「information defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

The defect inspection method acquires the image having the height information in the selected measuring condition based on positional information of the defect candidate of acquiring the image having the height information, and inspects the defect of the inspection object, based on the image.例文帳に追加

高さ情報を有する画像を取得する欠陥候補の位置情報から選択した測定条件で高さ情報を有する画像を取得し、その画像に基づいて前記検査対象物の欠陥を検査する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND DEFECT INFORMATION ACCUMULATING METHOD OF THE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置および半導体装置の不良情報蓄積方法 - 特許庁

At the time of finalizing, the defect management information is recorded in a deterministic defect management area 13 disposed in the control information recording area.例文帳に追加

ファイナライズをするときには、ディフェクト管理情報を、制御情報記録エリア内に設けられた確定的ディフェクト管理エリア１３に記録する。 - 特許庁

that interpretation is an unfortunate defect of our lack of information 例文帳に追加

その解釈は私たちに情報が欠けているという不幸な欠点だ - 日本語WordNet

METHOD FOR MANAGING DEFECT IN INFORMATION RECORDING MEDIUM, RECORDING/REPRODUCING DEVICE, AND INFORMATION RECORDING MEDIUM例文帳に追加

情報記録媒体における欠陥を管理する方法、記録／再生装置、及び情報記録媒体 - 特許庁

First, a review is carried out by an electron microscope unit 2, and only when a first determining section 3 recognizes that a defect exists in a recognized defect part, is related defect information output to a defect information classifying section 6.例文帳に追加

先ず電子顕微鏡ユニット２によるレビュー結果に基づき、第１の判定部３により認定欠陥部位に欠陥が有ると認められる場合のみ、その旨の欠陥情報が欠陥情報分類部６に出力される。 - 特許庁

Accordingly, the defect correction method of the defective part is generated based on the position information, characteristic information, defect classification, and substrate design information of the defective part so as to make the defect correction by operating a defective correction mechanism 4 based on the generated defect correction method.例文帳に追加

そして、欠陥部位の位置情報、特徴情報、欠陥種別及び基板設計情報に基づいて欠陥部位の欠陥修正方法を生成し、生成された欠陥修正方法に基づき欠陥修正機構４を動作させて欠陥修正を行う。 - 特許庁

A defect cycle estimator in single object 32 and a defect cycle estimator in a plurality of objects 34 estimate periodicity of a defect in the object of inspection with statistical hypothesis to defect information based on defect information on features of the individual defects, picture information on the object of inspection and information on the object of inspection.例文帳に追加

単一対象内欠陥周期推定部３２および複数対象内欠陥周期推定部３４は、個々の欠陥の特徴に関する欠陥情報、被検査対象の画像情報、および被検査対象に関する情報に基づいて、被検査対象における欠陥の周期性を、欠陥情報に対する統計的仮説検定により推定する。 - 特許庁

A defect detecting means 2 detects a defect on the surface of a sample at a predetermined inspection sensitivity, a false defect specifying means 4 specifies a false defect from defect information acquired by the defect detection, and a non-inspected region setting means 5 sets the detection part of the specified false defect in a non-inspected region.例文帳に追加

欠陥検出手段２は、所定の検査感度で試料表面の欠陥検出を行い、擬似欠陥特定手段４は、欠陥検出により得られた欠陥情報から擬似欠陥を特定し、非検査領域設定手段５は、特定した擬似欠陥の検出箇所を非検査領域に設定する。 - 特許庁

When a defect part detecting circuit 20 detects a defect part from a user data region of an optical disk 10, a defect management information generating and storing circuit 3 generates defect management information including at least an address of the defect part and the address of its alternative region and stores them.例文帳に追加

欠陥部位検出回路２０が光ディスク１０のユーザデータ領域から欠陥部位を検出すると、欠陥管理情報生成記憶回路３は欠陥部位のアドレスと、その代替領域のアドレスとを少なくとも含む欠陥管理情報を生成して記憶する。 - 特許庁

The processing means includes functions to extract the defect information on the identical defect imaged by different camera devices from the position information and output the clipped images (defect images) as to the extracted defect simultaneously to an identical display screen (defect time series display screen shown in the figure).例文帳に追加

処理手段は、位置情報に基づき異なるカメラ装置で撮像された同一の欠陥についての欠陥情報を抽出し、その抽出した欠陥について切り出した画像（欠陥画像）を同一の表示画面（図に示す欠陥時系列表示画面）に同時に出力する機能を備えた。 - 特許庁

To provide a defect inspecting device of a cathode ray tube capable of easily specifying on which device a defect is developed from information about the defect when the defect is developed on a surface.例文帳に追加

表面に欠陥が生じた場合、その欠陥に関する情報からどの装置によって欠陥が生じたかを容易に特定することができる陰極線管の欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The header a defect list identifier 131 for identifying the defect list, and first updating number-of-time information 133, and a defect entry number 132 indicating the number of defect entries.例文帳に追加

ヘッダは、欠陥リストを識別する欠陥リスト識別子１３１と、欠陥リストの更新回数を示す第１の更新回数情報１３３と、欠陥エントリの個数を示す欠陥エントリ数１３２とを含む。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of detecting an irregular defect such as fish eye generated in a film having light transmission, and capable of conducting effectively defect determination containing height information of the defect.例文帳に追加

光透過性を有するフィルムに生じたフィッシュアイ等の凹凸状の欠陥検出および欠陥の高さ情報を含んだ欠陥判定を有効に行うことができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

A dual charged-particle beam system is automatically navigated to the vicinity of defect location using information from the defect file.例文帳に追加

複式荷電粒子ビームシステムが、欠陥ファイルからの情報を用いて、自動的にその欠陥位置の近傍にナビゲートされる。 - 特許庁

To provide a defect information management method for a steel material for surely removing a defect in the steel material.例文帳に追加

鋼材中の欠陥除去を確実なものとする鋼材の欠陥情報管理方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A photographed image with high image quality is obtained, by reading the defect information at photographing and interpolating of the defect.例文帳に追加

この欠陥情報を撮影時において読み出し、欠陥を補間することによって、高画質の撮影画像が得られる。 - 特許庁

A control device determines whether or not the same defect is registered repeatedly into at least two defect detection data, based on position information of each defect registered in the defect detection data respectively, and acknowledges that a defect acknowledged to be registered repeatedly is a repeated defect.例文帳に追加

制御装置が、欠陥検出データの各々に登録されている欠陥の位置情報に基づいて、同一の欠陥が少なくとも２つの欠陥検出データに重複して登録されているか否かを判定し、重複して登録されていると認定される欠陥を重複欠陥と認定する。 - 特許庁

FAULTY POSITION INFORMATION COLLECTING SYSTEM, PROGRAMMING SYSTEM, AND DEFECT REMOVING SYSTEM例文帳に追加

不良位置情報収集システム、予定組システム及び不良除去システム - 特許庁

At reapplication, for example, past related defect information is extracted from applicant data, and the defect information is used to create an application display form.例文帳に追加

再申請時には例えば申請人データから関連する過去の不具合情報を抽出し、該不具合情報を用いて申請用表示フォームを作成する。 - 特許庁

A defect correction circuit 110 uses defect information (a defective position and a defective level) stored in a defect information storage RAM 120 to particularize a defective pixel in the image signal thereby correcting the defective pixel.例文帳に追加

欠陥補正回路１１０は、欠陥情報格納ＲＡＭ１２０に格納された欠陥情報（欠陥個所、欠陥レベル）を用いて、画像信号の欠陥画素を特定し、この欠陥画素の補正を行う。 - 特許庁

Model defect reproduction information for reproducing the image of the model defect prepared in the preparation process ST100 is stored in a model defect reproduction information storage process ST200.例文帳に追加

モデル欠陥再現情報記憶工程ＳＴ２００においてモデル欠陥作成工程ＳＴ１００にて作成されたモデル欠陥の画像を再現するためのモデル欠陥再現情報を記憶する。 - 特許庁

To provide a defect information management method which can collect information on the defect of a product in a store or the like timely, permitting to promptly grasp the product defect occurred in the market.例文帳に追加

販売店等における製品の不具合の情報をタイムリーに収集し、市場で発生している製品の不具合を迅速に把握することが可能な不具合情報管理方法を提供する。 - 特許庁

When a region for storing the pixel defect information is full or when the pixel defect information cannot be stored entirely, the pixel defect information is ranked and stored sequentially starting from one having the highest defect level or a latest detection time.例文帳に追加

また、画素欠陥情報を記憶する記憶領域が満杯、或いは追記しようとする画素欠陥情報のすべてを記憶しきれない場合には、欠陥レベルの大きいものから順位付けして或いは検出時期の新しいものから順位付けして上位のものから記憶させる。 - 特許庁

A remaining defect detecting section 22 acquires height information relating to the height of the glass substrate 2 in the area of the defect, deciding presence/absence of the remaining defect to be further corrected after the correction of the defect on the basis of the height information.例文帳に追加

残存欠陥検出部２２は、欠陥の範囲におけるガラス基板２の高さに関する高さ情報を取得し、欠陥の修正後にさらに修正すべき残存欠陥が存在するか否かを、高さ情報に基づいて判断する。 - 特許庁

A defect judgement circuit 14 repeats the judgement of the pixel defect on the basis of address information stored in the position memory circuit 13, decides the address information of the pixel defect from the continuity of the judgement result and registers it in a defect registration circuit 15.例文帳に追加

位置メモリ回路１３に記憶されたアドレス情報に基づいて欠陥判定回路１４が画素欠陥の判定を繰り返し、その判定結果の連続性から画素欠陥のアドレス情報を決定し、欠陥登録回路１５に登録する。 - 特許庁

The write-once type recording medium 10 is provided with a definite defect management area 13 for recording definitely defect management information, a plurality of temporary defect management area 14A, 14B, 14C for recording temporarily defect management information.例文帳に追加

追記型記録媒体１０上に、ディフェクト管理情報を確定的に記録するための確定的ディフェクト管理エリア１３と、ディフェクト管理情報を一時的に記録するための複数の一時的ディフェクト管理エリア１４Ａ、１４Ｂ、１４Ｃを設ける。 - 特許庁

On the write-once-type recording medium 10, there are provided: a definite defect management area 13 to definitely record therein defect management information; and a plurality of temporary defect management areas 14A, 14B, and 14C to temporarily record therein the defect management information.例文帳に追加

追記型記録媒体１０上に、ディフェクト管理情報を確定的に記録するための確定的ディフェクト管理エリア１３と、ディフェクト管理情報を一時的に記録するための複数の一時的ディフェクト管理エリア１４Ａ、１４Ｂ、１４Ｃを設ける。 - 特許庁

To provide a defect inspection device, a defect information acquisition device and a defect inspection method, capable of optimizing further an acquisition amount of a scattered light signal regarding the defect by improving a detection accuracy of the defect to be as the detection object.例文帳に追加

検出対象とする欠陥の検出精度を向上させ、当該欠陥に関する散乱光信号の取得量をより適正化することができる欠陥検査装置、欠陥情報取得装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

A defect generation date and time, the defect item, and an image data and an inspection result correlated with information thereof are stored, when inspection is carried out and when a defect is determined.例文帳に追加

検査を実行し、不良判定がなされた場合、不良発生日時、不良項目、さらにこれらの情報に関連付けて、画像データ、検査計測結果を記憶する。 - 特許庁

Final defect distributions on each substrate are sorted into defect-distribution patterns P1 and P2 by using final defect-distribution information in a final inspection process 10g.例文帳に追加

最終検査工程１０ｇにおける最終欠陥分布情報を用いて、各基板上の最終欠陥分布を欠陥分布パターンＰ１、Ｐ２毎に分類する。 - 特許庁

The defect list includes a header 121 arranged at a fixed position, N defect entries 122 to 125 containing information regarding the positions of the defect areas, and an anchor 126.例文帳に追加

欠陥リストは、固定位置に配置されたヘッダ１２１と、欠陥領域の位置に関する情報を含むＮ個の欠陥エントリ１２２〜１２５と、アンカ１２６とを含む。 - 特許庁

A defect correction means 30 corrects fixed defect pixels and flicker defect pixels stored in the sensitivity coefficient defective information storage means 28A.例文帳に追加

欠陥補正手段３０による補正は、感度係数欠陥情報記憶手段２８Ａに記憶されている固定欠陥画素及び点滅欠陥画素を対象として行う。 - 特許庁

A defect area computing means conducts labeling processing for defect position information stored in a defect position-storing means 16 to compute the number and respective areas of respective defects.例文帳に追加

欠陥面積演算手段１８は欠陥位置記憶手段１６に記憶した欠陥位置情報をラベリング処理を行い、欠陥の数と個々の欠陥の面積を演算する。 - 特許庁

To provide a defect classification system capable of reducing misclassification in defect sorts even when information necessary for defect sort judgment is increased and capable of achieving more accurate classification.例文帳に追加

欠陥種類判定に必要な情報が多くなったとしても欠陥種類の誤分類を低減し、より精度の高い分類が可能な欠陥分類システムを提供する。 - 特許庁

DEFECT MANAGEMENT METHOD, REPRODUCING METHOD, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, INFORMATION RECORDING APPARATUS, AND INFORMATION REPRODUCING APPARATUS例文帳に追加

欠陥管理方法、再生方法、プログラム及び記録媒体、情報記録装置並びに情報再生装置 - 特許庁

INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING DEVICE AND PROCESSING METHOD FOR DEFECT MANAGEMENT SYSTEM FORMAT FOR INFORMATION RECORDING MEDIUM例文帳に追加

情報記録再生装置および情報記録媒体に対する欠陥管理システムフォーマット処理方法 - 特許庁

METHOD OF SETTING DEFECT MANAGEMENT INFORMATION, METHOD OF RECORDING DATA,PROGRAM AND RECORD MEDIUM AND INFORMATION RECORDING APPARATUS例文帳に追加

欠陥管理情報設定方法、記録方法、プログラム及び記録媒体、並びに情報記録装置 - 特許庁

To provide a defect information management device capable of acquiring necessary and effective information accurately by processing information on a defect (failure) of an enormous amount of product appropriately.例文帳に追加

膨大な製品の不具合（故障）に関する情報を適切に加工し、必要かつ有効な情報を的確に取得することが可能な不具合情報管理装置を提供する。 - 特許庁

Further based on this defect information, information is made to be recorded by irradiating the second information recording layer with the recording laser beam.例文帳に追加

さらに、この欠陥情報に基づいて第２情報記録層に記録レーザー光を照射して情報を記録するようにした。 - 特許庁

RECORDING MEDIUM FOR STORING DEFECT MANAGEMENT INFORMATION FOR RECORDING REAL TIME DATA例文帳に追加

リアルタイムデータを記録するための欠陥管理情報を貯蔵する記録媒体 - 特許庁

RECORDING MEDIUM HAVING SPARE AREA FOR DEFECT MANAGEMENT AND MANAGEMENT INFORMATION THEREOF例文帳に追加

欠陥管理のための余裕空間とその管理情報を有する記録媒体 - 特許庁

DEFECT REPLACING PROCESSING METHOD AND INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING DEVICE AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

欠陥代替処理方法及び情報記録再生装置ならびに記録媒体 - 特許庁

Successively, region information read out from a database in which a plurality of defect correction methods and region information in which appearance of defect is assumed for each kind of the defect are registered is applied to the difference image and the defect is detected, and the defect correction method is read out from the database based on the detected defect.例文帳に追加

次に、この差分画像に、複数の欠陥修正手法および欠陥の種類ごとに当該欠陥が出現されることが想定される領域情報が登録されたデータベースから読み出した領域情報を適用して欠陥を検出し、検出した欠陥に基づいて前記データベースから欠陥修正手法を読み出す。 - 特許庁

RECORDING MEDIUM HAVING SPACE FOR DEFECT MANAGEMENT AND MANAGEMENT INFORMATION THEREOF, MARGIN SPACE ALLOCATING METHOD AND DEFECT MANAGING METHOD例文帳に追加

欠陥管理のための余裕空間とその管理情報を有する記録媒体、余裕空間割当方法と欠陥管理方法 - 特許庁