「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(47ページ目) - Weblio英語例文検索

An inspection step for writing and reading a test signal while the positive and negative polarities are inverted by signal lines is carried out twice while the polarities of the test signal are changed, obtained voltages of respective pixels are extracted by the polarities, and the voltages having the same polarities are rearranged as to all the object pixels of the inspection and compared with expected values.例文帳に追加

信号線１本毎に正負極性を反転させてテスト用信号の書き込みと読み出しを行う検査ステップを、前記テスト用信号の極性を入れ替えて２回実行し、得られた各画素の電圧を極性毎に抽出して、検査対象となった全画素について同一極性の電圧が配置されるように並べ替え、この並び替えた同一極性の電圧と期待値とを比較するようにした。 - 特許庁

To provide a hot plate unit for a semiconductor producing/increasing system in which a conductor circuit can be formed, as set, on a semiconductor wafer in the production/inspection process of the semiconductor by heating an object e.g. a resin film for forming resist, applied to the semiconductor wafer uniformly.例文帳に追加

半導体製造・検査工程において、半導体ウエハに塗布されたレジスト形成用の樹脂膜等の被加熱物を均一に加熱することにより、半導体ウエハ上に設定通りの導体回路を形成することが可能である半導体製造・検査装置用ホットプレートユニットを提供すること。 - 特許庁

In this paper transport amount measuring method in a printer, while a paper sheet on which a measurement pattern is printed by designated print pitch is fed in a inspection object printer 100, the measurement pattern is measured, and the obtained measurement value is corrected by reference measurement data to measure the paper feed amount.例文帳に追加

プリンタにおける紙搬送量の測定方法において、所定の印字ピッチで測定パターンが印刷された用紙を検査対象プリンタ１００で紙送りしながら、その測定パターンを測定し、得られた測定値を基準測定データで補正することによって紙送り量を測定する。 - 特許庁

The feature quantity of a differential image is extracted from the result of plate inspection of the object image produced from a press plate, and the control information CI to adjust the details of control in each process of the print workflow is generated on the basis of the above feature quantity and the image feature.例文帳に追加

刷版から生成された対象画像の検版結果から、差分画像の特徴量を抽出し、当該特徴量と画像特徴とに基づいて、印刷ワークフローの各工程における制御の内容を調整するための制御情報ＣＩを生成する。 - 特許庁

The visual inspection device is provided with a laser pointer and a data processing and storing device, which records accurate defective spots and the details of defects, when the inspector presses a pertinent key on a switch box for recording without keeping his eyes off an object to be inspected, while the inspector performs visual inspections on a printed wiring board assembly placed on an X-Y table.例文帳に追加

Ｘ−Ｙテーブル上に配置したプリント配線板組立の目視検査をしながら検査対象から目を離さずに記録用スイッチボックスの該当キーを押下するだけで正確な不良個所と不良内容を記録するレーザポインタとデータ処理・記憶装置を備える。 - 特許庁

An inspection object OB is hammered by rotating a hammering arm 13, to thereby generate a hammering sound, and the frequency of the hammering sound is measured by a frequency measuring circuit 44 in an initial period of generation of the hammering sound, and a passing band of a bandpass filter 45 using the measured frequency as a center frequency is set.例文帳に追加

打撃アーム１３を回動させて検査対象物ＯＢを叩いて打音を発生させ、打音が発生している初期において、周波数測定回路４４により打音の周波数を測定し、測定された周波数を中心周波数としたバンドパスフィルタ４５の通過帯域を設定する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device wherein detection sensitivity and throughput are improved by optimizing shape of illumination when detecting a defect such as foreign matter generated in a production process for forming a pattern on a substrate to manufacture a target object, and to provide a method therefor.例文帳に追加

基板上にパターンを形成し対象物を製作して行く製造工程で発生する異物等の欠陥を検出する際に、照明の形状を最適化することにより、検出感度およびスループットを向上する欠陥検査装置およびその方法を提供することにある。 - 特許庁

An imaged image of the electronic component on the mounting substrate acquired by photographing the mounting substrate which is an inspection object is collated with the artificial image, and compared with loading position data of the electronic component on the mounting substrate, to thereby inspect the mounting state of the electronic component on the mounting substrate.例文帳に追加

検査対象の実装基板を撮影して得られる該実装基板上の電子部品の撮像画像を前記人工画像と照合し、実装基板における電子部品の搭載位置データと比較することにより、該実装基板上の電子部品の実装状態を検査する。 - 特許庁

Handling for a tether cable 5 in a lower part of an inspection object is supported therein by the cable handling part 14, and an operation of the ROV 1 floating in an upper side is monitored by the monitoring camera 13 to allow the easy moving approaching operation for the ROV 1 even in the narrow place.例文帳に追加

このとき、点検対象の下部におけるテザーケーブル５の取り扱いをケーブルハンドリング部１４により支援し、上方に遊泳しているＲＯＶ１の動作が監視カメラ装置１３により監視できるようにして、狭隘な場所でも容易にＲＯＶ１が移動接近操作できるようにしたもの。 - 特許庁

Since laser drivers 21 and 22 respectively adjust the coherence lengths of inspection light rays generated from semiconductor lasers 12a and 12b, interference fringes can only be formed with respect to the surface of the object to be measured having an optical path near the optical path on a reference planar mirror 16 side.例文帳に追加

レーザドライバ２１、２２が半導体レーザ１２ａ、１２ｂから発生させる検査光のコヒーレンス長を調整するので、コヒーレンス長を所定範囲内に短くした場合、参照平面ミラー１６側の光路に近い光路を有する面のみに関して干渉縞を形成することができる。 - 特許庁

Conversion parts 8, 9 which individually perform coordinate-conversion in each horizontal (X) direction and vertical direction (Y) are provided at a scan control part 12 to form two dimensional coordinates for scanning electron beams of a scanning electron microscope, and the electron beams are scanned in the arbitrary direction in the inspection object region of the sample.例文帳に追加

走査電子顕微鏡の電子ビームを走査（スキャン）させるための２次元の座標を生成するスキャン制御部１２に、水平（Ｘ）方向及び垂直（Ｙ）方向毎に個別に座標変換する変換部８，９を備え、試料の検査対象領域で任意の方向に電子ビームを走査させる。 - 特許庁

The semiconductor inspection equipment comprises a probe where an elastic underlying layer is formed of an insulator on a substrate, protrusions are formed thereon at positions corresponding to the terminals of an object being inspected, and a conductive circuit is formed from the surface of the protrusions to electrode terminals on the substrate.例文帳に追加

半導体検査装置は、基板上に絶縁体でありかつ弾力に富む下地層を形成し、その上に、検査対象物の端子に対応した位置に突起を形成し、突起表面から基板上の電極端子まで導電回路を形成したプローブを有する。 - 特許庁

The surface inspection apparatus irradiates an outer peripheral surface to be an inspecting surface of an object to be inspected with an optical beam from a light source through light irradiation means, receives reflected light from the inspecting surface by light receiving means and detects a defect existing on the inspecting surface based on the light quantity of the received reflected light.例文帳に追加

光源からの光ビームを光照射手段を介して被検査物の被検査面である外周面に照射し、受光手段により被検査面からの反射光を受光し、受光した反射光の光量に基づいて被検査面上に存在する欠陥を検出する装置である。 - 特許庁

In this probe constituted of a support part to be mounted on a substrate of a probe card; an arm part extending from the support part; and a tip part provided on the tip of the arm part, to be brought into contact with an electrode which is an inspection object, the tip part comprises a contact part and a radiation fin.例文帳に追加

プローブカードの基板に取り付けるための支持部、上記支持部から延在するアーム部、および上記アーム部の先端に設けられ被検査対象物の電極に接触する先端部から構成されるプローブであって、上記先端部が、接触部および放熱フィンからなる。 - 特許庁

The optical position detection device 10 emits detection light L2 by sequentially lighting a plurality of light sources for inspection 12, and receives a portion of the detection light L3 reflected by an object Ob that is located in detection space 10R using a photo-detector 30.例文帳に追加

光学式位置検出装置１０では、複数の検出用光源１２を順次点灯させて検出光Ｌ２を出射させ、検出空間１０Ｒに位置する対象物体Ｏｂにより反射した検出光Ｌ３の一部を光検出器３０により受光する。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device for inspecting a measuring object at various angles, while it is not only moved in the x, y and z axial directions but also rotated, in order to secure reliability of a product, after a component is mounted to a PCB (printed circuit board) and soldered in an electric electronic product manufacturing process.例文帳に追加

電気電子製品製造工程でのＰＣＢに部品を装着した上、ハンダ付け作業後に製品の信頼性を確保するために、被測定物をｘ、ｙ、ｚ軸への移動だけでなく、回転して多様な角度での検査が可能なＸ線検査装置を提供する。 - 特許庁

To select data suited to the updating of a learning model from the data of many flaws when updating the learning model for discriminating a flaw kind from the feature amount of the flaw generated in a flaw inspection object using the data of the feature amount of the flaw for which the correct answer data of the flaw kind are given.例文帳に追加

疵検査対象物に生じている疵の特徴量から疵種を判別するための学習モデルを、疵種の正解データが与えられた疵の特徴量のデータを用いて更新するに際し、多数の疵のデータから学習モデルの更新に適したデータを選択できるようにする。 - 特許庁

Liquid supplied to a fuel injection valve for inspection is supplied to the metering pipe 41 having controlled inner diameter from a testing liquid supply flow passage 53, and is pressurized by gas (injected from a gas injection opening 21p) of same pressure as pressure actually used in an object to be inspected 1.例文帳に追加

検査用燃料噴射弁に供給される液は、管理された内径を有する計量管４１に試験液供給流路５３から供給され、検査対象物１で実際に使用される圧力と同圧のガス（ガス注入口２１ｐから注入）で加圧されている。 - 特許庁

A light screening film 12 having an opening 13 for transmitting or scattering light is formed on one face of a substrate 11, and the opening 13 is sufficiently small in comparison with a resolving power of the defect inspection apparatus for the flat panel display as an object of calibration.例文帳に追加

光を透過または散乱させるための開口１３を形成した遮光膜１２が基板１１の一方の面上に形成されるとともに、前記開口１３を、校正対象である、フラットパネルディスプレイの欠陥検査装置の分解能に比して十分小さく形成した。 - 特許庁

Ultrasonic wave signals returned from an inspection object to a search unit 1 are converted to electric signals by the search unit 1 and sent through a transmission / reception changeover switch group 5 to a complex reception beam former 20 and dynamic focusing for adjusting a delay time corresponding to the timing of reception is executed.例文帳に追加

検査対象から探触子１に戻った超音波信号は探触子１によって電気信号に変換され、送受切り替えスイッチ群５を介し複素受波ビームフォーマ２０に送られ、受信のタイミングに応じて遅延時間を調整するダイナミックフォーカスが実行される。 - 特許庁

To provide a semiconductor characteristic measuring instrument with a contact resistance measuring function, which is capable of improving the reliability of inspection by allowing measurement of contact resistance between an electrical characteristic measuring electrode of a sample and a measurement object, though having a simple configuration and being easy to operate.例文帳に追加

この発明は、簡易な構成および操作でありながら、試料の電気的特性測定電極と測定対象物との間の接触抵抗を測定でき、検査の信頼性を向上できる接触抵抗測定機能を持った半導体特性測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a new feature amount measuring method of a texture variation section by ultrasonic wave capable of measuring the feature amount such as distribution or the like of hardness of the texture variation section by a non-destructive method using normalization processing without cutting or the like of an inspection object.例文帳に追加

検査対象を切断等せずに規準化処理を用いた非破壊的手法によって組織変化部の硬さの分布等の特徴量を測定することの可能な新規な超音波による組織変化部の特徴量測定方法及びこれに用いる特徴量測定装置を提供すること。 - 特許庁

Brightness data of each pixel of a point defect or a strain defect having a smaller area than an irregular defect in the image data acquired in the inspection image acquisition process is replaced with an interpolation value based on brightness data of a peripheral pixel, to thereby repair the non-evaluation object defect species (point/strain defect repair process ST200).例文帳に追加

検査画像取得工程にて取得された画像データ中でムラ欠陥よりも面積が小さい点欠陥、シミ欠陥の各画素の輝度データを周囲の画素の輝度データに基づく補間値で置き換えてこの非評価対象欠陥種を修補する（点・シミ欠陥修補工程ＳＴ２００）。 - 特許庁

To provide a grinding burn detection device and a grinding burn detection method capable of executing inline total inspection of grinding burn without requiring breakage of a measuring object component or the like, and miniaturizing a head part in comparison with a method utilizing an ultrasonic wave.例文帳に追加

測定対象となる部品を破壊等する必要がなくインラインで研削焼けの全数検査を実施することができ、さらに超音波を利用した方法と比較してヘッド部の小型化を図ることができる研削焼け検出装置および研削焼け検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detecting method to reliably detect solely a defect in an inspection object with laminated layers on which information, such as a pattern is printed on a base material without influence of the information, such as the pattern printed on the print layers when detecting the defect.例文帳に追加

基材上に絵柄等の情報が印刷された印刷層が積層された検査対象物の欠陥検出に際し、印刷層に印刷された絵柄等の情報の影響を受けずに、欠陥のみを確実に検出することができる欠陥検出方法等を提供する。 - 特許庁

This electrophoretic method is characterized by enabling simply separation and analysis of the inspection object with high sensitivity in the shorter sample introduction time, by performing electrophoretic separation after performing in a plurality of times of ten seconds of a sample introduction time, while switching an electric field.例文帳に追加

試料導入時間１０秒間を電場を切り替えながら複数回行ったのちに泳動分離を行うことで、より短時間の試料導入時間で、高感度に被検物質の分離と分析が簡便に行える電気泳動法に供することを特徴とする電気泳動法。 - 特許庁

This device has a constitution wherein p-polarized illumination is used as illumination light, and an illumination means is arranged so that light enters the surface of an inspection object at a Brewster angle, and thereby reflected light is greatly attenuated at a normal spot, and reflected light appears only when a defect exists.例文帳に追加

照明光としてｐ偏光照明を用い、さらに検査対象物の表面に対してブリュースター角で入射するように照明手段を配置することにより、正常個所では反射光が著しく減衰し、欠陥がある場合のみ反射光が現れるように構成した。 - 特許庁

The probe body 10 has a beam part 3 having a cantilever structure, and a contact part 4 including a tapered shape projected from the periphery of a free end of the beam part 3 toward an inspection object, and the probe tip part 5 is formed on the end face including the tip part of the contact part 4.例文帳に追加

プローブ本体１０が、片持ち梁構造を有するビーム部３と、ビーム部３の自由端付近から検査対象物に向かって突出させた先細り形状からなるコンタクト部４とを有し、プローブ先端部５は、コンタクト部４の先端部を含む端面に形成されている。 - 特許庁

In the inner layer 13, a core part 14 having a projection part 16 projecting from each end face 12A of the outer layers 12, and a contact part 15 formed on the projection part 16 by using a conductive material having higher hardness than the core part 14, to be brought into contact with an inspection object, are formed.例文帳に追加

内層１３には、外層１２の各端面１２Ａから突出した突出部１６を有する芯部１４と、芯部１４よりも高硬度の導電材料を用いて突出部１６に形成され、検査対象物に接触させるための接触部１５とを形成する。 - 特許庁

To achieve measurement at high accuracy in the order of μm, in a three-dimensional shape measuring device using a light-plane-intersecting sectioning method as the principle, particularly in a three-dimensional irregularity inspection such as paper money performed by creating a slit light pattern to be projected on an object by a liquid crystal element.例文帳に追加

光切断法を原理とする３次元形状測定装置に関し、特に、物体に投影するスリット光パターンを液晶素子で作成することにより、紙幣のような３次元的な凹凸検査においてμｍオーダーでの高精度な計測を可能としたものである。 - 特許庁

On the other hand, an imaging portion 602 shoots an image including the irradiation pattern produced by the emitted pattern lights, and an image processing portion 603 detects a fault on the surface of the inspection object on the basis of changes of the shape of the irradiation pattern included in the shot image.例文帳に追加

一方、撮像部６０２は、照射されたパターン光により生成される照射パターンを含む画像を撮影し、画像処理部６０３は、前記撮影された画像に含まれる照射パターンの形状の変化に基づいて前記検査対象物の表面の欠陥を検出する。 - 特許庁

Hereby, the parallel control signal inputted through the parallel input terminal 12 is selected by a control signal selection circuit 14 and imparted to a PLL (phase locked loop) circuit 3, and the oscillation frequency of the VCO 1 which is an inspection object is changed, and the oscillation frequency variable region is confirmed.例文帳に追加

よって、このパラレル入力端子１２を介して入力されるパラレル制御信号が制御信号選択回路１４で選択されて、ＰＬＬ回路３に与えられ、検査対象となるＶＣＯ１の発振周波数が変更されて、発振周波数可変域が確認される。 - 特許庁

The inspection system includes a test signal source, a signal detection part, a signal process part, an analysis unit, and an integration circuit provided with a boundary scanning function and can be used for inspecting whether the pins of an inspecting object, e.g. integrated circuit are surely connected to the printed substrate assembly.例文帳に追加

本発明の検査システムは、テスト信号源、信号検出部、信号処理部、分析ユニット、およびバウンダリスキャン機能を有する集積回路を含み、たとえば集積回路のような被検体のピンが確実にプリント基板アセンブリに接続しているかどうかを検査するのに用いることができる。 - 特許庁

At this time, the artificial defect 200 is set to a size capable of surely reflecting the ultrasonic beam B, so that even if an inspection object 100 is the weld part 101 of stainless steel by which the ultrasonic beam B is apt to be scattered or deflected, the reflected wave can be surely caught to generate the driving electric signal S3.例文帳に追加

このとき、人工欠陥２００は、超音波ビームＢが確実に反射する大きさとし、検査対象物１００が、超音波ビームＢが散乱、屈折しやすいステンレスの溶接部１０１であっても、反射波Ｒを確実に捉え、駆動用電気信号Ｓ３を生成できるようにした。 - 特許庁

This device is equipped with a contact roller driven to rotate by being brought into contact with the circumferential surface of the cylindrical inspection object with a prescribed pressure, an elastic body or a tilting mechanism for supporting the contact roller on a support base part so that its rotary shaft can be tilted, and a distance measuring means for measuring the position of the contact roller.例文帳に追加

円筒状被検査物の外周面に所定の圧力で接触し従動回転する接触ローラと、接触ローラをその回転軸が傾動可能に前記支持基部に支持する弾性体または傾動機構と、接触ローラの位置を測定する距離測定手段とを備える。 - 特許庁

Light containing a reference light reflected by the semi-transparent mirror 22 and inspection light reflected by the measured object 3 is branched by a beam splitter 32, transmission branch light is guided to the first branch optical path 33, and reflection branch light is guided to the second branch optical path 34 provided with an optical path length-variable means.例文帳に追加

半透鏡２２で反射された参照光と被測定物３で反射された検査光とを含む光を、ビームスプリッタ３２で分岐し、透過分岐光を第１の分岐光路３３へ、反射分岐光を光路長可変手段を備えた第２の分岐光路３４へ導く。 - 特許庁

In the contact probe, a gold plated film 11c that is constituted by crystallites whose mean particle diameter is in the range from 17 nm to 25 nm and is made of gold single metallic elements whose Vickers hardness is 160 Hv or more is formed in a part brought into contact with another object in at least inspection.例文帳に追加

平均粒径が１７ｎｍ以上２５ｎｍ以下の範囲である結晶子から構成され、ビッカース硬度が１６０Ｈｖ以上である金の単一金属元素から成る金めっき膜１１ｃを、少なくとも検査時に他の対象物に接触させる部位に形成したコンタクトプローブとする。 - 特許庁

For instance, nuclear magnetic resonance signals generated from an inspection object are acquired in a steady state shifting sequence performed between the signal acquisition sequences for the image reconstitution, and the reception gain in the signal acquisition sequence for the image reconstitution is set on the basis of the acquired nuclear magnetic resonance signals.例文帳に追加

例えば、画像再構成用信号取得シーケンスの間に行う定常状態移行シーケンスにおいて、検査対象から生じる核磁気共鳴信号を取得し、これに基づき、画像再構成用信号取得シーケンスにおける受信ゲインを設定することができる。 - 特許庁

An image photographing means for obtaining image data by photographing a display of an inspection object and a display unevenness detection means for detecting the region of display unevenness by collating the image data obtained by photographing the display with the image patterns of data- based display unevenness.例文帳に追加

検査対象の表示装置を撮影して画像データを得る画像撮影手段と、前記表示装置の撮影により得られた画像データを予めデータベース化した表示ムラの画像パターンと照合することにより、表示ムラの領域を検出する表示ムラ検出手段を備えている。 - 特許庁

To provide an evaluation pattern for evaluating the capabilities of an inspection device that detects an irregular pattern of an object having a periodic pattern, or the capabilities of detecting and analyzing the periodicity of the irregular pattern, and to provide a photomask having the evaluation pattern formed therein.例文帳に追加

周期性のあるパターンをもつ被検査体のムラ検査をする検査装置の、ムラ欠陥検出能力やムラ欠陥の周期性を検出・解析する能力を評価することが可能な、評価用パターンおよびその評価用パターンを形成したフォトマスクを提供することを目的とする。 - 特許庁

And the disk further includes a recording layer including an area which is set defective and formed for optically recording the information on this disk-like substrate and for playability checking of recording-reproducing in the optical information device, as an inspection object, with irradiation with a laser beam.例文帳に追加

そして、このディスク状基板上に光学的に情報記録可能に形成されており、レーザ光が照射されることによって、検査対象である光学式情報装置に係る記録再生プレイアビリティチェック用に、ディフェクトとされたエリアを含む記録層とを備える。 - 特許庁

To provide an evaluation method for exhaust gas cleaning and a device thereof that accurately performs Raman spectroscopic analysis, even under an actual accompanying environment with high temperature, and to provide a Raman spectroscopic analysis method for accurately performing Raman spectroscopic analysis for an inspection object under a high-temperature environment.例文帳に追加

高温を伴う実使用環境下でも精度よくラマン分光分析を行うことができる排ガス浄化用触媒評価方法及びその装置、並びに高温環境下で被検査体について精度よくラマン分光分析を行うことができるラマン分光分析方法を提供する。 - 特許庁

For producing image formation from the same surface area of the object by the different respective radiations, an image is formed from the imaging area, and image information of the same surface area obtained from the different imaging areas are compared and/or combined with each other for producing surface inspection information.例文帳に追加

異なる各放射で対象物の同一表面エリアからの画像情報を生成するために、画像が撮像領域から生成され、かつ異なる撮像領域から得られた同一表面エリアの画像情報が比較及び／又は結合されて、表面検査情報を生成する。 - 特許庁

The defect is inspected thereby with the one side grasping by the robot without generating any disturbance, preparatory work change manhours are reduced in the inspected object 1 of a different length and diameter, and the inspection is automated in recycle where different goods are mixed.例文帳に追加

これにより、ロボットによる片側把持による欠陥検査を支障なく行うことができるため、長さや径の異なる被検査物１に対して、段取り替え工数を削減でき、異品種が混じるようなリサイクル時の検査を自動化することもできる表面欠陥検査装置を提供できる。 - 特許庁

The defect part is detected from the changing rate of a brightness gradient of a gradation pattern acquired by projecting the inspection object surface through a screen 3 where plural regular-hexagonal patterns are printed closely in the honeycomb shape and the concentric gradation patterns are printed on the respective regular-hexagonal patterns.例文帳に追加

複数個の正六角形のパターンが隙間なくハニカム状に印刷されて、これら正六角形の個々のパターンに同心円状のグラデーションパターンが印刷されたスクリーン３を介して検査対象面を投影して得られるグラデーションパターンの明暗勾配の変化率から欠陥部分を検出する。 - 特許庁