「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(42ページ目) - Weblio英語例文検索

To inspect an object, to be inspected, as a single body having a matrix structure at high speed, to suppress an increase in costs of an inspection apparatus itself due to its high speed to be low and to perform a processing operation which is flexible so as to deal with types or the like.例文帳に追加

マトリクス構造を持つ被検査対象単体で高速検査可能で、高速化に伴う検査装置自体のコストアップを低く抑え品種対応等のフレキシビリティのある処理動作を可能する。 - 特許庁

The inspection system (10) further includes a compliant element (14) coupled to the probe housing (13) and configured to cooperate with the joint assembly (12) and the motion control device (11) to position the sensor (16) relative to the object.例文帳に追加

検査システム（１０）は、プローブ筐体（１３）に結合され、ジョイントアセンブリ（１２）及び運動制御デバイス（１１）と協働してセンサ（１６）を物体に対して位置決めするように構成された弾性部品（１４）をさらに含む。 - 特許庁

The substrate 1 is moved at constant speed by a conveyor 6, and an inspection object part 1a on the substrate 1 is irradiated with light by a lighting system 7a, 7b, and the pattern is imaged by a CCD camera 8.例文帳に追加

基板１をコンベア６により一定速度で移動させ、照明装置７ａ及び７ｂにより基板１の検査対象部分１ａに光を照射すると共に、ＣＣＤカメラ８ａによりパターンを撮像する。 - 特許庁

Then, a control section 32 controls a drive section 33 according to a measurement result in a measurement optical system separated from the optical system going to the inspection object, and moves an afocal optical system 20b constituting the condenser lens 20.例文帳に追加

そして、制御部３２は、被検物に向かう光学系から分離された測定光学系における測定結果に応じて、駆動部３３を制御して、コンデンサレンズ２０を構成するアフォーカル光学系２０ｂを移動させる。 - 特許庁

To provide a leveling mechanism for a head plate and a probe device for suppressing displacement of the head plate occurring when an object to be inspected such as a semiconductor wafer comes into contact with a probe card electrically, and performing high-reliability inspection.例文帳に追加

半導体ウエハ等の被検査体とプローブカードが電気的に接触する時のヘッドプレートの位置ズレを抑制し、信頼性の高い検査を行うことができるヘッドプレートのレベリング機構及びプローブ装置を提供する。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detection probe for a pulsed eddy current flaw detector inspecting magnetic materials, such as carbon steel, capable of detecting defects inherent in an inspection object at a high resolution, while maintaining defect detection sensitivity.例文帳に追加

炭素鋼等の磁性材に対する検査を行うパルス渦電流探傷装置の渦電流探傷プルーブにおいて、被検査体に内在する欠陥を、欠陥検出感度を維持しつつ高分解能で検出する。 - 特許庁

The luminescence signal generating unit 21 is connected to a connecting unit of a luminescence panel as an inspection object, for example, an organic EL (electroluminescence) device (luminescence panel) and transmits a luminescence signal to allow any pixel in the organic El device to emit light.例文帳に追加

発光信号発生部２１は、被検査対象である発光パネル、例えば有機ＥＬ装置（発光パネル）の接続部に接続され、有機ＥＬ装置の任意の画素を発光させる発光信号を送出する。 - 特許庁

A contour extraction part 42 performs image analysis of a sectional image of the inspection object including a substrate and an electronic component, and extracts a contour of a solder region bonding the substrate to the electronic component from inside the sectional image.例文帳に追加

輪郭抽出部４２は、基板および電子部品を含む被検査体の断面画像を画像解析し、当該断面画像の中から基板と電子部品とを接合するはんだ領域の輪郭を抽出する。 - 特許庁

Also, in a lower surface of a second end part of a wiring 45, a bump 46 for contact which is to be electrically connected to an electrode pad 11 is formed at a position corresponding to the position of the electrode pad 11 of an inspection object 10.例文帳に追加

そして、配線４５の第２端部下面には、検査対象物１０の電極パッド１１と対応する位置に、その電極パッド１１と電気的に接続される接触用バンプ４６が形成されている。 - 特許庁

The comparison inspection is performed by excluding a difference to the pattern domain of the object image formed more deficiently than the pattern domain shown by the master image in the external angle domain of the master image.例文帳に追加

また、マスタ画像における外角領域において、当該マスタ画像が示すパターンの領域より不足して形成されているオブジェクト画像のパターンの領域に対する差分を除外して比較検査を行う。 - 特許庁

When impact noise A of 0.5 second interval click can be heard from SCV, it is diagnosed that the SCV of inspection object generates impact noise A at both valve opening and seating and is normal.例文帳に追加

ＳＣＶから０．５秒間隔で「カチ、カチ、カチ」という衝突音Ａが聴こえれば、検査対象のＳＣＶは開弁時と着座時の両方で衝突音Ａが発生しているものであり、正常であると診断する。 - 特許庁

To stably and rapidly perform the inspection of extremely high performance of gas outflow leakage from a defective section such as a super fine hole in an optional inspecting object, with a simple constitution.例文帳に追加

本発明は、任意の被検査物に対して超微細な孔等の欠陥部からの気体流出漏れを、簡易な構成により、飛躍的に高い性能を有す検査が安定して迅速に行えることを課題とする。 - 特許庁

(iii) when the person has, in violation of the provisions of this Act, refused to allow the inspection or copying of documents or any object which indicates the matters recorded in electromagnetic records by a method specified by Ordinance of the Ministry of Justice, without justifiable grounds; 例文帳に追加

三　この法律の規定に違反して、正当な理由がないのに、書類又は電磁的記録に記録された事項を法務省令で定める方法により表示したものの閲覧又は謄写を拒んだとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a pattern inspecting instrument and a method of generating a master data therefor which achieve a highly reliable pattern inspection for an object containing pieces different in direction taking all of the pieces into consideration.例文帳に追加

向きの異なるピースを含む対象物についても，その全ピースを考慮に入れつつ，信頼性の高いパターン検査を行うことができるパターン検査装置およびそのマスタデータの作成方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an image processor, an image processing program and an image processing system for outputting a variable image based on format definition data to be used for the first time even when a printed matter as the object of inspection is not preliminarily designated.例文帳に追加

検品対象の印刷物が予め指定されていなくても、初めて使用される様式定義データに基づく可変画像が出力される画像処理装置、画像処理プログラム及び画像処理システムを提供する。 - 特許庁

A laser source 10 and a PSD 20 are attached to both ends in the object range of the motion body, and accelerometers 30-1 to 30-5 are attached to positions of both and to inspection parts to be set between both.例文帳に追加

運動体の対象範囲の両端にレーザ源１０とＰＳＤ２０を取り付け、それら両者の位置とそれら両者間に設定した検査部位とに加速度センサ３０−１〜３０−５を取り付ける。 - 特許庁

The gas inspecting method includes an adhering step for making the gas-sensing material adhere to the surface of an inspection object; and a heat developing step in which the gas-sensing material is subjected to a heat development process.例文帳に追加

前記ガス検出用材料を被検査対象物表面に付着させる付着工程と、該ガス検出用材料を熱現像処理する熱現像工程とを含むことを特徴とするガス検査方法である。 - 特許庁

To provide a means capable of determining simply and surely a proper processing condition of a sound signal differentiated by an inspection object, in an acoustic test method using a processing means of the sound signal and a neural network (NNW).例文帳に追加

音信号の加工手段とニューラルネットワーク（ＮＮＷ）を用いる音響検査方法において、検査対象によって相違する音信号の適正加工条件を、簡便かつ確実に決定できる手段を提供する。 - 特許庁

The management server 4 determines whether the inspection object 5 is abnormal or not, based on the sound information received from the portable terminal 2, and stores the results of determination together with the sound information while relating with the individual recognition sign.例文帳に追加

管理サーバ４は、検査対象物５が異常か否かを携帯端末２から受け付けた音情報に基づいて判断し、その判断結果を、その音情報と共に、その固体識別符号と対応づけて記憶する。 - 特許庁

A dimension from the needle tip of each contactor to the probe land is 1.1 mm to 1.3 mm, and the thermal expansion coefficient of the probe substrate is larger than the thermal expansion coefficient of the inspection object by 1 ppm to 2 ppm.例文帳に追加

各接触子の針先から前記プローブランドまでの寸法は、１．１ｍｍから１．３ｍｍとされており、前記プローブ基板の熱膨張率は、前記被検査体の熱膨張率より１ｐｐｍから２ｐｐｍ大きい。 - 特許庁

In this case, the difference of the frequency is set at 3 MHz, and the ultrasonic waves having the frequencies of 2 MHz and 5 MHz are used, but other frequencies may be used corresponding to an inspection object from the relation with the arrival distance of the ultrasonic wave.例文帳に追加

実施形態では周波数の差を３ＭＨｚとし、２ＭＨｚと５ＭＨｚの超音波を用いたが、超音波の到達距離の関係から、検査対象に応じ他の周波数を用いてもよい。 - 特許庁

The stage for the apparatus for inspecting the substrate mounting the substrate of an inspection object in the apparatus for inspecting the substrate is regarded as a frame body structure coupled by mutually intersecting structure members including at least two long plate materials.例文帳に追加

基板検査装置において検査対象の基板を載置する基板検査装置用ステージを、少なくとも２枚の長尺状の板材を含む構造部材を互いに交差させ結合させてなる枠体構造とする。 - 特許庁

This foreign matter inspection device 1 is a device for inspecting foreign matter mixed with the inspecting objects 9, and includes a drum 10, an object feeder 20, a first imager 31, a second imager 32, and an analyzer 60.例文帳に追加

異物検査装置１は、検査対象物９中に混在する異物を検査する装置であって、ドラム１０、対象物供給部２０、第１撮像部３１、第２撮像部３２および解析部６０を備える。 - 特許庁

Next, the method measures the color of the anticorrosion coating of an inspection object specimen S as numerical data (measured data) of the expressing color system, and detects color difference of the anticorrosion coating of both the specimens from the measured data and the reference data.例文帳に追加

次に、検査対象試料Sの防食皮膜の色彩を表色系の数値データ（計測データ）として計測して、この計測データと基準データとから両試料の防食皮膜の色差を検出する。 - 特許庁

To provide a non-destructive inspection system which can accurately obtain positional relations of defects in an object to be inspected by using ultrasonic flaw detection and X-ray flaw detection, and can simplify works for setting flaw detection trajectories.例文帳に追加

本発明の目的は、超音波探傷とＸ線探傷による被検体の欠陥の位置関係を正確に把握でき、探傷軌跡設定作業を簡略化できる被破壊検査装置を提供することにある。 - 特許庁

The spring for measuring is used for inspection of electronic device and is provided with a first conductive body 1 to be in contact with the object to be measured, and a second conductor body 3 for controlling the shape variation of a first conductor body.例文帳に追加

電子装置の検査に用いられる測定用バネであり、被測定物に接触する第１の導電体１と、第１の導電体の形状変化を制御する第２の導電体３とを備えている。 - 特許庁

The program is converted into data for displaying the time chart of a graph showing the time change of a signal (data) to be referred to/defined by the control program of the inspection object or to be defined as the state of controlled system equipment.例文帳に追加

処理１：検査対象の制御プログラムにて参照・定義する、あるいは、制御対象機器の状態として定義する信号（データ）の時間変化を示すグラフであるタイムチャートを表示するためのデータに変換する。 - 特許庁

To provide an automatic inspection device which can discharge a defective article at a prescribed position even when a processing time for each image is different when a moving object to be inspected is photographed and a defective article is detected by image processing,例文帳に追加

移動する検査対象物を撮像して画像処理により不良品を検出するとき、画像毎の処理時間が異なる場合でも、定められた位置で不良品を排出できる自動検査装置を提供する。 - 特許庁

By adding sliding friction to the drive shaft of the stage, and adjusting the sliding friction added to the drive shaft, the stage put by the inspection object can be exactly positioned at the specific objective position.例文帳に追加

ステージの駆動軸に対して摺動抵抗を付加し、この駆動軸に付加する摺動抵抗を調節することによって、被検査物が載置されたステージを所定の検査対象位置に正確に位置決めすることができる。 - 特許庁

This method and this device is for inspecting by using an inspection means 39, whether a blank, for example, a half-wrapper strip 12 mounted on the object, such as a cigarette pack 10, is properly arranged.例文帳に追加

シガレットパック（１０）のような対象物を、これらに取り付けられた、例えば帯封ストリップ（１２）のようなブランクが適切に配置されているかどうかを検査手段（３９）を用いて検査するための方法と装置を提供する。 - 特許庁

The assigning means 8 extracts the defective data on the respective pixels on the basis of assignment data, by constituting the assignment data by reconstructing data to data of a pixel unit of an inspection object panel from the two-dimensional measuring data.例文帳に追加

割り付け手段８は、二次元の測定データから検査対象パネルのピクセル単位のデータへデータ再構築して割り付けデータを構成し、割り付けデータに基づいて各ピクセルの欠陥データを抽出する。 - 特許庁

A charging capacitor 15 is charged by a power circuit VS and separated from the power circuit VS, and a voltage is applied to an inspection object 7B by the charging capacitor 15, and a current is measured.例文帳に追加

本発明は、電源回路ＶＳにより充電用コンデンサ１５を充電して電源回路ＶＳより切り離し、この充電用コンデンサ１５により検査対象７Ｂに電圧を印加して電流を測定する。 - 特許庁

A determination means 10 preserves the operation data, the frequency characteristic data, the corresponding overall trend data or the partial overall trend data, and the quality determinations, relative to each corresponding inspection object product P.例文帳に追加

また、判定手段１０は、対応する検査対象製品Ｐ毎に、動作データ、周波数特性データ、対応するオーバーオールトレンドデータまたはパーシャルオーバーオールトレンドデータ並びに良否判定とを保存する構成とする。 - 特許庁

An inspection object 3 is set on a setting section in the state of being in an approximately perpendicular contact, in its through-thickness direction, with a slant height line of a hypothetical cone (contact cone) 50 having a prescribed vertex angle θ with a rotation axis R1 as the center line.例文帳に追加

載置部へ、回転軸Ｒ１を中心線とする所定の頂角θを持つ仮想の円錐（接円錐）５０の母線に板厚方向がほぼ直角に接する状態に被検査体３を載置する。 - 特許庁

The electric train line monitoring system comprises an equipment monitoring set 1 to be mounted on an object to be monitored such as a feeder line, and an ID tag reader 2 mounted on an electric train Tr or carried by an inspection person P.例文帳に追加

電車線路用監視システムを、き電線等の監視対象物に取り付ける設備監視セット１と、電車車両Ｔｒに取り付けたり、点検作業者Ｐが携帯するＩＤタグリーダ２とで構成する。 - 特許庁

An image quality determining portion 310 determines the quality of the image, formed on the inspection object, by using the most-significant bit value for the image data of the RGB after subtraction and the paper material/non-paper material distribution data.例文帳に追加

画像良否判定部３１０は、この減算後のＲＧＢの画像データの最上位１ビットの値と紙地／非紙地分布データを用いて、当該検品対象物上の形成画像の良否を画素単位で判定する。 - 特許庁

The beam-shaping optical systems, which surround the objective stop, are arranged together with the associated effective light sources for non-uniformly distributing light within a range of angles required for illuminating the inspection object.例文帳に追加

上記対物系絞りを囲む上記ビーム形成光学系は、上記検査対象を照明するために求められる角度範囲内で不均一な光を配給するために、関連する有効光源とともに配置されている。 - 特許庁

To provide a foreign matter mixing inspection method and a device in a cylindrical electrode material, which can certainly detect even a small metal object that may bring about an internal short circuit in the future.例文帳に追加

将来的に内部短絡を引き起こす可能性がある小さな金属異物であっても確実に検出することができる円筒型電極体の異物混入検査方法および装置を提供すること。 - 特許庁

To freely attach and detach a pipe in a device without danger of X-ray leakage from external piping in an X-ray foreign matter detector irradiating an X-ray on an inspection target object conveyed in a pipe to detect foreign matter.例文帳に追加

パイプ内を搬送される被検査物にＸ線を照射して異物を検出するＸ線異物検出装置において、装置内のパイプを外部の配管からＸ線漏洩の危険なく着脱自在とする。 - 特許庁

To effectively use measuring instruments, etc., irrespective of the order of inspection steps and, at the same time, even to make adjustment, measurement, etc., executable only on necessary items, even when an object to be inspected is again thrown into a line.例文帳に追加

検査工程の順番にこだわらずに測定器等を有効に使用するとともに、被検査物をラインに再投入した場合でも、被検査物に必要な事項についてのみ調整や測定等を行えるようにする。 - 特許庁

To inspect an appearance of an inspection object, for example, a semiconductor chip, a substrate with a pattern or a film with a pattern, to classify a defective from a non-defective.例文帳に追加

本発明は、被検査品、例えば、半導体チップ、又はパターン付き基板、或いはパターン付きフィルムの外観検査を行い、良品と不良品とに分別する外観検査装置及び外観検査方法に関するものである。 - 特許庁

Further, a second inspection beam FL2 from a second light source 12 is caused to enter a rear surface 82R of the shading film 82 obliquely from below the object 80, and its reflected light is received by a second photo-detector 22.例文帳に追加

また、被検査体８０の斜め下方から遮光膜８２の裏面８２Ｒに第２の光源１２から第２の検査光ＦＬ２を入射させて、その反射光を第２の光検出器２２が受光する。 - 特許庁

To provide an exposure mask which can conduct defective inspection with high accuracy, without leakage of light to an area other than an exposure region used as an object for exposure, and to provide a manufacturing method for the mask, and to provide a semiconductor device.例文帳に追加

露光対象となっている露光領域以外の領域に光が漏洩することなく、精度よく欠陥検査ができる露光用マスク及びその製造方法並びに半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

This inspection probe 1 constitutes a substrate part 5 having a wiring layer 7 in which an inner layer wiring 8 for connecting an insulating layer 6 is formed and the electrode of an object to be inspected to a test substrate, and a projecting electrode part 2 for coming into contact with the electrode of the object to be inspected is formed on the surface of the substrate part 5.例文帳に追加

本発明による検査プローブ１は、絶縁層６と被検査物の電極をテスト基板に接続するための内層配線８を形成した配線層７を有する基板部５を構成し、その基板部５の表面に被検査物の電極に接触するための突起状電極部２を形成した。 - 特許庁

When an inspector brings the ultrasonic non-destructive and simple inspection device 1 into close contact with the object 7 to be inspected to perform the input operation of the start indicating input switch, a vibrator drive circuit 6 is started to irradiate the object 7 to be inspected with two ultrasonic waves 8 and 9 from the ultrasonic output part 5.例文帳に追加

検査者が超音波非破壊簡易検査装置１を被検査対象物７に密着させて起動指示入力スイッチを入力操作すると振動子駆動回路６が起動して超音波出力部５から２種類の超音波８及び９が被検査対象物７に対して照射される。 - 特許庁