「ion mass」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To enable accurate identification of mass by preventing a mass peak from being shifted by amplitude of high frequency voltage upon ion trapping.例文帳に追加

イオン捕捉時の高周波電圧の振幅に依る質量ピークのシフトを防止し、質量の正確な同定を可能にする。 - 特許庁

To provide an imaging technique capable of widening a visual field range about an ion source, in a mass spectrometric system including the ion source.例文帳に追加

イオン源を含む質量分析システムで、イオン源についての視野範囲が拡大された撮像の手法を提供する。 - 特許庁

To provide a mass spectrometer including an ion source and a field-free or drift area, and an ion mirror including a reflectron.例文帳に追加

イオン源とフィールドフリー又はドリフト領域とリフレクトロンを持つ易御身らとを含む質量分析装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR SIGNAL IMPROVEMENT OF FOURIER TRANSFORM ION CYCLOTRON RESONANCE MASS SPECTROGRAPH例文帳に追加

フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析器の信号改善のための方法 - 特許庁

To provide a mass spectrometer capable of reducing an ion loss rather than the prior arts even when changing an ion to be selected in a mass spectrometric section.例文帳に追加

質量分析部において選択するイオンを変更する場合でも、従来よりもイオンの損失を低減させることができる質量分析装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a secondary ion mass spectrometry and a secondary ion mass spectroscope, for determining the optimal analysis condition when using cesium as primary ions.例文帳に追加

一次イオンとしてセシウムを使用した場合に、最適な分析条件を判断できる二次イオン質量分析方法及び二次イオン質量分析装置を提供する。 - 特許庁

(f) Mass spectrometers possessing an ion source designed for ionization of actinides or fluorides thereof 例文帳に追加

ヘ　アクチニド又はそのふっ化物のイオン化用に設計したイオン源を有するもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

MASS SPECTROMETER DEVICE EQUIPPED WITH DOUBLE ION GUIDE INTERFACE AND OPERATING METHOD THEREOF例文帳に追加

二重イオンガイドインターフェースを有する質量分光計装置およびその作動方法 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING COMPOSITION OF ORGANIC FILM BY TIME-OF-FLIGHT SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

飛行時間型二次イオン質量分析法による有機膜の組成分析方法 - 特許庁

The apparatus and method are also applied to a mass spectrometer system having a matrix-based ion source.例文帳に追加

またマトリクスベースのイオン源を有する質量分光計システムにも適用する。 - 特許庁

METHOD FOR AUTOMATICALLY JUDGING QUALITATIVE ANALYSIS RESULT IN PLASMA ION SOURCE MASS SPECTROMETER例文帳に追加

プラズマイオン源質量分析装置における定性分析結果の自動判定方法 - 特許庁

CALIBRATION REFERENCE SAMPLE FOR SECONDARY ION MASS SPECTROMETER, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

二次イオン質量分析装置の較正用標準試料及びその製造方法 - 特許庁

Ion to be detected is drawn by a gas flow and flows toward the mass spectrometer chamber 104.例文帳に追加

被検出イオンはガスの流れで引き出され、質量分析室へ向けて流れる。 - 特許庁

This ion detector protective module monitors output signal of the ion detector, allowing the controller to hinder the ion detector from accepting any more ion of specific mass if accumulation of output signal obtained by acceptance of the specific mass ion exceeds threshold.例文帳に追加

イオン検出器保護モジュールは、イオン検出器の出力信号を監視し、特定の質量のイオンを受容することにより得られる出力信号の累積が閾値を越える場合、保護モジュールは制御器にイオン検出器が特定の質量のイオンをそれ以上受容することを妨げるようにさせる。 - 特許庁

In the method for secondary ion mass spectrometry, mass spectrometry is performed on a sample by bringing a reagent that acts on organic matters containing double bonds to change the secondary ion mass spectra of the organic matters into contact with the sample.例文帳に追加

二重結合を有する有機物に作用して、該有機物の二次イオン質量スペクトルを変化させる試薬を、事前に試料に接触させて試料の質量分析することを特徴とする二次イオン質量分析法 - 特許庁

By equipping a repulsion electrode 11 at a position facing the secondary ion mass spectrometer 10 to turn the secondary ion trajectory for ions released in the opposite direction back toward the secondary ion mass spectrometer 10, sensitivity can be increased.例文帳に追加

２次イオン質量分析計１０と対向する位置に反発電極１１を設け、逆方向に放出された２次イオンの軌道を２次イオン質量分析計１０側にすることで感度の向上が図れる。 - 特許庁

This ion implanter is provided with an ion generation source 2 and a beam line 11 for selecting ions fed from the ion generation source 2 by means of a mass separation magnet 7 and leading ions with a predetermined mass to an end station 8.例文帳に追加

イオン発生源２と、該イオン発生源２から送出されたイオンを質量分離マグネット７で選択し、所定質量のイオンをエンドステーション８に導くためのビームライン１１とを備えたイオン注入装置である。 - 特許庁

This device comprises an ion source 1 for generating ions, an ion trap type mass spectrometer 10 for inputting the ions from the ion source 1, the high-speed particle source 7 for colliding the high-speed particles with the ions inside the ion trap type mass spectrometer 10, and a detector 8 for detecting product ions discharged from the ion trap type mass spectrometer 10.例文帳に追加

イオンを発生するイオン源１と、該イオン源１からのイオンを入力するイオントラップ型質量分析計１０と、該イオントラップ型質量分析計１０内部のイオンに高速粒子を衝突させる高速粒子源７と、前記イオントラップ型質量分析計１０から排出されるプロダクトイオンを検出する検出器８とから構成される。 - 特許庁

To solve such a problem that a systematic mass error occurs depending on an ion valence in a time-of-flight mass spectrometer.例文帳に追加

飛行時間型質量分析計において、イオンの価数に依存して系統的な質量誤差が生じることを解決する。 - 特許庁

The ions are converged in an ion convergence part 17 and are sent to a time-of-flight mass spectrometer 21 from an ion trap 18.例文帳に追加

イオンは、イオン収束部１７にて収束され、イオントラップ１８から飛行時間型質量分性装置２１に送られる。 - 特許庁

Thereby, a secondary ion 36 from the area where a primary ion beam 32 is irradiated is inputted in the mass spectrometer 40.例文帳に追加

こうして、１次イオンビーム３２が照射されている領域のみからの２次イオン３６を質量分析計４０に入射させる。 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING NUCLEIC ACID BASE SEQUENCE BY USING TIME-OF-FLIGHT SECONDARY-ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

飛行時間型二次イオン質量分析を用いた核酸塩基配列の決定方法 - 特許庁

(xxxii) Mass spectrometers or ion sources usable for the analysis of nuclear fuel materials 例文帳に追加

（三十二）　核燃料物質の分析に用いられる質量分析計又はイオン源 - 日本法令外国語訳データベースシステム

3. Mass spectrometers possessing an ion source that ionizes by bombarding the materials under analysis with electrons 例文帳に追加

（三）　分析される物質に電子を衝突させてイオン化するイオン源を有するもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide an improved method for ion treatment in time-of-flight mass analysis.例文帳に追加

飛行時間質量分析においてイオンを処理する改良された方法を提供する。 - 特許庁

HIGHLY PRECISE DEPTH-DIRECTIONAL ANALYTICAL METHOD AND ANALYZER BY SECONDARY ION MASS SPECTROSCOPIC TECHNIQUE例文帳に追加

二次イオン質量分析技術による高精度な深さ方向分析法および分析装置 - 特許庁

BROAD RIBBON BEAM ION IMPLANTER ARCHITECTURE WITH HIGH MASS-ENERGY CAPABILITY例文帳に追加

高い質量エネルギー性能を備えた広幅リボン形ビーム用イオン注入装置の構造 - 特許庁

To provide a mass spectroscope with a multipole ion guide, having an ion transport system transporting ions from an ionizing part to a mass spectrometer part which can exclude unnecessary ions before they reach the mass spectrometer part, and transmits the ion necessary for analysis with high efficiency.例文帳に追加

イオン化部から質量分析部までイオンを輸送するイオン輸送系において、分析に必要なイオンを高効率に透過すると共に、不要なイオンを質量分析部に到達する前に排除可能な多重極イオンガイドを備えた質量分析装置を提供する。 - 特許庁

Thereby, a plurality of ion distribution image with different mass number can be obtained.例文帳に追加

これにより、質量数の異なる複数のイオン分布イメージを取得することができる。 - 特許庁

SAMPLING DEVICE EQUIPPED WITH A PLURALITY OF INLETS FOR ION SOURCES OF MASS SPECTROMETER例文帳に追加

質量分析計のイオン源用の複数の入口を備えている試料抽出装置 - 特許庁

ION SOURCE, MASS SPECTROMETER, CONTROL DEVICE, CONTROL METHOD, CONTROL PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

イオン源、質量分析装置、制御装置、制御方法、制御プログラムおよび記録媒体 - 特許庁

To realize a time-of-flight mass spectrometer having high ion throughput at low cost.例文帳に追加

低コストかつイオンのスループットが高い飛行時間型質量分析装置を実現する。 - 特許庁

ION DETECTOR AND QUADRUPOLE MASS SPECTROMETER EQUIPPED WITH THE SAME, AND FARADAY CUP例文帳に追加

イオン検出器及びこれを備えた四重極型質量分析計並びにファラデーカップ - 特許庁

This device is provided with an ionization chamber 101 for generating ion to be detected by adhering metal ion to adhesive gas from a gas to be detected introducing system 110 and a mass spectrometer chamber 104 including a mass spectrometer 131 for performing mass sorting for ion to be detected and the electron amplifier 132 for detecting ion to be detected.例文帳に追加

被検出ガス導入系１１０から付着性ガス等に金属イオンを付着させて被検出イオンを生成するイオン化室１０１と、被検出イオンを質量分別する質量分析器１３１と被検出イオンを検出する電子増倍管１３２を含む質量分析室１０４を備える。 - 特許庁

To carry out improvement to achieve high mass spectrometry by a small mass spectrometer relatively low in price, in relation to an ion cyclotron resonance mass spectrometer.例文帳に追加

イオンサイクロトロン共鳴質量分析計との関連で、高い質量分析を、小型で相対的に価格が低廉な質量分析計で達成するような改善を行う。 - 特許庁

This mass spectroscope includes: an opening for introducing a sample gas 58; an ion source for generating ions of the sample gas; and a mass spectrometer for analyzing mass of the generated ions.例文帳に追加

試料ガス５８が導入される開口部と、試料ガスのイオンを生成するイオン源と、生成されたイオンを質量分析する質量分析計とを有する。 - 特許庁

To provide a mass spectrometry device in which various ions are once collected and held in an ion holding part and then introduced into mass spectrometry part and peak resolution performance of the mass spectrum is improved.例文帳に追加

イオン保持部に一旦各種イオンを集積・保持した後に質量分析部へと導入する質量分析装置で、質量スペクトルのピークの分離性能を向上する。 - 特許庁

The ion produced in this way is taken out through an interface 4 and focused by an ion lens 6, and introduced into an ion-trap type mass analysis part 7.例文帳に追加

そのようにして生成されたイオンはインタ−フエ−ス４を介して取り出され、さらにイオンレンズ６によって収束されてイオントラップタイプの質量分析部７に導入される。 - 特許庁

With this, even if energy that ion with the identical number of mass has is deviated at leaving the ion source 1, the ion can be made to reach the detector 10 almost at the same time.例文帳に追加

それにより、イオン源１を出発する際に同一質量数のイオンが持つエネルギーがばらついても、検出器１０にほぼ同時に到達するようにできる。 - 特許庁

To provide an ion mass separation device which enhances transportation efficiency of an ion beam by neutralizing a space charge in a transportation space, and reduces costs for maintenance, an ion implanter, and also to provide a an ion mass separation method.例文帳に追加

輸送空間内の空間電荷を中和することによってイオンビームの輸送効率を向上させることができ、かつメンテナンスのコストを低減できるイオン質量分離装置、その装置を備えたイオン注入装置、及びイオン質量分離方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a time-of-flight secondary ion mass spectrometer using a gas cluster ion beam in which secondary ions with a high mass-number can be pulsed while holding the two-dimensional information of the irradiation surface.例文帳に追加

照射面の二次元情報を保持したまま高質量数の二次イオンをパルス化できるガスクラスターイオンビームを用いた飛行時間型二次イオン質量分析装置を提供する。 - 特許庁

Mass spectrometry is carried out by detecting an ion 9 released from each sample 3 by means of two-dimensional detectors 7, 8 via an ion lens 4, and mass spectra of a plurality of samples can be obtained at once.例文帳に追加

イオンレンズ４により各試料３から脱離するイオン９を２次元検出器７，８で検出、質量分析を行い、複数の試料の質量スペクトルを一括して得る。 - 特許庁

To solve the problem, where a means for precisely evaluating an impurity profile by a secondary ion mass spectrometry (SIMS) does not exist essentially since a spherical semiconductor causes a shape effect problem.例文帳に追加

球状半導体は形状効果が問題となる為、二次イオン質量分析法（Secondary ion mass spectrometry；ＳＩＭＳ）により不純物プロファイルを精度よく評価する手段は実質的に存在していない。 - 特許庁

By this, because mass analysis time of the ions accumulated in the linear ion trap is shortened, ion utilization rate is improved, and as a result, the detection sensitivity of the mass spectrometer is improved.例文帳に追加

これにより、リニアイオントラップに蓄積されたイオンの質量分析時間が短縮されるため、イオン利用率が向上し、その結果、質量分析装置の検出感度が向上する。 - 特許庁

To provide a mass separation type ion source realizing simplification of the structure of a mass separation part, extension of the service life, and improvement of the rate of hole area.例文帳に追加

質量分離部の構造の簡素化、長寿命化および開口率向上を図った質量分離型イオン源を提供する。 - 特許庁