「ion mass」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

ANALYZING METHOD OF MINUTE REGION BY SECONDARY ION MASS ANALYZING METHOD例文帳に追加

二次イオン質量分析法による微小領域の分析方法 - 特許庁

MASS SPECTROMETRY SYSTEM AND ITS CORRECTING METHOD FOR ION IMPLANTING DEVICE例文帳に追加

イオン注入装置用の質量分析システムとその校正方法 - 特許庁

ION SOURCE FOR TIME-OF-FLICHT MASS SPECTROMETER FOR GAS SAMPLE ANALYSIS例文帳に追加

ガスサンプル分析用の飛行時間型質量分析計用のイオン源 - 特許庁

METHOD AND TOOL FOR POSITIONING OF ION SOURCE FOR MASS SPECTROSCOPY例文帳に追加

質量分析装置用イオン源のカラム位置決め方法および治具 - 特許庁

A mass spectrometric section 30 passes the ion pulse discharged from the storage section 20 and selects a desired ion on the basis of a mass electric charge ratio.例文帳に追加

質量分析部３０は、蓄積部２０が排出するイオンパルスを通過させ、質量電荷比に基づいて所望のイオンを選択する。 - 特許庁

A required dose amount of ions is provided and a spot ion beam 112 is formed from an ion source 108 and undergoes a mass spectrometry by a mass spectrograph 126.例文帳に追加

イオンの所望ドーズ量が与えられ、スポットイオンビーム112がイオン源108から形成され、質量分析器126によって質量分析される。 - 特許庁

The ion implanting device is composed of an ion source 10, a mass-spectrometry magnet unit 22, a mass-spectrometry slit 28, and a beam scanner 36 or the like.例文帳に追加

イオン注入装置は、イオン源１０、質量分析磁石装置２２、質量分析スリット２８、ビームスキャナ３６等で構成される。 - 特許庁

An ion gas generated is introduced into a vacuum part 9 from an ion take-in part inlet 7 and mass-analyzed with a mass spectrometer.例文帳に追加

生成された気体状イオンはイオン取りこみ口７より真空部９へ導入され質量分析計で質量分離される。 - 特許庁

To provide a mass filter for focus ion beam device which selects a desired ion species from a plurality of ion sources with no color aberration.例文帳に追加

複数のイオン源から所望のイオン種を色収差なく選別する集束イオンビーム装置用の質量フィルタを提供する。 - 特許庁

The mass spectroscope constructed by non-axially combining an ion trap with a time-of-flight mass spectrometer comprises a mass filter 8 arranged between an ion source 1 and the ion trap 9, and a means independently controlling gas pressure inside the ion trap and that inside the mass filter, and the gas pressure inside the ion trap is set higher than that inside the mass filter.例文帳に追加

イオントラップと飛行時間型質量分析計とを非同軸に結合した質量分析装置であり、イオン源１とイオントラップ９の間に配置される質量フィルター８と、イオントラップ内部のガス圧と質量フィルターの内部のガス圧を独立に制御する手段とを有し、イオントラップの内部のガス圧が質量フィルターの内部のガス圧よりも高く設定される。 - 特許庁

When the mass of the ion conductive substance is made I (mg) and the mass of the positive electrode layer 5 is made P (mg), 0.05P<I<10P is satisfied.例文帳に追加

このイオン伝導性物質の質量をI（mg）、正極層5の質量をP（mg）としたとき、0.05P＜I＜10Pを満たす。 - 特許庁

The ion generated by the ionization hereinbefore is analyzed mass-spectrometrically by a mass spectrometer.例文帳に追加

そのようにしてイオン化されることにより生成されるイオンは質量分析計で質量分析される。 - 特許庁

MASS SEPARATION DEVICE, ION BEAM GENERATING DEVICE, FUNCTION ELEMENT, MANUFACTURING METHOD OF FUNCTION ELEMENT, AND ION BEAM GENERATION METHOD例文帳に追加

質量分離装置、イオンビーム発生装置、機能素子、機能素子の製造方法およびイオンビーム発生方法 - 特許庁

The ion is mass-analyzed in this place and detected by a detector.例文帳に追加

ここでイオンは質量分析され、検出器によって検出される。 - 特許庁

WIDE-BAND SIGNAL GENERATION METHOD FOR ION TRAP TYPE MASS SPECTROSCOPE例文帳に追加

イオントラップ型質量分析装置における広帯域信号生成方法 - 特許庁

METHOD FOR QUANTITATIVELY DETERMINING BRANCHED PARAFFIN, ION SOURCE, AND MASS SPECTROSCOPE例文帳に追加

分岐パラフィンの定量方法、並びにイオン源及び質量分析装置 - 特許庁

The second ion source is positioned between the first ion source and the mass spectrometry mechanism, and the detected gases are introduced into the first ion source.例文帳に追加

第１イオン源と質量分析機構の間に第２イオン源を位置させると共に、被検出ガスを第１イオン源に導入する。 - 特許庁

By using an ion source 1 enabling to form only the single atom ion as the ion source, a gas supply part 11 is provided between a first mass spectrograph 2 and a second mass spectrograph 5.例文帳に追加

イオン源として、単原子イオンの生成のみを可能とするイオン源１を用い、第１の質量分析器２と第２の質量分析器５との間にガス供給部１１を備える。 - 特許庁

The ion implantation apparatus of the present invention is a mass-spectrometry type ion implantation apparatus 1 which radiates a ribbon-shaped ion beam 3 on a glass substrate 7, and is provided with ion beam divergence means on a transportation route of the ion beam 3 from an ion source 2 to a mass spectrometry magnet 4.例文帳に追加

本発明のイオン注入装置は、リボン状のイオンビーム３をガラス基板７に照射する質量分析型のイオン注入装置１であって、さらに、イオン源２から質量分析マグネット４までのイオンビーム３の輸送経路にイオンビーム発散手段を備えている。 - 特許庁

To provide mass spectrometry equipped with a protection method of ion detector.例文帳に追加

イオン検出器の保護方法を備えている質量分析法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR ANALYSIS OF RNA BY TIME-OF-FLIGHT SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

飛行時間型二次イオン質量分析法によるＲＮＡの分析方法 - 特許庁

PREPARATION OF STANDARD SAMPLE FOR DETERMINATION FOR SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

二次イオン質量分析のための定量用標準試料の作製方法 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR SECONDARY ION MASS SPECTROSCOPE AND METHOD FOR REGULATING ITS POSITION例文帳に追加

２次イオン質量分析装置用試料ホルダ及びその位置調整方法 - 特許庁

To provide an ion source for a quadrupole mass spectrometer wherein ion generation efficiency is improved to improve sensitivity of the quadrupole mass spectrometer.例文帳に追加

四極子形質量分析計の感度を向上させるためにイオンの生成効率を向上させた四極子形質量分析計用イオン源を提供する。 - 特許庁

ION IMPLANTATION DEVICE, WAVEGUIDE AND MASS ANALYZER THEREFOR, AND METHOD OF DISTRIBUTING MICROWAVE OUTPUT TO MASS ANALYZER例文帳に追加

イオン注入装置、その導波管、質量分析装置及びこの装置にマイクロ波出力を配給する方法 - 特許庁

MASS NEGATIVE ION GENERATOR, STATIC ELIMINATION SYSTEM IN GENERATING NEGATIVE ION, AND METHOD OF REMOVING STRAY CURRENT例文帳に追加

大容量マイナスイオン発生装置及び発生にともなう静電気防止システム及び迷走電流除去方法。 - 特許庁

To provide a technique capable of restraining easily a change of a secondary ion intensity, in a secondary ion mass spectrometric analytical method.例文帳に追加

二次イオン質量分析法において、二次イオン強度の変化を簡便に抑制できる技術を提供する。 - 特許庁

To rapidly detect that a dose amount, an ion mass, an ion speed, etc., are deviated from a set condition.例文帳に追加

トーズ量、イオン質量、イオン速度等が設定条件からズレたことを迅速に検出できるようにする。 - 特許庁

To see to it that voltage impression at the time of accelerating ion beams and leading them to an ion mass separation device be stabilized.例文帳に追加

イオン質量分離装置にイオンビームを加速して導入する際の電圧印加を安定させるようにする。 - 特許庁

The M plasma parameters are selected from a group including wafer voltage, ion density, etch rate, wafer current, etch selectivity, ion energy, and ion mass.例文帳に追加

Ｍ個のプラズマパラメータはウェハ電圧、イオン密度、エッチング速度、ウェハ電流、エッチング選択性、イオンエネルギー及びイオン質量を含む群から選択される。 - 特許庁

The etching agent for copper or copper alloy is an aqueous solution containing 0.01-20 mass% cupric ion, 0.1-30 mass% organic acid, 0.01-20 mass% halogen ion, 0.001-2 mass% azole and 0.001-2 mass% polyalkylene glycol.例文帳に追加

本発明の銅又は銅合金のエッチング剤は、第二銅イオン０．０１〜２０質量％、有機酸０．１〜３０質量％、ハロゲンイオン０．０１〜２０質量％、アゾール０．００１〜２質量％及びポリアルキレングリコール０．００１〜２質量％を含有する水溶液である。 - 特許庁

In this mass spectrometry, a sample containing aminopyridine label sugar chain is MS-measured using an MALDI mass spectroscope, an ion (A) to/from which an ion X is added or desorbed in the sugar chain and an ion (B) having a mass number two larger than that of the ion (A) are obtained, and the ion (B) is used as a marker of the aminopyridine label sugar chain.例文帳に追加

アミノピリジン標識糖鎖を含む試料を、ＭＡＬＤＩ質量分析装置を用いてＭＳ測定し、糖鎖においてイオンＸが付加又は脱離したイオン（Ａ）と、イオン（Ａ）からみて質量数が２増加したイオン（Ｂ）とを得て、イオン（Ｂ）を、アミノピリジン標識糖鎖のマーカーとする、質量分析法。 - 特許庁

The packaged beverage contains 0.2-8 mass% of alginic acid having an average molecular weight of 10,000-900,000, a magnesium ion, and a potassium ion, wherein the mass ratio of the magnesium ion to the potassium ion (the ratio of Mg/K) is 0.01-0.11.例文帳に追加

重量平均分子量１０，０００〜９００，０００のアルギン酸を０．２〜８質量％、マグネシウムイオン及びカリウムイオンを含有し、マグネシウムイオンとカリウムイオンの含有質量比（Ｍｇ／Ｋ比）が０．０１〜０．１１である容器詰め飲料。 - 特許庁

Thereby, only the ions each having the mass number are captured within an ion trap 1.例文帳に追加

それにより、該質量数を有するイオンのみがイオントラップ１内に捕捉される。 - 特許庁

To save the labor for an identification work of an adduct ion peak appearing in a mass spectrum.例文帳に追加

マススペクトルに出現する付加イオンピークの同定作業を省力化する。 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING NUCLEIC ACID CHIP BY TIME-OF-FLIGHT SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

飛行時間型二次イオン質量分析法による核酸チップの分析方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING DEPTH-DIRECTION CONCENTRATION DISTRIBUTION OF SAMPLE THROUGH SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

二次イオン質量分析による試料の深さ方向濃度分布測定方法 - 特許庁

To easily adjust an ion beam even if disturbance is applied to a mass separator.例文帳に追加

質量分離機に外乱が加わっても、イオンビームの調整を容易に行う。 - 特許庁

DETERMINATION METHOD OF UNSEPARATED PEAK USING ION ATTACHMENT MASS SPECTROMETER (IAMS)例文帳に追加

イオン付着質量分析装置（ＩＡＭＳ）を用いた不分離ピークの定量方法 - 特許庁

To provide a mass spectrometry data analysis system, a mass spectrometry data analysis program, and a compound analysis system for precisely identifying a parent ion or estimating the structure of the parent ion by utilizing multistage dissociation mass spectrometry data (MS^n (n≥3) data), where no data are present on a database, when performing mass spectrometry by performing the multistage dissociation of the parent ion.例文帳に追加

本発明の目的は、親イオンを多段階解離して質量分析する際、データベースが存在しない多段階解離質量分析データ（ＭＳ^ｎ （ｎ≧３）データ）から推測される親イオン構造に対し、親イオン，解離イオンの構造を高精度に導出・表示する。 - 特許庁

To provide an ion trap mass spectrometry solving on narrowness of a mass range of a multi-revolution type and capable of measuring mass with a high mass resolution without wasting ion captured by an ion trap.例文帳に追加

本発明はイオントラップ型質量分析方法に関し、多重周回型の質量範囲の狭さを解決し、イオントラップで捕獲したイオンを無駄にすることなく高質量分解能で質量測定をすることができるイオントラップ型質量分析方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

In this tandem type analysis system, by ionizing an object to be measured and performing mass spectrometry on generated various ion species, ion species having a specific mass-to-charge ratio are selected from among the generated various ion species and dissociated, and ion mass spectrometry measurement is repeated at n-stages (n=1, 2, etc.).例文帳に追加

測定対象物質をイオン化し、生成した種々のイオン種を質量分析し、生成した種々のイオン種の中から特定の質量対電荷比を持つイオン種を選択して解離させ、イオンの質量分析測定をｎ段階（ｎ＝１，２，…）繰り返すタンデム型の分析システムである。 - 特許庁

To provide a mass spectroscope capable of nearly maximizing ion trapping efficiency, mass resolution, and CID efficiency simultaneously, constructed by non-axially combining an ion trap with a time-of-flight mass spectrometer.例文帳に追加

イオン捕捉効率、質量分解能、及び、ＣＩＤ効率を同時にほぼ最大にし得る、イオントラップと飛行時間型質量分析計を非同軸に結合した質量分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electromagnet for mass separation having an electromagnet, in which a sufficient mass separating function is displayed in response to a wide range of energy and ion mass, and to provide an ion injection device.例文帳に追加

広いエネルギー、及び、広いイオン質量の範囲に対応して十分な質量分離機能を発揮できる電磁石を備えた質量分離用電磁石とイオン注入装置を提供する。 - 特許庁

A mass-separating ion irradiation device 1a is composed of an argon-ion sputtering ion source 2, pullout electrodes 3, an electromagnet 4 for mass separation, an accelerator 5, a scanning electrode 6 and a base plate 7.例文帳に追加

質量分離型のイオン照射装置１ａは、アルゴンイオンによるスパッタ式のイオン源２、引き出し電極３、質量分離用電磁石４、加速管５、走査電極６、基板７から構成される。 - 特許庁