例文 (901件) |
P concentrationの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 901件
The P-type second low-concentration diffusion region 9 has a lower P-type impurity concentration than the P-type low-concentration diffusion region 7.例文帳に追加
P型第2低濃度拡散領域9はP型低濃度拡散領域7よりも薄いP型不純物濃度をもつ。 - 特許庁
At such time, the P-containing aqueous solution has a P concentration of 0.001-2 g/L and a temperature in a range of 30-60°C.例文帳に追加
この時、Pを含有する水溶液のP濃度は0.001〜2g/Lであり、温度は30〜60℃の範囲である。 - 特許庁
The first p-type layer contacts the p-side electrode and contains a p-type impurity at a first concentration.例文帳に追加
第1p形層はp側電極に接し第1濃度でp形不純物を含む。 - 特許庁
The p-type dopant concentration N_P1 of the first p-type embedded layer 15 is lower than the p-type dopant concentration N_P2 of the second p-type embedded layer 19.例文帳に追加
第1のp型埋込層15のp型ドーパント濃度N_P1は第2のp型埋込層19のp型ドーパントの濃度N_P2より低い。 - 特許庁
Relating to a silicon carbide trench MOSFET, a semiconductor device has both a region of low p-body width concentration and narrow width, and a region of high p-body concentration and wide width.例文帳に追加
炭化珪素トレンチMOSFETにおいて、pボディ幅濃度が低く幅が狭い領域とpボディ濃度が高く幅が広い領域を併せ持つ半導体装置とする。 - 特許庁
The third p-type layer is provided between the first p-type layer and the second p-type layer and contains the p-type impurity at a third concentration lower than the second concentration.例文帳に追加
第3p形層は第1p形層と第2p形層との間に設けられ、第2濃度よりも低い第3濃度でp形不純物を含む。 - 特許庁
METHOD FOR CONTROLLING WASTE LIQUID CONCENTRATION OF TREATING LIQUID CONTAINING P例文帳に追加
Pを含有する処理液の廃液濃度制御方法 - 特許庁
The hydrogen concentration in the Na is decreased by cleanup, and a hydrogen concentration peak P is formed.例文帳に追加
クリンナップによりNaの水素濃度が低下し、水素濃度ピークPを形成する。 - 特許庁
The impurity concentration of a (p) type anode layer 50 of the diode element region J2 is lower than the impurity concentration of a (p) type body layer 30 of the IGBT element region J1.例文帳に追加
また、ダイオード素子領域J2のp型のアノード層50の不純物濃度が、IGBT素子領域J1のp型のボディ層30の不純物濃度と比較して低い。 - 特許庁
In the p-type clad layer 25 or p-type buried region 13, the concentration of the p-type dopant of the second part is lower than the concentration of the p-type dopant of the first part.例文帳に追加
p型クラッド層25及びp型埋め込み領域13の一方において、第2部分のp型ドーパントの濃度が第1部分のp型ドーパントの濃度より低い。 - 特許庁
Furthermore, the p-type dopant concentration of a p-type Al_ZGa_1-ZN layer 21 is prescribed, independently of the p-type dopant concentration N_P19 of a p-type AL_YGA_1-YN layer 19.例文帳に追加
また、p型Al_ZGa_1−ZN層21のp型ドーパント濃度がp型Al_YGa_1−YN層19のp型ドーパント濃度N_P19はと独立して規定される。 - 特許庁
A P-type low-concentration anode region 12 is formed on a P-type semiconductor substrate 2.例文帳に追加
P型の低濃度アノード領域12は、P型半導体基板2に形成される。 - 特許庁
The fourth p-type layer is provided between the second p-type layer and the third p-type layer, and the concentration of the p-type impurity gradually decreases from the second concentration to the third concentration along the direction toward the p-type semiconductor layer from the n-type semiconductor layer.例文帳に追加
第4p形層は第2p形層と第3p形層との間に設けられ、p形不純物の濃度はn形半導体層からp形半導体層への方向に沿って第2濃度から第3濃度に漸減する。 - 特許庁
After a p-type high-concentration semiconductor layer 21 is grown, the heat treatment 25 of the p-type high-concentration semiconductor layer 21 is carried out.例文帳に追加
p型高濃度半導体層21を成長した後に、p型高濃度半導体層21の熱処理25を行う。 - 特許庁
EVALUATION METHOD FOR METAL IMPURITY CONCENTRATION OF P-TYPE SILICON WAFER例文帳に追加
P型シリコンウェーハの金属不純物濃度評価方法 - 特許庁
The P^+ layer is a high concentration layer with an impurity concentration of boron around 1×10^20/cc.例文帳に追加
P^+層はボロンの不純物濃度が1×10^20/cc程度の高濃度層である。 - 特許庁
The p-type semiconductor layer 7 is formed into a p-type semiconductor having a first concentration.例文帳に追加
p型半導体層7は、第1の濃度を有するp型半導体に形成されている。 - 特許庁
The concentration of the primary p-type impurity concentration distribution at the pn junction is higher than that of the secondary p-type impurity concentration distribution at the pn junction.例文帳に追加
第1のp型不純物濃度分布のpn接合部での濃度は第2のp型不純物濃度分布のpn接合部での濃度よりも高い。 - 特許庁
A semiconductor device has a P-type second low-concentration diffusion region 9 between a P-type low-concentration diffusion region 7 and an N-type low-concentration diffusion region 11.例文帳に追加
P型低濃度拡散領域7とN型低濃度拡散領域11の間にP型第2低濃度拡散領域9を備えている。 - 特許庁
A concentration of a p-type impurity of the second partial region 44 is higher than a concentration of a p-type impurity of the first partial region 42.例文帳に追加
第2部分領域42のp型不純物の濃度は、第1部分領域44のp型不純物濃度よりも濃い。 - 特許庁
P type dopants are executed so that the peak position of the concentration of the P type dopants becomes deeper than the peak position of the concentration of the N type dopants.例文帳に追加
P型ドーパントの濃度のピーク位置がN型ドーパントの濃度のピーク位置よりも深くなるようにP型ドーパントを施す。 - 特許庁
To provide a phosphor-balanced condition estimating method excellent in accuracy by using variables such as the phosphor concentration (Rhm-P) and the final target P (R-P-aim) in a charged molten pig iron as explanatory variables.例文帳に追加
装入溶銑中のりん濃度 (Rhm-P)、終点目標P (R-P-aim)などの変数を説明変数として用いて、精度のよいりん平衡状態の推定方法を提供する。 - 特許庁
The impurity concentration of the P-type region 7a is higher than that of the P-type well 2, and that of the P-type region 4 is higher than it.例文帳に追加
P型領域7aはP型ウェル2より不純物濃度が高く、P型領域4はそれよりも更に高い。 - 特許庁
The impurity concentration of the low-concentration impurity region 36 is lower than that of the P well 2.例文帳に追加
低濃度不純物領域36の不純物濃度はPウェル2の不純物濃度よりも低い。 - 特許庁
The source and drain regions 31 include a p-type low concentration impurity region 29 contain relatively low impurity concentration of the first conductivity type and a p-type high concentration impurity region 30 containing relatively high p-type impurity concentration.例文帳に追加
ソースおよびドレイン領域31は、相対的に第1導電型の不純物濃度が小さいp型低濃度不純物領域29と、相対的にp型不純物濃度が大きいp型高濃度不純物領域30とを含む。 - 特許庁
The P-type first drain region 16 has a P-type impurity concentration higher than those of the P-type second drain region 6 and the P-type third drain region 10.例文帳に追加
P型第1ドレイン領域16はP型第2ドレイン領域6及びP型第3ドレイン領域10よりも濃いP型不純物濃度をもっている。 - 特許庁
Within the p^- diffusion region 5, a plurality of p diffusion regions 20 containing p-type impurities are formed, which have high concentration as compared with the p^- diffusion region 5.例文帳に追加
p^-拡散領域5内には、このp^-拡散領域5よりも高濃度のp型の不純物を含むp拡散領域20が複数個形成される。 - 特許庁
An n-type low concentration diffusion layer 9 is formed in facing to the p-type low concentration diffusion layer 7 and the p-type high concentration diffusion layer 8 through the n-type epitaxial layer 5.例文帳に追加
n型低濃度拡散層9は、n型エピタキシャル層5を介してp型低濃度拡散層7及びp型高濃度拡散層8と対向して形成される。 - 特許庁
The concentration ratio (Noxg/Npd) of the p-type dopant concentration (Npd) and the oxygen concentration (Noxg) of the first p-type gallium nitride-based semiconductor layer 21 is 1/10 or less.例文帳に追加
第1のp型窒化ガリウム系半導体層21のp型ドーパント濃度Npdと酸素濃度Noxgとの濃度比(Noxg/Npd)が1/10以下である。 - 特許庁
The second p-type layer contacts the light-emitting part, between the first p-type layer and the light-emitting part, contains Al, and contains the p-type impurity at a second concentration lower than the first concentration.例文帳に追加
第2p形層は第1p形層と発光部との間において発光部に接し、Alを含み第1濃度よりも低い第2濃度でp形不純物を含む。 - 特許庁
Concentration of p-type impurity included in the region 21 is about 1.5 to 2.5 times the concentration of the p-type impurity included in the region 22.例文帳に追加
領域21に含まれるP型の不純物の濃度は、領域22に含まれるP型の不純物の濃度の1.5〜2.5倍である。 - 特許庁
Further, as the one for correcting the P concentration in the solder, P having a concentration with which it perfectly dissolves in Sn at about 250°C is comprised.例文帳に追加
また、本はんだのP濃度補正用として、250℃程度においてSn中に完全に溶解する濃度のPを含有させる。 - 特許庁
The impurity concentration of the p+-type impurity region 33 is higher than the impurity concentration of the p-type well 29, and the p+-type impurity region 33 is formed shallower than that in the p-type well 29.例文帳に追加
p^+型不純物領域33の不純物濃度はp型ウェル29の不純物濃度よりも高く、また、p^+型不純物領域33はp型ウェル29よりも浅く形成されている。 - 特許庁
The impurity concentration of the p^+-type impurity region 33 is higher than the impurity concentration of the p-type well 29, and the depth of the p^+-type impurity region 33 is shallower than the depth of the p-type well 29.例文帳に追加
p^+型不純物領域33の不純物濃度はp型ウェル29の不純物濃度よりも高く、また、p^+型不純物領域33はp型ウェル29よりも浅く形成されている。 - 特許庁
To improve carrier concentration of a p-type semiconductor layer much more than a conventional case and to promote p-type activation of the p-type semiconductor layer.例文帳に追加
p型半導体層のキャリヤー濃度を従来よりも高めて、p型半導体層のp型活性化を促進させること。 - 特許庁
The p-type semiconductor layer is provided between the p-side contact layer and the light-emitting layer and includes a p-type layer with a p-type impurity concentration lower than that of the p-type contact layer.例文帳に追加
p形半導体層は、p側コンタクト層と発光層との間に設けられ、p形不純物濃度がp形コンタクト層のp形不純物濃度よりも低いp形層を含む。 - 特許庁
In the bottom portion of the P-base layer 6, P+-base layer of a high-concentration impurity down protruding portion is not formed.例文帳に追加
Pベース層6の底部には、高不純物濃度の下方突起部であるP^+ベース層が形成されない。 - 特許庁
The impurity concentration of the p-type connection layer 13B is smaller than that of the p-type embedded layer 13A.例文帳に追加
p−型接続層13Bの不純物濃度はp型埋め込み層13Aのそれより小さい。 - 特許庁
The concentration distribution of p-type impurity remaining active in the p^+ region 12 is almost fixed.例文帳に追加
ただし、P+領域12におけるP型不純物のうち活性なものの濃度分布がほぼ一定である。 - 特許庁
The second impurity concentration that the p type diffusion area 21 has is lower than the first impurity concentration that the p+ type diffusion region 5 has.例文帳に追加
p型拡散領域21の有する第2の不純物濃度は、p+型拡散領域5の有する第1の不純物濃度よりも低い。 - 特許庁
The p-well 60 located under the output is formed with the concentration of the p-type impurity higher than the p-well 10 in the other area.例文帳に追加
出力部の下に配置されたPウェル60は、他の領域のPウェル10よりP型不純物の濃度が高く形成される。 - 特許庁
A P^+ region halo-P, with which a P^- type impurity is introduced with high concentration, is provided in contact with the source/drain region except for the N^- region 171 of a low concentration extension region, namely, to the lower part of the N^+ region 172.例文帳に追加
低濃度エクステンション領域のN^-領域171を除いたソース/ドレイン領域、つまりN^+領域172下部に接触するように、P型の不純物が高濃度に導入されたP^+領域Halo-Pが設けられている。 - 特許庁
An endogenous glucose metabolized product (G-6-P) affecting the measurement is removed by using glucose-6-phosphate dehydrogenase (G6PDH) in low concentration, and 2-deoxyglucose-6-phosphate (2DG-6-P) of a metabolized product of the 2DG is treated with high-concentration G6PDH.例文帳に追加
この測定に影響する内因性のグルコース代謝産物(G-6-P)を低濃度のグルコース-6-リン酸デヒドロゲナーゼ(G6PDH)を用いて除去し、2DGの代謝物である2-デオキシグルコース-6-リン酸(2DG-6-P)を高濃度のG6PDHにより処理する。 - 特許庁
In the p-type shallow well region 123, a p-type layer 127 having small impurity concentration and a p-type layer 125 having dense impurity concentration are formed successively from the surface side.例文帳に追加
P型の浅いウェル領域123内には、表面側から順に、P型の不純物濃度の薄い層127と、P型の不純物濃度の濃い層125とが形成されている。 - 特許庁
Then, a P-type impurity having a middle concentration is ion-implanted to the P-type region 11 with the field oxide film 12 as an implantation mask for forming a P-type region 15 having an intermediate impurity concentration.例文帳に追加
次に、フィールド酸化膜12を注入マスクとして、P型領域11に中濃度のP型不純物をイオン注入し、中不純物濃度のP型領域15を形成する。 - 特許庁
A p-type layer 27 having a lower impurity concentration than a substrate p+ layer 26 using a high concentration p-type semiconductor substrate (e.g. silicon substrate) is formed on the substrate p+ layer 26 with n-type photoelectric conversion regions 14 provided at upper portions of the p-type layer 27.例文帳に追加
高濃度のP型の半導体基板(例えばシリコン基板)である基板P^+層26上に、基板P^+層26よりも不純物濃度が低いP型層27を形成し、P型層27の上側位置にN型光電変換領域14を設ける。 - 特許庁
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