加

可視光程度の粗度を有する被検査体の表面に生じた凹凸欠陥等を適切に発見することができ、鋼板の製造ライン上において好適に適用すること。 - 特許庁

To provide an inspection device for discriminating high-speed material capable of discriminating a material of an object, even if the material has unknown attenuation characteristics, in a short time, without the need for previously determining the detection output of X rays and the thickness and the thickness of the object, and to provide a method therefor.例文帳に追加

減衰特性が未知の物質であっても、短時間にその材質を識別することができ、かつ予めＸ線の検出出力と対象物の厚みとの特性データを求める必要がない高速材質識別検査装置および方法を提供する。 - 特許庁

This is the system which utilizes temperature of a covering object nearly in stable state, in cooperation with an optical inspection system to selectively find defects and characteristics of the object through its covering, without the need for temporary heating, that is, infrared irradiation and reflective imaging.例文帳に追加

光学的検査システムと協働して被覆された対象物の略安定状態の温度を利用するシステムが開示され、一時的な加熱、即ち赤外線照射及び反射撮像の必要なくして、被覆の下の対象物の欠陥と特徴を選択的に見る。 - 特許庁

To extremely accurately inspect an object to be inspected having fine shape by making optical frequency response optimum in accordance with the inspection spot of the object to be inspected without depending on only the short wavelength of illuminating light and the high NA of an objective lens.例文帳に追加

照明光の短波長化と対物レンズの高ＮＡ化のみに頼ることなく、光学的な周波数応答を被検査物の検査箇所に応じて最適なものとし、微細形状を有する被検査物の検査を極めて高精度に行うことを可能にする。 - 特許庁

The objective system includes a front-side relay lens 24, a rear-side relay lens, and an objective stop 26 disposed between the front-side and rear-side relay lenses for collecting light scattered from the inspection object and forming an image of the object with the collected light.例文帳に追加

対物系は、上記検査対象から散乱した光を集めこの集められた光で対象の像を形成するために、前側リレーレンズ２４と、後側リレーレンズと、前側リレーレンズと後側リレーレンズとの間に配置された対物系絞り２６とを有している。 - 特許庁

To enable inspection with reduced influence of vibration that supports size increase of an object, in an image capturing device in which a deflection part for deflecting the light from an object, in a substantially horizontal direction and an imaging part for receiving the deflected light are supported horizontally.例文帳に追加

被検体からの光を略水平方向に偏向する偏向部と偏向された光を受光する撮像部とが水平支持された画像取込装置において、被検体の大型化に対応し、振動の影響を低減した検査を行うことができるようにする。 - 特許庁

In the image acquisition device 1, a current exceeding an allowable current at the continuous lighting time is inputted into the LED 31, and flash light is irradiated to the object 9 moved by the conveyor 2, and the image of an inspection domain on the object 9 is acquired.例文帳に追加

画像取得装置１では、連続点灯時の許容電流を超える電流がＬＥＤ３１に入力されて、コンベア２により移動する対象物９に対してフラッシュ光が照射され、対象物９上の検査領域の画像が取得される。 - 特許庁

This ultrasonic inspection device includes the ultrasonic probe 10 for allowing an ultrasonic wave to enter a measuring object, and receiving the ultrasonic wave from the measuring object; and a signal processing part 24 for processing an ultrasonic signal received by the ultrasonic probe 10.例文帳に追加

超音波検査装置は、測定対象物に超音波を入射させ、前記測定対象物からの超音波を受信する超音波探触子１０と、超音波探触子１０が受信する超音波の信号を処理する信号処理部２４とを備える。 - 特許庁

Since X-rays having penetrated an inspection object W on the inspection surface passes through ionization gas filled in each cylindrical ionization chamber along the central axis of each cylindrical ionization chamber, the capacity of the ionization gas through which X-rays pass is markedly larger compared to the case where they pass through in the diameter direction.例文帳に追加

検査面上の検査対象物Ｗを透過したＸ線は各筒状電離箱の中心軸線に沿って各筒状電離箱に封入されている電離ガスを通過するので、直径方向に通過する場合に比べて、Ｘ線が通過する電離ガスの容積が格段に多い。 - 特許庁

The change the degrees of reference state signal, acquired preliminarily from the object of evaluation and the measuring state signal acquired at measurement are calculated by statistical inspection or the like, by using the statistical values of frequency spectral components and the state of the evaluation target is determined, on the basis of the inspection result.例文帳に追加

評価対象物から予め取得した基準状態信号と、測定時に取得した測定状態信号とについて、その変化した度合を、周波数スペクトル成分の統計値を用いた統計検定等により求め、その結果に基づいて状態判定を行う。 - 特許庁

When the objects are determined as defective items at the main inspection processing parts 60a-68a, the salvage inspection processing parts 60b-68b determines whether the object can be salvaged or not by image matching for comparing the images to be inspected with previously registered non-defective images.例文帳に追加

救済査処理部６０ｂ〜６８ｂは、主検査処理部６０ａ〜６８ｂで被検査対象が不良であると判定されたとき、被検査画像を予め登録された良品画像と比較するイメージマッチングによって被検査対象が良品として救済可能か否かを判定する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of not only discriminating a stripe-shaped defect having a known shape generated on the surface of an inspection object by using an optical procedure but also evaluating quantitatively and highly accurately in a short time a parameter characterizing the shape of the stripe-shaped defect.例文帳に追加

光学的手法を用いて、被検査体表面に生じる形状が既知のスジ状欠点の有無を判別するだけでなく、スジ状欠点の形状を特徴付けるパラメータを、短時間で、かつ高精度に定量評価することを可能とする検査装置を提供すること。 - 特許庁

To reduce an erroneous decision in which normal conditions are determined as abnormal conditions while preventing increase of the erroneous decision in which the abnormal conditions are determined as the normal conditions without relaxing criteria for conditions of an inspection object, and also to largely reduce the inspection time.例文帳に追加

検査対象の状態に関する判定基準を緩めることをしなくても、異常状態を正常状態とする誤判定を増加させることなく、正常状態を異常状態とする誤判定を低減させるとともに、検査時間を大幅に短縮させる。 - 特許庁

An image generation unit 21 calculates a chroma C in each display pixel in an picked-up image (image data Din) which is an inspection object in color unevenness inspection, and specifies a color unevenness region based on the magnitude of the chroma C, to thereby generate a color unevenness image (color unevenness image data D2).例文帳に追加

画像生成部２１は、色むら検査における検査対象の撮像画像（撮像データＤin）において、各表示画素における彩度Ｃを算出すると共に、その彩度Ｃの大きさに基づいて色むら領域を特定することにより、色むら画像（色むら画像データＤ２）を生成する。 - 特許庁

This substrate inspection method uses a first acceleration voltage in which the yield of secondary electrons emitted from the specified material inside an inspection object region S by irradiating electron beams is larger than 1, and a second acceleration voltage in which the yield of the secondary electrons is smaller than 1.例文帳に追加

本発明に係る基板検査方法では、電子ビームを照射することにより検査対象領域Ｓ内の所定材料から出射される二次電子の収率が１より大きくなる第１の加速電圧と、二次電子の収率が１より小さくなる第２の加速電圧とを用いる。 - 特許庁

The airtight sealing inspection method performs airtight sealing inspection for a multilayer structure such as double glazing, a vacuum cup, and a multilayer diffraction optical element and a vacuum pack packed airtightly with heat seal by obtaining interference fringes on the surface of the object to be inspected and observing a change in the interference fringes caused by pressurization and depressurization.例文帳に追加

ペアガラス、真空コップ、積層型回折光学素子等の複層体や、ヒートシールによる密封包装された真空パックの密封封止検査を、被検査物表面の干渉縞を捉え、更に加圧又は減圧させることによる干渉縞の変化を観察することにより検査する。 - 特許庁

To provide inexpensively an inspection device and an observation device capable of inspecting and observing an inspection object having a periodical pattern without generating almost no fading or deterioration of an image, and without being influenced by moire even under the condition that the pattern period is close to CCD resolution.例文帳に追加

周期的パターンを持つ検査対象を、画像のボケや劣化をほとんど生じさせることなくかつパターン周期とＣＣＤ分解能が接近した条件であってもモアレの影響なく検査および観察できる検査装置および観察装置を安価に提供する。 - 特許庁

The signal analyzing part conducts correlation processing for the signals received by a plurality of receiving parts to reduce ambient noise having a time difference and extract only the sound wave generated by the vibration excited in the solid of the inspection object so as to improve the inspection accuracy.例文帳に追加

そして、信号分析部は複数の受信部で受信した信号を相関処理する事で、時間差を持った周囲の騒音を低減し、検査対象物の固体内に励振された振動によって生じた音波だけを抽出することにより、検査精度の向上を図っている。 - 特許庁

To provide a visual inspection apparatus, which can specify inspection object areas by bodies to be inspected and perform visual inspections suitable for the bodies to be inspected as an outward appearance inspecting device which inspects the visual appearance of a body to be inspected, such as a semiconductor wafer and a liquid crystal substrate through the use of its image.例文帳に追加

半導体ウエハや液晶基板などの被検体の画像を用いて被検体の外観検査を行う外観検査装置に関し、検査対象領域を被検体毎に指定し、被検体に適した外観検査が行える外観検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In a monitoring device 18 in a monitoring center 17, the maintenance person 15a specifies the field where the maintenance/inspection work is performed and an inspection item according to specification of an object equipment to be maintained installed at the field is prepared and transmitted to an information transmitter 16a possessed by the maintenance person 15a.例文帳に追加

監視センタ１７内の監視装置１８は、保守員１５ａが保守点検作業を行う現場を特定し、その現場に設置された保守対象機器（例えばエレベータ）の仕様に応じた点検項目を作成して保守員１５ａの持つ情報発信機１６ａに送信する。 - 特許庁

A contact probe 13 is arranged corresponding to an arrangement pattern of a test pad 11 provided in a circuit formation domain 5a which is an inspection object on the upper surface of a holder substrate 15 provided on this contact unit 2, and an inspection probe group 14a-14d is arranged corresponding to dummy pads 7a-7d.例文帳に追加

コンタクトユニット２に備わるホルダ基板１５の上面には、検査対象たる回路形成領域５ａに備わるテストパッド１１の配置パターンに対応してコンタクトプローブ１３が配置されると共に、ダミーパッド７ａ〜７ｄに対応して、検出プローブ群１４ａ〜１４ｄが配置される。 - 特許庁

The apparatus obtains a reference pressure value condition which is specified by an operation speed of the inspection object actuator 11 in the inspection damping operation state of making an orifice 24c communicate with a pair of oil chambers (16a and 16b) and a pressure value of pressure oil inside the pair of oil chambers (16a and 16b).例文帳に追加

オリフィス２４ｃを一対の油室（１６ａ、１６ｂ）に連通させた検査ダンピング作動状態における検査対象のアクチュエータ１１の作動速度と一対の油室（１６ａ、１６ｂ）の内部の圧油の圧力値とによって規定される基準圧力値条件を取得する。 - 特許庁

To substantially and highly efficiently perform a high voltage inspection without involving short circuit failure by a simple configuration even when clearly and accurately performing a high-voltage application test collectively for a plurality of inspection object devices in a current waveform (or a voltage waveform) conformed to the standards.例文帳に追加

検査対象の複数個のデバイスに対して一括して、規格に適合した電流波形（または電圧波形）で明確かつ正確に高電圧印加試験を行う場合にも、簡単な構成でショート不良が混在することなく、高電圧検査を大幅に効率よく行う。 - 特許庁

To provide an anisotropically conductive connector for surely achieving a satisfactory state of electrical connection to a wafer even if the pitch is extremely small between electrodes under inspection on the wafer which is an inspecting object with its contact members kept from being soon uncoupled, and to provide its manufacturing method, a probe card, and a wafer inspection device.例文帳に追加

検査対象であるウエハにおける被検査電極のピッチが極めて小さくても、ウエハに対する良好な電気的接続状態が確実に達成され、接点部材が早期に離脱しない異方導電性コネクターおよびその製造方法、プローブカード並びにウエハ検査装置を提供する。 - 特許庁

This device is equipped with a moving mechanism for moving the tool which is an inspection object to a prescribed position, a nonconductive core member 111 having an inspection part 114 capable of inserting the tool, a coil 112 wound on the core member 111, and a detection circuit 113 for detecting inductance of the coil 112.例文帳に追加

検査対象となる工具を所定の位置へ移動させる移動機構、工具を挿入することが可能な検査部１１４を有する非導電性のコア部材１１１、コア部材１１１に巻回してあるコイル１１２、及びコイル１１２のインダクタンスを検出する検出回路１１３を備える。 - 特許庁

A first inspection beam FL1 from a first light source 11 is caused to enter a surface 82S of a shading film 82 obliquely from above the object 80 under inspection with the shading film 82 formed on a front surface 81S of a transparent substrate 81, and its reflected light is received by a first photo-detector 21.例文帳に追加

透明性の基板８１の表面８１Ｓに遮光膜８２が形成されている被検査体８０の斜め上方から遮光膜８２の表面８２Ｓに第１の光源１１から第１の検査光ＦＬ１を入射させて、その反射光を第１の光検出器２１が受光する。 - 特許庁

The dangerous object is detected by changing the temperature of a sample to be inspected by changing the distance between the heating surface of a heating part for heating an inspection sample and the surface to be heated of the inspection sample and evaporating the adhesion substance of the sample to be inspected under a plurality of temperature conditions to ionize the same.例文帳に追加

検査試料を加熱する加熱部の加熱面と、検査試料の被加熱面との間の距離を変化させることで該検査試料の温度を変化させ、複数通りの温度下で該検査試料の付着物質を気化させ、イオン化することにより、危険物を探知する構成とする。 - 特許庁

To provide a device having a small device scale, allocating surely a defect of an observation object into a visual field of an electron microscope or the like, concerning a device for observing minutely by the electron microscope or the like, a defect detected by an optical defect inspection device or an optical appearance inspection device.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡等で詳細に観察する装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ装置規模を小さくできる装置を提供する。 - 特許庁

To provide a metal detecting device excellent in inspection efficiency capable of precisely detecting a magnetic material without erroneous detection, capable of adjusting the height of the detecting head to the suitable height of the inspection object by detecting the distance between the upper surface of the conveyor belt and the under surface of the detection head.例文帳に追加

搬送ベルト上面と検出ヘッド部下面との距離を検出し、被検査物の高さに適した検出ヘッド部の高さを設定でき、誤検出がなく、高精度で磁性物を検出することができ検査効率の高い優れた金属検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection method and device capable of identifying at high speed surface state of an inspection object part as whether being "color irregularity" or "fault spot accompanied by unevenness, such as flaws" caused by surface processing, or "both of them" or "non-defective free of either".例文帳に追加

被検査部品の表面状態を表面処理の結果生じた「色むら」なのか、「キズ等の凹凸を伴う不良箇所」であるのか、あるいは、「その両方である」のか、「何れでもない良品」であるのかを高速で識別することが可能な外観検査方法及び外観検査装置を提供する。 - 特許庁

An inspection system (10) includes: a sensor (16) configured to obtain inspection data of an object; a motion control device (11); a joint assembly (12) coupled to the motion control device (11); and a probe housing (13) coupled to the joint assembly (12) and configured to hold the sensor (16).例文帳に追加

検査システム（１０）は、物体の検査データを取得するように構成されたセンサ（１６）と、運動制御デバイス（１１）と、運動制御デバイス（１１）に結合されたジョイントアセンブリ（１２）と、ジョイントアセンブリ（１２）に結合され、センサ（１６）を保持するように構成されたプローブ筐体（１３）とを含む。 - 特許庁

To enable measurement of flow rate distribution ratio without breaking an inspection object and determination of individual difference between inspected bodies using it, under a condition where data related to the flow channel resistance of a plurality of internal flow channels of the inspection objects can be unclear or the data can change.例文帳に追加

被検査体の複数の内部流路の流路抵抗に関与するデータが不明あるいは同データが変化する可能性がある条件下において、被検査体を破壊することなく流量配分比率の測定及びそれを利用した被検査体間の個体差の判別を行うことを可能とする。 - 特許庁

An energy beam reflected from an inspection object substrate is acquired as a digital image signal, by having the inspection-objective substrate irradiated with an energy beam, and the digital image signal is detected as a defect, when the intensity of the acquired digital image signal exceeds the threshold.例文帳に追加

検査対象基板にエネルギービームを照射することによって、当該検査対象基板から反射されたエネルギービームをディジタル画像信号として取得し、取得されたディジタル画像信号の強度が閾値を超える場合に当該ディジタル画像信号を欠陥として検出する。 - 特許庁

An inspection device constituted as an inline device for a substrate processing system includes a conveyance unit for conveying a substrate as the inspection object at substantially constant conveyance speed, a line camera 21 for imaging the substrate under conveyance, an imaging control part 300, and an image processing part 301.例文帳に追加

基板処理システムのインライン装置として構成される検査装置に、検査対象物としての基板を実質的に一定の搬送速度で搬送する搬送ユニットと、搬送中の基板を撮像するラインカメラ２１と、撮像制御部３００と、画像処理部３０１とを設ける。 - 特許庁

To provide an in-pipe inspection camera apparatus which achieves an in-pipe photography keeping up and down directions of an inside of a pipe of an inspection object constant, illuminates the inside of the pipe everywhere and uniformly and inspects the inside of the pipe precisely, in a camera head apparatus used by being mounted to a tip of a hard cable.例文帳に追加

ハードケーブルの先端に取り付けて使用されるカメラヘッド装置に於いて、検査対象管内の上下方向を常に一定にした管内撮影を可能にし、かつ管内を斑なく均一に照明して、管内を精確に検査できるようにした管内検査カメラ装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection instrument which has high controllability and high inspection precision by measuring a positional relation between a line sensor camera and a rotary stage, and between the camera and a survey object work automatically and controlling the positional relation between the rotary stage and the line sensor camera based on measured data automatically.例文帳に追加

本発明は、ラインセンサカメラと回転ステージ及び検査対象ワークとの位置関係を自動測定し、測定データに基づき回転ステージとラインセンサカメラの位置関係を自動的に制御することにより、制御性が高く、検査精度の高い検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In this gas leakage spot inspecting system of the pipe in the low-temperature container, while circulating a liquified gas comprising a paramagnetic material in a pipe system in the low-temperature container which is an inspection object, a direct-current magnetic field is applied, and the inspection spot is measured by a high-sensitivity magnetic sensor, to thereby identify the gas leakage spot.例文帳に追加

低温容器内の配管のガス漏れ箇所検査システムにおいて、検査の対象となる低温容器内の配管系統に常磁性物質からなる液化ガスを流しながら、直流磁場を印加し、その検査箇所を高感度磁気センサーで測定し、ガス漏れ箇所を同定する。 - 特許庁

The sensor system includes an active sensor 1 that emits electromagnetic wave and outputs a sensor signal based on the reflection wave of the electromagnetic wave reflected on the inspection object, an amplifier 2 for amplifying the sensor signal and outputting it, and a control part 3 that compares the potential of the amplified sensor signal with a predetermined threshold and outputs a detection signal showing the detection and non-detection of the inspection object.例文帳に追加

センサシステムは、電磁波を送出して検知対象物により反射された電磁波の反射波に基づいてセンサ信号を出力するアクティブセンサ１と、センサ信号を増幅して出力するアンプ２と、増幅されたセンサ信号の電位と所定の閾値とを比較して検知対象物の検知・非検知を示す検知信号を出力する制御部３とを備える。 - 特許庁

The method of inspecting vibration within a solid comprises hitting the object of inspection such as a concrete wall covered with a mortar layer, receiving vibration originating from the hit solid and sampling it, calculating the distribution of the sampled values generated by the sampling, and evaluating the internal state of the object of inspection based on the magnitude of the calculated distribution.例文帳に追加

本発明にかかわる固体内部の振動検査方法は、モルタル層で覆われたコンクリート壁面などの検査対象の固体を打撃し、打撃された固体が発する振動を受信してサンプリングし、このサンプリングによって生成されたサンプル値の分散を算定し、この算定された分散の大小に基づいて検査対象の固体の内部状態を評価するように構成されている。 - 特許庁