「ion mass」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

A steel material B compound species specification method uses the resonance multiphoton ionization sputter neutral particle mass analysis method of ionizing neutral particles 5, sputtered with an active primary ion beam 2, with laser light and taking mass analysis of an ion species taken in a mass analyzer 7 through a lead electrode 6 for the steel material containing the B compound.例文帳に追加

Ｂ化合物を含有する鋼材に対して、不活性な一次イオンビーム２によってスパッタリングされた中性粒子５をレーザー光でイオン化し、引出電極６を介して質量分析計７に取り込まれたイオン種の質量分析をするスパッタ中性粒子質量分析法を利用する。 - 特許庁

This mass spectroscope is provided with a mass spectrometry mechanism for allowing a mass spectrometry on ionized detected gases, and is separately equipped with a first ion source 11 for attaching positive metal ions to ionize and a second ion source 17 for giving the impact of electrons to ionize.例文帳に追加

イオン化した被検出ガスを質量分析する質量分析機構を備える質量分析装置であり、正電荷の金属イオンを付着させてイオン化する第１イオン源１１と、電子を衝撃させてイオン化する第２イオン源１７の２つのイオン源を独立して備えている。 - 特許庁

In one embodiment, a tandem (MS/MS) mass spectrometric analytical method includes selection for a collision induction dissociation (CID) voltage amplitude and a q parameter value as to a quadrupole ion trap, so as to optimize a daughter ion fragmentation process with respect to a prescribed parent ion mass-to-charge (m/z) ratio.例文帳に追加

ある実施形態において、タンデム（ＭＳ／ＭＳ）質量分析方法は、所与の親イオン質量対電荷（ｍ／ｚ）比に対して娘イオン断片化プロセスを最適化するように、四重極イオントラップに関する衝突誘発解離（ＣＩＤ）電圧振幅およびｑパラメータ値を選択することを含む。 - 特許庁

To provide a plasma ion mass spectrometry device and method which enables introduction of sample ion to a mass spectrometer by maintaining plasma temperature high as well as preventing degradation of ion generation volume due to plasma temperature fall while carrying out shielding of electromagnetic wave from the surroundings of an apparatus or cooling it.例文帳に追加

機器周辺への電磁波の遮蔽、或いはその冷却をしながらプラズマの温度低下によるイオン生成量の低下を防止し、プラズマの温度を高温に維持して試料のイオンを質量分析計に導入することを可能としたプラズマイオン質量分析装置と分析方法を提供する。 - 特許庁

The ions to be irradiated are generated in the argon-ion sputtering ion source 2 and the ions thus generated are pulled out of the ion source 2 by the pullout electrodes 3 and then passed through the magnetic field of the electromagnet 4 for mass separation so that only ions of the same mass are taken out.例文帳に追加

照射されるイオンは、アルゴンイオンによるスパッタ式のイオン源２より発生させ、発生したイオンは引き出し電極３によりイオン源２から引き出され、その後質量分離用電磁石４の磁場を通過することにより、同一質量のイオンのみが取り出される。 - 特許庁

The hydrogen ion has a small mass and, therefore, the same is introduced into deep part while the mass of phosphorus is large whereby the same is brought into the state of being doped in the second interlayer insulating film 7.例文帳に追加

水素イオンは、質量が小さいので奥まで導入される一方、リンは、質量が大きいので、第２層間絶縁膜７中にドープされた状態となる。 - 特許庁

To provide an inexpensive high-frequency inductively-coupled plasma ion trap mass spectrometry device capable of restraining generation of low-mass region noise, and of a high-sensitivity quantitative analysis.例文帳に追加

安価でありながら、低質量領域ノイズの発生を抑制でき、高感度定量分析が可能な高周波誘導結合プラズマイオントラップ質量分析装置を実現する。 - 特許庁

The mass spectrometry data processing system displaying chromatograph mass spectrometry data displays chromatogram data expressing a change in ion strength with a valence specified.例文帳に追加

クロマトグラフ質量分析データを表示する質量分析データ処理システムにおいて、指定された価数を有するマススペクトルのイオン強度変化を表わすクロマトグラムデータを表示する。 - 特許庁

A part of residual ions is introduced into a reflectron type mass spectrometer 13, and the mass is analyzed with higher resolution than the position sensing type ion detector 11.例文帳に追加

他のイオンのうち一部は、リフレクトロン型質量分析器１３に導入されて、位置感知型イオン検出器１１よりも高い分解能で質量が分析される。 - 特許庁

A precursor ion is selected under a predetermined selection condition on a mass spectrum obtained by performing mass analysis of peptide and MS^2 analysis is executed (S1 to S3).例文帳に追加

ペプチドに対し質量分析を行って得られたマススペクトル上で、所定の選択条件に照らしてプリカーサイオンを選択しＭＳ^2分析を実行する（Ｓ１〜Ｓ３）。 - 特許庁

The parent ion passed the mass light filter 3 is fragmentized by a collision cell 4, and is discovered by an orthogonal type time of flight analyzer 5 to acquire daughter ion spectra.例文帳に追加

質量フィルタ３を通過した親イオンは、衝突セル４でフラグメント化され、娘イオンスペクトルを取得する直交型飛行時間分析器５により発見される。 - 特許庁

In the second-time analysis, when selecting parent ion, a peptide included in the protein candidate is removed from a selection target for the parent ion in peaks of MS mass spectrum.例文帳に追加

２回目の分析において、親イオンの選択を行うとき、MSマススペクトルのピークのうち、タンパク質候補に含まれるペプチドを親イオンの選択対象から除外する。 - 特許庁

To provide a stereoconvergence mass separator for medium current type ion-implantation apparatus, which can converge ion beams not only on a median plane, but also in a direction perpendicular to the median plane.例文帳に追加

メディアン面だけでなくメディアン面に垂直な方向にもイオンビームを収束できる中電流型イオン注入装置用の立体収束質量分離器を提供する。 - 特許庁

To realize an ion trap time-of-flight mass spectroscope of high sensitivity by appropriately controlling gas supply volume to an ion trap part and a multipolar part in accordance with purposes of analysis.例文帳に追加

分析の目的に応じてイオントラップ部、マルチポール部へのガス供給量を適正に制御し高感度なイオントラップ飛行時間型質量分析装置を実現する。 - 特許庁

Thereby, the target ion alone is left on the track with a high mass resolution, and a higher performance is realized with a function virtually equal to ion trapping.例文帳に追加

それによって高い質量分解能で以て目的イオンのみを軌道Ｐ上に残し、実質的にイオントラップと同様の機能で且つより一層高い性能を実現する。 - 特許庁

To obtain an ion trap mass spectrometer capable of improving analytical accuracy by efficiently transmitting heat to an ionized part and an ion trap electrode and by inactivating the surface.例文帳に追加

表面の不活性化と共に効率的にイオン化部及びイオントラップ電極に熱を伝え、分析精度の向上が可能なイオントラップ質量分析計を実現する。 - 特許庁

To provide an ion guide which can form an electric field close to an ideal condition by suppressing disturbance in the ion guide, and to provide a mass spectroscope equipped with the same.例文帳に追加

イオンガイド内の電場の乱れを抑え、理想状態に近い電場を形成することができるイオンガイド及びそれを備えた質量分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a negative ion generating material producible in a mass at low cost and capable of getting a desired negative potential without reducing the negative ion generation quantity.例文帳に追加

マイナスイオン発生量を減少することなく、しかも、所望のマイナス電位を得ることが可能であり、しかも安価で大量生産ができるマイナスイオン発生素材を提供する。 - 特許庁

To generate a mass spectrum of wide mass range and high precision that solves the problem of ion overtaking on a circulation orbit with less measurement frequencies as much as possible, relating to a multiple circulation time-of-flight mass spectrometer.例文帳に追加

多重周回飛行時間型質量分析装置において、極力少ない測定回数で周回軌道上でのイオンの追越しの問題を解消した広質量範囲で高精度のマススペクトルを作成する。 - 特許庁

The sagger for producing the positive electrode active material of the lithium ion battery contains 40-60 mass% of spinel, 20-40 mass% of cordierite and 0-40 mass% mullite.例文帳に追加

リチウムイオン電池の正極活物質を製造するための匣鉢は、スピネルを４０質量％〜６０質量％、コージライトを２０質量％〜４０質量％、及びムライトを０質量％〜４０質量％含有する。 - 特許庁

To provide a device and method for time-of-flight mass spectrometry capable of obtaining a high quality mass spectrum corresponding to the mass-to-charge ratio of a designated ion while reducing labor of a user.例文帳に追加

ユーザーの手間を軽減しながら、指定されたイオンの質量電荷比に応じた質の良いマススペクトルを得ることができる飛行時間質量分析装置及び飛行時間質量分析方法を提供すること。 - 特許庁

In this method using an analyzer formed by connecting a mass spectrometer to a chromatograph, a peak exceeding the number of separable peaks on one chromatogram is changed into an ion mass spectrum, and component separation is performed according to intensity of a mass number (m/z).例文帳に追加

クロマトグラフに質量分析装置を接続した分析装置を使用する方法で、一のクロマトグラム上で分離可能なピーク数を超えたピークをイオンマススペクトル化し、又マスナンバー（ｍ／ｚ）の強度により成分分離する。 - 特許庁

The base line of a low-mass region having a mass of 18 to 40 is formed into a table-like shape by noise in an ion trap mass spectrometry device, so that a high-sensitivity quantitative analysis of an element appearing in this region becomes difficult.例文帳に追加

イオントラップ質量分析装置では質量１８から４０の低質量領域のベースラインがノイズによりテーブル状となり、この領域に出現する元素の高感度定量分析が困難になる。 - 特許庁

To provide a mass-spectrometric system capable of predicting a mass chromatogram of a precursor ion, and capable of executing MS^n at timing of obtaining a favorable MS^n data with high probability, using one mass spectrograph.例文帳に追加

１台の質量分析装置を用いて、前駆イオンのマスクロマトグラムを予測し、良好なＭＳ^ｎデータを得られる可能性が高いタイミングでＭＳ^ｎを実行することができる質量分析システムを提供する。 - 特許庁

In an orthogonal acceleration type ion trap-coupled time-of-flight mass spectrometer, a unit for reducing speed distribution of ions emitted from an ion trap is installed, thereby, the mass-to-charge ratio range that can be analyzed at one time is expanded.例文帳に追加

直交加速型イオントラップ結合飛行時間型質量分析計において、イオントラップから射出されたイオンの速度分布を縮小する手段を設けることにより、一度に分析できる質量対電荷比範囲を拡大する。 - 特許庁

A zoom lens system 41 and a sextupole pole lens 42 are arranged between the mass spectrometer and a fixed ion detector 50, and a sextupole pole lens 43 is arranged between the ion source 10 and the mass dispersion system 30.例文帳に追加

また、質量分散系３０と、固定されたイオン検出器５０との間に、ズームレンズ系４１及び六重極レンズ４２が配置され、イオン源１０と質量分散系３０との間に六重極レンズ４３が配置される。 - 特許庁

Ions having mass/charge ratio of not more than cutoff value of the mass light filter 3 are identified as the daughter ions, and the candidate parent ion is subsequently discovered, and by acquiring corresponding daughter ion spectra, their identifications can be confirmed.例文帳に追加

質量フィルタ３のカットオフ値未満の質量／電荷比を持つイオンを、娘イオンとして同定し、次いで、候補親イオンを発見し、対応する娘イオンのスペクトルを取得することによりそれらの同定を確認することができる。 - 特許庁

By providing an orthogonal acceleration ion trap bonding time- of-flight mass spectrometer with a means of trimming down velocity distribution of ions injected from ion trap, a range of mass to charge ratio is enlarged.例文帳に追加

直交加速型イオントラップ結合飛行時間型質量分析計において、イオントラップから射出されたイオンの速度分布を縮小する手段を設けることにより、一度に分析できる質量対電荷比範囲を拡大する。 - 特許庁

To provide a multipole ion guide wherein, in an ion transport system which transports ions from an ionizing part to a mass spectrometer part, ions required for analysis are allowed to transmit at high efficiency while ions which are not needed are excluded before they reach the mass spectrometer part.例文帳に追加

イオン化部から質量分析部までイオンを輸送するイオン輸送系において、分析に必要なイオンを高効率に透過し、不要なイオンを質量分析部に到達する前に排除可能な多重極イオンガイドを実現する。 - 特許庁

An operation of the plasma torch 6 is stopped in the case of chemical morphologic analysis, the sample is soft-ionized by the sonic spray ion source 3 in the condition therein, and the generated ion is analyzed mass-spectrometrically by the mass spectrometer.例文帳に追加

化学形態別分析の場合は、誘導結合プラズマトーチ６の作動が停止され、その状態において、試料をソニックスプレイイオン源３によりソフトにイオン化することによって生成されたイオンを質量分析計で質量分析する。 - 特許庁

To provide a plasma processing device including a means for detecting an amount of an ion flux of plasma (plasma density) and a device state on a distribution of the amount of an ion flux of plasma, wherein the amount of an ion flux of plasma is related to a stability in mass production and a reduction in a performance difference among chambers or devices.例文帳に追加

量産安定性と機差低減に関わるプラズマのイオンフラックスの量（プラズマ密度）と、その分布に関する装置状態を検知する手段を備えたプラズマ処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for replacing an ion-exchange device capable of markedly reducing the mass of the pollutant getting mixed in the ion-exchange device or the connection part thereof from air during the replacement work of the ion-exchange device.例文帳に追加

イオン交換装置の交換作業中にイオン交換装置やその接続部等に空気中から混入する汚染物質量を著しく少なくすることができるイオン交換装置の交換方法を提供する。 - 特許庁

To prevent an ion beam, containing multiple types of ions generated in an ion source by discharge of an extraction electrode, from arriving at a target and ions having mass and energy, other than those of a desired ion, from being implanted in the target.例文帳に追加

引出電極の放電によりイオン源内で生成された複数種類のイオンを含むイオンビームがターゲットに到達して所望イオン以外の質量及びエネルギーをもったイオンがターゲットに注入されないようにする。 - 特許庁

When the distribution in the depth direction of the group V element in the group IV semiconductor is measured by an SIMS (secondary ion mass spectrometry) method, a primary ion species, a primary ion acceleration energy, and a primary ion incident angle are limited in the range for reducing profile shift and sensitivity dependency in the depth direction.例文帳に追加

ＳＩＭＳ法によりＩＶ族半導体中のＶ族元素の深さ方向分布を測定する際に、一次イオン種、一次イオン加速エネルギー、及び、一次イオン入射角度をプロファイルシフト及び深さ方向の感度依存性を少なくする範囲に限定する。 - 特許庁

While at least a part of the ion already caught stays in the ion trap 4, the application of the high-frequency voltage is restarted, and, the newly led ion is caught in addition to the past one to increase a volume of the ion accumulated for mass spectroscopy.例文帳に追加

それまでに捕捉していたイオンの少なくとも一部がイオントラップ４内に留まっている間に高周波電圧の印加を再開することで、それまでのイオンに加えて新たに導入したイオンを捕捉し、蓄積するイオンの量を増やして質量分析を行う。 - 特許庁

The ion beam device includes an ion beam source 110 for generating an ion beam 170 emitted along a first axis 142, an aperture unit adapted to shape the ion beam, and an achromatic deflection unit 162 adapted to deflect ions on the ion beam with a predetermined mass at a deflecting angle.例文帳に追加

イオンビーム装置は第１軸１４２に沿って放射されるイオンビーム１７０を発生させるためのイオンビーム源１１０と、イオンビームを整形するよう適合された開口ユニットと、所定の質量のイオンビームのイオンを偏向角でもって偏向するよう適合された収差補正型偏向ユニット１６２を含む。 - 特許庁

A method for measuring the ion implantion amount comprises the steps of selecting specific ion species by an ion beam from an ion source 1 by a mass analyzer 2, accelerating the beam by an accelerator 3 to become a prescribed implanting energy state, so as to arrive at a surface of a semiconductor base 11 in an end station 6, and thus ion implanting in the semiconductor base.例文帳に追加

イオンソース部１からのイオンビームが質量分析部２で特定のイオン種が選択され、そのイオンビームが加速部３で加速されて所定の注入エネルギーとなされた状態で、エンドステーション部６内の半導体基体１１の面上に到達することで、半導体基体へのイオン注入が行われる。 - 特許庁

To realize a time-of-flight mass spectrometer which can change the number of go-around times of ion for drawing a spiral orbit.例文帳に追加

らせん軌道を描くイオンの周回数を変更することができる飛行時間型質量分析計を実現する。 - 特許庁

The remaining neutral molecules which are not ionized are sent to the ion source on the mass spectrometry apparatus side by an extraction electrode 10.例文帳に追加

イオン化しなかった残留中性分子は引出電極１０により質量分析部側のイオン源に送られる。 - 特許庁

To provide a mass spectroscope capable of improving damages of a sample without lowering a secondary ion yield.例文帳に追加

二次イオン収率を低下させることなく試料の損傷を改善することができる質量分析器を提供する。 - 特許庁

To provide a laser ablation inductively coupled plasma mass spectroscope capable of reducing variations in ion intensity.例文帳に追加

イオン強度のばらつきを低減させることができるレーザアブレーション誘導結合プラズマ質量分析装置を提供する。 - 特許庁

Moreover, the ions discharged from the sample S is introduced into the ion trap 7 and placed for mass analysis without flection.例文帳に追加

また、サンプルＳから放出されたイオンは屈曲されることなくイオントラップ７に導入され質量分析に供される。 - 特許庁

The step (204) of determining whether an intrinsic m/z ion exists, is carried out from the result obtained by the tandem mass spectrometry.例文帳に追加

タンデム質量分析法で得られた結果から、固有のｍ／ｚのイオンが存在するか判定するステップ（２０４）を行う。 - 特許庁

The method comprises an analysis process by a TOP-SIMS (Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometer).例文帳に追加

ＴＯＦ−ＳＩＭＳ（飛行時間型二次イオン質量分析装置）による分析工程を有するトナーの製造方法。 - 特許庁

After the ion of wide mass range containing the isotope peak has been isolated, multiple ions perform crash induction dissociation at the same time.例文帳に追加

同位体ピークを含む広質量範囲のイオンを単離した後、複数のイオンを同時に衝突誘起解離を行う。 - 特許庁