「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(44ページ目) - Weblio英語例文検索

The tire inspecting method uses at least a server computer storing tire/vehicle information regarding an inspection object vehicle and a plurality of portable computers capable of taking in the tire/vehicle information, and it includes the following steps.例文帳に追加

点検対象車両についてのタイヤ・車両情報を記憶したサーバコンピュータと、前記タイヤ・車両情報を取り込み可能かつ持ち運び自在な複数の携帯用コンピュータとを少なくとも用い、以下の（イ）ないし（ニ）のステップを含む。 - 特許庁

The inspection point of the magnetic head 10 which is an object to be inspected is irradiated with UV illumination light of a single wavelength and the images of the point to be inspected which is illuminated with the UV illumination light are picked up by a CCD camera 21 for UV light.例文帳に追加

被検査物である磁気ヘッド１００の検査箇所に、単一波長の紫外照明光を照射し、この紫外照明光により照明された検査箇所の画像を紫外光用ＣＣＤカメラ２１で撮像する。 - 特許庁

To inspect a piping to be inspected even if a rib or a sheath pipe is present in a piping becoming a direct inspection object in a multiple piping mutually supported in a fixed or movable state by a rib.例文帳に追加

リブにより互いに固定支持あるいは可動支持された多重配管において、直接の検査対象となる配管内にリブやさや管が存在していても、その被検査対象配管の検査を可能ならしめるようにする。 - 特許庁

A direct-current control voltage is applied directly to an input point Q1 of VCO 14 by an LSI tester 10, by paying attention to a potential ability of the VCO which is a component of a PLL circuit built in an LSI which is an inspection object.例文帳に追加

検査対象のＬＳＩに内蔵されるＰＬＬ回路の構成要素であるＶＣＯの、潜在的な能力に着目し、このＶＣＯ１４の入力点Ｑ１に、ＬＳＩテスタ１０が、直接に直流制御電圧を印加する。 - 特許庁

In this case, the comparison inspection is performed by excluding a difference to an excessive domain which is a pattern domain of the object image formed more excessively than a pattern domain shown by the master image in the internal angle domain of the master image.例文帳に追加

このとき、マスタ画像における内角領域において、当該マスタ画像が示すパターンの領域より過剰に形成されているオブジェクト画像のパターンの領域である過剰領域に対する差分は除外して比較検査を行う。 - 特許庁

To provide an optical measurement method and an optical measurement device avoiding a deterioration of measurement accuracy caused by noise due to surface properties of an inspection object and stably and precisely measuring a measurement value desired to be obtained.例文帳に追加

検査対象の表面特性によるノイズから生じる測定精度の劣化を回避し、求めたい測定値を精度よく安定して測定することができる光学的測定方法及び光学的測定装置を提供する。 - 特許庁

The electrical connection device includes a probe substrate having a plurality of probe lands on the under surface, and a plurality of contactors equipped respectively with a base end fixed to each probe land and a needle tip part to be in contact with the connection terminal of the inspection object.例文帳に追加

電気的接続装置は、複数のプローブランドを下面に有するプローブ基板と、それぞれがプローブランドに固定された基端部及び被検査体の前記接続端子に接触される針先部を備える複数の接触子とを含む。 - 特許庁

To provide an inspecting apparatus for a print head which generates profiles based on a plurality of light volume data sampled when a light emitting point to be an object for inspection is emitted, compares these profiles on every self-scanning type light emitting element, and judges the quality.例文帳に追加

検査対象の発光点を発光させたときに採取した複数の光量データに基づいてプロファイルを作成し、このプロファイルを自己走査型発光素子毎に比較し、良否判定するプリントヘッドの検査装置を提供する。 - 特許庁

To prevent a lift-off noise from generating, even if the positions of an exciting coil and a detecting coil are shifted, in relation to an inspection plane of an object to be inspected, in an operation of a probe for detecting eddy current flaw using uniform eddy current.例文帳に追加

一様渦電流を利用する渦電流探傷用プローブにおいて、検査体の検査面に対する励磁コイル及び検出コイルの位置がずれてもリフトオフ雑音が発生しない渦電流探傷用プローブを提供すること。 - 特許庁

In this ultrasonic flaw detector 20A, ultrasonic vibrators 42a and 42b contact a flaw detection surface 21a of the inspection object material 21, and time delay circuits 41 give time delay values to a signal processing system 45 and pulse generators 26 and 27.例文帳に追加

超音波探傷装置２０Ａにおいて、超音波振動子４２ａ，４２ｂは被検査材２１の探傷面２１ａに接し、時間遅延回路４１は時間遅延の値を信号処理系４５およびパルス発生器２６、２７に与える。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection device capable of removing deficiency of a conventional device, concerning flaw detection in a screw tooth flank in which an ultrasonic wave can be emitted only in the device axial center direction and flaw detection of the test object circumference is difficult.例文帳に追加

超音波を装置軸心方向にしか発射できず、被検体外周の欠陥検出が難しいネジ歯面内欠陥検出に関して、従来装置の不具合を解消できる超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card capable of removing a conduction failure between an upper part and a lower part of a substrate, and keeping the optimum state of the interval from an inspection object corresponding to deformation of the probe card caused by heat, and having excellent contact stability and excellent maintainability.例文帳に追加

基板の上下間の導通不良を解消し、接触安定性に優れ、熱によるプローブカードの変形に対応し、被検査対象物との間隔を最適な状態に保ち、メンテナンス性に優れたプローブカードを提供する。 - 特許庁

A control computer 19 replaces the image of the wiring, which is not the object to be inspected and can be a noise source in the defect inspection, with the self-generated image, and inspects the defect of the wiring to be inspected based on the contrast image after the replacing process.例文帳に追加

制御用計算機１９は、欠陥検査においてノイズ源となる非検査対象の配線の画像を自己生成画像で置き換え、置換処理後のコントラスト画像に基づいて検査対象の配線の欠陥を検査する。 - 特許庁

The projection part 22 is projected to a direction toward the inspection object 102 from the end face 21a, and is formed so that the distal end face of the projection part 22 is arranged furthermore to the beam part fixed end side than a center part of the end face 21a.例文帳に追加

突起部２２は、端面２１ａから検査対象物１０２へ向かう方向に突出し、端面２１ａの中心部よりもビーム部固定端側に寄って突起部２２の先端面が配置されるように形成されている。 - 特許庁

To provide an optical tomographic image generation device for converting information from a deep part of an inspection object by SSOCT (Swept source optical coherence tomography) into a digital signal highly accurately without being buried into a quantization noise, and improving penetration depth of a tomogram.例文帳に追加

ＳＳＯＣＴによる検査対象の深部からの情報を、量子化雑音に埋没することなく、高精度でデジタル信号に変換でき、断層像の深達度を向上できる光断層画像生成装置を提供する。 - 特許庁

This device has a temperature sensor 10 having a sensor element such as a thermopile detecting the temperature of an object without contacting and a circuit for inspection such as a wire-breaking detecting circuit 18 which is connected to the sensor element and detects the wire breaking of the sensor element.例文帳に追加

非接触で対象物の温度を検知するサーモパイル等のセンサ素子を有した温度センサ１０と、このセンサ素子に接続されセンサ素子の断線を検知する断線検知回路１８等の検査用回路を有する。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device and a method capable of identifying a material of an inspected object, using a small number of inexpensive X-ray generators and X-ray detectors, and capable of reducing thereby a size and a cost of the device.例文帳に追加

安価かつ少数のＸ線発生装置とＸ線検出器を用いて、被検査物の材質を識別することができ、これにより装置を小型かつ安価にできるＸ線検査装置とＸ線検査方法を提供する。 - 特許庁

This contact probe 1 includes the contact part 2 abutting on the inspection object 102, and the beam part 3 having a cantilever structure wherein a fixed end is fixed to a probe substrate 107 and the contact part 2 is formed on the free end of the other end.例文帳に追加

コンタクトプローブ１は、検査対象物１０２に当接させるコンタクト部２と、プローブ基板１０７に固定端が固着され、他端の自由端部にコンタクト部２が形成される片持ち梁構造のビーム部３とを備える。 - 特許庁

Thus, it is not necessary to set the color extract filter by teaching every time the kind of an electronic part as an inspection object is switched so as to effect a loading state inspecting device for an electronic part excellent in operability and inspecting function.例文帳に追加

これにより、検査対象の電子部品の品種が切り替わる度に色抽出フィルタをティーチングにより設定する必要がなく、操作性や検査機能に優れた電子部品の搭載状態検査装置が実現できる。 - 特許庁

To create an image of which appearance is in an unified state and to perform the inspection with stable accuracy whichever relation the varying direction of gradient of an inspected object takes with respect to the arrangement of a light source.例文帳に追加

検査対象物の勾配が変化する方向が光源の配置に対してどのような関係をとる場合でも、見え方が統一された状態になるような画像を生成し、安定した精度で検査を行えるようにする。 - 特許庁

In this leakage detecting method for the building of the present invention, temperature difference air E detectable by an infrared-sensitive camera with respect to a temperature of the structure of the building of an inspection object is forcibly introduced from a crack opening part in a reverse side of the structure.例文帳に追加

本願建築物の漏水路検知方法は、検査対象建築物の構造体の温度に対し赤外線感知カメラで検出可能な温度差空気（Ｅ）を該構造体の裏側の亀裂開口部から圧入する。 - 特許庁

The vanishing processing of the inspection object in the reaction container 141 is performed before and/or after cleaning the reaction container 141, namely, after measuring the characteristic of the reaction liquid in the reaction container 141 and before despensing a sample again.例文帳に追加

反応容器１４１内の検査対象を消失させる処理は、反応容器１４１内の反応液の特性を測定後、再び試料が分注される前までであって、反応容器１４１を洗浄する前または／および後に行う。 - 特許庁

As for the waveform data, the frequency difference is made larger by selecting waveform data at a predetermined higher-order wave on a higher frequency higher than that of the standard wave of the inspection object 75, thus facilitating selection of a threshold value to be used for the discrimination.例文帳に追加

上記波形データは、検査対象物７５の基本波よりも高い周波数側の所定の高次波における波形データを選択することで上記周波数差を大きくとり、判別に用いるしきい値の選択を容易にした。 - 特許庁

To realize an inspection method of coating liquid for measuring the ratio of an analytical object component and/or water content in coating liquid for an electrophotographic photosensitive body, highly precisely and efficiently without mixing of impurities.例文帳に追加

電子写真感光体用塗布液中の分析対象成分の比率および／または水分含有量を、不純物の混入なしに、高精度で、かつ効率良く測定する塗布液の検査方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

An execution state display (b) has a drawing column b1 representing an object for fixing a post-execution anchor in a schematic manner, and a fill-in column b2 representing an inspection result regarding an important inspecting item regarding each post-execution anchor.例文帳に追加

施工状態表示部ｂは、あと施工アンカーを固定する対象物を摸式的に表す作図欄ｂ_1 と、各あと施工アンカーに関し特に重要な検査項目に係る検査結果を表す書き込み欄ｂ_2 とを有している。 - 特許庁

Then, the viscocity of the solder material which is the inspection object is calculated by sustituting the first infrared absorbance for a calibration curve equation specified based on the second infrared absorbance in a calculation part 40.例文帳に追加

そして、算出部１０において、上記第二赤外線吸光度に基づいて特定される検量線方程式に、上記第一赤外線吸光度を代入することによって上記検査対象の半田材の粘度を算出する。 - 特許庁

To detect defects of an inspection object even when the defects have concave shapes or convex shapes, and to inspect sheets not having transparency, having low transparency, or having a surface with glossiness.例文帳に追加

検査対象における欠陥の形状が凹状又は凸状のいずれであっても検出可能とするとともに、光透過性を有しないものや低いもの、表面に光沢を有するシートなどについても検査の対象物とする。 - 特許庁

A zoom mechanism is controlled so that the zoom position of focal length of the object to be inspected is obtained (step 102), image frame adjustment (step 104), zoom magnification regulation (step 108), hue evaluation (step 112), and resolution inspection (step 116) are performed.例文帳に追加

検査対象の焦点距離のズームポジションとなるようにズーム機構の制御し（ステップ１０２）、画枠合わせ（ステップ１０４）、ズーム倍率調整（ステップ１０８）、色味評価（ステップ１１２）、解像度検査（ステップ１１６）が行われる。 - 特許庁

The equipment maintenance plan support system has a database storing past work records, it carries out a regression analysis for every maintenance object apparatus on the basis of the past work records, and it determines a next inspection period in accordance with a result of the regression analysis.例文帳に追加

設備保全計画支援システムは過去の工事記録を保存したデータベースを有し、過去の工事記録に基づき、保全対象機器ごとに回帰分析を行い、回帰分析の結果に応じて次期点検周期を決定する。 - 特許庁

To improve accuracy in the operations of comparing a paper output image formed by a printer which is an inspection object, with a reference image and determining the acceptability of its output image quality from a comparison result, without making the printer carry out special movements.例文帳に追加

検査対象の印刷装置で作成された紙出力画像を基準画像と比較し、比較結果から出力画質の合否を判定する際、印刷装置に特別な動作を行わせることなく、精度の向上を図る。 - 特許庁

The inspection system has a first source for providing a first beam of the permeable radial ray of a specified cross section directed in a first beam direction substantially transverse to the direction of the motion of the object.例文帳に追加

本発明の検査システムは、物体の動きの方向に関して実質的に横断方向の第１ビーム方向に方向付けられた、特定の断面の透過性放射線の第１ビームを提供するための、第１の供給源を有する。 - 特許庁

To provide a shearing type crusher capable of facilitating the replacing work of a rotary blade or a fixed blade, removing work of an object to be treated in the case of being clogged, and maintenance work such as an inspection and a cleaning.例文帳に追加

回転刃や固定刃の取替え作業や、被処理物がつまった場合における当該被処理物の除去作業、点検や清掃などのメンテナンス作業などを容易に行うことのできるせん断式破砕機を提供する。 - 特許庁

To provide a light intensity measuring method and a light intensity measuring instrument capable of measuring precisely light intensity of reflected light from an inspection object, even when an influence by disturbance light is great, and a film thickness measuring instrument using the same.例文帳に追加

外乱光の影響が大きい場合でも検査対象物からの反射光の光強度を精度よく測定する光強度測定方法、光強度測定装置及びそれを用いた膜厚測定装置を提供する。 - 特許庁

This device is provided with a ring light 2 and a line light 2 serving as a plurality of irradiating means for irradiating light from different directions toward the surface of the substrate which is an inspection object, and CCD cameras 6 and 7 serving as photographing means.例文帳に追加

この装置は、検査対象となる基板１の主表面に向けて、それぞれ異なる方向から光を照射する複数の照射手段としてのリングライト２、ラインライト３などと、撮影手段としてのＣＣＤカメラ６，７を備える。 - 特許庁

To provide a polishing material of a probe and a polishing method of the probe capable of managing the polished state of the tip surface of the probe, and securing stable conduction between the probe and an inspection object also after being polished.例文帳に追加

プローブの先端表面の研磨状態を管理することができ、しかも研磨後にもプローブと被検査体との間に安定した導通を確保することができるプローブの研磨材及びプローブの研磨方法を提供する。 - 特許庁

A cone 17 to become a position controlling means to direct a camera unit 13 and an illumination unit 14 to a fixed position to a peripheral direction of the inside of the pipe of the inspection object is integrally formed in a rotating portion 16a of a slip ring 16.例文帳に追加

スリップリング１６の回転部１６ａには、カメラユニット１３および照明ユニット１４を、検査対象管内の周方向に対して一定の位置に指向させる位置規制手段となる錘体１７が一体形成される。 - 特許庁

When the photographed image, obtained by photographing the packaging substrate P in which an electronic component E has been carried, is compared and collated with reference data included in the inspection data and inspected, the object is the method of creating the inspecting data.例文帳に追加

本発明は、電子部品Ｅが搭載された実装基板Ｐを撮像して得られる撮像画像を、検査用データに含まれる基準データと比較照合して検査するに際し、検査用データを作成する方法を対象とする。 - 特許庁

The turnout inspection device includes: a truck 21 capable of traveling on a track; a distance sensor 25 measuring the traveling distance of the truck 21; a laser type displacement sensor 29 measuring the shape of an object to be measured; a slide guide 27 positioning the laser type displacement sensor 29 always on the vertical line of a track gauge measurement point P of a rail 11 on the measurement object side; and a measurement control device 40.例文帳に追加

軌道上を走行可能な台車２１と、台車２１の走行距離を測定する距離センサ２５と、測定対象物の形状を測定するレーザ式変位センサ２９と、レーザ式変位センサ２９を測定対象側レール１１の軌間測定点Ｐの鉛直線上に常に位置させるスライドガイド２７と、測定制御装置４０とを有する。 - 特許庁

The judgment knowledge creation system 20 determines: a characteristic amount suitable for an object to be inspected; and a parameter for calculating the characteristic amount, in an inspection system which inspects whether the object to be inspected is a non-defective item or a defective item on the basis of the characteristic amount which is obtained by performing characteristic amount extraction processing on acquired waveform data.例文帳に追加

判定知識作成装置２０は、取得した波形データに対し、特徴量抽出処理を行って得られた特徴量に基づいて、検査対象物が良品であるか不良品であるかを検査する検査装置における、前記検査対象物に適した特徴量と、その特徴量を演算するためのパラメータとを求める。 - 特許庁

The image processor includes a reference image area retrieval part 12 which extracts the part with the largest dispersion as a reference image from the picked-up image of good quality and a comparative inspection part 15 which compares the reference image extracted by the reference image area retrieval part 12 with a picked-up image of an object and discriminates the object or decides its quality.例文帳に追加

画像処理装置は、撮像された良品の画像から分散が最も高い部分を基準画像として抽出する基準画像エリア検索部１２と、基準画像エリア検索部１２によって抽出された基準画像と撮像された対象物の画像とを比較して、対象物の識別または良否の判定を行なう比較検査部１５とを含む。 - 特許庁

In this shielding box provided with a measuring antenna in its inside and for storing a radio terminal of an inspection object, a holder for mounting the inspected object on a fixed position is attached in the inside via a positioning mechanism capable of changing a relative positional relation with respect to the measuring antenna to a plurality of preset positions.例文帳に追加

内部に測定用アンテナが設けられ、検査対象である無線端末を収納するシールドボックスであって、内部には、前記検査対象を一定位置に載置するためのホルダが、測定用アンテナとの相対位置関係をあらかじめ設定された複数の位置に変更可能な位置決め機構を介して取り付けられていることを特徴とするもの。 - 特許庁

The first intensity of an infrared ray having a specific wavenumber in a measuring domain is detected when the irradiation domain where a solder material being an inspection object, is arranged, is irradiated with light, and the second intensity of the infrared ray having the specific wavenumber in the measuring domain is detected when the irradiation domain where a solder material being a comparison object, is arranged, is irradiated with light.例文帳に追加

検査対象の半田材が配された照射領域へ光を照射したときに計測領域における特定波数の赤外線の第一強度を検出し、比較対象の半田材が配された照射領域へ光を照射したときに計測領域における上記特定波数の赤外線の第二強度を検出する。 - 特許庁

Upon receiving an assignment request of memory from a program 2, an OS 1 acquires a memory area to be assigned to the program 2 from a memory area 4, and lays the acquired memory area into an access prohibiting state by an MMU 3 as an inspection object memory area.例文帳に追加

プログラム２からメモリの割り当て要求を受けると，ＯＳ１は，メモリ領域４からプログラム２に割り当てるメモリ領域を獲得し，獲得したメモリ領域を検査対象メモリ領域としてＭＭＵ３によりアクセス禁止状態にする。 - 特許庁

To provide a terminal device for inspection which can easily cope with a case where measurement points of an object to be inspected are arrayed in fine pitch, can stabilize the contact resistance, and an reduce a measurement error and measurement failure.例文帳に追加

被検査体の測定点が微細ピッチで配列されている場合にも容易に対応できるとともに、接触抵抗を安定化させることができ、測定誤差や測定不良を低減することができる新規の検査用端子装置を提供する。 - 特許庁

Since a noise caused by a material or a shape of an inspection object is removed by division processing performed by the image division operation processor 13, to thereby acquire a high-grade X-ray image relative to the foreign matter, fine foreign matter can be detected.例文帳に追加

画像除算演算処理器１３が行なう除算処理によって検査対象物の材質又は形状に起因するノイズが除去され、異物に関する高品位なＸ線画像を取得できるので、微細な異物が検出可能になる。 - 特許庁