例文 (516件) |
collector regionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 516件
In diffusion layers respectively constituting a collector region 4, an emitter region 4, and a base region 5, two or more rows of high- concentration diffusion layers (9, 10, and 11) are formed in the transversal directions of the diffusion layers.例文帳に追加
コレクタ領域3、エミッタ領域4、ベース領域5を構成する拡散層には、拡散層の短手方向に2列以上の高濃度の拡散層9、10、11が形成されている。 - 特許庁
The anti-diffusion region 22 is provided to have a thickness not smaller than a diffusion distance of the P type impurity from the collector region 11 toward the buffer region 12 in an element formation process.例文帳に追加
拡散防止領域22は、素子形成プロセスにおいてコレクタ領域11からバッファ領域12側へP型不純物が拡散する距離以上の厚みで設けられている。 - 特許庁
On a p-type semiconductor substrate 1, an n-type impurity embedded region 2 that becomes a collector region, an n-type epitaxial layer 3, and an element separation region 4 using an insulating film are formed.例文帳に追加
p型半導体基板1上にコレクタ領域となるn型不純物埋込み領域2と、n型エピタキシャル層3と、絶縁膜を用いた素子分離領域4を形成する。 - 特許庁
Neither a fuel-supply region nor an oxygen-supply region exists inside the main faces of the fuel electrode 12 and the oxygen electrode 14 connected to the fuel electrode-side collector 11 and the oxygen electrode-side collector 15.例文帳に追加
燃料極側集電体11、酸素極側集電体15にそれぞれ接続された燃料電極12、酸素電極14の主要面内には、燃料供給領域、酸素供給領域は存在しない。 - 特許庁
To provide a semiconductor device and its manufacturing method which can prevent the occurrence of a leakage failure between base-collector caused, by etching to a sub-collector region penetrating an external base layer, a trench isolation region (STI) in the etching of via hole on the external base layer.例文帳に追加
外部ベース層上のヴィアホールのエッチングにおいて外部ベース層、トレンチ分離領域(STI)を突き抜けてサブコレクタ領域までエッチングしてしまい、ベース・コレクタ間リーク不良が発生することを防止する。 - 特許庁
When an applied voltage between the collector electrode and the emitter and base electrode rises, a current flows through the PN junction composed of a collector region and a part of the base region of the elctrostatic discharge damage before the internal circuit.例文帳に追加
コレクタ電極とエミッタ及びベース電極間の印加電位が上昇したとき、内部回路より先に、静電破壊保護素子のコレクタ領域とベース領域の一部とで構成されるPN接合に電流が流れる。 - 特許庁
Each of the sense region 5, the emitter region 3, the portion of the base region 2 which adjoins the sense region 5, and the portion of the base region 2 which adjoins the emitter region 3 has a width in the second direction set up so that a sense ratio will exhibit a desirous change corresponding to a change of collector current.例文帳に追加
センス比がコレクタ電流の変化に対応して所望の変化を生じるように、第2の方向におけるセンス領域5、エミッタ領域3、センス領域5に隣接する部分のベース領域2、及びエミッタ領域3に隣接する部分のベース領域2のそれぞれの幅が設定されている。 - 特許庁
The n-type base region (2) has a recombination region (21) formed between the p-type base region (3) and a collector electrode (8), and the recombination region (21) acquires minority carriers accumulated around the recombination region (21) within the n-type base region (2) and improves the recovery property of the diode.例文帳に追加
N型ベース領域(2)は、P型ベース領域(3)とコレクタ電極(8)との間に形成された再結合領域(21)を備え、再結合領域(21)は、N型ベース領域(2)内で再結合領域(21)の周辺に蓄積された少数キャリアを捕獲し、ダイオードのリカバリー特性を改善する。 - 特許庁
A base region 3 consisting of a p-type region is formed in an n-type semiconductor layer 2 which is epitaxially grown on an n+-type semiconductor substrate 1 e.g. made into a collector region, and an emitter region 4 consisting of an n-type region is formed in the base region 3.例文帳に追加
コレクタ領域とするたとえばn^+形半導体基板1上にエピタキシャル成長されたn形半導体層2にp形領域からなるベース領域3が設けられ、そのベース領域3内にn形領域からなるエミッタ領域4が形成されている。 - 特許庁
More specifically, the structure of the bipolar transistor has an emitter region 4 formed on an N^+ type buried layer 3 in the element region, a base region 6 formed in the surface layer of the emitter region 4, and a collector region 7 formed in the surface layer of the base region 6.例文帳に追加
すなわち、そのバイポーラトランジスタを素子領域にてN^+型埋め込み層3の上に形成されたエミッタ領域4と、エミッタ領域4の表層内部に形成されたベース領域6と、ベース領域6の表層内部に形成されたコレクタ領域7とを有する構造とする。 - 特許庁
A base region 4 has a first region 4a and a second region 4b each having a Ge composition ratio continuously reducing from an emitter region 9 to a collector region 3, and a reduction rate of the Ge composition ratio in the first region 4a is smaller than that in the second region 4b.例文帳に追加
ベース領域4は、エミッタ領域9からコレクタ領域3に向かい、Ge組成比が連続的に減少する第1の領域4aと第2の領域4bを有し、第1の領域4aにおけるGe組成比の減少率が、第2の領域4bにおけるGe組成比の減少率よりも小さくなっている。 - 特許庁
In the high-voltage semiconductor device (horizontal IGBT), an N-type drift region 104 and a P-type body region 105 are formed in an SOI layer 103, an N-type emitter region 106 is formed in the body region 105, and an N-type buffer region 115 and a P-type collector region 116 are formed in the drift region 104.例文帳に追加
高耐圧半導体装置(横型IGBT)において、SOI層103内にN型ドリフト領域104、P型ボディ領域105が形成され、ボディ領域内105内にN型エミッタ領域106、ドリフト領域104内にN型バッファ領域115とP型コレクタ領域116が形成される。 - 特許庁
Thus, the occurrence of punch through in the PNP transistor 50 is suppressed, a carrier passing route in the collector region is shortened and collector resistance can be reduced.例文帳に追加
このため、PNPトランジスタ50におけるパンチスルーの発生が抑えられるとともに、コレクタ領域内のキャリア通過経路を短くしてコレクタ抵抗の低減を図ることができる。 - 特許庁
The trench 120 elongates from the backside of a p-type collector layer 32 toward the surface side thereof and passes the surface of the p-type collector layer 32 to intrude into a base region 110.例文帳に追加
トレンチ120は、p型コレクタ層32の裏面から表面側に向けて伸び、p型コレクタ層32の表面を通過してベース領域110に侵入している。 - 特許庁
In the same apparatus for growing the following regions, parts of a sub-collector layer and collector layer stacked on a substrate 1 are removed to form a collector region 6, part of a buffer layer 2 is made to expose, and a buried region consisting of InAlAs is made to grow.例文帳に追加
同一の成長装置内で、基板1上に積層したサブコレクタ層およびコレクタ層の一部をエッチングにより除去してコレクタ領域6を形成するとともに、バッファ層2の一部を露出させ、その露出部分にInAlAsからなる埋め込み領域を成長させる。 - 特許庁
Adhesion between the negative electrode current collector 22 and the negative electrode active material layer 23 is enhanced, and when the wound body 30 is deformed, the separator 31 is broken with the projecting parts, the exposed region of the positive electrode current collector 12 and the exposed region of the negative electrode current collector 22 are short-circuited.例文帳に追加
これにより、負極集電体22と負極活物質層23との密着性が高まる一方、巻回体30が変形した場合には、セパレータ31が突起部によって裂かれ、正極集電体12の露出領域と負極集電体22の露出領域とが短絡する。 - 特許庁
In a silicon layer 13 of the magnetic sensor 1, an emitter region 15 comprising an n-type semiconductor, and a collector region 16 comprising an n-type semiconductor are formed, and a base region 14 comprising a p-type semiconductor is formed between the emitter and collector regions 15, 16.例文帳に追加
磁気センサ1のシリコン層13には、n型半導体からなるエミッタ領域15と、n型半導体からなるコレクタ領域16とが形成され、エミッタ領域15とコレクタ領域16との間に、p型半導体からなるベース領域14が形成されている。 - 特許庁
The N-type buffer region 314 is formed in a state of being separated from one part of the P-type collector region 303a so as to cover the one part.例文帳に追加
N型バッファ領域314は、P型コレクタ領域303aの一部分から離隔した状態でその一部分を覆うように設けられている。 - 特許庁
In the semiconductor device, P-type diffusion layers 22, 23 as a collector region are formed around an N-type diffusion layer 24 as a base region.例文帳に追加
本発明の半導体装置では、コレクタ領域としてのP型の拡散層22、23が、ベース領域としてのN型の拡散層24の周囲に形成される。 - 特許庁
It is structured such that a collector P layer 5 is provided in a region A on a second principal plane side of the substrate 1 and a cathode N layer 4 is provided in a region B.例文帳に追加
また、半導体基板1の第2主面側の領域AにコレクタP層5が設けられ、領域BにカソードN層4が設けられた構造とする。 - 特許庁
A distance L1 from a main surface 9 on the emitter region 6 side to the step part 13 is longer than a distance L2 from the main surface 9 to the first collector region 2.例文帳に追加
エミッタ領域6側の主面9から段部13までの距離L1 を主面9から第1のコレクタ領域2までの距離L2 よりも大きくする。 - 特許庁
A negative electrode collector 22 includes a covered region 22A, and exposed regions 22S, 22E each having a smaller surface roughness Rz value than the covered region 22a.例文帳に追加
負極集電体22は、被覆領域22Aと、被覆領域22Aよりも小さな表面粗さRz値を有する露出領域22S,22Eとを含む。 - 特許庁
A P-type collector region 4 is formed in the surface layer under the other main surface of the substrate 1, and an anode electrode 7 is formed on this region 4.例文帳に追加
半導体基板1の他方の主面の表面層にp形のコレクタ領域4を形成し、このコレクタ領域4上に陽極電極7を形成する。 - 特許庁
A trench 16 is formed on a wafer surface between an n+ emitter region 6 and a p+ collector region 12, and the inside thereof is embedded with a trench embedding insulation film 17.例文帳に追加
n^+エミッタ領域6とp^+コレクタ領域12との間のウェハ表面にトレンチ16を形成し、その中をトレンチ埋め込み絶縁膜17で埋める。 - 特許庁
A collector electrode 12 is brought into ohmic contact with a p^+-type region 4a, and brought into Schottky contact with a p-type region 4b.例文帳に追加
コレクタ電極12がp^+型領域4aに対してオーミック接触させられ、かつ、p型領域4bに対してショットキー接触させられるようにする。 - 特許庁
To provide a semiconductor device which can reduce the collector resistance of a bipolar transistor having an intrinsic emitter region, intrinsic base region and intrinsic collector region arranged in the vertical direction in a thin SOI layer of several tens to several hundreds of nanometers, and avoid deteriorating characteristics due to current concentration on the intrinsic collector region.例文帳に追加
本発明は、厚さ数10nm〜数100nm程度の薄膜SOI層中に、トランジスタの真性エミッタ領域、真性ベース領域及び真性コレクタ領域が垂直方向に配列しているバイポーラ・トランジスタのコレクタ抵抗の低減と、この真性コレクタ領域での電流の集中による特性劣化を防ぐことができる半導体装置を提供することである。 - 特許庁
An impurity adjustment region 119 with P-type impurities introduced in the heavily doped part 115b is formed in a collector region 116 side part, and carrier (electron) concentration of the part is reduced, whereby the efficiency of minority carrier injection into the buffer region 115 and the drift region 104 from the collector region 116 is improved, and the on-voltage is reduced.例文帳に追加
一方、高不純物濃度部分115b中にP型不純物を導入した不純物調整領域119をコレクタ領域116側部に設け、この部分のキャリア(電子)濃度を低減させることで、コレクタ領域116からバッファ領域115、ドリフト領域104への少数キャリア注入効率を向上させ、オン電圧を低減させる。 - 特許庁
In the wound electrode body 30, the positive electrode 6 has a region where an inside positive current collector exposed part 6ib and a both side positive current collector exposed part 6b are continued in the winding end direction, and the negative electrode 7 has a region where an outside negative current collector exposed part 7ob and a both side negative current collector exposed part 7b are continued.例文帳に追加
巻回電極体30において、正極6は巻回終端の方向に内側正極集電体露出部6ibと両側正極集電体露出部6bとが連続した領域を有し、負極7は外側負極集電体露出部7obと両側負極集電体露出部7bとが連続した領域を有する。 - 特許庁
Drive to the deeply saturated region of Q1 is avoided and rise of base voltage is no longer transferred to the collector.例文帳に追加
Q1の深い飽和領域への駆動が回避され、ベース電圧の上昇がコレクタに伝達されなくなる。 - 特許庁
Consequently, the parasitic capacitance between the region 5b and a collector is reduced, and an operation at a high speed is enabled.例文帳に追加
このため、外部ベース領域5bとコレクタとの間の寄生容量が低減され、高速動作が可能となる。 - 特許庁
The method of this invention includes a step of forming a silicon epitaxial layer that defines the collector region on a substrate.例文帳に追加
本発明の方法が、基板上に、コレクタ領域を画定するシリコン・エピタキシャル層を形成するステップを含む。 - 特許庁
An N-type embedded diffusion layer 6 as a collector region is formed across the substrate 2 and the epitaxial layer 3.例文帳に追加
コレクタ領域としてのN型の埋め込み拡散層6が基板2とエピタキシャル層3に渡り形成されている。 - 特許庁
An embedded collector region is partially formed onto a base layer formed on an emitter layer of an SiC semiconductor.例文帳に追加
SiC半導体のエミッタ層の上に形成したベース層に、部分的に埋込コレクタ領域を形成する。 - 特許庁
After the backside polishing, a collector electrode 31 made of e.g. aluminum forms an ohmic junction with the p^- lightly-doped collector layer 11, and the n^+ collector short-circuited region 13, dispensing with the ion implantation and heat treatment for separately forming a collector contacting high-concentration layer.例文帳に追加
裏面研削後、例えばアルミニウム等から成るコレクタ電極31によって、p^−低濃度コレクタ層11及びn^+コレクタ短絡領域13とオーミック接合が形成されるので、コレクタコンタクト用の高濃度層を別途形成するためのイオン注入及び熱処理が不要となる。 - 特許庁
The base includes a deposited region 21 where the electrode layer is formed and an extra region 22 of a width of 1.5 mm or less up to the deposited region 21 toward the inner side from an outer circumferential edge of the base 20, and the extra region 22 has a plurality of cut-out parts 23 for positioning a collector holder 200 for holding the collector 100 in deposition.例文帳に追加
基体部は、電極層が成膜される成膜領域21と、その基体部20の外周縁から内側に向かって成膜領域21までの幅が1.5mm以下の余尺領域22とを備えており、その余尺領域22は、成膜時に集電体100を保持する集電体ホルダ200に対する位置決め用に、複数の切欠部23を有する。 - 特許庁
In the semiconductor switching element 1, an N-type reduced surface field region 302 is formed in a semiconductor substrate 301, and a P-type collector region 303a, an N-type drain region 306b and an N-type buffer region 314 are formed in the reduced surface field region 302.例文帳に追加
半導体スイッチング素子1において、半導体基板301内にはN型リサーフ領域302が設けられており、リサーフ領域302内にはP型コレクタ領域303aとN型ドレイン領域306bとN型バッファ領域314とが設けられている。 - 特許庁
To prevent the breakdown voltage between an emitter and a collector and a breakdown yield from lowering by forming a base region on the surface of a semiconductor substrate other than a selective oxidation silicon film formation region and forming a second-conductive type emitter region in the base region.例文帳に追加
超高速動作用の微細な構造とするために、選択酸化シリコン膜とエミッタ領域が接してもエミッタ−コレクタ間の耐圧や耐圧歩留りが劣化することがない半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
An n-type upper impurity diffusion region 115 with its peak concentration higher than that of an n-type drift layer 102 is formed in the region positioning between a collector region 110 and an emitter region 104 out of the surface part of the drift layer 102.例文帳に追加
ドリフト層102の表面部のうちコレクタ領域110とエミッタ領域104との間に位置する領域に、ピーク濃度がN型ドリフト層102よりも高いN型上部不純物拡散領域115を形成する。 - 特許庁
A collector region 13 having relatively lower impurity concentration is formed on a semiconductor substrate 16 containing two impurities (phosphorus and arsenic) having different diffusion coefficients and constituting a collector contact region 12 by an epitaxial growing method.例文帳に追加
コレクタコンタクト領域12を構成する、拡散係数の異なる2つの不純物(リンおよびヒ素)を含む半導体基板16上に、エピタキシャル成長方法により相対的に不純物濃度の低いコレクタ領域13を形成する。 - 特許庁
The FWD-integrated IGBT has a p^+ heavily-doped collector layer 12 which determines the hole injection quantity, a p^- light-doped collector layer 11 serving for absorbing the variations in the wafer backside polishing quantity, and an n^+ collector short-circuited region 13 piercing the p^+ heavily-doped collector layer 12 and the p^- lightly-doped collector layer 11.例文帳に追加
本発明のFWD一体型IGBTは、正孔の注入量を決めるp^+高濃度コレクタ層12と、ウェハ裏面研削量のばらつきを吸収するp^−低濃度コレクタ層11と、p^+高濃度コレクタ層12及びp^−低濃度コレクタ層11を貫通しているn^+コレクタ短絡領域13とを有している。 - 特許庁
The band gap of a first single crystalline semiconductor layer a base region is fixed in an area near a junction with a second single crystalline semiconductor layer of an emitter region, and reduces toward a junction with a third single crystalline semiconductor layer of a collector region.例文帳に追加
本願発明の一例は、ベース領域のバンドギャップが、エミッタ、コレクタのバンドギャップより小さく、かつエミッタとの接合部近傍で一定で、コレクタとの接合部に向かって減少する分布を有する。 - 特許庁
A p-type emitter region 12 is formed on the undersurface of the n+ type buffer region 13, and a collector electrode 11 is formed to be electrically connected to the undersurface of the p-type emitter region 12.例文帳に追加
また、n+型バッファ領域13の下面にはp型エミッタ領域12が設けられ、p型エミッタ領域12の下面に電気的に接続するようにコレクタ電極11が設けられている。 - 特許庁
A p-type high-density emitter region 106 is formed on the surface part of the p-type silicon substrate 100 deeper than the p-type collector region 103 so as to be adjacent with the n-type source region 105.例文帳に追加
p型シリコン基板100の表面部に、n型ソース領域105と隣接するようにp型コレクタ領域103よりも深くまでp型高濃度エミッタ領域106が形成されている。 - 特許庁
A connection part of a base electrode 8 to the base region (P impurity layer 4) is positioned between an end on a collector electrode 10 side of the base region (P impurity layer 4) and the emitter region (N+ impurity layer 5).例文帳に追加
ベース電極8とベース領域(P不純物層4)の接続部が、ベース領域(P不純物層4)のコレクタ電極10側の端部とエミッタ領域(N+不純物層5)との間に位置する。 - 特許庁
Thereby, the difference between a base-to-emitter voltage Vbe and a base-to-collector voltage Vbc, ΔV is reduced, and thus a collector-to-emitter saturation voltage Vce in a low current region can be reduced.例文帳に追加
これにより、ベースエミッタ間電圧Vbeとベースコレクタ間電圧Vbcの差ΔVが小さくなり、低電流域におけるコレクタエミッタ間飽和電圧Vceを小さくすることができる。 - 特許庁
When the positive electrode collector plate 110 is welded to the laminate electrode body 100, the positive electrode collector plate 110 is welded in a state where the non-sulfonation region X is arranged in a place to which heat is transmitted easily.例文帳に追加
正極集電板110を積層電極体100に溶接する際に,未スルホン化領域Xを熱の伝わりやすい箇所に配置した状態で溶接する。 - 特許庁
A collector layer 3 forming the first island-shaped region is in an electrical floating state, so the collector layer 3 and isolation layer 4 do not operate as a parasitic diode.例文帳に追加
また、第1の島状領域を形成するコレクタ層3は電気的に浮遊な状態になっているため、コレクタ層3およびアイソレーション層4が寄生ダイオードとして動作しない。 - 特許庁
On a semiconductor substrate 101, an emitter mesa section 105 and base mesa sections 104 and 103 are formed, and the surface of a sub- collector layer 102 is exposed in a region outside a collector layer 103.例文帳に追加
半導体基板101上にエミッタメサ部105、ベースメサ部104,103を形成するとともに、コレクタ層103の外側の領域にサブコレクタ層102の表面を露出させる。 - 特許庁
The cathode 22 has a coating region 22C where a cathode collector 22A is coated with a cathode active substance layer 22B.例文帳に追加
負極22は、負極集電体22Aが負極活物質層22Bで覆われた被覆領域22Cを有する。 - 特許庁
例文 (516件) |
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