「ion mass」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

In another embodiment, while modulating an electromagnetic field added to a mass spectrometer 3, the ion implantation is carried out.例文帳に追加

別の態様では、質量分析装置３に加える電磁界を変調しながらイオン注入を行う。 - 特許庁

To provide a mass spectroscope capable of measuring two ion sources of different pressure levels by changeover.例文帳に追加

圧力レベルの異なる２つのイオン源を切り替えて測定できる質量分析装置を提供する。 - 特許庁

An ion species in a plasma under discharge is metered by a QMS20, a mass of the ion species is defined using a fact of H=1, C=12 from a metered current value, the mass is divided with a value in a condition in which a hydrogen flow ratio is zero and a pulse frequency is 20 kHz, and thereby the total mass ratio of the ion species is computed.例文帳に追加

ＱＭＳ２０により、放電中のプラズマにおけるイオン種を計測し、計測された電流値からＨ＝１、Ｃ＝１２という事実を用いてイオン種の質量と定義し、この質量を、水素流量比０、パルス周波数２０ｋＨｚという条件での値で除することでイオン種の総質量比として算出した。 - 特許庁

This ion adhesion mass spectrometry device is equipped with an ion emission body 18 to discharge metal ions of positive charge, an ionization chamber 11 to have the metal ions adhered to the detected gas, the third body gas introducing mechanism 51 to introduce the third body gas into the ionization chamber, and a mass spectrograph 30 to mass-separate and detect the detected gas to which the metal ion is adhered.例文帳に追加

正電荷の金属イオンを放出するイオン放出体１８と、被検出ガスに金属イオンを付着させるイオン化室１１と、イオン化室に第三体ガスを導入する第三体ガス導入機構５１と、金属イオンが付着した被検出ガスを質量分離・検出する質量分析器３０を備える。 - 特許庁

To provide a small-sized time of flight type secondary ion mass spectrometer which can surely measure so-called light element of not more than mass number 16.例文帳に追加

例えば質量数１６以下の所謂軽元素を確実に測定することができる小型飛行時間型二次イオン質量分析装置を提供すること。 - 特許庁

At this time, scanning axes of the mass spectrum are made same in a scale in relation to a mass number of the ion that is computed using a value of frequency of AC assistant voltage.例文帳に追加

その際、マススペクトルの走査軸を、ＡＣ補助電圧の周波数の値を用いて算出したイオンの質量数に関して同一スケールにする。 - 特許庁

To provide an improved mass spectrometer that achieves an efficient transfer of ions from an atmospheric pressure ion source of the mass spectrometer to a vacuum stage.例文帳に追加

質量分析計の大気圧イオン源から真空ステージへのイオンの効率的な移送を実現する、改良された質量分析計を提供する。 - 特許庁

The ion implanting device includes a magnetic analyzer for selecting ions with specific mass-to-charge ratios to pass through a mass slit to be projected to a substrate.例文帳に追加

イオン注入装置は質量スリットを通って基板に描出するため特定の質量対電荷を有するイオンを選択するマグネット分析機を含む。 - 特許庁

A mass spectrum analyzer wherein a specimen introduced from a chromatograph is ionized and mass analysis is executed by using an ion trap capable of capturing ions is used.例文帳に追加

クロマトグラフ装置から導入された試料をイオン化し、イオンを捕捉可能なイオントラップにより質量分析を行う質量分析装置が使用される。 - 特許庁

To provide an ion implantation device, a waveguide and a mass analyzer therefor, and a method of distributing microwave output to a beam guide of the mass analyzer.例文帳に追加

イオン注入装置、その導波管、質量分析装置及びこの装置のビームガイドにマイクロ波出力を配給する方法を提供すること。 - 特許庁

To restrain reduction of signal strength of a mass spectrometer/spectrum of the mass spectrometer so that a primary fragment ion generated with photodissociation is secondarily dissociated.例文帳に追加

光解離により発生した１次フラグメントイオンがさらに２次的に解離してしまうことでＭＳ／ＭＳスペクトルの信号強度が低下することを抑制する。 - 特許庁

Thus, because a space charge in the ion guide 17 is not affected by large amounts of low-mass ions, the efficiency of transporting high- mass ions is enhanced.例文帳に追加

これにより、イオンガイド１７内の空間電荷が多量の低質量イオンによる影響を受けないので、高質量イオンの輸送効率が向上する。 - 特許庁

At the time of MS^n analysis, the ions are trapped in the ion trap once, and the ions discharged after mass separation by the ion trap are detected by the second detection part 31.例文帳に追加

ＭＳ^ｎ分析の際にはイオントラップに一旦イオンを捕捉し、イオントラップで質量分離して吐き出したイオンを第２検出部３１で検出する。 - 特許庁

To provide a low-cost quadrupole mass spectrometer so arranged that an ion can be guided from an ion source to a quadrupole section efficiently.例文帳に追加

イオン源から四重極離部へとイオンを効率よく導くことができるようにした低コストの四重極型質量分析計を提供する。 - 特許庁

Coils 1, 2 are coaxially provided against an ion beam line 3 between a mass separator 11 of impurity ion and a semiconductor substrate 12 to be doped.例文帳に追加

不純物イオンの質量分離機１１とドーピングされる半導体基板１２との間にコイル１、２をイオンビームライン３に対して同心的に設ける。 - 特許庁

To provide an ion trap mass spectroscope device that can perform a higher sensitive measurement by introducing into an ion trap as many ions as possible.例文帳に追加

より多くのイオンをイオントラップに導入することにより、より感度の高い測定を行うことを可能としたイオントラップ型質量分析装置を提供する。 - 特許庁

The ion transfer device for transporting ions between a high pressure region and a low pressure region of a mass-spectrometer includes an ion transfer conduit 60.例文帳に追加

質量分析計の圧力の高い領域と低い領域との間でイオンを輸送するためのイオン移送装置は、イオン移送導管６０を含んでいる。 - 特許庁

To provide a mass spectrometer capable of performing ECD (Electron Capture Dissociation) and ETD (Electron Transfer Dissociation) in a state of high ion energy to improve ion dissociation efficiency.例文帳に追加

イオンのエネルギーが高い状態でＥＣＤやＥＴＤを行うことができ、イオンの解離効率を向上させた質量分析装置を提供する。 - 特許庁

The CPU 1 monitors a He gas inflow of the ion trap part 12, and controls the mass flow controller 4 so that the ion trap part 12 be at an optimum pressure.例文帳に追加

ＣＰＵ１はイオントラップ部１２のＨｅガス流入量をモニタしイオントラップ部１２が最適圧力となるようにマスコントローラ４を制御する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a fluorine ion exchange membrane, excellent in productivity for mass production, by effectively preventing wrinkles caused by swelling of the fluorine ion exchange resin when hydrolyzing it from being produced.例文帳に追加

加水分解時の膨潤に伴う皺等の発生を効果的に防止し、大量生産性に優れたフッ素系イオン交換膜の製造方法の提供。 - 特許庁

To provide a time-of-flight mass spectrometer without lowering the resolving power even if the ion of sample gas separated at a gas chromatograph device is introduced in an ion reservoir.例文帳に追加

ガスクロマトクラフ装置で分離された試料ガスのイオンをイオン溜に導入しても、分解能が低下しない飛行時間型質量分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device of an ion adhesion mass spectrometry wherein generation of an interference peak is prevented and wherein the accurate mass spectrometric analysis can be carried out in case a detected gas is ionized by ion adhesion and the mass spectrometric analysis of the detected gas is carried out.例文帳に追加

イオン付着により被検出ガスをイオン化し当該被検出ガスの質量分析を行う場合において、干渉ピークの発生を防止し、正確な質量分析を行うことのできるイオン付着質量分析の方法および装置を提供する。 - 特許庁

The measured value of a first ion current value corresponding to the mass charge ratio of the specific gas is corrected using the measured value of a second ion current value corresponding to the mass change ratio wherein the peak of an ion current value does not appears to calculate the actual partial pressure of the specific gas.例文帳に追加

特定ガスの質量電荷比に対応する第一イオン電流値の測定値を、イオン電流値のピークが出現しない質量電荷比に対応する第二イオン電流値の測定値を用いて補正することにより、特定ガスの現実の分圧を求める。 - 特許庁

Application voltages on a solvent removing tube 18, a first ion lens 19 and a second ion lens 20 for optimizing the ion passing efficiency are searched relative to each mass number by analyzing preliminary a reference sample including components having different mass numbers.例文帳に追加

異なる質量数を持つ成分を含有する標準試料を予備的に分析することにより、イオンの通過効率が最適となるような、脱溶媒管１８、第１イオンレンズ１９及び第２イオンレンズ２０への印加電圧を各質量数に対し調べる。 - 特許庁

To provide a mass spectrometer wherein a liquid sample is ionized, and a mass-charge ratio of generated ion is analyzed, which is a mass spectrometer capable of improving ionization efficiency, and performing highly sensitive analysis.例文帳に追加

液体試料をイオン化し、発生したイオンの質量電荷比を分析する質量分析装置であり、イオン化効率を向上させ、高感度な分析が可能な質量分析装置を提供すること。 - 特許庁

To suppress a diffusion phenomenon of a metal element induced by oxygen ion beam irradiation as primary ion used for analysis, concerning a depth direction analysis method of the metal element and a secondary ion mass spectrometer.例文帳に追加

金属元素の深さ方向分析方法及び二次イオン質量分析装置に関し、分析に用いる一次イオンとしての酸素イオンビーム照射に誘起される金属元素の拡散現象を抑制する。 - 特許庁

To provide a simple ion trap of small size and low cost which can operate in low vacuum, and to provide a technology for mass spectrometry and ion mobility analysis using the ion trap, with no degradation in measurement precision.例文帳に追加

低真空での動作が可能であり、小型、安価、簡便なイオントラップを提供し、それを用いて計測精度を低下させることなく質量分析、イオンモビリティ分析を行う技術を提供する。 - 特許庁

The time-of-flight mass spectrometer 1 provides a drift region 2, an ion packet generator 6, first and second ion reflectors 18, 19, and at least one ion detector 20.例文帳に追加

ドリフト領域２と、イオンパケット発生器６と、第１および第２のイオン反射器１８および１９と、少なくとも１つのイオンの検出器２０とを有した飛行時間型質量分析器１を開示する。 - 特許庁

A characteristic control means for each ion beam is provided in the running path of the plurality of the impurity ion types of the ion beams 4 and 5 emitted from the emission part of the mass spectrometry part 3.例文帳に追加

質量分析部３の出射部から出射せしめられた複数の不純物イオン種のイオンビーム４，５の走行経路中に、当該イオンビームのための特性制御手段が配置されている。 - 特許庁

To provide a method of secondary ion mass analysis allowing accurate analysis to be performed by eliminating the effect of impurities deposited on the periphery of a device even in secondary ion mass analysis in which various specimens are dealt with.例文帳に追加

多様な試料を扱う二次イオン質量分析においても、装置周囲に付着した不純物の影響を排除し、精度のよい分析を行うことができる二次イオン質量分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a mass spectrometer equipped with a MALDI (Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization) ion source capable of performing easily individual management of a sample plate and mass calibration based on distortion information of the sample plate, and the sample plate for the MALDI ion source.例文帳に追加

サンプルプレートの個別管理や、サンプルプレートのゆがみ情報に基づく質量較正を容易に行なうことのできるMALDIイオン源を備えた質量分析装置およびMALDIイオン源用サンプルプレートを提供する。 - 特許庁

To provide an ion deposition mass spectrograph capable of inhibiting an occurrence of a variation of a potential difference between an ion discharging body and a standard voltage impressing portion and stabilizing an iron discharging amount and conducting a high precision mass spectrometry.例文帳に追加

イオン放出体と基準電圧印加部の間の電位差の変動の発生を抑制し、イオン放出量を安定化させ、精度の高い質量分析を行えるイオン付着質量分析装置を提供する。 - 特許庁

An ion trap(IT) type mass spectroscope 33 on one hand and a time of flight(TOF) type mass spectroscope on the other hand are arranged so as to be placed on a straight line with an ion deflector 321 interposed in between.例文帳に追加

イオンデフレクタ３２１を挟んで、一方にはイオントラップ型（ＩＴ）質量分析装置３３を、他方には飛行時間型（ＴＯＦ）質量分析装置３４を、これらが１直線上に並ぶように配置する。 - 特許庁

A high mass sample ion is removed which is generated when a sample gas is ionized by electronic ionization, or a low mass sample ion is removed when an electronic ionization experiment is carried out in the presence of the sample gas.例文帳に追加

試料ガスが電子衝突イオン化によりイオン化されるとき形成される高い質量のサンプルイオンを、あるいは試料ガスの存在下で電子衝突イオン化実験を行うとき低い質量の試料イオンを除去する。 - 特許庁

A first secondary ion intensity of ion having a mass number roughly equal to that of the measuring object element and a second secondary ion intensity of molecular ion which is an isotope of the interfering ion relative to the measuring object element are measured, and thereafter correlation between the second secondary ion intensity and an isotope abundance of the molecular ion is obtained, and then a third secondary ion intensity of the interfering ion is calculated by using the correlation.例文帳に追加

測定対象元素を含む試料を用いて、測定対象元素と略等しい質量数を有するイオンの第１の二次イオン強度と、測定対象元素に対する妨害イオンの同位体となる分子イオンの第２の二次イオン強度とを測定した後、第２の二次イオン強度と分子イオンの同位体存在比との相関関係を求め、その後、該相関関係を用いて、妨害イオンの第３の二次イオン強度を算出する。 - 特許庁

In the liquid chromatograph mass analyzer having an atmospheric pressure ion source including the ESI ion source or APCI ion source placed in an atmospheric pressure system and the mass analyzing part placed in a high vacuum system to analyze ions supplied from the atmospheric pressure ion source, an EI ion source for converting an unionized neutral molecule selected from the ions to ions before the unionized neutral molecule is supplied to the mass analyzing part.例文帳に追加

本発明は、大気圧系に置かれるＥＳＩイオン源またはＡＰＣＩイオン源を含む大気圧イオン源と、高真空系に置かれ、前記大気圧イオン源から供給されるイオンを分析する質量分析部を有する液体クロマトグラフ質量分析計において、前記イオン中から選別した未イオン化の中性分子を前記質量分析部に供給する前にイオンに転化させるＥＩイオン源を前記高真空系に備えたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a secondary ion mass analyzing method capable of analyzing a very small amt. of a component in a minute region.例文帳に追加

微小領域において微量成分の分析を可能にする二次イオン質量分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device capable of removing interference ion easily even in the case of a low-resolution mass spectrometer.例文帳に追加

低分解能の質量分析装置であっても、容易に干渉イオンを除外可能な装置を提供する。 - 特許庁

To provide a mass spectroscope having an ion source part capable of generating positive ions and negative ions with high efficiency.例文帳に追加

高い効率で正イオン及び負イオンを生成できるイオン源部を有する質量分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ion trapping type mass spectroscope which is equipped with a means for easily identifying a ghost peak.例文帳に追加

ゴーストピークを容易に識別することができる手段を備えたイオントラップ型質量分析装置を提供する。 - 特許庁

spectroscope for obtaining a mass spectrum by deflecting ions into a thin slit and measuring the ion current with an electrometer 例文帳に追加

イオンを偏向させ薄い割れ目に入れて、電位計でイオン電流を測定することでスペクトルを得る分光器 - 日本語WordNet

METHOD FOR ANALYZING NUCLEIC ACID HYBRIDIZED PRODUCT BY FLIGHT TIME TYPE SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY METHOD USING HALOGEN LABEL例文帳に追加

ハロゲン標識による飛行時間型二次イオン質量分析法を用いた核酸ハイブリッド体の分析方法 - 特許庁

The fluorine ion content in the electrolyte is 10-1290 mass ppm.例文帳に追加

電解液中におけるフッ素イオンの含有量は、１０質量ｐｐｍ以上１２９０質量ｐｐｍ以下である。 - 特許庁

Further, it is preferable to employ a secondary ion mass analysis or a Rutherford backward scattering analysis as the destruction and analysis.例文帳に追加

また、破壊分析として、二次イオン質量分析又はラザフォード後方散乱分析を用いるのが好ましい。 - 特許庁

To provide a lithium ion capacitor which is excellent in mass producing performance and is easy to preliminarily store lithium ions in a negative electrode thereof.例文帳に追加

量産性に優れ予め負極にリチウムイオンを吸蔵させることが容易なリチウムイオンキャパシタを提供する。 - 特許庁