「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(48ページ目) - Weblio英語例文検索

This surface inspection device 100 is provided with a lighting system 1 for emitting slit-like illumination light to an inspected object M, a two-dimensional imaging device 2 for imaging reflected light thereof, and an image processor 3 for detecting the defect based on a shape of a slit part in a picked-up image.例文帳に追加

表面欠陥検査装置１００は、被検査対象物Ｍにスリット状の照明光を照射する照明装置１と、その反射光を撮像する２次元撮像装置２と、撮像画像におけるスリット部の形状に基づき欠陥を検出する画像処理装置３とを備える。 - 特許庁

In a hollow of the rotating roller 29, a one-dimensional imaging element 24 and an imaging optical system (SELFOC lens 22) for imaging, in the imaging element 24, a part of the roller 29 for bringing the inspection object (finger) into press contact are mounted SO as not to gear with the rotation of the roller.例文帳に追加

透明回転ローラ２９の中空内には、ローラの回転と連動しないように、１次元撮像素子２４と透明回転ローラ２９における被検体（指）が圧接する部分を１次元撮像素子２４に結像させる結像光学系（セルフォックレンズ２２）とを実装している。 - 特許庁

This measuring probe used for a conduction inspection device for inspecting conduction of the measuring object having a cylindrical surface has characteristics wherein the measuring probe is formed of a planar member, and the abutting surface of the measuring probe abutting on the cylindrical surface has a planar shape.例文帳に追加

円筒面を有する測定対象物の導通を検査する導通検査装置に用いる測定用プローブであって、測定用プローブが板状の部材により形成され、前記円筒面に当接する測定用プローブにおける当接面が平面状であることを特徴とする測定用プローブ。 - 特許庁

At the same time, an irradiation distance from the high-output xenon lamp 101 to the inspection object 105 is measured by a range finder 108 to determine the conditions of a beam irradiation angle, beam irradiation moving speed and beam irradiation time of the high-output xenon lamp 101 required for uniform heating.例文帳に追加

同時に距離計１０８で高出力キセノンランプ１０１から検査対象１０５までの照射距離を計測し、均一に加熱するために必要な高出力キセノンランプ１０１のビーム照射角度、ビーム照射移動速度及びビーム照射時間の条件を決定する。 - 特許庁

A leakage flux of a metal 10 in an inspection object structure is detected by using a high-sensitivity magnetometric sensor 21 such as SCUID, and the detected magnetic signal is stored in a storage part 22, and stored magnetic data are mapped as a magnetic image in required two-dimensional distribution by an image processing part 23.例文帳に追加

被検査対象構造物の金属１０の漏えい磁束を、ＳＱＵＩＤ等の高感度磁気センサ２１を用いて検出し、その検出磁気信号を記憶部２２に記憶し、記憶した磁気データをイメージ処理部２３にて所要の二次元的分布に磁気イメージとしてマッピングする。 - 特許庁

A length calculation means 19b uses a value determined by dividing a conveyance speed by a repeating speed as a unit dimension in the conveyance direction X to the concentration data, and calculates various length dimensions in the conveyance direction X of the inspection object W based on the unit dimension in the conveyance direction X.例文帳に追加

長さ算出手段１９ｂは、搬送速度を繰り返し速度で除算した値を濃度データに対する搬送方向Ｘの単位寸法とし、この搬送方向Ｘの単位寸法を基に被検査物Ｗの搬送方向Ｘの各種長さ寸法を算出する。 - 特許庁

An argon laser beam which is inspection light is emitted from a light source 11 existing in the lowermost part and is cast to an object 15 to be inspected through an AOM(Acoustic-Optic-Modulation) 13 having a function for scanning with the laser beam and an optical system constitution element 14 having a pixel size changeover section, an objective lens, etc.例文帳に追加

検査光であるアルゴンレーザー光は最下部にある光源１１から出射され、レーザー光を走査する機能を有するＡＯＭ（Acoustic-Optic-Modulation）１３、ピクセルサイズ切り換え部、対物レンズ等を有する光学系構成要素１４を通過し、被検査体１５に照射される。 - 特許庁

In a conventional device, out of primary X-ray generated in the first target layer, X-ray irradiated in an opposite direction of an inspection object becomes of no use, the X-ray generates an photoelectric effect in the secondary target layer, the most suitable energy characteristic X-ray for X-ray imaging can be generated.例文帳に追加

従来の装置では、１次ターゲット層で発生する１次Ｘ線のうち、被検体と逆方向に放射されるものは無駄になっていたが、そのＸ線が２次ターゲット層で光電効果を起こし、最もＸ線撮像に適したエネルギーの特性Ｘ線を発生する。 - 特許庁

To provide an airtight sealing inspection method which can be applied to any gap in vacuum airtightness, atmospheric airtightness, and pressurized airtightness regardless of the size of an object to be inspected and the presence of heat resistance, allows measurement in a short time to the second, and can be easily incorporated into a production line.例文帳に追加

真空気密、大気圧気密、加圧気密の何れの間隙部でも、又、被検査物の大小、熱に対する耐久性の有無に関係なく適用することができ、更に秒単位の短時間で測定でき、生産ラインにも簡単に組み込むことができる密封封止検査方法を提供すること。 - 特許庁

By the means 10c for detecting a place of discontinuity, the image to be an object for inspection is inspected to detect a place of discontinuity where trap processing is not enough and the place of discontinuity detected is emphasized by means 10 for emphasizing the place of discontinuity and it is outputted from a displaying device 13 or a printer 14.例文帳に追加

不連続箇所検出手段１０ｃでは、検査対象画像を検査してトラップ処理が充分でない不連続箇所を検出し、検出された不連続箇所を不連続箇所強調手段１０ｃにより強調処理して、表示装置１３もしくはプリンタ１４から出力する。 - 特許庁

The inspection method comprises a first process B for performing many kinds of qualitative analyses for specifying the type of agricultural chemical residing in the object to be inspected; and a second process C for performing the qualitative analysis of the amount of residue in the agricultural chemical only for the specified type of agricultural chemical after the first process B.例文帳に追加

検査対象物に残留する農薬の種類を特定する多種類の定性分析を行って、残留する農薬の種類を特定する第１工程Ｂと、その後、その特定された種類の農薬のみについて農薬残留量を定量分析する第２工程Ｃとを、有する。 - 特許庁

A recessed part 3a is formed on the upper surface of a surface plate 3, and an XY stage 2 is installed on the surface plate 3 across the recessed part 3a, and an opening part 22d is formed on a table 22c of the XY stage 2, and a photomask 1 which is an inspection object is loaded so as to cover the opening part 22d.例文帳に追加

定盤３の上面に凹部３ａを設け、定盤３上において凹部３ａを跨ぐようにＸＹステージ２を設け、ＸＹステージ２のテーブル２２ｃには開口部２２ｄを設け、開口部２２ｄを覆うように被検査対象物であるフォトマスク１を搭載する。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection apparatus capable of grasping the position of an inspecting object where an X-ray fluoroscopic image is photographed, even if many members having the same shape such as many solder balls in a BGA package are lined up on the inspecting objects, with less labor and time required for making a master image or the like.例文帳に追加

マスター画像等を作成するような手間をかけさせず、ＢＧＡパッケージの多数のハンダボールのように被測定物に同一形状の部材が多数個並んでいても、透視Ｘ線像が撮影されている被測定物の位置を把握させることができるＸ線検査装置を提供する。 - 特許庁

The imaging position of the two-dimensional detector is set at even-numbered spots Pos1, 2, 3, 4 which are plane-symmetrical with respect to a plane including a perpendicular drawn from an X-ray focal point to an initial position detection surface 20a of the two-dimensional detector and parallel to an initial position rotation axis 50 of an inspection object.例文帳に追加

二次元検出器の撮像位置を、Ｘ線焦点から二次元検出器の初期位置検出面２０ａに降ろした垂線を含み被検査体の初期位置回転軸５０と平行な面に関して面対称な偶数箇所Ｐｏｓ１，２，３，４に設定する。 - 特許庁

In the inspection of the center of gravity, the distance d between the reference position S and the center of gravity C can be a primary object to be inspected, it is preferable to take the direction into consideration, the distance d can be inspected whether it is within an allowable range in respective directions (X-direction and Y- direction).例文帳に追加

この重心位置検査では、基準位置Ｓに対する重心Ｃの距離ｄを主たる検査対象としてよいが、方向性も考慮するのが好ましく、距離間隔ｄが各方向（Ｘ方向，Ｙ方向）において許容範囲内であるか否かを検査してよい。 - 特許庁

A received-signal processing part 6 detects the existence of an object 9 to be detected at the outside of the detection area 7 on the basis of the received signal of the reflected radar waves supplied from the receiver 3, and it confirms the operation normality of a detecting system on the basis of the received signal of the radar waves, for inspection, which pass the waveguide 5.例文帳に追加

受信信号処理部６は、受波器３から供給される反射レーダ波の受波信号から検知区域７の内部における被検知物９の有無を検知するとともに、導波路５を通った検査用レーダ波の受波信号から検知系の動作正常を確認する。 - 特許庁

A self-propelled earth-surface-state inspection vehicle 1 is provided with a laser radar 2 which calculates a distance up to an object existing in an earth-surface region, and an ultraviolet image sensor 3 which detects light contained in a range at a wavelength of 190 to 500 nm so as to image the earth surface state.例文帳に追加

地表領域に存在する対象物までの距離を算出するレーザ・レーダ２、及び、波長が１９０ｎｍ乃至５００ｎｍの範囲に含まれる光を検出して地表領域を撮像する紫外画像センサ３を、自走式の地表状態点検車両１が備える。 - 特許庁

In this shape-measuring method and the device, the mutual position of the optical element or its type P1, P2 is determined from the measurement data of the three-dimensional coordinates, acquired by a three-dimensional coordinate measuring means for measuring the three-dimensional coordinates of the optical element which is the inspection object or its types P1, P2.例文帳に追加

被検物たる光学素子あるいはその型Ｐ１、Ｐ２の３次元座標を測定する３次元座標測定手段により得られた３次元座標の測定データから、光学素子あるいはその型Ｐ１、Ｐ２の相互の位置を求める形状測定方法と装置。 - 特許庁

In the X-ray inspection device 10, an X-ray irradiation section 13 irradiates with X rays, and an X-ray detector 14 receives X rays passing through each section of the object G and outputs an analog signal ASO in response to intensity of the transmitted X rays.例文帳に追加

本発明に係るＸ線検査装置１０では、Ｘ線照射部１３がＸ線を照射し、Ｘ線検出部１４が被検査対象物Ｇの各部分を通過してきたＸ線を受光してそれらの透過Ｘ線の強さに応じたアナログ信号ＡＳ０を出力する。 - 特許庁

To provide an apparatus for inspecting irregularities in coating film formation and capable of improving detection sensitivity so as to perform inspection even when irregularities in coating film formation are small as in the irregular shape of a surface of a coating film present in an applied object such as a color filter applied by the ink-jet method.例文帳に追加

インクジェット法によって塗布したカラーフィルタ等の塗布物に存在する塗膜表面の凹凸形状のように塗膜形成ムラが小さいときにおいても検査することができるように検出感度を向上させた塗膜形成ムラ検査装置を提供する。 - 特許庁

In the respective appearance inspection stations ST1-ST5 of an appearance inspecting apparatus, support mechanisms 20 are arranged to both ends of a walking beam mechanism 10, and the support mechanisms 20 support an object P to be inspected having rotary chucks 40 attached to both ends thereof in a rotatable manner through the rotary chucks 40.例文帳に追加

外観検査装置の各外観検査ステーションＳＴ１〜ＳＴ５は、ウォーキングビーム機構１０の両端に支持機構２０が配設され、支持機構２０はその両端に回転チャック４０の取り付けられた被検査物Ｐを回転チャック４０を介して回転可能に支持する。 - 特許庁

A tester part 31 has a testing unit 32 composed of a plurality of cards mounted with an LSI in the same as the inspection object LSI, and electrically connected to the test card by removing one card among these cards, a PC 33 for controlling operation of the testing unit, and a test program 34.例文帳に追加

テスタ部３１は、被検査ＬＳＩと同じＬＳＩが実装されている複数枚のカードから構成され、その中でカード１枚を取り除いてテストカードに電気的に接続されるテスト用ユニット３２と、テスト用ユニットを動作制御するＰＣ３３と、テストプログラム３４を有する。 - 特許庁

In the imaging sleeve 19, a plurality of slits S1-S2 and S3-S4 which correspond to inspection object regions not becoming point-symmetrical in the axial direction of the rod-shaped workpieces and can expose these regions irrelevantly to the directions of the workpieces at the time when the workpieces reach a prescribed position.例文帳に追加

この撮像スリーブ１９には、所定位置に棒状ワークが到達した時に当該棒状ワークの軸方向で点対称とならない被検査部位に対応して、棒状ワークの向きに関わらずこれらを露呈できる複数のスリットＳ１−Ｓ２，Ｓ３−Ｓ４が形成されている。 - 特許庁

To provide a ceramic heater for semiconductor manufacturing and an inspection apparatus, with which the temperature of a heated object can be measured accurately and the semiconductor wafer as a whole is heated uniformly by regulating the heating status of a heating element, according to a result of the above temperature measurement.例文帳に追加

正確な被加熱物の温度の測定が可能であり、この温度の測定結果に基づいて発熱体の発熱状態を調整することにより、半導体ウエハ全体を均一に加熱することができる半導体製造・検査装置用セラミックヒータを提供すること。 - 特許庁

A first closed space 11 to be an object to be subjected to humidification inspection and a second closed space 29 in the inside of a casing 29b are communicated with first ventilation route 4 and a separation membrane rotary body 28 comprising cylindrical membrane bodies 1a, 2a, 3a on a rotary shaft 21 is journalled in the second closed space.例文帳に追加

調湿対象となる第１密閉空間１１と、ケーシング２９ｂの内の第２密閉空間２９を第１通気路４を介して連通し、第２密閉空間に筒状膜体１ａ，２ａ，３ａを回転軸２１上に配置した分離膜回転体２８を軸支する。 - 特許庁

To provide an inspection system that can move a camera or an object to be inspected, create an image higher in pixel resolution than the camera used from time series video captured with the movement, and output and display the image at substantially the same sampling speed as the camera used.例文帳に追加

カメラもしくは検査対象物を移動させ、移動させながら得られた時系列の映像から、使用したカメラの画素分解能よりも高い画素分解能の画像を作成し、使用したカメラとほぼ同様のサンプリング速度により画像を出力し表示することができる検査装置を提供する。 - 特許庁

Hereby, even if the illuminance distribution in the illumination spot by the actual illumination optical system is not necessarily the Gaussian distribution, each accuracy of the particle size calculation of the foreign matter or the defect to be detected and the coordinate position on the inspection object surface can be improved.例文帳に追加

これにより、実際の照明光学系による照明スポット内の照度分布が必ずしもガウス分布とならない場合においても、検出される異物・欠陥の粒径算出および被検査物体表面上での座標位置の精度を向上させることが可能になる。 - 特許庁

Hence, light of a quantity (intensity), in response to the thickness of the electrolyte located on the inspection object surface 10a of the battery 10, can be received by the imaging device 3, and information related to the thickness of the electrolyte can be included in a signal of the image imaged by the imaging device 3.例文帳に追加

これにより、電池１０の検査対象面１０ａにある電解液の厚さに応じた量（強度）の光を撮像装置３で受光することができ、撮像装置３で撮像された画像信号に、電解液の厚さに関する情報を含めることができる。 - 特許庁

The architecture includes: a scanning object configured to issue a scan request to a network interface for collecting data of the APs; a selection object configured to filter / sort the collected AP data; an authentication state machine configured to execute an authentication / propriety inspection; and an association state machine configured to compose a packet including hierarchical data indicating AP ancestry up to a conventional AP.例文帳に追加

アーキテクチャは、ネットワークインターフェースにスキャン要求を発行しＡＰのデータを収集するように構成されたスキャニングオブジェクトと、ＡＰの収集データをフィルタ／ソートするように構成された選択オブジェクトと、認証／妥当性検査を実行するように構成された認証状態マシンと、従来型のＡＰまでＡＰの系統を示す階層データを含むパケットを構成するように構成されたアソシエーション状態マシンとを含む。 - 特許庁

(iv) A person who fails to make a report pursuant to the provision of Article 24-15 paragraph (1) or submit or present an object, or makes a false report or submits or presents a false object, or fails to answer a question pursuant to the provision of the same paragraph or makes a false answer, or refuses, interferes with, or recuses the entry or inspection pursuant to the provision of the same paragraph, without justifiable ground; 例文帳に追加

四　正当の理由がないのに、第二十四条の十五第一項の規定による報告若しくは物件の提出若しくは提示をせず、若しくは虚偽の報告若しくは虚偽の物件の提出若しくは提示をし、同項の規定による質問に対して答弁をせず、若しくは虚偽の答弁をし、又は同項の規定による立入り若しくは検査を拒み、妨げ、若しくは忌避した者 - 日本法令外国語訳データベースシステム

When a program stored in a program storage memory 4 is executed, a CPU 6 performs a difference process for calculating a luminance difference by putting a previously registered instruction image over a picked-up image of an object of inspection obtained by a TV camera 1, and performs multiplication by previously registered values of weight (deviation data) by pixels of the instruction image of the object to recalculate a difference value.例文帳に追加

スタートしてプログラム格納用メモリ４に格納してあったプログラムが実行されるとＣＰＵ６は予め登録してある教示画像を、ＴＶカメラ１で撮像した検査対象物の撮像画像に重ねて輝度差を計算する差分処理を行い、この差分処理に更に予め登録してある対象物の教示画像の各画素毎の重み（偏差データ）の値を乗じて差分値を再計算する。 - 特許庁

The emission intensity of each inspection array element is detected by an array type detector to obtain a vector composed of fluorescent molecule number z_n of a label M present in an inspection array element n with the detector element number or data number of N, the kind number of object materials of L.例文帳に追加

特異的反応物質（抗体）が保持された検査アレイ要素が平面方向に各々分散して配列されている検査アレイを用い、アレイの表面に標識抗原の溶液を供給して反応させた後、各検査アレイ要素ごとに発光強度をアレイ型検出器で検出して検出器要素数又はデータ数N、対象物質の種類数Ｌ、検査アレイ要素ｎに存在する標識Ｍの蛍光分子数ｚ＿ｎで構成されるベクトルを得る。 - 特許庁

This incorrect collating detecting method in a bookbinding machine is performed on the basis of the comparison between a standard image, which is the picked-up image of a regular signature, and the image of an object of inspection, which is the picked-up image of the signature as the object of inspection.例文帳に追加

正規の折丁の撮像画像である基準画像と検査対象の折丁の撮像画像である検査対象画像に基づいて製本機において乱丁を検知する方法であって、前記基準画像における所定領域を設定する領域設定過程と、前記所定領域および前記所定領域に対応する前記検査対象画像の対応領域において特徴パラメータを演算する特徴パラメータ演算過程と、前記所定領域の特徴パラメータと前記対応領域の特徴パラメータとを比較して前記検査対象の折丁が乱丁であるか否かを判定する特徴パラメータ比較過程と、を有する乱丁検査方法。 - 特許庁

The beam splitter divides light emitted from the light source, irradiates a substrate where a pattern of an inspection object is formed and the transmittance control element, and generates interference light by superimposing signal light which is reflected light from the substrate on reference light which is reflected light from the transmittance control element.例文帳に追加

前記ビームスプリッタは、前記光源から出射された光を分割し、検査対象のパターンが形成された基体と前記透過率制御素子とに照射し、前記基体からの反射光である信号光と、前記透過率制御素子からの反射光である参照光と、を重ね合わせて干渉光を生成する。 - 特許庁

Some regions TRa and TRw of an inspection object range TR are estimated from member arrangement information showing arrangement of respective components (a substrate W, electronic components EP) constituting the analyte, and a region for obtaining tomographic image information from the imaging result of a transmission image is restricted to regions except the regions TRa and TRw.例文帳に追加

検査対象範囲ＴＲの一部の領域ＴＲa、ＴＲwについては、被検体を構成する各部材（基板Ｗ、電子部品ＥＰ）の配置を示す部材配置情報から推定することとし、透過像の撮像結果から断層画像情報を求める領域を領域ＴＲa、ＴＲw以外の領域に限定する。 - 特許庁

To provide an inspection method and device of an electro-optic device, exactly detecting whether an undivided part exists on one large substrate after dividing one large substrate when the electro-optic device is segmented from an object to which a pair of large substrates are stuck together.例文帳に追加

一対の大判基板が貼り合わされたものから電気光学装置を切り出す場合において、一方の大判基板を分断した後に、該一方の大判基板に割れ残りが存在するか否かを正確に検出することが可能な電気光学装置の検査方法及び電気光学装置の検査装置を提供する。 - 特許庁

If centrifugal force is utilized, the biosample can be separated into a corpuscle component and a plasma component by utilizing a difference of each specific gravity in the biosample, and high-accuracy concentration measurements similar to biochemical inspection performed by an automatic analyzer can be realized electrochemically, by designing properly an electrode system arrangement in matching with an analysis object.例文帳に追加

しかも遠心力を用いれば、生体試料の比重の差を利用して血球成分と血漿成分に分離させることができ、電極系配置を分析対象に合わせて適切に設計することによって自動分析器で行う生化学検査と同様な高精度な濃度測定が電気化学的に実現できる。 - 特許庁

To provide a detection signal processing method for periodic defects, capable of detecting surely micro irregular flaws having several μm of unevenness difficult to be visually confirmed in an object of coarse surface roughness to be inspected, and difficult to be automatically detected as detected by grinding inspection with a grindstone, and a device therefor.例文帳に追加

表面粗さの粗い被検査対象物において通常視認困難で、砥石がけ検査により検出しているような自動検出が困難な、凹凸が数μm程度の微小凹凸性疵を確実に検出できるようにした、周期性欠陥の検出信号処理方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

Light LO is projected from a floodlight part 2 to an inspection object 1, and its reflected light L1 is imaged by an imaging device 4 through an optical filter 3 for transmitting only light having a prescribed angle with respect to the filter face of the optical filter 3, and a discontinuity part 1b having the irregularly deformed shape is detected by the brightness difference.例文帳に追加

投光部２より被検査体１に光Ｌ０を投光し、その反射光Ｌ１を光学フィルタ３のフィルタ面に対してある角度を持った光のみ透過させる光学フィルタ３を介して撮像装置４で撮像し、その明暗差により凹凸変形形状の欠陥部１ｂを検出する。 - 特許庁

The device includes the downflow monitor M which can be input into an inspection object pipe P, sent down together with a fluid 1 through the pipe, and locked by a downflow obstacle 2 projecting in the pipe P; and a detection device K for detecting the location of the downflow monitor M inside the pipe P, by receiving a transmitted signal from the downflow monitor M.例文帳に追加

検査対象の配管Ｐ内に投入自在で、管内を流体１と共に流下自在で、配管Ｐ内に突出している流下障害部２に係止自在な流下モニタＭと、流下モニタＭからの発信信号を受けて配管Ｐ内での流下モニタＭの位置を検出する検出装置Ｋとを設けてある。 - 特許庁

A feature data merging means 108 merges feature data satisfying prescribed conditions into one piece of feature data (merges the feature data of plural close defects) concerning feature data (such as maximum value, minimum value and area value) for each of defective areas provided from image information (surface images of the inspection object).例文帳に追加

特徴データ統合手段１０８は、画像情報（検査対象物の表面画像）から得られた欠陥領域毎の特徴データ（最大値、最小値、面積値）において、所定の条件を満たす特徴データを１つの特徴データに統合する（近くにある複数の欠陥の特徴データを統合する）。 - 特許庁

The visual inspection device 21 calculates a positional shift amount between the proper imaging position by the imaging apparatus 23, and the imaging object position of the PTP film 20, based on an image picked up by the imaging apparatus 23, and calculates the proper imaging timing, based on the imaging timing of the image and the positional shift amount.例文帳に追加

そして、外観検査装置２１は、撮像装置２３により撮像された画像を基に、撮像装置２３による適正撮像位置と、ＰＴＰフィルム２０の撮像対象位置との位置ズレ量を算出し、前記画像の撮像タイミングと前記位置ズレ量とを基に適正な撮像タイミングを算出する。 - 特許庁

The inspection object 50 is connected to the first branch of an impedance bridge 41, a circuit element comprising a resistance component and a reactance component is arranged in the second branch, pure resistance is arranged in each of the third and fourth branches opposed respectively to the first and second branches, and a high-frequency signal is impressed to the impedance bridge.例文帳に追加

インピーダンスブリッジ４１の第１の枝に検査対象５０を接続し、第２の枝に抵抗成分とリアクタンス成分とからなる回路素子を配し、第１および第２の枝それぞれに対向する第３および第４の枝各々に純抵抗を配して、そのインピーダンスブリッジへ高周波信号を印加する。 - 特許庁

To optimally inspect a component or the like incapable of discriminating a solder from the component by an X-ray image only, by combining the X-ray image with an optical image in response to an inspection object to inspect the component, when inspecting a substrate using, for example, the X-ray image.例文帳に追加

例えばＸ線画像を使用して基板検査を行う際、Ｘ線画像では半田と部品の区別がつかない部品など、Ｘ線画像と光学画像とを検査対象に応じて組み合わせて検査することで最適な検査を行う基板検査装置、基板検査方法を提案することを目的とする。 - 特許庁

The radio channels ch2 to ch9 are not selected due to existence of the feeble dummy radio waves, the radio channel ch1 is selected which is established in advance in the work area A2, and inspection work is conducted, by performing radio communication with the RFID tag of an object W held in a shelf 1 using the radio channel ch1.例文帳に追加

微弱なダミー電波の存在により、無線チャネルｃｈ２〜ｃｈ９は選択されずに、作業エリアＡ２に予め設定された無線チャネルｃｈ１が選択され、この無線チャネルｃｈ１を用いて棚１に収容されている物品ＷのＲＦＩＤタグと無線通信を行うことにより、検品作業を行う。 - 特許庁