「ion mass」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

PLASMA ION SOURCE THREE-DIMENSIONAL QUADRUPOLE MASS SPECTROMETER例文帳に追加

プラズマイオン源３次元４重極型質量分析装置 - 特許庁

ASSEMBLY FOR COUPLING ION SOURCE TO MASS SPECTROMETER例文帳に追加

イオン源を質量分析装置に結合するためのアセンブリ— - 特許庁

SECTOR-TYPE SECONDARY ION MASS ANALYZING METHOD AND SAMPLE HOLDER例文帳に追加

セクタ型二次イオン質量分析方法及び試料ホルダ - 特許庁

MASS SPECTROSCOPE AND ION SOURCE USED FOR THE SAME例文帳に追加

質量分析装置及びそれに用いられるイオン源 - 特許庁

QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD IN SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

二次イオン質量分析法における定量分析方法 - 特許庁

IMPROVED USE METHOD OF ION TRAP MASS SPECTROMETER例文帳に追加

イオントラップ質量分析計の改良された使用方法 - 特許庁

METHOD FOR IONIZING SAMPLE, ION SOURCE AND MASS ANALYZING DEVICE例文帳に追加

試料イオン化方法、イオン源および質量分析装置 - 特許庁

FOCUSED ION-BEAM MASS SPECTROMETER AND ANALYSIS METHOD THEREOF例文帳に追加

集束イオンビーム質量分析装置および分析方法 - 特許庁

SURFACE ANALYSIS METHOD AND SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

表面分析方法および二次イオン質量分析法 - 特許庁

DEPTH CALIBRATION SAMPLE FOR SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY, PRODUCTION METHOD OF THE SAME AND SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

二次イオン質量分析法の深さ校正用試料、その製造方法及び二次イオン質量分析方法 - 特許庁

The mass spectrometer comprises an ion source 1 for generating ion, an ion trap part where ion is accumulated, a flight time type mass spectrometry part for mass spectrometry of ion based on flight time, and collision damping part disposed between the ion trap part and the flight time type mass spectrometry part.例文帳に追加

質量分析計は、イオンを生成するイオン源１、イオンを蓄積するイオントラップ部と、飛行時間によりイオンの質量分析を行なう飛行時間型質量分析部と、イオントラップ部と飛行時間型質量分析部との間に配置される衝突ダンピング部とを有する。 - 特許庁

MASS SPECTROMETER, AND METHOD FOR ATTACHING COLUMN TO ION SOURCE FOR MASS SPECTROMETER例文帳に追加

質量分析装置および質量分析装置用イオン源へのカラム取り付け方法 - 特許庁

REDUCING LENS SYSTEM FOR ION BEAM, ZOOMING DEVICE FOR ION BEAM, AND MASS SPECTROMETER例文帳に追加

イオンビーム用像縮小レンズ系、イオンビーム用ズーム装置、及び質量分析装置 - 特許庁

The mass spectrometry system includes a mass filter, mass filter control, an ion detector, and a controller equipped with an ion detector protective module.例文帳に追加

質量分析システムは、質量フィルタと、質量フィルタ制御と、イオン検出器と、イオン検出器保護モジュールを備えている制御器とを含む。 - 特許庁

ELECTRO-SPRAY ION SOURCE AND MASS SPECTROMETER EQUIPPED WITH IT例文帳に追加

エレクトロスプレイイオン源及びそれを備えた質量分析計 - 特許庁

The mass spectrometry means by the one-dimensional ion trap can trap the large number of ions.例文帳に追加

本発明で開示する１次元イオントラップを用いる。 - 特許庁

HIGH-FREQUENCY INDUCTIVELY-COUPLED PLASMA ION TRAP MASS SPECTROMETRY DEVICE例文帳に追加

高周波誘導結合プラズマイオントラップ質量分析装置 - 特許庁

GC/MS/MS METHOD USING ION TRAP MASS SPECTROMETER例文帳に追加

イオントラップ質量分析計を用いたＧＣ／ＭＳ／ＭＳ方法 - 特許庁

TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER FOR DETECTING ORTHOGONAL PULSE ION例文帳に追加

直交パルスイオンを検出する飛行時間質量分析計 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ION TRAP MASS SPECTROMETRY例文帳に追加

イオントラップ型質量分析方法及び質量分析装置 - 特許庁

ATMOSPHERIC PRESSURE ION SOURCE AND MASS SPECTROMETRY METHOD USING IT例文帳に追加

大気圧イオン源およびそれを用いた質量分析方法 - 特許庁

ION TRAP TYPE MASS-SPECTROGRAPHIC DEVICE AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加

イオントラップ形質量分析装置及びその制御方法 - 特許庁

CALIBRATION METHOD OF ANGLE OF INCLINATION OF SAMPLE STAGE IN SECONDARY ION MASS SPECTROMETER AND SECONDARY ION MASS SPECTROMETRIC METHOD例文帳に追加

二次イオン質量分析装置に於ける試料ステージの傾斜角度較正方法及び二次イオン質量分析方法 - 特許庁

A mass spectrometric system includes an ion optical system (100) and a housing (301) for the ion optical system.例文帳に追加

質量分析計システムはイオン光学系（100）及びイオン光学系用のハウジング（301）を含む。 - 特許庁

ION DETECTOR, MASS SPECTROMETER HAVING THE SAME, AND METHOD FOR OPERATING ION DETECTOR例文帳に追加

イオン検出器、イオン検出器を備える質量分析計、イオン検出器を操作する方法 - 特許庁

A mass spectrum of a patient as a measured sample is obtained, and a mass spectrum where a new ion other than the precursor ion of the reference sample selected from the former mass spectrum is set as a precursor ion is obtained ((g) to (k)).例文帳に追加

測定対象試料である患者のマススペクトルを得てこのマススペクトルから基準試料の前駆イオン以外の新たなイオンを前駆イオンとしてそのマススペクトルを取得する（（g）〜（k））。 - 特許庁

A mass spectrum of an able-bodied person as a reference sample is obtained, and a mass spectrum where an ion selected from the former mass spectrum is set as a precursor ion is obtained ((a) to (d)).例文帳に追加

基準試料である健常者のマススペクトルを得てこのマススペクトルから選出したイオンを前駆イオンとするマススペクトルを取得する（（a）〜（d））。 - 特許庁

In a mass spectrometry device having an ion source, an ion guide part, and an ion trap, ions and ions with reverse polarity trapped in the ion trap are introduced to the ion guide part while the ions are discharged from the ion trap at a mass-selective state.例文帳に追加

イオン源と、イオンガイドと、イオントラップとを有する質量分析装置において、イオントラップから質量選択的にイオンを排出している間に、イオンガイド部に、イオントラップにトラップされているイオンと逆極性のイオンを導入する。 - 特許庁

The ion supplied from the ion supply source 35 first enters the ion deflector 321 and then is sent to the ion trap type mass spectroscope 33 or the time of flight type mass spectroscope 34.例文帳に追加

イオン供給源３５から供給されるイオンはまずイオンデフレクタ３２１に入り、そこでイオントラップ型質量分析装置３３又は飛行時間型質量分析装置３４に送られる。 - 特許庁

The product ions are transferred to an ion trap for mass spectrometry.例文帳に追加

質量分析のために、生成イオンをイオントラップへと移送する。 - 特許庁

ISOTOPE-RATIO ANALYSIS USING PLASMA ION SOURCE MASS ANALYZER例文帳に追加

プラズマイオン源質量分析装置を用いた同位体比分析 - 特許庁

This secondary ion mass spectrometer includes this irradiation direction-variable ion irradiation device, a sample base, and a mass spectrograph.例文帳に追加

本二次イオン質量分析装置は、照射方向可変イオン照射装置と試料台と質量分析器とを含んでなる。 - 特許庁

SECONDARY ION MASS SPECTROSCOPY AND SEMICONDUCTOR WAFER ANALYSIS METHOD例文帳に追加

二次イオン質量分析法及び半導体ウェハの分析方法 - 特許庁

MASS SPECTROSCOPE AND ASSEMBLING METHOD OF ION TRANSPORTING OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

質量分析装置及びイオン輸送光学系の組立方法 - 特許庁

To provide a device for ion trap mass spectrometry capable of improving the sensitivity of MS^n analysis of an ion trap mass spectrometry device.例文帳に追加

イオントラップ質量分析装置のＭＳ^ｎ分析の感度を向上可能なイオントラップ質量分析装置を実現する。 - 特許庁

MALDI ION TRAP TYPE MASS SPECTROMETER AND SPECTROMETRY例文帳に追加

ＭＡＬＤＩイオントラップ型質量分析装置及び分析方法 - 特許庁

This ion detection system includes a mass analyzer 3.6 generating an ion beam along an ion beam longitudinal axis 3.2.例文帳に追加

イオン検出システムは、イオンビーム長手方向軸線３．２に沿ってイオンビームを生成する質量分析器３．６を含む。 - 特許庁

MASS SPECTROMETER EQUIPPED WITH MALDI ION SOURCE, AND SAMPLE PLATE FOR MALDI ION SOURCE例文帳に追加

ＭＡＬＤＩイオン源を備えた質量分析装置およびＭＡＬＤＩイオン源用サンプルプレート - 特許庁

To provide a mass spectrometer, an ion implantation apparatus, and an ion beam sealing method.例文帳に追加

質量分析装置、イオン注入装置、およびイオンビームの封じ込め方法を提供すること。 - 特許庁

The ion is extracted into a mass spectrograph 4 by an extraction power source 3 connected to the ion source 2.例文帳に追加

イオン源２に接続された引出し電源３により、質量分析器４にイオンを引出す。 - 特許庁

According to the GC/MS/MS method using an ion trap mass spectrometer, observed data of an ion mass distribution of product ions is compared with a theoretical value of the ion mass distribution of product ions, thereby identifying a chromato peak in a mass chromatogram.例文帳に追加

生成物イオンのイオン質量分布の観測データを、生成物イオンのイオン質量分布の理論値と比較することにより、質量クロマトグラム中のクロマトピークを同定する、イオントラップ質量分析計を用いたＧＣ／ＭＳ／ＭＳ方法。 - 特許庁

While an ion pulse containing the desired ion is passed through the mass spectrometric section 30, a control section 90 controls constant the mass electric charge ratio of the desired ion to be selected by the mass spectrometric section 30.例文帳に追加

制御部９０は、所望のイオンを含むイオンパルスが質量分析部３０を通過する間は、質量分析部３０が選択する所望のイオンの質量電荷比を一定に制御する。 - 特許庁

To provide a mass separation device for separating one or a plurality of ion species contained in an introduced ion beam by curving an orbit of an ion beam by magnetic field action depending on ion mass, capable of improving mass separation performance without decreasing an ion beam current amount.例文帳に追加

磁場作用によりイオンビームの軌道をイオン質量に応じて湾曲させ、導入イオンビームに含まれる一または複数種のイオン種を分離する質量分離装置において、イオンビーム電流量を低下させることなく質量分離性能を向上させる。 - 特許庁

In this ion implanter, an ion beam 11 from an ion source 1 is passed through a mass spectrometry part 3 and an As ion beam 4 and a P ion beam 5 are extracted to radiate on a semiconductor substrate 10 for performing the impurity ion-implantation.例文帳に追加

イオン源１からのイオンビーム１１を質量分析部３を経由させてＡｓイオンビーム４及びＰイオンビーム５を取出して半導体基板１０に照射し、不純物イオン注入を行う。 - 特許庁

To accumulate ion beams from a plurality of ion sources in an ion reservoir at the same time, emit them, and simultaneously, accurately measure the mass spectra of a plurality of ion beams.例文帳に追加

複数のイオン源からのイオンビームを同時にイオン溜に蓄積し、排出して、複数のイオンビームの質量スペクトルを同時に、且つ精度よく測定する。 - 特許庁