例文 (913件) |
information defectの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 913件
An inspector can utilize the return light quantity distribution image as defect portion determination support information.例文帳に追加
検査員は、この戻り光量分布画像を欠陥部位判定支援情報として活用できる。 - 特許庁
To rapidly, easily and appropriately change control information of an image defect elimination control function.例文帳に追加
迅速、容易且つ適切に画像不良解消制御機能の制御情報を変更可能にする。 - 特許庁
MASTER INFORMATION CARRIER DEFECT INSPECTION METHOD MAGNETIC FILM PATTERN TRANSFER METHOD USING MASTER INFORMATION CARRIER, AND MAGNETIC RECORDING/REPRODUCING DEVICE例文帳に追加
マスタ情報担体の欠陥検査方法、マスタ情報担体利用の磁性膜パターン磁気転写方法および磁気記録再生装置 - 特許庁
The display quality specifying information (W1) and the defect address information (W2) are stored in the second memory (60).例文帳に追加
第2メモリ(60)には、上記の表示品位特定情報(W1)と上記の不良アドレス情報(W2)とが記録されている。 - 特許庁
The presence or absence of a defect in a wiring pattern is confirmed by visual observation, image processing, or the like; defect information on the position, coordinates, size, or the like is confirmed, and the type of the defect is determined; when the defect is detected; and a machining method and machining conditions are set according to the type and state of the defect (step S1).例文帳に追加
目視又は画像処理等により配線パターンの欠陥の有無を確認し、欠陥を検出した場合は、その位置、座標及び大きさ等の欠陥情報を確認すると共に欠陥の種類を判定し、欠陥の種類及び状態に応じて加工方法及び加工条件を設定する(ステップS1)。 - 特許庁
Referring to the defect information, pixel data supplied with correcting object pixel around the defect is corrected based on the pixel data to be supplied to the pixel around at least a correction object pixel and the defect data corresponding to the defect condition.例文帳に追加
前記欠点情報を参照して、前記欠点の周辺の補正対象画素に供給される画素データを、少なくとも前記補正対象画素の周辺の画素に供給される画素データと、前記欠点の状態に対応する欠点データとに基づいて補正する。 - 特許庁
To automate individual adjustment operations for every product based on defect information, characteristic information, and product information of the solid state imaging apparatus, and to facilitate management of the information.例文帳に追加
固体撮像装置の欠陥情報、特性情報および製品情報等に基づく製品毎の個別の調整作業を自動化すると共に、それらの情報の管理を容易化する。 - 特許庁
To provide a video recording device for recording video information, management information for managing the video information, and program information for managing the video information by a program unit, which is equipped with a means for recovering information lost due to a defect when the defect occurs in the management information to reduce damage to a user.例文帳に追加
映像情報と、前記映像情報を管理する管理情報、さらに前記映像情報を番組単位で管理する番組情報を記録する映像記録装置において、管理情報に欠陥が発生した場合に、欠陥により失われる情報を修復し、ユーザが被る被害を軽減する手段を有した映像記録装置を提供する。 - 特許庁
To compensate a waste of information due to transient information as a defect of broadcasting media or too much information as a defect of print media by the optionality of information display by the Internet as other media and to release a user from the troublesomeness of URL input operation.例文帳に追加
放送メディアの欠点である一過性の情報、あるいは印刷メディアの欠点である情報過多による情報の無駄を、他のメディアであるインターネットによる情報表示の任意性で補い、かつ、ユーザをURL入力操作の煩わしさから解放する。 - 特許庁
To eliminate a disk discrimination information area in a disk, by using defect address information recorded in a defect information area of the disk to discriminate the disk, with respect to disk discrimination information which has been conventionally recorded in a management area of the disk.例文帳に追加
ディスクの管理領域に従来記録されていたディスク識別情報について、ディスクの欠陥情報領域に記録されている欠陥アドレス情報を利用することによってディスク識別を行ってディスク内でディスク識別情報領域を無くすること。 - 特許庁
To detect a defect having the possibility of growth in a storing condition after production to remove in advance an optical information recording medium having the defect, in a production stage of the optical information recording medium.例文帳に追加
光情報記録媒体の製造段階において、その後の保存の状況によって成長しそうな欠陥を検出して、このような欠陥を有する光情報記録媒体を事前に排除する。 - 特許庁
Information (offset information) about distribution of a coordinate system offset between a defect inspection apparatus and a SEM apparatus at an observation location on a wafer is registered in the SEM apparatus as a defect observation apparatus.例文帳に追加
欠陥観察装置であるSEM装置には、欠陥検査装置と当該SEM装置との間の座標系のずれの、ウェハ上の観察位置に対する分布に関する情報(ずれ情報)が登録される。 - 特許庁
At least either of a wafer parameter as a settable inspection information and a sensitivity parameter of a defect inspection device is generated from the design information of a semiconductor wafer, and incorporated into a recipe for defect inspection.例文帳に追加
半導体ウェーハの設計情報から、設定可能な検査情報であるウェーハパラメータと欠陥検査装置の感度パラメータとの少なくともいずれかを生成して欠陥検査のためのレシピに組み込む。 - 特許庁
A defect memory 63 stores normal defect information related to the pixel defect concerning a CCD 42 when the CCD 42 is set to have the first light reception sensitivity, and highly-sensitive defect information related to the pixel defect concerning the CCD 42 when the CCD 42 is set to have a second light reception sensitivity which is higher than the first light reception sensitivity.例文帳に追加
CCD42を第一の受光感度に設定したときのCCD42についての画素欠陥に関する情報である通常欠陥情報と、CCD42を第一の受光感度よりも高感度である第二の受光感度に設定したときのCCD42についての画素欠陥に関する情報である高感度欠陥情報とを欠陥メモリ63に記憶させておく。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING DEFECT INFORMATION DETECTION SENSITIVITY DATA, METHOD FOR MANAGING DEFECT DETECTION DEVICE, AND METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT IN SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
欠陥情報検出感度データの決定方法及び欠陥情報検出感度データの決定装置、欠陥検出装置の管理方法、半導体装置の欠陥検出方法及び半導体装置の欠陥検出装置 - 特許庁
To provide a defect detection method capable of acquiring accurately information of the form and the position of a defect from the outside in a layered product after laminating a metal layer, concerning the defect existing inside the layered product.例文帳に追加
積層体の内部に存在する欠陥を、金属層を積層した後の積層体において、その外部から欠陥の形態及び位置の情報を精度良く把握するという、欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁
In an image signal processing device, a defect detection circuit 12 compares the image signal of a target pixel with the image signal of surrounding pixels thereof to detect a pixel defect candidate, and stores the address information of the pixel defect candidate in a position memory circuit 13.例文帳に追加
欠陥検出回路12で目標画素の画像信号を周辺画素の画像信号と対比して画素欠陥候補を検出し、画素欠陥候補のアドレス情報を位置メモリ回路13に記憶する。 - 特許庁
On the basis of data on a sector read from the logic disk 12 by read access that matches a read request from the host 20, a data defect determining part 115a determines if the defect information indicating data defects is recorded in the defect information area of the sector.例文帳に追加
データ欠損判定部115aは、ホスト20からのリード要求に従うリードアクセスによって論理ディスク12から読み出されるセクタのデータに基づき、当該セクタの欠損情報領域に“データ欠損あり”を示す欠損情報が記録されているかを判定する。 - 特許庁
A temporary defect management area 14 is disposed between a control information recording area 12 and data area 11 of the write-once recording medium 10, and in the stage before finalizing the recording medium, defect management information is temporarily stored in the temporary defect management area.例文帳に追加
追記型記録媒体10の制御情報記録エリア12とデータエリア11との間に一時的ディフェクト管理エリア14を設け、記録媒体をファイナライズする前の段階では、一時的ディフェクト管理エリアにディフェクト管理情報を一時的に記録しておく。 - 特許庁
Then, for example, defect discriminating information is recorded in the alternated packet, and alternation discrimination information is recorded in the alternating packet (S013).例文帳に追加
そして、例えば交替元のパケットに欠陥識別情報を記録し、また交替先のパケットに交替識別情報を記録する(S013)。 - 特許庁
To reuse data recorded in an information recording medium by defect management.例文帳に追加
情報記録媒体において、ディフェクト管理によって記録された記録データの再利用を可能ならしめる。 - 特許庁
To make a contribution to prevention of copying with a CD, etc., without insertion of physical information or deliberate defect.例文帳に追加
物理的な変形や意図的な欠陥を挿入せずに、CD等でコピー防止に寄与できるようにする。 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR ACQUISITION OF SHAPE INFORMATION AND APPARATUS AND METHOD FOR DEFECT DETECTION例文帳に追加
形状情報取得装置、欠陥検出装置、形状情報取得方法および欠陥検出方法 - 特許庁
OUTSIDE DEVELOPMENT INFORMATION PRACTICAL USE METHOD OF STEEL STRIP AND COLLECTION/DISPLAY PROGRAM OF DEFECT DATA ON STEEL STRIP例文帳に追加
鋼帯の外観展開図情報活用方法および鋼帯の欠陥データの収集・表示プログラム - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR DETECTING MEDIUM DEFECT AND INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING DEVICE USING THEM例文帳に追加
媒体欠陥検出方法、媒体欠陥検出システムおよびこれを用いた情報記録再生装置 - 特許庁
To output information necessary for a defect analysis to a dump file while reducing the size of a dump file.例文帳に追加
ダンプファイルのサイズを小さくしつつ、障害解析に必要な情報をダンプファイルに出力すること。 - 特許庁
This information, etc., on the defect are supplied to a computer device 70 via a communication interface 410.例文帳に追加
この欠陥に関する情報等を通信インタフェース410を介してコンピュータ装置70に供給する。 - 特許庁
DEFECT INFORMATION OBTAINING METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY, RELIEVING AND ANALYZING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR MEMORY, AND SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加
半導体メモリの不良情報取得方法、半導体メモリ救済解析装置、及び半導体メモリ装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR DEFECT DETECTION, INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING DEVICE, AND MAGNETIC DISK DRIVE例文帳に追加
欠陥検出方法および欠陥検出装置ならびに情報記録再生装置および磁気ディスク装置 - 特許庁
To enable stable contiguous recording on an information storage medium even if many defect regions exist.例文帳に追加
欠陥領域が多数存在しても情報記憶媒体上に安定した連続記録が可能となる。 - 特許庁
INFORMATION-RECORDING/REPRODUCING DEVICE, PROGRAM, COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM, AND METHOD FOR MANAGING DEFECT AREA例文帳に追加
情報記録再生装置とプログラムとコンピュータ読み取り可能な記録媒体と欠陥領域管理方法 - 特許庁
The stored defect information is collated with the consumable information used in the analysis when obtaining the each measured result, or the consumable information set in the analyzer.例文帳に追加
記憶した欠陥ロット情報と、各測定結果を得る際の分析に使用した消耗品情報、あるいは分析装置内に設置された消耗品情報とを照合する。 - 特許庁
A defect display device 4 reads the image and the defect information obtained by the automatic defect inspection device 2 from the storage part 41 on the basis of the substrate ID of a substrate to be visually inspected in a visual inspection device 3, and highlights a defect part with respect to the image.例文帳に追加
欠陥表示装置4は、目視検査装置3において目視検査を行う基板の基板IDに基づいて自動欠陥検査装置2で取得された画像及び欠陥情報を記憶部41から読み出して、画像に対して欠陥部分を強調表示する。 - 特許庁
To provide a defect inspection apparatus and a defect inspection method using it which accurately find the number of defects on inspected materials when quality of the inspected materials is determined based on defect information of the inspected materials respectively detected by a plurality of defect detectors and determine the quality of the inspected materials based on the number of the defects.例文帳に追加
複数の欠陥検出器がそれぞれ検出した被検査材の欠陥情報に基づいて、被検査材の合否判定を行う際、被検査材の欠陥数を正確に求めることができる欠陥検査装置およびそれを用いた欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁
Moreover, inspection data by a plurality of inspection devices about one defect are allowed to be registered, and classification information of a defect which is an object for analysis is allowed to be arbitrarily selected.例文帳に追加
また、ひとつの欠陥について複数の検査装置による検査データを登録可能とし、解析対象である欠陥の分類情報を任意に選択可能とした。 - 特許庁
The continuous defect determination method for analyzing distribution morphology based on information regarding surface defects arisen on the thin steel sheet F to determine the presence of continuous defect.例文帳に追加
薄鋼板Fに発生する表面欠陥に関する情報を基に分布形態を解析して連続欠陥の有無を判定する連続欠陥判定方法を提供する。 - 特許庁
To provide a rolled sheet wound with an optical film with defect information printed as a marking, and hardly generating a defect caused by transfer of irregular deformation in a marking portion.例文帳に追加
欠点情報がマーキングとして印字された光学フィルムが巻回されており、該マーキング部位の凹凸変形の転写による欠陥が生じにくいロール原反を提供する。 - 特許庁
To provide an image processor notifying a user of error treatment information even when there are failures such as a printing defect, and a communication defect with an external device.例文帳に追加
印刷不良や外部装置との通信不良などの不具合があっても、ユーザにエラーの対処情報を通知することが可能な画像処理装置を提供する。 - 特許庁
The existence of defect detection is checked (S36), and when no defect is detected, inspecting image data are deleted and the fact of deletion is recorded in the history information (S40).例文帳に追加
そして、欠陥検出の有無を調べ(S36)、欠陥が検出されない場合には、検査画像データを削除し履歴情報に削除した旨を記録する(S40)。 - 特許庁
When a defect detection means 10 detects a data defect in image data, an output means 11 outputs, to a display part 50, information representing an error.例文帳に追加
欠損検出手段10が画像データの中からデータ欠損を検出したときに、出力手段11が表示部50に表示部にエラーであることを出力する。 - 特許庁
Upon determining whether the pattern formed on the photomask has a defect in an inspection step 6, the defect determination reference is varied according to the attribute information.例文帳に追加
検査工程6において、フォトマスク上に形成されたパターンが欠陥を有するか否かを判定するときにはこの属性情報に応じて欠陥判定基準が変更される。 - 特許庁
The reference video signals corresponding to the areas are subtracted from the video signals and the defect image signals including only the defect information are formed.例文帳に追加
画像信号比較回路(13)において、ビデオ信号から当該部位に対応する基準ビデオ信号を減算して欠陥情報だけを含む欠陥画像信号を形成する。 - 特許庁
Thereby, thereafter, information of the QR code is read, so that the defect page is detected, and the restoration of the defect page can be easily performed.例文帳に追加
このようにすることで、その後、このQRコードの情報を読取ることによって、欠損ページを検出し、その欠損ページの復元を容易に行うことが可能となる。 - 特許庁
When defect information is given to an emulator 110, the emulator 110 performs emulation the operation of drive or player caused by defect of data of a disk (medium) side.例文帳に追加
エミュレータ110に対して欠陥情報が与えられると、エミュレータ110は、ディスク(メディア)側のデータの欠陥に起因するドライブ、プレーヤの動作のエミュレートを行う機能を有する。 - 特許庁
To provide a surface defect inspection method which enables accurate detection of surface defects in information recording media which can cause errors, and to provide a surface defect inspection apparatus.例文帳に追加
エラーとなり得る情報記録媒体の表面の欠陥を精度良く検出可能な表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
A disk recording/reproducing drive 1020 records the information on the information recording medium including: a volume space for recording user data; a spare area containing a substitute area usable instead of a defective area; and a defect management information area for recording the defect management information.例文帳に追加
ディスク記録再生ドライブ1020は、ユーザデータが記録されるボリューム空間と、欠陥領域の代わりに使用され得る交替領域を含むスペア領域と、欠陥管理情報が記録される欠陥管理情報領域とを備えた情報記録媒体に情報を記録する。 - 特許庁
When the integrated circuit chip on the semiconductor wafer is inspected after the exposure and any pattern defect is found out; the operating information by each pulse in cross-reference with the information of the lot number of the semiconductor wafer whose defect is found out, and the information of the integrated circuit chip position is acquired from the stored information items.例文帳に追加
露光後に半導体ウェーハ上の集積回路チップを検査し、パターン不良が発見された場合は、記憶した情報の中から不良が発見された半導体ウェーハのロット番号の情報及び集積回路チップ位置の情報に対応するパルス毎の動作情報を取得する。 - 特許庁
To provide a defect management method for an information recording medium, notifying whether defect management by a drive has abnormally ended due to an unpredictable abnormal event during data recording in the information recording medium, and to provide an information recording medium drive, and the information recording medium.例文帳に追加
情報記録媒体にデータ記録中に予測不可能な非正常的事態により、ドライブによる欠陥管理が非正常的に終了しているか否かが容易に分かる情報記録媒体の欠陥管理方法、情報記録媒体ドライブ装置、及びその情報記録媒体を提供する。 - 特許庁
According to this constitution, since not only the information regarding the operation of the image formation device, but also the information regarding the operation are registered with the information memorizing unit 4 in relation to times, respectively when the defect is detected, the information for easily specifying the cause of the defect can be efficiently registered.例文帳に追加
この構成によれば、不具合を検出した場合に、画像形成装置の動作に関する情報のみならず操作に関する情報をも時刻に関連付けて情報記憶部に登録するので、不具合の原因を容易に特定するための情報を効率的に登録できる。 - 特許庁
例文 (913件) |
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|