「ion mass」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

The cause of the noise drives from water ions due to an ion-molecule reaction between Ar ions and water molecules trapped in an ion trap space, the water ions produced during mass sweep are released from the ion trap and detected regardless of mass of sweep and generate noise on a mass spectrum.例文帳に追加

ノイズの原因はイオントラップ空間内にトラップされたＡｒイオンと水分子とのイオン分子反応による水イオンに由来し質量掃引中に生成した水イオンが掃引の質量に無関係にイオントラップから放出され検出され、マススペクトル上にノイズとなる。 - 特許庁

As the time difference depends on the mass number of a noticed ion, the number of circling (namely, the range of mass number) of the circling orbit A related to the noticed ion is determined from the difference of the flight time at two times of mass analyses, and an accurate mass number is calculated depending on the time-of-flight after narrowing the range of the mass number.例文帳に追加

その時間差は着目しているイオンの質量数に依存するから、２回の質量分析における飛行時間差からそのイオンについての周回軌道Ａの周回数（つまりは質量数範囲）を判断し、質量数範囲を絞った上で飛行時間に応じて正確な質量数を算出する。 - 特許庁

To provide a lithium ion capacitor which has superior mass-productivity, an electrode plate for the lithium ion capacitor which is easy to handle, and a method of manufacturing the same.例文帳に追加

量産性に優れたリチウムイオンキャパシタおよび取り扱いやすいリチウムイオンキャパシタ用極板とその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ion implantation method using an ion implantation device which performs only one time mass spectrometry in which energy contamination is reduced.例文帳に追加

１回のみの質量分析を行なうイオン注入装置を用いたイオン注入方法において、エネルギーコンタミネーションを低減する。 - 特許庁

To provide a mass spectrometer that reduces a relatively high electric charge state in an ETD product ion or an ETD fragment ion.例文帳に追加

ＥＴＤプロダクトイオンまたはＥＴＤフラグメントイオンが有する比較的高い電荷状態を低減する質量分析計を提供する。 - 特許庁

To enhance analytic sensitivity by improving the residual efficiency of ion while ensuring high mass resolution in selecting specific ion.例文帳に追加

特定イオンの選別を行う際に、高い質量分解能を確保しつつイオンの残留効率を改善して分析感度を高める。 - 特許庁

Using this timing, ion can be drawn from an ion trap 1, thus aligning initial energies to prevent mass peak from being shifted.例文帳に追加

従って、そのタイミングでイオントラップ１からイオンを引き出すことにより、初期エネルギーを揃えて質量ピークのシフトを回避することができる。 - 特許庁

The ratio of the rosary-like silica to the ion exchange resin (rosary-like silica/ion exchange resin) is 1-50 mass % to one degree or another for example.例文帳に追加

前記イオン交換樹脂と前記数珠状シリカの比（数珠状シリカ／イオン交換樹脂）は、例えば１〜５０質量％程度である。 - 特許庁

The mass to charge ratio of the parent ion which fragmented to produce the particular species of fragment ion can then be determined from the times of flight of the fragment ions.例文帳に追加

分解して、特定の種のフラグメントイオンを生じる親イオンの質量電荷比は、フラグメントイオンの飛行時間から決定する。 - 特許庁

When the peak of a sample molecule is detected by a UV detector 5 and a mass spectrum is not obtained by the data processing of a mass spectrograph even if the sweeping of mass dispersion is made, voltage is changed from the introduction of a positive ion to that of a negative ion.例文帳に追加

ＵＶ検出器に試料分子のピークが検出されて、質量分散の掃引を行っても質量分析計のデータ処理でマススペクトルが得られない時に、正のイオン導入から負のイオン導入電圧に変える。 - 特許庁

Since both mass spectroscope devices are on a straight line, after once ion is sent to the ion trap type mass spectroscope 33, it can be sent to the time of flight type mass spectroscope 34 for further analysis.例文帳に追加

また、両質量分析装置３３、３４は１直線上にあるため、一旦イオントラップ型質量分析装置３３にイオンを送った後、そこから飛行時間型質量分析装置３４に送って分析を行うことも可能である。 - 特許庁

By implanting operation of an ion beam, an amount of wear of the ion beam current detecting plate is integrated in an integrating circuit 11 from ion beam current amount converted into a parameter signal in an arithmetic circuit 9, time when the ion beam current detecting plate receives the ion beam, an accelerating voltage value of the ion beam and an atomic mass number of ion.例文帳に追加

イオンビーム１の注入動作により、演算回路にてパラメータ信号に変換したイオンビーム電流量、イオンビーム電流検出板２がイオンビーム１を受けた時間、イオンビーム１の加速電圧値およびイオンの質量数から、積算回路１１にてイオンビーム電流検出板２の削れ量を積算する。 - 特許庁

The tandem time-of-flight mass spectrometer comprises a pulsated ion generator, a timing control ion selector communicated with the pulsated ion generator, an ion fragment apparatus communicated with an ion selector, and an analyzer communicated with a fragmentation chamber.例文帳に追加

本発明に従って、パルス化イオン発生器と、パルス化イオン発生器と連絡するタイミング制御イオンセレクタと、イオンセレクタと連絡するイオンフラグメント器と、フラグメンテーションチャンバと連絡する分析器とを有する、タンデム飛行時間型質量分析計を提供する。 - 特許庁

To provide a time-of-flight type mass spectrometer for tandem mass spectrometry, utilizing advantages of an orbital time-of-flight type mass spectroscope, eliminating the upper limit of a parent ion mass range, providing high resolution in ion selection, and not abandoning the ions other than parent ions initially selected.例文帳に追加

周回型飛行時間型質量分析計の利点を生かし、親イオンの質量範囲に上限がなく、イオン選別の分解能が高く、しかも、最初に選択された親イオン以外のイオンを捨てることなく、タンデム質量分析を行なうことのできる飛行時間型質量分析計を提供する。 - 特許庁

The ion species having different mass-to-charge ratios from each other are separated according to a difference in a displacement amount.例文帳に追加

質量電荷比が互いに異なるイオン種は、変位量の違いによって分離される。 - 特許庁

Hereby, an ion yield of a time-of-flight mass spectrometer is improved and a resolution is raised.例文帳に追加

これにより、飛行時間型質量分析計のイオン収率が向上し、分解能が高くなる。 - 特許庁

The photocatalyst contains 70 mass% or more of the copper ion-modified titanium oxide.例文帳に追加

さらに、当該銅イオン修飾酸化チタンを７０質量％以上含む光触媒である。 - 特許庁

MEANS FOR REDUCING FORMATION OR REFORMATION OF UNWANTED MOLECULE ION, AND MASS SPECTROMETER例文帳に追加

不要な分子イオンの形成または再形成を減少させる方法および原子質量分析装置 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a lithium ion secondary battery suitable for mass production.例文帳に追加

大量生産に適したリチウムイオン二次電池の作製方法を提供することを課題の一とする。 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING PROBES CARRIER USING TIME-OF-FLIGHT SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY WITH HALOGEN LABELING例文帳に追加

ハロゲン標識による飛行時間型二次イオン質量分析法を用いたプローブ担体の分析方法 - 特許庁

DETERMINATION OF CHEMISTRY EXPERIMENTAL FORMULA ON UNKNOWN CHEMICAL COMPOUND USING ACCURATE ION MASS MEASUREMENTS OF ALL ISOTOPES例文帳に追加

全同位体の正確なイオン質量測定値を用いた未知化合物の化学実験式の決定 - 特許庁

To provide a wide aperture Wien E×B mass filter for use in a focused ion beam system.例文帳に追加

集束イオンビームシステムで使用するための大開口のウィーンＥ×Ｂ質量フィルタを提供する。 - 特許庁

To provide a mass spectrometer capable of detecting ion with high resolution and high sensitivity.例文帳に追加

質量分析装置において高分解能かつ高感度でのイオン検出を可能にすること。 - 特許庁

To permit quantitative analysis in a method and a device for ion attached mass spectrometry.例文帳に追加

イオン付着質量分析の方法および装置において定量分析を行うことを可能する。 - 特許庁

In this mass spectrometer including a continuous ion source 12 and an ion accumulator 13, a first data processing part 17 acquires a time appearance profile including an ion pulse discharged periodically from the ion accumulator 13.例文帳に追加

連続イオン源１２とイオン蓄積器１３を備える質量分析装置において、第１データ処理部１７は、イオン蓄積器１３から周期的に排出されたイオンパルスを含む時間的出現プロファイルを取得する。 - 特許庁

The alginic acid-containing acidic milk beverage includes components (A) 0.3-8 mass% of the alginic acid, (B) 0.01-1 mass% of high-methoxy pectin and (C) 0.06-2 mass% of potassium ion.例文帳に追加

次の成分（Ａ）、（Ｂ）及び（Ｃ）、（Ａ）アルギン酸 ０．３〜８質量％（Ｂ）ハイメトキシペクチン ０．０１〜１質量％（Ｃ）カリウムイオン ０．０６〜２質量％を含有する酸性乳飲料。 - 特許庁

To improve measurement accuracy in measuring the concentration of impurities by facilitating the setting of the mass of secondary ions to be detected when performing high-mass resolution measurement in secondary ion mass spectrometry.例文帳に追加

二次イオン質量分析法で高質量分解能測定を行う際に、検出する二次イオンの質量設定を容易化し、不純物濃度測定の測定精度を向上させる。 - 特許庁

Ions are transported to the MCP (detector) 8 efficiently, thus achieving the ion trap time-of-flight mass spectroscope for obtaining high-sensitivity mass spectra.例文帳に追加

イオンを効率的に、ＭＣＰ（検出器）８へ輸送し、高感度なマススペクトルが得られるイオントラップ飛行時間型質量分析装置を実現する。 - 特許庁

To provide a plasma ion source mass spectrometer with an ion deflector lens having an improved removal ratio of photons and neutral particles as compared with the prior art while an ion transmittance is maintained.例文帳に追加

イオン透過率を維持しつつ、光子および中性粒子の除去率が従来に比べて向上したイオン偏向レンズを備えるプラズマイオン源質量分析装置の提供 - 特許庁

The sensitivity of a secondary ion mass spectrometer (SIMS) is increased by using steam in order to raise yield of a positive secondary ion to be sputtered by a primary convergence ion beam.例文帳に追加

二次イオン質量分析計（ＳＩＭＳ）の感度は、一次集束イオンビームによってスパッタリングされる正の二次イオンの収量を高めるために水蒸気を使用することで増加される。 - 特許庁

As a result, the ion beam cannot pass through the mass spectrometry slit 28 and the ion beam does not reach a wafer 58 and the ion beam not satisfying the condition is not irradiated on the wafer.例文帳に追加

その結果、イオンビームは質量分析スリット２８を通過できなくなるので、イオンビームはウェハ５８に到達せず、条件を満たさないイオンビームがウェハに照射されることは無い。 - 特許庁

In this method of ion attachment mass spectrometry, the substance to be measured is introduced into an ion source 22 having a metallic ion discharge mechanism, metallic ions of positive charges discharged from the metal ion discharge mechanism are made to adhere to a measured substance, the substance is finally extracted as positive ions, and then the mass spectrometry is performed by the mass spectroscope.例文帳に追加

このイオン付着質量分析方法は、被測定物質を金属イオン放出機構を有するイオン源２２に導入し、金属イオン放出機構から放出された正電荷の金属イオンを被測定物質に付着させてイオン化し、被測定物質を最終的に正のイオンとして取り出し、その後に質量分析装置２１により質量分析を行う。 - 特許庁

An electrically charged ion mirror 4 is put inside an ionization mechanism 1 including an ion source 2, so that sample ions are sent to a mass spectrometry part 30.例文帳に追加

イオン源２を含むイオン化機構１内に電荷を掛けたイオンミラー４を設け、試料イオンを質量分析部３０に送るようにする。 - 特許庁

To provide a time of flight mass spectrometer in which a deflection phenomenon of ion beam in an ion storage can be improved or relaxed.例文帳に追加

イオン溜内におけるイオンビームの偏向現象を、改善ないし緩和することのできる飛行時間型質量分析装置を提供する。 - 特許庁

To prevent an impurity ion different in at least one of the mass number and energy from an objective ion from being implanted in a target.例文帳に追加

目的のイオンとは質量数およびエネルギーの内の少なくとも一方が異なる不純物イオンがターゲットに注入されることを防止する。 - 特許庁

A desired mass of ion is guided to the direction same to the beam axis, passing the incident ion through the route curved reverse-directionally by the first and second magnetic fields, using the mass separation filter.例文帳に追加

質量分離フィルタによって、入射するイオンを第１、第２磁石の磁界により逆向きに湾曲した経路を通じて所望の質量のイオンをビーム軸と同方向に導くことができる。 - 特許庁

To provide an orthogonal acceleration time-of-flight mass spectroscope capable of preventing an ion-extruding plate or the like constituting an ion reservoir from taking a charge and avoiding deterioration of resolution and sensitivity of mass spectrum.例文帳に追加

イオン溜を構成するイオン押し出しプレートなどが帯電することを未然に防止し、マススペクトルの分解能や感度が低下するのを回避することができるＯＡ−ＴＯＦＭＳを提供する。 - 特許庁

To provide an ionizing method for mass spectrometry and a mass spectrometer, suppressing the contact of a ample gas with a metal ion emitter, preventing the contamination of the metal ion emitter, and stably conducting the mass spectrometry for a long time.例文帳に追加

試料ガスが金属イオン放出体に接触することを抑制して当該金属イオン放出体の汚染を防ぎ、長期的かつ安定的に質量分析を行える質量分析のイオン化方法および質量分析装置を提供する。 - 特許庁

The ion implanting device 101 comprises an ion source 11 which generates and extracts ion beam IB, a mass spectrometer 12 having a magnet, an ion beam convergence part such as an electrostatic lens and Q lens (four-pole lens), and an ion beam emittance measuring mechanism 15 between the ion source 11 and the mass spectrometer 121, preferably at the rear stage of the electrostatic lens 141.例文帳に追加

イオン注入装置１０１は、イオンビームＩＢを発生、引き出すイオン源１１、マグネット（電磁石）を有する質量分析器１２、イオンビームを加速する加速器１３、静電レンズ、Ｑレンズ（４極レンズ）等のビーム収束部１４、そして、イオン源１１と質量分析器１２１の間、好ましくは静電レンズ１４１の後段にイオンビームエミッタンス測定機構１５が設けられる。 - 特許庁

The semiconductive resin composition contains 50-98.9 mass% of a polyvinylidene fluoride resin, 0.5-20 mass% of an amorphous polyester resin, 0.5-20 mass% of a pigment, and 0.1-10 mass% of an ion conductive agent.例文帳に追加

ポリフッ化ビニリデン系樹脂５０〜９８．９質量％、非晶性ポリエステル樹脂０．５〜２０質量％、顔料０．５〜２０質量％、及びイオン性導電剤０．１〜１０質量％を含有する半導電性樹脂組成物。 - 特許庁

Along the center axis C orthogonal to a sample plate 3 surface, an ion transportation optical system such as ion lenses 5, 6, an ion trap 7, and a mass separation/detection part such as a detection part 9 are arranged, and an ion optical axis matches the center axis C.例文帳に追加

サンプルプレート３表面に直交する中心軸Ｃに沿って、イオンレンズ５、６などのイオン輸送光学系、イオントラップ７、検出部９などの質量分離・検出部を配置し、イオン光軸と中心軸Ｃとを一致させる。 - 特許庁

Because the ratio of ions of a kind included in an ion beam 31 can be determined, the simulation of ion distribution in the implantation depth direction can be performed, when a shower-type ion implantation device 5 for executing ion implantation without carrying out the mass spectrometry analysis is used.例文帳に追加

イオンビーム３１中のイオン種の割合が分かるので、質量分析せずにイオン注入を行うシャワー型イオン注入装置５を用いた場合に、注入深さ方向のイオン分布のシミュレーションを行えるようになる。 - 特許庁

To provide an ion source of an ion adhesion mass spectroscope which can perform analysis with a high accuracy by suppressing the occurrence of variation in the potential difference between an ion emitter and a reference- voltage impression part and stabilizing the amount of ion emissions.例文帳に追加

イオン放出体と基準電圧印加部の間の電位差の変動の発生を抑制し、イオン放出量を安定化させ、精度の高い質量分析を行えるイオン付着質量分析装置のイオン源を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for mass spectrometry by an internal ionization ion trap analyzable with high sensitivity by eliminating ion formed in a mass quantity, from a space between ion trap electrodes, and preferentially capturing negative ion formed only in a trace quantity in ionizing a sample or reagent gas in the ion trap by electron impact ionization(EI) or the like.例文帳に追加

イオントラップ内で、試料あるいは試薬ガスを電子衝撃イオン化（ＥＩ）等によりイオン化する際に、大量に生成されるイオンをイオントラップ電極間空間から排除し、極微量にしか生成されない負イオンを優先的に捕捉し、高感度に分析可能な、内部イオン化型のイオントラップによる質量分析法ならびにその装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ion trap time-of-flight mass spectroscope of high sensitivity.例文帳に追加

本発明は、高感度なイオントラップ飛行時間型質量分析装置を提供することを目的とする。 - 特許庁