「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(45ページ目) - Weblio英語例文検索

In a defect detection processing part 7, the difference in pixel value units, between the inspection object image 6a and the reference image 6b decomposed into space elements, is determined based on the detection gradation threshold set in a defect discrimination condition file 8, and thereby defect is detected.例文帳に追加

欠陥検出処理部７においては、欠陥判別条件ファイル８に設定されている検出諧調閾値を基に、空間要素に分解した被検物体像６ａとリファレンス画像６ｂの画素値単位に相違を求め、欠陥を検出する。 - 特許庁

When the inspection object is a metal mold having a refrigerant passage, pressurized air is injected to the refrigerant passage, up to a predetermined pressure, and changes in the air pressure in the refrigerant passage are detected by the pressure sensor to inspect for liquid leakage of the refrigerant passage.例文帳に追加

また、検査品が冷媒通路を有する金型の場合に、その冷媒通路内に所定圧まで加圧空気を注入し、冷媒通路内の空気圧の変化を圧力センサによって検知して、冷媒通路の液体洩れを検査する方法。 - 特許庁

A radiation prober is provided on a suspension device suspended from a carrier vehicle provided on a container crane, the carrier vehicle lifts a container and carries it, and the radiation prober conducts inspection for detecting radiation for an object in the container simultaneously.例文帳に追加

コンテナ起重機上に設けられた搬送車から吊り下げられた吊り具上に、放射線探測装置を設け、搬送車がコンテナを吊り上げ運ぶと同時に、放射線探測装置がコンテナ中の物体に対して放射線探知検査を行う。 - 特許庁

In an inspection device, a detection sensor 40 detecting the application object 11 applied to the cylindrical member 10 is arranged outside an axial direction C of the cylindrical member 10 and opposed to an application surface of the cylindrical member 10, tilting toward the axial direction C.例文帳に追加

検査装置内で、円筒部材１０に塗布された塗布物１１を検出する検出センサ４０を、円筒部材１０の軸方向Ｃの外側に、かつ、軸方向Ｃに対して傾斜させて円筒部材１０の塗布面に向けて配置する。 - 特許庁

To provide a heating apparatus built in, for example, an X-ray inspection device, heating an object to be inspected such as a sample etc. to the aimed temperature or according to a predetermined profile and being able to observe and record the state change in real time.例文帳に追加

エックス線検査装置などに内蔵され、試料等の被検査物を目的の温度に加熱もしくは予め設定されたプロファイルに従って加熱し、その状態変化をリアルタイムに観察および記録することが可能な加熱装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for detecting a surface defect and a defect under the surface skin, and a method for detecting the same wherein an ultrasonic surface wave can carry out flaw detection of a whole surface by going around a width direction of an inspection object, and reflected waves from other than a defect are reduced.例文帳に追加

超音波の表面波が被検査体の幅方向を一周して全面探傷することができ、欠陥以外からの反射波を低減する表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

A work (inspection object) W conveyed while rotated on the rotary drums 4a by suction force of a vacuum pump (sucking means) connected to the suction unit 12 is sucked to be brought into a close contact with a drum 4a side.例文帳に追加

そして、この吸引ユニット１２に接続された真空ポンプ（吸引手段）の吸引力により、回転ドラム４ａ上を回転されつつ、搬送されているワーク（検査対象物）Ｗを当該ドラム４ａ側に密接するように吸引する。 - 特許庁

To adjust an imaging size of laser light while imaging the laser light on an observation object part in the interior of an internal space forming body and insert a laser projection device into the internal space forming body from a narrow inspection hole.例文帳に追加

内部空間形成体内側の観察対象部にレーザ光を結像させつつ、レーザ光の結像サイズを調節可能であるとともに、レーザ投光装置を狭隘な点検穴から内部空間形成体内へ挿入できるようにする。 - 特許庁

Thereby, the ring type cylindrical lens 61 condenses the light 35 diffused from each light emitting diode 53 toward the center part in width direction, and forms an irradiation pattern 31 of ring shape around the inspection object arranged on a conveyor belt 12.例文帳に追加

これにより、リング型シリンドリカルレンズ６１は、各発光ダイオード５３から拡散された光３５を幅方向中央部へ向けて集光し、ベルトコンベヤー１２上に配置された検査対象物の周囲部にリング状の照射パターン３１を形成する。 - 特許庁

Namely, imaging conditions needed for obtaining tomographic image information of regions except the regions TRa and TRw among the inspection object range TR are set, and transmission images are imaged under respective imaging conditions thus set.例文帳に追加

つまり、撮像条件は、検査対象範囲ＴＲのうち領域ＴＲa、ＴＲwを除いた領域の断層画像情報を求めるために必要となるものについて設定され、こうして設定された各撮像条件で透過像が撮像される。 - 特許庁

To provide an inspection device and method for inspecting, under optimum conditions, such objects as foreign objects to be detected while matching the surface state of an object such as a semiconductor wafer manufac tured in diversified manufacturing processes.例文帳に追加

様々な製造工程において製造される半導体ウェハなどの被検査物の表面に状態に合わせて検出すべき異物等の検出物を最適な検査条件で検査できるようにした検査装置およびその方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a device for detecting corrosion under heat insulating material that detects in real time the corrosion under heat insulating material in a device covered with the heat insulating material, and in which a sensor is easily attached/detached to/from a device being an inspection object.例文帳に追加

保温材に覆われた機器において、機器の保温材下腐食をリアルタイムで検出することができるとともに、検査対象である機器に対してセンサが簡単に着脱可能である保温材下腐食検出装置を提供する。 - 特許庁

When the opening/closing ring is expanded in this state, the chuck fastener is opened, and by contracting the bag body, the sponge 18 is taken out from an opening upper end to the outside, and is used for wiping the surface of an apparatus, an instrument or the like which is an inspection object.例文帳に追加

この状態から開閉リングを拡げるとチャックファスナーが開き、袋体を収縮させることによりスポンジ１８を開口上端から外部に出して、検査対象の器具や器材等の表面を拭き取るために用いることができる。 - 特許庁

In Figure 1(a), the data (graph a) on the depth and the phase of the flaw of the flaw signal is acquired, which is obtained by performing flaw detection of an object for inspection of the artificial flaw by a test frequency by which saturated depth becomes shallower than that of the actual flaw for correction to be used as a reference.例文帳に追加

図１（ａ）において、基準として使用する補正用実キズよりも飽和深さが浅くなる試験周波数により人工キズの被検査体を探傷して得られたキズ信号のキズの深さ・位相のデータ（グラフａ）を取得する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus, a lithographic apparatus, and the like each of which, when measuring the profile of an object that is printed on top of a stack of product layers, can minimize or eliminate the number of degrees of freedom brought into the reconstruction equation by any product layers.例文帳に追加

生成物層スタック上にプリントされたオブジェクトのプロファイルを測定する際に、スタック中の生成物層によって再構成式に組み込まれる自由度の数を低減、または、排除することができる検査装置、リソグラフィ装置等を提供する。 - 特許庁

In the detection part 20, after the near-infrared light which is irradiated from the light source 10 is diffused and reflected by the surface of the inspection object 50, the light outputted to an arranging direction of the detection part 20 is detected as a diffusion/reflectance spectrum.例文帳に追加

検出部２０では光源１０から照射される近赤外光が検査対象物５０の表面で拡散反射された後に検出部２０の配置される方向へ出力された光を拡散反射スペクトルとして検出する。 - 特許庁

Furthermore, the Barkhausen noise inspection device includes a control device 13 for adjusting the exciting current applied from the power source 12 so that the magnetic flux density, in a part of the magnetized inspecting object 30 facing the noise detection sensor 3 becomes equal to a target value.例文帳に追加

この構成に加えて、磁化された検査対象物３０におけるノイズ検出センサ３と対向する部位の磁束密度が目標値と等しくなるように、前記電源１２から印加される励磁電流を調整する制御装置１３を設ける。 - 特許庁

Thus, by calculating and using the average reflection spectrum, erroneous determination due to noises and the like contained in each of the pixels is reduced, and the abnormality of the inspection object packed in the container is detected more accurately.例文帳に追加

このように、平均反射スペクトルを算出して利用することで、各画素に含まれるノイズ等に由来する誤判定を減らすことができ、容器内に充填された検査対象物の異状をより高い精度で検出することが可能となる。 - 特許庁

To provide a solvent for separating asphalt from gravel which can separate asphalt from gravel in a very short time in conducting their separation as to an inspection object such as an asphalt-paved road, and to provide a method of separating asphalt from gravel by using it.例文帳に追加

アスファルト舗装した道路などの検査対象物からアスファルトと砂利とを分離していたものを極めて短時間に分離することができるアスファルト砂利分離用溶剤ならびにそれを使用したアスファルト砂利分離方法をテイ起用すること。 - 特許庁

Hereby, since the flexible substrate 30 can be mounted on a different surface from the surface where the contact probes 21 are formed of the contact substrate 20, the flexible substrate 30 can be prevented from interfering with the inspection object at the contact time.例文帳に追加

これにより、コンタクト基板２０におけるコンタクトプローブ２１が形成されている面とは異なる面に、フレキシブル基板３０を取り付けることができるので、コンタクト時にフレキシブル基板３０が検査対象物に干渉するのを防止することができる。 - 特許庁

The probe case 11 comprises a material having a known acoustic impedance different from the inspection object and capable of transmitting the ultrasonic wave, and a reference member 15 having a known acoustic impedance different from the probe case 11 is arranged on its outer surface.例文帳に追加

プローブケース１１は、被検査物とは異なる既知の音響インピーダンスを有し、超音波を透過しうる材料からなり、その外表面にはプローブケース１１とは異なる既知の音響インピーダンスを有するリファレンス部材１５が配置されている。 - 特許庁

To provide a device and a method for detecting a hole defect detecting accurately existence of a hole defect and the position if a hole defect exists, by preventing surely excessive detection of hole defects of an inspection object by a light receiving part.例文帳に追加

受光部による被検査物の穴欠陥の過剰検出を確実に防止して、穴欠陥の有無、及び穴欠陥があった場合のその位置の検出を精度良く行うことができる穴欠陥検出装置及び穴欠陥検出方法を得る。 - 特許庁

In this method, one or more temporary argument inspections transmitted to the API using program by becoming an object of inspection by a prior API call are executed in a proxy which does not appear in a code described by the API using program.例文帳に追加

事前のＡＰＩ呼び出しにより検査の対象となることでＡＰＩ利用プログラムに伝達された１つ又は複数の仮引数検査を、ＡＰＩ利用プログラムが記述するコードには出現しないプロキシ内で実施するという構成を採る。 - 特許庁

The projected image in each angle phase is imaged at each imaging position Pos1, 2, 3, 4, and reconstruction calculation is performed by using the whole projected image acquired by synthesizing each imaged partial projected image, to thereby reconstruct internal structure data of the inspection object.例文帳に追加

そして、各撮像位置Ｐｏｓ１，２，３，４において各角度位相の投影像を撮像し、撮像された各部分投影像を合成し得られた全体投影像を用いて再構成計算を行い、被検査体の内部構造データを再構成する。 - 特許庁

A flaw detection result diagnosis device 13 compares the reception information when inspecting the piping 1 which is the inspection object with the reception information used as the standard stored in the flaw detection result storage device 12 to extract significant reception information originated in the flaw.例文帳に追加

探傷結果診断装置１３は、検査対象の配管１を検査した際の受信情報と、探傷結果記憶装置１２に記憶させた基準と成る受信情報とを比較して、欠陥に由来した有意な受信情報を抽出する。 - 特許庁

Thereafter, in step S5, an area ratio of a defect inspection object domain by the area reducing function to a whole defect inspectable domain is determined, and in step S6, the number of chips having an estimated defect is estimated and converted, based on the area ratio.例文帳に追加

その後、ステップＳ５において、面積縮小機能による欠陥検査対象領域の全欠陥検査可能領域に対する面積比を求め、ステップＳ６において、上記面積比に基づき、推定欠陥有りチップ数を推定換算する。 - 特許庁

While being conveyed by the conveyor 40, the inspection object 50 is imaged relative to an X-ray image of a part including the left side part and an X-ray image of a part including the right side part respectively by the X-ray area cameras 31, 32, to thereby inspected nondestructively.例文帳に追加

被検査物５０は、コンベア４０に搬送されつつ、Ｘ線エリアカメラ３１，３２により、それぞれ左側部を含む部分についてのＸ線画像と右側部を含む部分についてのＸ線画像とを撮像され、非破壊検査される。 - 特許庁

The binarization image processing part 7 binarization-processes an image signal of the chip component 1 to discriminate a difference between brightness of the curved part R in an outer peripheral edge of the chip component 1 serving as an inspection object, and brightness of a plane in the periphery of the curved part R.例文帳に追加

２値化画像処理部７は、検査対象となるチップ部品１における外周縁の湾曲部Ｒの輝度と、湾曲部Ｒの周囲における平面の輝度との相違を区別するように、チップ部品１の画像信号を２値化処理する。 - 特許庁

At the time of alteration of the kind, statistic processing setting the kind of the object to be inspected, an inspection period, a date and a lot as units is carried out on the basis of the acquired items stored in the memory part 14 to automatically issue printing output from an external printing part 17.例文帳に追加

そして、品種変更時には、格納部１４に格納された収集項目に基づき、被検査物の品種、検査期間、日付、ロットを単位とした統計処理を実行し外部の印字部１６から自動的に印字出力する。 - 特許庁

An image to be an object for inspection processed by means of a DTP device 2 or a plate processing device 3, if necessary, is inputted into a means 10c for detecting a place of discontinuity through an RIP developing means 10a and a means 10b for lowering resolution.例文帳に追加

ＤＴＰ装置２もしくは製版装置３により処理された検査対象画像は、必要に応じてＲＩＰ展開手段１０ａ、低解像度化手段１０ｂを介して不連続箇所検出手段１０ｃに入力される。 - 特許庁

This contact probe has a plunger part 1 for contacting with an inspection object, a spring part 2 for supporting the plunger part 1 on one end, a lead wire connecting part 6 for electrically connecting the other end of the spring part 2 and a lead wire, and a conducting path part 7.例文帳に追加

コンタクトプローブは、被検査物に接触させるためのプランジャ部１と、一端においてプランジャ部１を支持するスプリング部２と、スプリング部２の他端とリード線とを電気的に接続するリード線接続部６と、導通パス部７とを備える。 - 特許庁

A displacement means and a power supply means for the X-ray source 2 and the X-ray receiver 3 are provided so as to be controlled while making the X-ray source 2 and the X-ray receiver 3 rotate around an inspection object 7 facing each other.例文帳に追加

Ｘ線源（２）及びＸ線受信器（３）のための変位手段並びに電力供給手段は、Ｘ線源（２）及びＸ線受信器（３）が互いに向かい合って検査対象（７）の回りを回転すべく制御されるように設けられている。 - 特許庁

To provide a tester unit and an inspection device capable of carrying out easily replacement work or the like for a repeating substrate connected to a tester, while shortening an optical path from a light source to an inspected object, and a repeating substrate storage unit used therefor.例文帳に追加

光源から被検査体までの光路長を短縮しながらも、テスタに接続される中継基板の交換作業などを容易に行うことができるテスタ装置、検査装置及びそれに用いる中継基板収容ユニットを提供すること。 - 特許庁

To provide an in-tray-method IC package substrate inspection device preventing deviation of a measurement object IC package substrate from a measurement range even when using a surface-shape measurement machine small in the measurement range, and allowing stable measurement.例文帳に追加

本発明は、計測範囲の狭い表面形状計測機を使用しても、計測対象ＩＣパッケージ基板が計測範囲から外れることが無い、安定した計測を可能とするイントレー方式のＩＣパッケージ基板検査装置の実現を目的とする。 - 特許庁

To solve the problems wherein, when an illuminance distribution in an illumination spot by an actual illumination optical system is not a Gaussian distribution, each accuracy of particle size calculation of a foreign matter or a defect to be detected and coordinate position detection on the inspection object surface is lowered.例文帳に追加

実際の照明光学系による照明スポット内の照度分布がガウス分布になっていない場合には、検出される異物・欠陥の粒径算出および被検査物体表面上での座標位置の検出精度が低下してしまう。 - 特許庁

To provide a pattern shape inspection device capable of inspecting quickly and highly sensitively a magnetic recording medium including a patterned medium, a bit patterned medium or the like of an object to be inspected, or a pattern shape of a stamper thereof or the like, and a method therefor.例文帳に追加

被検査対象であるパターンドメディアやビットパターンドメディア等からなる磁気記録媒体又はそのスタンパ等のパターン形状を高速で、且つ高感度に検査できるようにしたパターン形状検査装置及びその方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a surface roughness measuring device having a simple and small-sized device constitution, capable of performing stable measurement even when an inspection object is moved, vibrated or the like, and measuring accurately a fine change of detection light.例文帳に追加

簡素、小型の装置構成でもって、被検査体の移動、振動等がある場合においても安定した計測が可能であり、検出光の微小な変化を正確に計測する事ができる表面粗さ測定装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A quality decision unit 13 reads out data on the spectrum of an integrated circuit chip, which is an object of inspection from a spectral data retention unit 11 and reads out data on the reference spectrum of an integrated circuit chip, which is a complete non-defective, from a complete non- defective data retention unit 14.例文帳に追加

良否判定ユニット１３は、検査対象の集積回路チップのスペクトルデータをスペクトルデータ保存ユニット１１から読み出し、また、完全良品の集積回路チップの基準スペクトルデータを完全良品データ保存ユニット１４から読み出す。 - 特許庁

To provide a shielding equipment wherein a shielding section around a joint connecting a passage for conveying a conveyance object containing a radioactive substance through its interior can be safely removed and maintenance and inspection work around the joint can be executed easily.例文帳に追加

放射性物質を含む搬送物が内部を搬送される流路を接続する継手の周辺の遮蔽部分を容易に安全に取り外しができ、継手周辺の保守点検作業を容易にした遮蔽装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

The printed circuit board inspection apparatus 1 has a shaker 24 for giving vibration to a wiring side base plate 23 for retaining a wiring side terminal section 25 in a fine probe 22 in contact with a printed circuit board 10 that is an object to be inspected.例文帳に追加

本発明を適用したプリント基板検査装置１は、被検査物たるプリント基板１０に接触するファインプローブ２２の配線側端子部２５を保持している配線側ベース板２３に対して振動を与える加振装置２４を備えている。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and its method capable of executing inspection by discriminating an adhering foreign matter from scratches having various shapes generated on the surface when abrading or grinding such as CMP or the like is applied to a processing object (for example, an insulating film on a semiconductor substrate) in semiconductor manufacture or magnetic head manufacture.例文帳に追加

半導体製造や磁気ヘッド製造において、被加工対象物（例えば、半導体基板上の絶縁膜）に対してＣＭＰなどの研磨または研削加工を施した際、その表面に生じる様々な形状を有するスクラッチと付着する異物とを弁別して検査することができるようにした欠陥検査装置およびその方法を提供することにある。 - 特許庁

In the disconnection detection method for detecting the breakage of wires of at least one package to be inspected (for example, PKG 2-4) by the transmission of inspection signals by a control package (PKG 1), a control signal line 14 wired in the control package is connected to signal lines 23, 33, and 43 in an object to be inspected wired in the package to be inspected to form one inspection signal line 8.例文帳に追加

制御パッケージ（ＰＫＧ１）が検査信号を伝送して、少なくとも一つの検査対象パッケージ（例えば、ＰＫＧ２〜４）の断線を検出する断線検出方法であって、制御パッケージに配線された制御内信号線１４と、検査対象パッケージに配線された検査対象内信号線２３、３３、４３とを接続して１本の検査信号線８を形成する。 - 特許庁

The inspection palette 10 includes a first frame 12 having a first aperture part 14 and a second frame 16 attached to the first frame 12, having a second aperture part 18 communicating with the first aperture part 14 and supporting the liquid crystal display panel 20 having a display region 22 to be an object of inspection so that the display region 22 may overlap with the second aperture part 18.例文帳に追加

検査用パレット１０は、第１開口部１４を有する枠状の第１フレーム１２と、第１フレーム１２に取り付けられ、第１開口部１４と連通する第２開口部１８を有し、検査の対象となる表示領域２２を有する液晶表示パネル２０を、表示領域２２が第２開口部１８とオーバーラップするように支持する枠状の第２フレーム１６と、を有する。 - 特許庁

In this electric connection inspection device having a plural contact terminals and for contacting electrically with an inspection object to input and output signals, a coating layer having 3 μ or more of thickness and having a Young's modulus higher than that of a wiring base material layer is provided on a surface of the wiring base material layer positioned in a tip part of the contact terminal.例文帳に追加

複数個の接触端子を有し、検査対象と電気的に接触して信号を入出力するための電気的接続検査装置において、前記接触端子の先端部に位置する配線母材層の表面に、３μ以上の厚さを有し且つ該配線母材層より高いヤング率を有する被覆層を設けたことを特徴とする電気的接続検査装置。 - 特許庁

A drive signal DRV applied to a piezoelectric element corresponding to an inspection object nozzle is arranged such that a drive signal DRV is outputted to the piezoelectric element and a voltage signal NPV is also outputted to a nozzle plate in first two continuous segments, but the drive signal DRV and the voltage signal NPV are not outputted in two subsequent segments during inspection period of one nozzle.例文帳に追加

検査対象のノズルに対応する圧電素子に印加される駆動信号ＤＲＶは、１つのノズルの検査期間のうち、最初の連続する２セグメントでは圧電素子への駆動信号ＤＲＶが出力されると共にノズルプレートへの電圧信号ＮＰＶも出力され、その後の連続する２セグメントでは駆動信号ＤＲＶも電圧信号ＮＰＶも出力されないようにする。 - 特許庁