「information defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a defect inspection device and a defect inspection method using the device capable of reducing a maintenance work, transferring accurately defect information detected in upper processes to lower processes, and recognizing surely the defect in the lower process even when a defect detector installed in the lower process is simplified.例文帳に追加

保守作業を少なくすることができ、かつ正確に上工程で検出した欠陥情報を下工程に伝達することができ、たとえ下工程に設置する欠陥検出器を簡単なものとした場合であっても下工程で欠陥を確実に認識することができる欠陥検査装置およびそれ用いた欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an information recording and reproducing device and a processing method for defect management system format for a disk which realize shortening of a defect control format processing time when defect management format processing request is performed for a disk for which defect management format processing is not performed and a disk for which defect management format processing is already performed.例文帳に追加

欠陥管理フォーマット処理が実施されていないディスクおよび既に欠陥管理フォーマット処理が実施されているディスクに対して、欠陥管理フォーマット処理要求があった場合に、欠陥管理フォーマット処理の時間を短縮する情報記録再生装置およびディスクに対する欠陥管理システムフォーマット処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a support information system for simultaneously solving both the problems of difficulty in connection that is a defect in a telephone support, and difficulty in the gathering of useful information that is a defect in a support system on the Internet.例文帳に追加

電話によるサポートの欠点であるつながりにくさと、インターネット上のサポートシステムの欠点である、有用な情報が集まりにくいという双方の問題点を同時に解決できるサポート情報システムを提供する。 - 特許庁

In this system, appearance defect information detected by the visual examination device and electrical defect information detected by a probe examination device are collated with a review process threshold and review- processed by an edition process means.例文帳に追加

外観検査装置で検出される外観的な欠陥情報およびプローブ検査装置で検出された電気的な欠陥情報を見直処理しきい値に照らして編集処理手段で見直処理すること。 - 特許庁

Further, the operator M inputs defect information of a product P into the input display device 2 displaying an image which represents the product P on the input display device 2; and an analyzing device 3 analyzes this defect information.例文帳に追加

そして、入力表示装置２に製品Ｐを表す画像を表示させながら、作業者Ｍが製品Ｐの不具合情報を入力表示装置２に入力し、解析装置３がこの不具合情報を解析する。 - 特許庁

In this defect inspecting method, position information on an interval of a contact part to a cathode ray tube or the like of a member contacting with the cathode ray tube, which causes a defect, is stored in a member information storing device 26 for each of members in advance.例文帳に追加

欠陥Ｐ発生原因となる陰極線管に当接する部材の陰極線管への当接部間隔などの位置情報を、部材毎に予め部材情報記憶装置26に記憶させておく。 - 特許庁

Since the more significant redundant memory cells only require 1 bit, the redundant memory cells of only 3 bits are required by storing, in the more significant redundant memory cells, information indicating whether a defect exists or not as well as positional information of the defect with respect to the least significant bit data.例文帳に追加

その際、上位の冗長メモリセルは１ビットのみでよいため、上位の冗長メモリセルに最下位の不良の有無／不良位置情報を格納させることで、冗長メモリセルとしては３ビットで済む。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for automatically sorting defects, which supply a non-reviewed defect with a defect class having a definition identical to that of a reviewed defect when carrying out sorting the defects, in order to effectively utilize information of non-reviewed defects being the majority on a wafer.例文帳に追加

ウェハ上の大多数を占める，レビューしていない欠陥の情報を有効活用するため，欠陥分類方法において、レビューしていない欠陥に対してレビューした欠陥と同じ定義の欠陥クラスを付与すること。 - 特許庁

Although the displayed image of the defect accidentally includes a part, having no defect because the learning is not completed, operator needs only to enclose the part of the actual defect with a mouse 4, and information on the defective part is provided to the CPU 2.例文帳に追加

表示された欠陥の画像は、学習が完了していないため、誤って欠陥でない所も表示されるが、オペレータは実際の欠陥の箇所だけを、マウス４により囲み、欠陥箇所の情報をＣＰＵ２与える。 - 特許庁

And the defect detecting operation to select a pixel with large dark output level as the defective pixel is carried out by analyzing image information after compensating the defect based on the initial defect data by the digital process 108.例文帳に追加

そして、初期欠陥データに基づいて欠陥補償された後の画像情報をディジタルプロセス１０８で解析することにより、暗出力レベルの大きい画素を欠陥画素として選択するための欠陥検出動作が実行される。 - 特許庁

In an initial inspection, defect detection processing for the solid- state image pickup element is performed, a defect number is attached to the detected defective pixel, and defect information (a defective part and a defective level) is successively stored in a memory space block 10.例文帳に追加

初期検査時において、固体撮像素子の欠陥検出処理を行い、この検出された欠陥画素に欠陥番号を付して欠陥情報（欠陥個所、欠陥レベル）を順次メモリ空間ブロック１０に格納していく。 - 特許庁

Regarding the color filter manufacturing method comprising a defect inspecting process of detecting the defect existing in the color filter and a correcting process of obtaining image data on the defect based on defect information detected at the defect detecting process, thereafter, correcting the defect by using the image data, the color filter is formed by using information obtained from the image data at the correcting process.例文帳に追加

上記目的を達成するために、本発明は、カラーフィルタに存在する欠陥を検出する欠陥検出工程と、上記欠陥検出工程により検出された欠陥の情報に基づいて、上記欠陥の画像データを得た後、上記画像データを用いて欠陥を修正する修正工程とを有するカラーフィルタの製造方法において、上記修正工程における画像データから得られた情報を用いカラーフィルタを製版することを特徴とするカラーフィルタの製造方法を提供する。 - 特許庁

Thereby, the device can cope with increment of the defect management information accompanied with increment of the spare area.例文帳に追加

これにより、スペアエリアの増大に伴うディフェクト管理情報の増大に対しても対処することができる。 - 特許庁

To perform an optimize image processing by appropriately correcting a defect in shape information obtained from the image of an object.例文帳に追加

物体の画像から得られる形状の情報の欠陥を適切に補正して、最適な画像処理を行う。 - 特許庁

To provide an information display panel which prevents a display defect caused by variations in the amount of particles arranged.例文帳に追加

粒子配置量のばらつきに起因した表示不良を生じない情報表示用パネルを得ることができる。 - 特許庁

To reduce the movement of visual point when a visual inspector refers to the inspection information of a surface defect inspection device.例文帳に追加

目視検査員が表面欠陥検査装置の検査情報を参照する場合に視点の移動を少なくする。 - 特許庁

To reliably reproduce an address without regard to a defect in an information recording medium and the influence of crosstalk.例文帳に追加

情報記録媒体の欠陥やクロストークの影響によらず、アドレスを確実に再生することができるようにする。 - 特許庁

As this result, even if the V line defect exists in an image, the wrong control information can be prevented from being generated.例文帳に追加

その結果、Ｖライン傷が画像に存在する場合でも、誤った制御情報の生成を防止できる。 - 特許庁

The computer device 70 can monitor the situation, etc., of defect occurrence by the information from plural tape drives.例文帳に追加

コンピュータ装置７０では複数のテープドライブからの情報によって欠陥の発生状況等を監視できる。 - 特許庁

To disclose defect information such as fail bit map for many and unspecified persons by simple operation.例文帳に追加

簡単な操作によりより不特定多数者に対してフェイルビットマップ等の不良情報の開示を可能とする。 - 特許庁

The image thus obtained undergoes image processing by an image processor 19, and defect information is transmitted to the computer 20.例文帳に追加

得られた画像は画像処理装置１９で信号処理を行い欠陥情報をコンピュータ２０に伝達する。 - 特許庁

The anchor includes an anchor identifier 151 for identifying the anchor of the defect list, and second number of update time information 152.例文帳に追加

アンカは、欠陥リストのアンカを識別するアンカ識別子１５１と、第２の更新回数情報１５２とを含む。 - 特許庁

A program to be tested is tested, and defect information, including a test information number for indicating a test that resulted in rejection and defect phenomenon information for indicating a phenomenon generated by performing the test to the program to be tested, is created.例文帳に追加

試験対象プログラムに試験を行い、合否結果が不合格となった試験を表す試験情報番号、およびこの試験を試験対象プログラムに行うことによって生じる現象を表す欠陥現象情報を含む欠陥情報を作成する。 - 特許庁

When a defect sector is detected in an area where the predetermined system information is written, the MPU 18 executes sector slip processing to allocate address information sequentially from a next sector of the defect sector without allocating any address information to the defective sector.例文帳に追加

また、ＭＰＵ１８が、上記所定のシステム情報が書き込まれる領域において欠陥セクタが検出された場合に、欠陥セクタへのアドレス情報の割り当てをせずに、欠陥セクタの次のセクタから順次アドレス情報を割り当てるセクタスリップ処理を実行する。 - 特許庁

To provide an image processing technology which can prevent print defect and can keep consistency of a correspondence relation between code imaged information and information corresponding to the information.例文帳に追加

印刷不良を防止可能であると共に、コード画像化された情報と、当該情報に対応付けられる情報との対応関係の整合性を保持可能な画像処理技術を提供する。 - 特許庁

After performing defect inspection (S31), history information in which the inspection result is recorded and secret level information indicating whether the inspection result is to be deleted as security information or not are acquired (S34).例文帳に追加

欠陥検査（Ｓ３１）を行った後に、検査結果を記した履歴情報、及び、セキュリティ情報として削除が必要か否かを与える機密レベル情報を取得する（Ｓ３４）。 - 特許庁

An initial defect correction means 202 correct digital image information by using initial defective pixel position information previously known at the time of shipment from a plant or the like.例文帳に追加

初期欠陥補正手段２０２は、工場出荷時等で予め分かっている初期欠陥画素位置情報を用いて画像情報を補正（修正）する。 - 特許庁

An equipment candidate causing the defect in a plurality of pieces of equipment is specified, on the basis of information displaying the substrate and production history information.例文帳に追加

その基板を表す情報と製造履歴情報とに基づいて、複数の設備のうち不良発生の原因となった原因設備候補を特定する。 - 特許庁

Position information regarding a defect of a charge transfer line of an imaging sensor 16 that causes a V-line flaw in an image, is stored in a flaw information memory 54.例文帳に追加

画像におけるＶライン傷の発生原因となる撮像センサ１６の電荷転送ラインの欠陥の位置情報を傷情報メモリ５４に記憶しておく。 - 特許庁

If a defect develops in a recording layer when manufacturing a disk, the usable layer information is included in the BCA information and recorded in the BCA.例文帳に追加

ディスク製造時に何れかの記録層に欠陥が生じた場合、これを示す使用可能レイヤー情報がＢＣＡ情報に含まれてＢＣＡに書き込まれる。 - 特許庁

The information of the other end part is subtracted from the information of the one end part and when the resultant value is out of a preset value, it is detected that a defect is present.例文帳に追加

一方の端部の情報から、他方の端部の情報を引き算し、予め設定した数値から外れていた場合に欠陥として検出する。 - 特許庁

A series of information related with one panel 11 is preserved in the data base 25 without being overlapped with each other, and the information preserved in the data base 25 is utilized for defect analysis.例文帳に追加

１つのパネル11に関しての情報を重複することなく一連にデータベース25に保存し、データベース25に保存された情報を不良解析に活用する。 - 特許庁

To reduce operator's load by associating defect information with lot information concerning a belt-like article transported at a fixed speed.例文帳に追加

一定速度で搬送される帯状物品につき、欠陥情報とロット情報とを関連付けて提供してオペレータの負担を軽減できる検査システムの提供。 - 特許庁

To provide a defect searching system capable of automatically searching the defect of a circuit board provided with the electronic parts and the like without detailed circuit information with a simple device structure in a short time.例文帳に追加

電子部品等が実装された回路基板の不良探索を詳細な回路情報なしに簡易な装置構成で自動的にかつ短時間で行える不良探索システムを提供する。 - 特許庁

To provide an electronic device which has improved efficiency in analysis of a defect compared to the conventional device by sufficiently acquiring information useful for analysis of the defect.例文帳に追加

不具合の解析に有用な情報を十分に取得することによって、従来よりも不具合の解析の効率を向上させることが出来る電子機器を提供することを目的とする。 - 特許庁

At this time, the defect correction unit 17 corrects a defective pixel based on information for a location of the defective pixel stored at a defect memory 16, and outputs the result to a camera signal processing unit 18.例文帳に追加

このとき、欠陥補正部１７は、欠陥記憶部１６に記憶されている欠陥画素位置の情報に基づいて欠陥画素を補正し、カメラ信号処理部１８に出力する。 - 特許庁

To provide a production history management system capable of analyzing a defect including information about an installation site of an appliance and properly grasping an area of the installation sites affected by the defect.例文帳に追加

機器の設置先情報も含めた不具合の解析や、当該不具合により影響を受ける設置先の範囲を的確に把握することが可能な製造履歴管理システムを提供する。 - 特許庁

Defect information for each ECC block only for a cluster in which it is detected in the first half that defect exists is stored in an area form BP9210 to BP18419 of the latter half.例文帳に追加

後半分のＢＰ９２１０からＢＰ１８４１９までのエリアには、前半分のエリアで欠陥ありとされたクラスタについてのみの、ＥＣＣブロック毎の欠陥情報が格納される。 - 特許庁

An SEM scanning of the region provides defect information (determining whether open or short, positions of the defect electrode) of the electrode patterns based on an SEM image light-dark arrangement state of the respective extension wirings.例文帳に追加

この領域をＳＥＭ走査して、各延伸配線のＳＥＭ像明暗配列状態から、電極パターンの欠陥情報（オープン・ショートの判定、欠陥電極の位置など）を得る。 - 特許庁

To provide a defect inspection device inspecting, in particular a defect of a magnetic recording medium where isolated magnetic dots are formed, relating to a recording device recording and playing back information by magnetism.例文帳に追加

磁気により情報を記録・再生する記録装置に関し、とくに孤立した磁性ドットを形成した磁気記録媒体の欠陥を検査する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The defect detection unit 15 executes white defective pixel detection processing using the all black images and stores information for the pixel location of the defective pixel detected in the defect memory 16.例文帳に追加

欠陥検出部１５は、全黒画像を用いて白欠陥画素検出処理を実行し、検出された欠陥画素の画素位置の情報を欠陥記憶部１６に記憶させる。 - 特許庁

A test circuit 30 conducts inspection of the redundant memories 11 and 12, and when it determines existence of the defect cell, outputs the relief information S3 for relieving the defect cell.例文帳に追加

テスト回路３０は、冗長メモリ１１，１２の検査を行い、不良セルが存在すると判定したとき、当該不良セルを救済するための救済情報Ｓ３を出力する。 - 特許庁

To achieve quality enhancement of defect information to be obtained and to calculate a shared expense for each process complying with a responsibility ratio obtained from the delay time of a defect measure.例文帳に追加

入手する不具合情報の質向上を図るとともに、不具合対策の遅延時間により求められる責任割合に応じた工程ごとの分担費用を算出する。 - 特許庁

To appropriately narrow down defect information displayed or output in an inspection system where an identical defect may be detected by two or more cameras under different timings.例文帳に追加

同一の欠陥について複数のカメラで異なるタイミングで検出されることがある検査システムにおいて、表示・出力する欠陥情報を適切に絞り込むこができるようにする - 特許庁

Since defect data are composed of a counted value of signals, information amounts are reduced and inconvenience in derivation and transmission of defect data is never generated even when many defects are detected in a short time.例文帳に追加

また、ディフェクトデータは信号のカウント値であるため情報量が少なく、短時間に多数のディフェクトが検出されても、ディフェクトデータの導出や伝送に不具合が生じることがない。 - 特許庁