「information defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

By a defect correction processing unit 31R which corrects the defect of an image signal DRa corresponding to red component light, a correction signal generator 311 generates correction signals DHR by defective pixels according to offsets of the defective pixels indicated with the defect information RPR.例文帳に追加

赤成分光に応じた画像信号ＤRaの欠陥補正を行う欠陥補正処理部３１Rで、補正信号生成部３１１は、欠陥情報ＲＰRで示された欠陥画素のオフセットに応じて、補正信号ＤＨRを欠陥画素毎に生成する。 - 特許庁

A wafer data area 109 which stores information specifying a wafer and a manufacturing process is provided so that the defect information can be retrieved by only using the review data by similarly handling information on an inspection step and the information on a reviewing step.例文帳に追加

ウェハと製造工程を特定する情報を記憶するウェハデータ領域１０９を設け、検査工程とレビュー工程の情報を同様に扱うことでレビューデータのみで欠陥情報の検索を可能とする。 - 特許庁

The pixel defect information is information showing the state of respective pixels at the optic/electric converting element 3, information showing normality concerning normal pixels and information showing abnormality concerning abnormal pixels.例文帳に追加

画素欠陥情報は、光電変換素子３の各画素の状態を示す情報であり、正常な画素については正常であることを示す情報であり、異常な画素については異常であることを示す情報である。 - 特許庁

To quickly optimize a process by inspecting defects on a wafer in the process for manufacturing a semiconductor, speedily acquiring the composition information of the defect section, and specifying the generation process and factor of the defect according to the obtained composition information.例文帳に追加

半導体製造工程中のウェハ上の欠陥を検査し、上記欠陥部の組成情報を高速に取得し、得られた組成情報から上記欠陥の発生プロセスや要因の特定を行い、プロセスの最適化を短期間に行う。 - 特許庁

The detection rack part calculates the incidence of defect and operates in a restriction mode which suppresses (does not pass to the data processing part 23) an output of the defect information consisting of the image information, if the calculated incidence is higher than a determination value.例文帳に追加

検出ラック部は、欠陥の発生頻度を求め、その求めた発生頻度が、判定値より大きい場合には、画像情報からなる欠陥情報の出力を抑制する（データ処理部２３に渡さない）制限モードで動作する。 - 特許庁

Leakage and omission in extraction of quality defect information and a quality check mistake are prevented by linking the quality information with a component ratio of a circuit module of the lowest hierarchy based on configuration information of circuit data, extracting quality defect information fitting to the organization of circuit data to be reused, and providing information to a designer together with recurrence probability.例文帳に追加

品質情報を回路データの構成情報を基に最下位階層の回路モジュールの構成比率でリンク付けし、再利用する回路データの構成に合わせて品質不良情報を抽出し、再現確率と共に設計者に情報提供することで、品質不良情報の抽出漏れや抽出抜けおよび品質確認ミスを防止する。 - 特許庁

The server device 3, receiving the vehicle information and the dialogue information, performs driving diagnosis processing by excluding the vehicle information detected while a defect is detected in the vehicle, on the basis of the vehicle information and the dialogue information.例文帳に追加

そして、車両情報およびダイアグ情報を受信したサーバ装置３は、車両情報およびダイアグ情報をもとに、車両の不具合が検出されているときに検出された車両情報を除外して運転診断処理を行う。 - 特許庁

To provide a monitoring object device for reducing the transmission load of monitoring information and the defect of the monitoring information in each equipment, and for surely and instantaneously transmitting only significant monitoring information and the peripheral information of the significant monitoring information.例文帳に追加

個々の機器における監視情報の送信負荷及び監視情報の欠落を低減し、重要な監視情報及び重要な監視情報の周辺情報のみを確実かつ即座に送信する監視対象装置等を提供する。 - 特許庁

In response to the inquiry, the DB server 4 refers to a database 41 which has version information about the firmware in association with defect correction information showing the corrected defect in the version and specifies whether or not there is any firmware whose defect can be resolved, or specifies the version of the firmware when such firmware exists.例文帳に追加

ＤＢサーバ４は、それに対応し、ファームウェアのバージョン情報とそのバージョンで改修された不具合を示す不具合改修情報とを関連づけて有するデータベース４１を参照して、不具合を解決可能なファームウェアの有無および不具合を解決可能なファームウェアがある場合にはそのファームウェアのバージョンを特定する。 - 特許庁

Defect/image information output from an inspection device is butted on ADR/ADC information output from an observation means on a data processor, they are listed and displayed, and a relation between the defect characteristic amount and average detection ratio is displayed using the data, and the defect characteristic amount and the number of detections are displayed every review category.例文帳に追加

検査装置から出力される欠陥・画像情報と、観察装置から出力されるADR・ADC情報とをデータ処理装置上で突き合わせをし、一覧表示させると共に、そのデータを用いて欠陥特徴量と平均検出率の関係や、レビューカテゴリごとにその欠陥特徴量と検出数を示す。 - 特許庁

Then, only when the recognized defect part which is determined that there are no defects therein by the electron microscope unit 2, is review carried out by an optical microscope unit 4, is the information based on the reviewed result as to whether defects exist in the recognized defect part, output to the defect information classifying section 6 by a second determining section 5.例文帳に追加

続いて、電子顕微鏡ユニット２で欠陥が無いと判定された認定欠陥部位のみについて、光学顕微鏡ユニット４によりレビューし、その結果に基づき、第２の判定部５により認定欠陥部位における欠陥の有無の情報が欠陥情報分類部６に出力される。 - 特許庁

While the defect information of the DUT 10 is written into the memory 7 under the control of the CPU 1. the defect information of the DUT 10, that is tested previously and stored in the memory 8, is read by the CPU 2 and a defect analysis of the DUT 10, which was tested previously, is conducted.例文帳に追加

試験用ＣＰＵ１の制御下でＤＵＴ１０の不良情報を第１不良解析メモリ７に書き込んでいる間に、第２不良解析メモリ８から前回試験したＤＵＴ１０の不良情報を不良解析用ＣＰＵ２に読み込んで、前回試験したＤＵＴ１０の不良解析をする。 - 特許庁

The method for managing the defect area comprises appropriately determining an alternate area in case of the occurrence of a defect without previous division of the area to a data area and a spare like heretofore, transferring the data to be recorded thereto and separately managing the information of the position alternated with the defect position information.例文帳に追加

そのために本発明の欠陥領域管理方法は、従来のように予めデータ領域とスペア領域とに分けておかずに、欠陥が発生したときに適宜交替領域を決めてそこに記録するデータを移すと共に、欠陥位置情報と交替した位置の情報を別途管理するようにした。 - 特許庁

A monitor controller 2 monitors a defect in the system 1, the operator 4 uses the mobile terminal 3 connected to the monitor controller 2 via an information transfer network 6 so as to receive information such as a defect and return a reply with respect to the received information.例文帳に追加

障害検出が可能な監視対象システム１の障害を監視する監視制御装置２があり、作業員４は、情報転送網６を介して監視制御装置２に接続された携帯端末３により、障害等の情報を受信し、受信に対する返信を行う。 - 特許庁

To provide an information reproducing device capable of improving follow-up ability to fluctuations of an information reproducing signal after a defect has passed, without worsening the jitter level of the binarized information reproducing signal, and is capable of recovering data reading quickly, after the defect has passed.例文帳に追加

二値化した情報再生信号のジッタレベルを悪化させることなく、ディフェクト通過後の情報再生信号の変化に対する追従性を向上することができ、ディフェクト通過後のデータ読み取りの早期回復を図ることができる情報再生装置を提供する。 - 特許庁

This information storage medium is provided with a user area (UA) for storing user data, a defect management area (DMA) for storing defective information related to the defects on the user area and an overwrite management area (DMA) for storing overwrite information related to the frequency of overwrites with respect to the defect management area.例文帳に追加

ユーザデータを格納するためのユーザエリア（ＵＡ）と、前記ユーザエリア上の欠陥に関する欠陥情報を格納するための欠陥管理エリア（ＤＭＡ）と、前記欠陥管理エリアに対するオーバーライト回数に関するオーバーライト情報を格納するためのオーバーライト管理エリア（ＤＭＡ）とを備えている。 - 特許庁

To provide an information display panel which has excellent display quality and prevents a streak-like display defect on a display image.例文帳に追加

表示画像にスジ状の表示不良が生じない、表示品質に優れた情報表示用パネルを提供する。 - 特許庁

The control unit then determines defect according to a change in information of the relevant equal potential plane in the composite image for decision.例文帳に追加

そして、制御部が、判定用の合成画像における該当等電位面の情報の変化から欠陥を判定する。 - 特許庁

The first table has a plurality of storage areas respectively corresponding to the respective blocks and storing defect information.例文帳に追加

第１テーブルは、各ブロックにそれぞれ対応するとともに欠陥情報が記憶される複数の記憶領域を有する。 - 特許庁

In the analysis process 126, the defect position is specified three-dimensionally from such two pieces of mutually different planar information.例文帳に追加

解析工程１２６では，かかる相異なる２の平面的な情報から，欠陥位置が３次元的に特定される。 - 特許庁

To search a mounted substrate for a defect in a simple device structure automatically in short time without any detail circuit information.例文帳に追加

詳細な回路情報無しに、簡易な装置構成で自動的に短時間で実装基板の不良探索を行う。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus capable of preventing generation of wrong control information even if a V line defect exists in an image.例文帳に追加

Ｖライン傷が画像に存在する場合でも、誤った制御情報の生成を防止できる撮像装置を提供する。 - 特許庁

An operation receiving part 102 receives the input code as defect information and delivers the code to a correcting part 104.例文帳に追加

操作受付部１０２は、入力された符号を不良情報として受け付け、その符号を補正部１０４に渡す。 - 特許庁

To provide a pixel defect correction device which is capable of reducing the amount of position information on pixel defects recorded in a nonvolatile memory.例文帳に追加

不揮発性メモリに記録する画素欠陥位置情報量を削減できる画素欠陥補正装置を提供する。 - 特許庁

Or, the region is assumed to a defective region and the information may be registered to a defect registering region on a record medium.例文帳に追加

あるいは、その領域は欠陥領域であると見なし、記録媒体上の欠陥登録領域に登録してもよい。 - 特許庁

Ultimately, a surface exposed by the charged particle beam cut is imaged to obtain additional information about the defect.例文帳に追加

最後に、荷電粒子ビームカットによって露呈された表面が画像化されて、欠陥についての追加の情報を得る。 - 特許庁

At least some of the test elements are provided with a defect marking which includes information about defectiveness of the test elements.例文帳に追加

該テストエレメントの少なくともいくつかには、テストエレメントの欠陥についての情報を含む欠陥マークが、設けられる。 - 特許庁

The composite membrane 8 is a porous material, is formed into a bone shape of the defect based on morphological information of the osseous defect 3 obtained by roentgenography, CT (Computerized Tomography) and the like, and has its end formed engageable with an autologous bone 6 of the osseous defect 3.例文帳に追加

複合膜８は多孔質とされ、予めレントゲンやＣＴ（Computerized Tomography）等によって取得した骨欠損部３の形態情報に基づいて欠損部分の骨型に形成されており、端部が骨欠損部３の自家骨６と係合可能に形成されている構成とした。 - 特許庁

The information recording medium 100 is provided with a data area 102 for recoding user data, and at least one defect management area 104 (105, 108, 109) for recording a defect list 112 to manage N pieces of defect areas (N is an integer satisfying N≥0).例文帳に追加

情報記録媒体１００は、ユーザデータを記録するデータ領域１０２と、Ｎ個の欠陥領域（Ｎ≧０を満たす整数）を管理する欠陥リスト１１２を記録する少なくとも１つの欠陥管理領域１０４（１０５、１０８、１０９）とを備える。 - 特許庁

To provide a method and a device of classifying substrates by which, according to knowledge information concerning a known defect distribution, a group of substrates having the corresponding defect distribution can be accurately classified, and even substrates wherein an unknown defect distribution occurs can be automatically classified.例文帳に追加

既知の欠陥分布に関する知識情報に基づいてそれに対応した欠陥分布をもつ基板群を精度良く分類でき、未知の欠陥分布が発生した基板をも自動的に分類できる基板分類方法および基板分類装置を提供すること。 - 特許庁

Since a defect is extracted by using the reduced image information wherein a frequency component is maintained, while reducing the image size furthermore than an image corresponding to original image information, high-speed defect inspection can be performed by suppressing cost increase.例文帳に追加

元の画像情報に対応した画像よりも画像サイズを縮小する一方で、周波数成分を維持した縮小画像情報を用いて欠陥を抽出するので、コストの増大を抑えて高速に欠陥検査を行うことができる。 - 特許庁

To extract a defect information of raw material, such as the positions, the number or the like of defects, and to transfer the defect information from a preceding process to a subsequent process, in case where defective parts exist in roll-shaped web-like raw material unrolled for printing, processing or the like.例文帳に追加

印刷又は加工などのために巻き出されるロール状のウエブ状素材に不良部分が存在した場合に不良位置、個数など素材の不良情報を抽出したり、その不良情報を前工程から次工程に伝達する。 - 特許庁

The defect detection light is converged in a position where the its writing/reading order is after the RF signal during information recording/reproducing, and a defect is detected before actual information writing or reading.例文帳に追加

この欠陥検出光は、情報の記録又は再生時において、ＲＦ信号光よりも書き込み又は読み出しの順序が後である位置に集光しており、実際に情報の書き込み又は読み出しが行われる以前に欠陥が検出される。 - 特許庁

Furthermore, using the acquired pixel defect information and information with respect to defects caused at all times stored in advance in an EEPROM 118 allows a defect pixel detection section 112b to discriminate pixels that are finally decided to be defective pixels.例文帳に追加

そして、その取得された画素欠陥情報、さらにはＥＥＰＲＯＭ１１８に予め格納されている常欠陥に関する情報とを用いることにより、最終的に欠陥画素とすべき画素が欠陥画素検出部１１２ｂにて判定される。 - 特許庁

Defective pixels in the display panel are mapped, defect information obtained by this mapping is associated with the panel, the defect information is utilized in a panel operation, luminance of neighboring pixels is altered and the defective pixels are made inconspicuous to an observer.例文帳に追加

パネルにおける画素欠陥をマッピングし、このマッピングにより得られた欠陥の情報をパネルと関連付け、パネル操作でこの欠陥の情報を利用して、隣接する画素の輝度を変化させて、欠陥画素を観察者に対して目立たなくさせる。 - 特許庁

The surface defect inspecting devices 20 and 20A have a recording means for recording the generated defective part information, and the defective part information integrating device 30 has an integrated defective part information recording means for recording the prepared integrated defective part information.例文帳に追加

表面欠陥検査装置20,20Aは、生成した欠陥部情報を記録する記録手段を有し、欠陥部情報統合装置30は、生成した統合欠陥部情報を記録する統合欠陥部情報記録手段を有する。 - 特許庁

A defect extraction part 205 compares comparison object information acquired by imaging the reference subject after acquiring the reference information with the reference information stored in the storage part 207, and extracts a different portion between both information as defects.例文帳に追加

欠陥抽出部２０５は、基準情報の取得後に基準被写体を撮像して得られた比較対象情報と、記憶部２０７に保存されている基準情報とを比較し、両者が異なる部分を欠陥として抽出する。 - 特許庁

A pattern collation part 18 compares the model of the source code object storage part 15 with defective pattern information of a defective pattern information storage part 16, and outputs a corresponding object as defect detection information 9.例文帳に追加

パターン照合部１８は，ソースコードオブジェクト記憶部１５のモデルを不良パターン情報記憶部１６の不良パターン情報と比較し，該当するオブジェクトを不良性検出情報９として出力する。 - 特許庁

A storage element B for storing the defect information, the characteristic information, and the product information of a solid state imaging element A mounted on the solid state imaging apparatus 100 is arranged, for example, on the same chip 110.例文帳に追加

固体撮像装置１００に搭載される固体撮像素子Ａの欠陥情報、特性情報および製品情報等を記憶した記憶素子Ｂを、例えば、同一チップ１１０上に配置する。 - 特許庁

An image processing section 12 produces the defective feature information showing the feature of the defect from the image information, and decides the radiating condition in the case of radiating a laser beam based on the defective feature information.例文帳に追加

画像処理部１２は、画像情報から、欠陥の特徴を示す欠陥特徴情報を生成し、欠陥特徴情報に基づいて、レーザ光を照射する際の照射条件を決定する。 - 特許庁

When checking defects, an image is obtained and then is added to the defects information, and the defects information is compared with the image at the time of checking defects and an image detected by another apparatus or with the layout information, to correct the location of the defect.例文帳に追加

また、欠陥確認時に画像を取得、欠陥情報に付加し、欠陥確認時の画像と再度別装置で検出した画像、又は設計情報と照合することで欠陥位置を補正する。 - 特許庁

To provide a battery driven type information processing terminal capable of preventing in advance the occurrence of a defect in prescribed information processing caused by a power failure by surely inhibiting particular information processing when a residual capacity of a battery is decreased to a warning level.例文帳に追加

バッテリの残量が警告レベルまで低下した際には特定の情報処理を確実に禁止して、電断による特定の情報処理で不具合が発生するのを未然に防止する。 - 特許庁

The data retrieval part 25, on the basis of inputted retrieval condition, extracts the product defect information, the history information and information meeting the search condition, and generates a table representing the retrieval result.例文帳に追加

データ検索部２５は、入力された検索条件に基づいて、製品不具合情報及び履歴情報その検索条件を満たす情報の抽出を行い、検索結果を示す表を生成する。 - 特許庁

A manufacturing condition determination system for a metal band material includes a manufacturing process classification database 500 that associates and stores a manufacturing process of a metal band material and a manufacturing process classification to which the manufacturing process belongs; a material defect database 600 that stores material defect information relating to the manufacturing process classification; and a quality information retrieval part 100 that adds the material defect information to a manufacturing history of a manufacturing history database 400.例文帳に追加

金属帯材料の製造過程における工程と、該工程が属する工程分類とを互いに対応づけて保存した工程分類データベース５００と、工程分類に関連する品質不良情報を保存した品質不良データベース６００と、品質不良情報を製造履歴データベース４００の製造履歴に追記する品質情報検索部１００とを備える。 - 特許庁

Before the image data are subjected to an elaborate process for the detection of red eye defect, exclusion criteria are analyzed in the course of an exclusion process, whereby the criteria provide the information to definitively rule out the occurrence of red eye defect.例文帳に追加

赤目欠陥が現れない画像を確定的に除外する除外基準が、画像データに対して負担のかかる赤目欠陥の識別方法が使用される前に、除外方法の範囲で検査される。 - 特許庁