「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(43ページ目) - Weblio英語例文検索

In the inspection of the flaw of a disk substrate 1 during nano-imprinting, the disk substrate 1 is irradiated with the light from a first light source containing a plurality of wavelengths through a half mirror 7 and an object lens 8 and the reflected light from the disk substrate 1 is thrown on a spectroscope 9 through the object lens 8 and the half mirror 7 to inspect the disk substrate 1 by a scatterometry method.例文帳に追加

ナノインプリント時の欠陥の検査は複数の波長を含む第１の光源からの光をハーフミラー７、対物レンズ８を介してディスク基板１に照射し、反射光を対物レンズ８、ハーフミラー７を介して分光器９に入射させることによってスキャットロメトリー法により検査する。 - 特許庁

This visual inspection device includes a linear light source 2 for obliquely illuminating the surface of an inspecting object 5 sent in a fixed direction, a line sensor type camera 1 for capturing reflected light on the surface of the inspecting object of the light from the light source, and an image processing circuit 3 for detecting a defect from the contrast of an output image from the camera.例文帳に追加

一定方向に送られる被検査物５の表面に斜光照明を行うライン状光源２と、該光源からの光の被検査物表面での反射光を捕らえるラインセンサ型カメラ１と、上記カメラの出力画像の明暗から欠陥を検出する画像処理回路３とからなる。 - 特許庁

The X-ray foreign substance-inspection apparatus 1 for inspecting an object to be inspected for foreign substances, using X rays includes a cantilever frame 10 having one end as a free end and the other end as a support end, and supporting an X-ray detector 4 and a transfer mechanism 3 which moves the object to be inspected.例文帳に追加

Ｘ線によって被検査物の異物検査を行うＸ線異物検査装置１において、一方の端部を自由端とし他方の端部を支持端とする片持ちのフレーム１０を備え、この片持ちフレームによって被検査物を移動する搬送機構３とＸ線検出器４を支持する構成とする。 - 特許庁

To provide an inspection system for a flat thin object, especially, plane glass in production of a display having at least a non-contact type, especially, optical scanner equipped with at least one camera, one illumination unit and at least one feed divice for relatively moving the object with respect to the scanner, and to feed extremely sharp plane glass for the display without damaging the same during inspection.例文帳に追加

少なくとも１つのカメラと、１つの照明ユニット、並びにスキャン装置に対して相対的に対象物を運動させる少なくとも１つの搬送装置を備えた、少なくとも１つの、非接触式、とりわけ光学式スキャン装置を有する、ディスプレイの製造時における、平坦で、薄い対象物、とりわけ平面ガラス向けの検査システムに関するものであり、ディスプレイ向けの非常に鋭敏な平面ガラスを、検査中に傷つけないで搬送する。 - 特許庁

The method for inspecting function of the logic circuit contained in the electronic device is characteristically provided with the process for temporarily retaining the output signal from the object device for inspection when an input signal is transmitted thereto, and the process for forming a new input signal for inspection by performing a logical operation of output signal from the object device and the previously stored signal for forming the input signal.例文帳に追加

電子デバイスに含まれる論理回路の機能検査方法であって、被検査デバイスに検査用入力信号を印加した際の被検査デバイスからの出力信号を一時保存する工程と、被検査デバイスからの出力信号と検査装置上に予め格納された入力信号作成用信号との論理演算を行うことによって、新たな検査用入力信号を作成する工程を具備することを特徴とする。 - 特許庁

This ultrasonic inspection device includes an ultrasonic probe 10 for allowing an ultrasonic wave to enter a measuring object, and receiving the ultrasonic wave from the measuring object; and a calculation section 28 for measuring a peak interval in a spectrum of a signal by executing spectrum analysis of the ultrasonic signal received by the ultrasonic probe 10, and calculating the thickness of the measuring object by using peak intervals.例文帳に追加

超音波検査装置は、測定対象物に超音波を入射させ、前記測定対象物からの超音波を受信する超音波探触子１０と、超音波探触子１０が受信する超音波の信号のスペクトル解析を実行して、前記信号のスペクトルにおけるピークの間隔を測定し、当該ピークの間隔を用いて測定対象物の厚さを算出する計算部２８を備える。 - 特許庁

To provide an infrared irradiator enhancing infrared energy emitted from an infrared heater in the infrared inspection technique of a concrete structure, shortening the heating time of the concrete structure and capable of uniformizing the intensity distribution of the infrared heater to uniformize the temperature distribution after an inspection object is heated.例文帳に追加

本発明は、コンクリート構造物の赤外線検査技術において、赤外線ヒータから放射される赤外線エネルギを向上させ、コンクリート構造物の加熱時間を短縮し、また、赤外線ヒータの強度分布を均一化させ、検査対象の加熱後の温度分布を均一化することを可能にする赤外線照射装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an efficient inspection method by completely preventing an erroneous operation due to moisture and the other atmospheric conditions in an inspection with a simple procedure when inspecting the pin hole of a sealed wrapped object that is covered with an electrically insulated covering using a high DC voltage for a fluid, a particle, or a content such as food with conductivity.例文帳に追加

導電性を有する流動物や粉体又は食品等の内容物を電気絶縁性被膜で被包した密封包装物を直流高電圧を用いてピンホールを検査する場合、きわめて簡単な手順で検査時の湿度その他雰囲気による誤動作の発生を完全に防止して検査できる効率的な検査方法を提供する。 - 特許庁

When performing detection/automatic classification of a defect of the inspection object 1 having a repeated pattern such as a liquid crystal display device or a semiconductor wafer, the repeated pattern is divided beforehand into a plurality domains, and databases 71, 72, 73 for automatic classification differentiated by a domain on the repeated pattern to which a defect portion detected from an inspection image belongs are created.例文帳に追加

液晶表示装置や半導体ウェハ等の繰り返しパターンを持つ検査対象物１の欠陥を検出・自動分類する際、繰り返しパターンを予め複数の領域に分割し、被検査画像から検出された欠陥部位が上記繰り返しパターンのどの領域に属するによって異なった自動分類用データベース７１，７２，７３を作成しておく。 - 特許庁

This radiation inspection system contains a steering radiation electron tube 1 for generating radiation and an image multiplication tube 5 having a visual image screen for forming a plurality of radiation projected images obtained by the projection from the steering radiation electron tube 1 to an object to be inspected, which has a visual image face for projecting the visual image, and the inspection method using this system is also provided.例文帳に追加

放射線を発生させるステアリング放射線電子管１と、ステアリング放射線電子管１から検査対象への投射により得た複数の放射線投射像を可視像に形成し可視像の投影される可視映像面を備える映像増倍管５と、を含む放射線検査システム及びこれを用いた検査方法に関する。 - 特許庁

The original substrate for transfer is equipped with a substrate 100, a plurality of thin film circuits 102 which are made to be an object for transfer formed on the substrate through an exfoliation layer 101, inspection circuits 11-13 to inspect the circuit operation formed on the substrate, interconnections to connect each thin film circuit 102, and the inspection circuits 11-13.例文帳に追加

本発明の転写元基板は、基板１００と、この基板上に剥離層１０１を介して形成された転写対象となる複数の薄膜回路１０２と、上記基板上に形成された、回路動作を検査する検査回路１１〜１３と、各薄膜回路１０２と上記検査回路１１〜１３とを接続する配線と、を備える。 - 特許庁

The device for inspecting an appearance of a photosensitive drum includes a lighting device 1 having a light source for illuminating inspection light to a photosensitive drum W of an object to be inspected, and an imaging device 2 for imaging the surface of a photosensitive drum which is illuminated by the inspection light.例文帳に追加

被検査物である感光ドラム（Ｗ）に検査光を照射する光源を有する照明装置（１）と、この照明装置によって上記検査光が照らされている感光ドラムの表面を撮像する撮像装置（２）とを有し、上記感光ドラムにおける感光層の点欠陥や塗布ムラ等の異常の有無を検査する感光ドラム用の外観検査装置とした。 - 特許庁

To provide a technology capable of detecting all curved shapes of an inspected surface by one inspection by reflecting a mirror image of an image object at an arbitrary position on the inspected surface caught by a light receiving means, in the surface shape inspection using a complicated curved surfaces such as a concave curved surface or convex curved surface such as a vehicle body surface as the inspected surface.例文帳に追加

車両ボディ表面などの凹曲面又は凸曲面等の複雑な曲面を被検査面とする面形状検査において、受光手段が捉えた被検査面の任意の位置において像対象物の鏡像が映るようにして、一度の検査で被検査面の曲面形状を残らず検出することのできる技術を提案する。 - 特許庁

To provide a reference position calibration tool, a contour measuring instrument, a visual inspection device, a measuring object holding device, a reference position calibration method, a contour measuring method, and a visual inspection method, capable of executing accurately and easily calibration of a reference position between a contact type measuring instrument and a measuring instrument using an imaging apparatus.例文帳に追加

本発明は、接触式の測定装置と、撮像装置を用いた測定装置との間で、両者間の基準位置の校正を正確且つ容易に実行できる、基準位置校正治具、外形測定装置、外観検査装置、測定対象物保持装置、基準位置校正方法、外形測定方法、及び外観検査方法を実現する。 - 特許庁

This device/method comprises an irradiation means 5 for irradiating the nucleus 15 of a inspection object with lights of different wavelengths, an inspection means 7 for detecting the reflected lights of the irradiation light reflected by the nucleus 15, and a determination means 9 for determining the nucleus 15 by the characteristics of light reflectance, based on the detected reflected lights.例文帳に追加

検査対象の核１５に対し波長の異なる光を照射する照射手段５と、前記照射された光が前記核１５によって反射した反射光を検出する検査手段７と、前記検出された反射光に基づく光反射率の特性によって前記核１５を判別する判別手段９とよりなることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a medical image system, a medical image inspection system, and a program for keeping an image list in which the image files of a confirmation object are listed in a latest state and quickly deciding whether or not medical images can be provided for diagnosing in confirming the medical images generated in respective modalities in a plurality of the medical image inspection systems.例文帳に追加

各モダリティで生成された医用画像を複数の医用画像検像システムで確認する際に、確認対象の画像ファイルをリストにした画像リストを最新の状態に保ち医用画像が診断に提供可能であるか否かの迅速な判断が可能になる医用画像システム、医用画像検像システム及びプログラムを提供する。 - 特許庁

A pressure vessel 111 is provided on a back part of the circuit board 106 for inspection, countering the pressure for bringing the semiconductor device 102 which is the object to be inspected into contact with the circuit board 106 for inspection, and the pressure of gas or liquid in the pressure vessel 111 is raised, by raising a piston 115 inside the pressure vessel 111.例文帳に追加

検査対象の半導体デバイス１０２を検査用回路基板１０６にコンタクトさせるための圧力と対向する検査用回路基板１０６の裏面部分に加圧容器１１１を設け、加圧容器１１１内のピストン１１５を上昇させることにより、加圧容器１１１内の気体もしくは液体の圧力を上昇させる。 - 特許庁

In this connection device for contact to narrow-pitched and high-density electrode pads resulting from high integration of the semiconductor chip and for inspection of the semiconductor chip, a contact terminal to be brought into electrical contact with an inspection object has a quadrangular pyramid-shaped metal projection, and a part of the quadrangular pyramid part of the metal projection is constituted of an insulator.例文帳に追加

半導体チップの高集積化に伴う狭ピッチかつ高密度な電極パッドへの接触および半導体チップの検査を行うための接続装置において、検査対象に電気的に接触する接触端子は、四角錐状の金属製突起を有し、この金属製突起の四角錐部の一部が絶縁体で構成されている。 - 特許庁

An ultrasonic beam B is emitted toward an artificial defect 200 formed in a position corresponding to a point of inspection object 300 in advance, and a driving electric signal S3 in which a difference in delay time is set based on the reflected wave R is prepared.例文帳に追加

事前に、検査対象箇所３００に対応した位置に形成した人工欠陥２００に向けて超音波ビームＢを発し、その反射波Ｒに基づいて遅延時間の差を設定した駆動用電気信号Ｓ３を用意する。 - 特許庁

To provide a component mounting system and a component mounting method capable of achieving the object of mounting inspection work with sufficient accuracy even when a substrate has a deformation, e.g. warpage or distortion.例文帳に追加

基板に反りや歪み等の変形が生じている場合であっても装着検査作業の目的を十分な精度で達成することができるようにした部品実装システム及び部品実装方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a diagnostic system capable of appropriately grasping the number of patients staying in a medical examination system and easily and efficiently associating the patient who is an inspection object with a photographed image when used in small-scale facilities.例文帳に追加

小規模施設で用いる場合に、診察システム内に滞留する患者数を適切に把握することができ、かつ、簡易で効率的に検査対象である患者と撮影画像との対応付けが可能となる診断システムを提供する。 - 特許庁

A scale thickness evaluation means 6 utilizes correlation between the attenuation ratio and the scale thickness previously stored to evaluate the thicknesses of the scales deposited on the internal surface of the inspection object based on the attenuation ratio obtained by the attenuation ratio computing means 5.例文帳に追加

そして、スケール厚さ評価手段６は、予め記憶した減衰比とスケール厚さとの相関を利用して、減衰比演算手段５で得られた減衰比に基づいて被検査体内面に付着したスケール厚さを評価する。 - 特許庁

This object body 1 is sandwiched between a couple of pressure plates 6 and 7 and pressed strongly by a pressure roller, so that the air between the inspection part 3 and transparent upper plate 7 is discharged and a partially evacuated state (no-oxygen state) is entered.例文帳に追加

この被検査体１を１対の圧板６，７にて挟み込み、加圧ローラにて強く圧することにより、検査部３と透明上板７との間の空気を外部に押し出し、部分的に真空状態（無酸素状態）にする。 - 特許庁

To provide a component mounting system and a component mounting method capable of achieving the object of print inspection work with sufficient accuracy even when a substrate has a deformation, e.g. warpage or distortion.例文帳に追加

基板に反りや歪み等の変形が生じている場合であっても印刷検査作業の目的を十分な精度で達成することができるようにした部品実装システム及び部品実装方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The device is provided with a sensor 3 for detecting a gap between the noise detection sensor and the inspection object W, and the sensor 3 is caused to generate an AC magnetic field at a frequency lower than a Barkhausen noise detection frequency band of the noise detection sensor.例文帳に追加

ノイズ検出センサ、検査対象物Ｗ間のギャップを検出するセンサ３を設け、センサ３に、ノイズ検出センサによるバルクハウゼンノイズの検出周波数帯域よりも低い周波数の交流磁界を発生させる。 - 特許庁

To provide a recording and general inspection system for confirmation of various conditions of a request object like construction work, which enables whoever desires confirmation to perform confirmation of construction work or things attached to it such as examination in the presence of an observer at any time.例文帳に追加

立会検査等の工事あるいはそれに付されるものの確認がいつでも誰でも希望者の縦覽の用に供することができる工事等の依頼対象の諸状況確認のための記録縦覽システムを提供すること。 - 特許庁

This buckling inspection device comprises a plurality of light sources of different colors for generating linear illuminating light, and a plurality of image pickup devices for picking up the image of reflected light, reflected by the object, of the light emitted from the plurality of light sources.例文帳に追加

座屈検査装置は、ライン状の照明光を発生する複数の異なる色の光源と、前記の複数の光源から発生された光の物体からの反射光を撮像する複数台の撮像装置とからなる。 - 特許庁

A gravity center frequency of the acoustic signal is obtained from a frequency spectrum per unit collision of the received acoustic signal, and generation of the crack on the inspection object may be evaluated by using the gravity center frequency.例文帳に追加

また、受信された音響信号の単位衝突あたりの周波数スペクトルからこの音響信号の重心周波数を求め、この重心周波数を用いて検査対象物に亀裂が生じたか否かを評価してもよい。 - 特許庁

An analyzing section 10e prepares the process-quality model by carrying out an analysis by a data mining by using the process feature quantity and the inspection-result information associated with each other through the commonness of the related unit object.例文帳に追加

解析部１０ｅは、関連する単位対象品が共通していることによって対応付けられたプロセス特徴量と検査結果情報とを用いて、データマイニングによる解析を実行することにより、プロセス−品質モデルを作成する。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detection probe wherein the close adhesion of the projection installed on the eddy current flaw detection probe as a spacer is stabilized even in the inspection of the surface of an object to be inspected small in sharp unevenness and curvature, and a method for manufacturing the same.例文帳に追加

鋭利な凸凹や、曲率の小さい被検査体面の検査でも、渦電流プローブにスペーサーとして設置する突起物の密着を安定させた渦電流プローブ及びその製造方法を提供することにある。 - 特許庁

The removal unit 3 removes an influence of the transmission density occupied by the members other than the inspection object on a portion where the plurality of members in the X-ray transmission image 4 are piled up, by using an image generated by the image generation unit 2.例文帳に追加

除去手段３は、画像作成手段２により作成された画像を用いて、Ｘ線透過画像４の複数の部材が重なった部位の検査対象物以外の部材の占める透過濃度の影響を除去する。 - 特許庁

To provide an optical position detection device capable of eliminating a detection error due to incidence of a portion of detection light emitted from a light source for inspection into a photo-detector without being reflected on an object.例文帳に追加

検出用光源から出射された検出光の一部が対象物体で反射せずに光検出器に入射することに起因する検出誤差を解消することのできる光学式位置検出装置を提供すること。 - 特許庁

The pixel is extracted as a part of the shape of an inspection object, and in the extraction processing, the pixel having the smallest value or the largest value is determined, while changing successively the position of the pixel row to a direction orthogonal to a direction of the pixel row.例文帳に追加

その画素を検査対象物の形状の一部として抽出し、この抽出処理を画素列の方向と直交する方向に、画素列の位置を順次変えながら最小値若しくは最大値となる画素を求める。 - 特許庁

The imaging part 10 has a prism mirror 11 for splitting the inspection object domain of the printed board 15 plurally along the conveyance direction, and line sensor cameras 12, 13 for imaging images of a plurality of domains split by the prism mirror 11.例文帳に追加

撮像部１０が、プリント基板１５の検査対象領域を前記搬送方向に沿って複数に分割するプリズムミラー１１と、プリズムミラー１１で分割された複数の領域の像を、撮像するラインセンサカメラ１２，１３を有する。 - 特許庁

In a probe substrate for bare chip inspection which carries out a separation of a bare chip, a fine wiring pattern 4 is formed on a polyimide tape being a base at a position facing to an electrode pad of a semiconductor chip of an object to be inspected.例文帳に追加

ベアチップの選別を行うためのベアチップ検査用プローブ基板にあって、基台となるポリイミドテープには、検査対象の半導体チップの電極パッドに対向する位置に及ぶ微細配線パターン４が形成されている。 - 特許庁

A position detector 9 detects the position of a specimen 2 formed by filling a stereotype vessel with an inspection object, and when the specimen 2 comes to a prescribed irradiation position, an X-ray pulse is irradiated by an X-ray pulse irradiator 4.例文帳に追加

検査対象物を定形容器に充填して成る被検体２の位置を位置検出装置９で検出し、被検体２が所定の照射位置となったときにＸ線パルス照射装置４によりＸ線パルスを照射する。 - 特許庁

To remove a tilted stripe pattern which is a background pattern of an inspection object from an image before flaw candidate extraction or flaw determination, and to detect only a harmful flaw accurately without detecting wrongly the background pattern.例文帳に追加

画像から、疵候補抽出や疵判定を行う前に検査対象の背景パターンである傾斜したストライプパターンを除去することができ、背景パターンを誤検出することがなく、正確に有害疵のみを検出できる。 - 特許庁

Inspection light is again allowed to be incident on the incident window 26 on the measuring cell 26 and allowed to traverse light path length (b) different from the light path length (a) with respect to the object to be inspected to be transmitted through the transmission window 16 to detect the intensity of transmitted light.例文帳に追加

その後再び測定セル３上の入射窓２６に検査光を入射し、該検査光を前記被検査体に対して前回と異なる光路長ｂ横断させて透過窓１６から透過させ、この強度を検出する。 - 特許庁

Since the inspection image 32, in which a clear boundary is generated between the nonexistent region 30 of the foreign body 20 and the existent region 31 is obtained, an inspector can easily detect the existence of the foreign body 20 inside the object 2 to be inspected.例文帳に追加

このように異物２０の非存在領域３０と存在領域３１とに明確な境界が生じた検査画像３２が得られるので、検査員は検査物体２内の異物２０の存在を容易に検出することができる。 - 特許庁

To practically use a surface defect inspection device by robot grasping, by reducing rotation deflection in an open end when inspecting a defect while rotated under the condition where one side of an inspected object is grasped and where the other side is opened.例文帳に追加

被検査物の一方を把持し、他方を開放した状態で回転させながら欠陥検査を行う上で、開放端側の回転振れを小さくし、ロボット把持による表面欠陥検査装置を実用化できるようにする。 - 特許庁

When it is decided that the featured value data are belonging to the normal category, or it is decided that each of the elements of the featured value data is within the reference range, it is decided that the inspection object is put in a normal status by a control part 8.例文帳に追加

制御部８が、特徴量データが正常カテゴリに属するとの判定を受けた場合や、特徴量データの各要素が基準範囲内にあるとの判定を受けた場合、検査対象物が正常状態であると判定する。 - 特許庁

To easily find an illumination angle with high accuracy for detecting an image having a high contrast by diffracted light so as to detect the image of a defect in a periodical pattern of an inspection object, and to suppress variation in detection accuracy among workers.例文帳に追加

被検査物の周期性パターンの欠陥を画像検出するために、回折光によるコントラストの高い画像を検出する照明角度を容易に精度良く見出し、作業者間の検査精度のばらつきを抑えること。 - 特許庁

A reference value obtained by measuring a reference ink is compared with a detection value obtained by measuring the ink being the detection object, and if the inspection value is beyond the extent of the reference value, it is determined as the ink deterioration, and purging, alarming or the like is performed for each of the nozzles.例文帳に追加

基準インクで測定した基準値と、検査対象インクで測定した検査値を比較し、検査値が基準値の範囲を外れていた場合、インクの変質と判断し、ノズルごとのパージや警報の発令等を行なう。 - 特許庁

The particle extraction container 21 containing the second liquid 40 and inspection object 50 is inserted into the first liquid 30 from above a liquid level 30a a first time after the ultrasonic wave oscillator 25 starts oscillating.例文帳に追加

超音波発振器２５の発振が開始してから第１の時間が経過したのち、第２の液４０と被検査物５０が入っているパーティクル抽出容器２１を液面３０ａの上方から第１の液３０に挿入する。 - 特許庁

The device detects a domain required to be determined, having a brightness difference exceeding a threshold determined beforehand relative to another domain in the object image acquired from the imaging means, and specifies an inspection domain enclosing the domain required to be determined.例文帳に追加

該装置は、撮像手段から取得した対象物の画像において、他の領域に対し予め定めたしきい値を超える輝度差を有する要判定領域を検出し、該要判定領域を囲む検査領域を特定する。 - 特許庁