「defect position」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

In the output selection unit 109, any one of outputs from the A/D conversion circuit 104, the subtraction unit 107 and the reference signal operation unit 108 is selected and outputted to a signal processing circuit 110 of the post-stage based on position information of the defective pixel stored in a defect position memory 105.例文帳に追加

出力選択部１０９では欠陥位置メモリ１０５に記憶された欠陥画素の位置情報に基づいて、Ａ／Ｄ変換回路１０４、減算部１０７、参照信号演算部１０８の何れかの出力を選択して後段の信号処理回路１１０に出力する。 - 特許庁

To provide an image reading apparatus for easily realizing a secured cross point voltage to a prescribed voltage level or over and avoiding a defect of sampling of ringing noise by controlling the generated position of the ringing noise so as to arrange the ringing noise at a position with a timing margin.例文帳に追加

クロスポイントの電圧を所定の電圧レベル以上に確保することを容易に実現すると共にリンギングノイズの発生ヶ所をコントロールしてタイミング的に余裕度のある位置にリンギングノイズを配することでリンギングノイズをサンプリングしてしまう不具合を回避することができる画像読取装置を提供する。 - 特許庁

To accurately detect only either vertical waves or horizontal waves included in an acoustic signal, and to accurately calculate a partial discharge position based on the detection signal in detecting the partial discharge position due to a defect of power cable connecting part or the like with an ultrasonic sensor.例文帳に追加

電力ケーブル接続部等の欠陥による部分放電位置を超音波センサにより検出する際に、音響信号に含まれる縦波と横波のいずれか一方のみを正確に検出してその検出信号に基づいて部分放電位置を正確に算出する。 - 特許庁

Thereby, in light transmitting through the first liquid crystal element 30A, a defective position caused by the first power feeding wires 51 and 52 and a defective position caused by the first liquid crystal injection opening 32a caused by variation of environment temperature or the like are almost overlapped, less defect light can be obtained.例文帳に追加

これにより、第１液晶素子３０Ａを透過する光において、第１給電配線５１及び５２に起因する不良位置と、環境温度変化などにより発生する第１液晶注入口３２ａに起因する不良位置とが、ほぼ重なり、不良の少ない光を得ることができる。 - 特許庁

The guide member 10 is fitted at a position deviated from an optical path receiving a reflected light from the original so as to prevent a defect such as missing image due to a foreign material undesirably deposited on the guide member 10.例文帳に追加

ガイド部材１０は、原稿からの反射光の光路上から外れた位置に取り付けられ、ガイド部材１０に不所望に付着した異物による画像欠損などの不具合を防止するようにしている。 - 特許庁

To make it possible to make the enhancement of the high speed following properties to the amplitude fluctuation of a reproduction signal and the securement of the stability to a medium defect or the like compatible with each other, when a mark position recorded recording medium is reproduced.例文帳に追加

マークポジション記録された記録媒体を再生する場合に、再生信号の振幅変動への高速追従性の向上と、媒体の欠陥などに対する安定性確保の両立を可能にする。 - 特許庁

To provide a transparent imaging serving system which can simply and inexpensively obtain a transparent image of substantially three-dimensional position and size of a target such as a defect or the like in a specimen to be detected by utilizing DR.例文帳に追加

被検体内部における欠陥等の目標物の概略的な３次元位置と大きさに関する透過画像をＤＲの利用により簡便で安価に得ることのできる透過画像提供システムの提供。 - 特許庁

To provide a cigarette end face examination device which can accurately inspect the defect, such as tip drop, of the end face of the cigarette without receiving an adverse effect caused by the change in the axial direction position of the cigarette to be inspected.例文帳に追加

検査対象となるシガレットの軸方向位置変動に起因した悪影響を受けることなく、シガレット端面の先落ち等の不良を正確に検査可能としたシガレット端面検査装置を提供する。 - 特許庁

In substrate inspection prior to pattern forming that uses design data 303, a defective fraction 506 is calculated, taking into consideration the position of a detected defect 504 on an inspection map indicating the place on a wafer.例文帳に追加

パターン形成前の基板検査において、設計データ３０３を利用して、検出された欠陥５０４がウェハ上の場所を示した検査マップ上のどの位置にあるを考慮して不良率５０６を計算する。 - 特許庁

To ensure the milking robot not to be damaged by avoiding the defect that the hind legs of a cow go forward over the optimal milking position in the stole and largely cost down by simplifying the driving system and the controlling system.例文帳に追加

ストール内における乳牛の後足が前方へ行き過ぎてしまう不具合を回避して、搾乳ロボットの損傷を確実に防止するとともに、駆動系及び制御系を簡略化して大幅なコストダウンを図る。 - 特許庁

The inspection results corresponding to one substrate corresponds to a combination of inspection results of each substrate displayed on the right-side of the screen to display coordinates of the position of foreign matter/a defect in the substrate as a map.例文帳に追加

基板１枚分に相当する検査結果は、画面右側に表示された１枚１枚の基板検査結果の結合に相当し、基板における異物／欠陥の位置における座標をマップとして表示される。 - 特許庁

To provide a sensor having a shortened full length and improved accuracy of an operation point by solving the problem wherein a conventional contact type position sensor having a plunger measuring shaft has a defect that the full length becomes long from the viewpoint of a structure.例文帳に追加

従来のプランジャ測定軸を有する接触式位置センサでは全長が構造上長くなる欠点があったが本願発明では全長を短く、かつ動作点の精度向上をはかったセンサを提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for inspecting defects appropriately detecting defects on the surface of a band body such as a thin steel plate to be inspected for a defect, by accurately specifying the position of the edge of the band body.例文帳に追加

疵の検査対象である薄鋼板等の帯状体のエッジの位置を精度良く特定して帯状体表面の疵を適切に検出する疵検査装置及び疵検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an ink-jet recording head in which a defect of recording like a wrinkle and nonuniformity does not occur in a recording result by obtaining a desired ink droplet size so that an impact position accuracy may not decrease and to provide its manufacturing process.例文帳に追加

着弾位置精度が低下することなく、所望のインク滴の径を得ることで、記録結果にヨレやムラといった記録の不具合が発生しないインクジェット記録ヘッドおよびその製造方法を提供すること。 - 特許庁

The X-ray detectors have resolving power in the depth direction and, when the back scattering X-rays X(12) are not detected at a part in the depth direction, the X-ray detectors detect the presence and position of a defect 101.例文帳に追加

Ｘ線検出器は、深さ方向の分解能力を有しており、深さ方向の一部において後方散乱Ｘ線Ｘ（１２）を検出しない場合には、欠陥１０１の存在およびその位置を検出する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam control device and a charged particle beam optical device using the same, and a charged particle beam defect checking device which can accurately and easily position an electric field and a magnetic field.例文帳に追加

電極と磁極を正確に、かつ、容易に位置決めすることのできる荷電粒子ビーム制御装置及びそれを用いた荷電粒子ビーム光学装置、ならびに荷電粒子ビーム欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface inspection method and a surface inspection device capable of detecting accurately the position of a defect on a surface to be inspected, without increasing the time required for inspecting the surface to be detected of a specimen.例文帳に追加

被検体の被検面を検査することに要する時間の増大を招くことなく、被検面における欠陥の位置を正確に検知することができる表面検査方法および表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus where one or all the plurality of process cartridges can be surely held in an image forming position with a simple constitution, and also, at low cost, and which can obtain a satisfactory output free from malfunction and image defect.例文帳に追加

簡単な構成かつ、低コストで１つあるいは複数の全てのプロセスカートリッジを画像形成位置に確実に保持し，動作不良，画像不良のない良好な出力を得られる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

At retry time, prescribed improvement processing is executed in periods GS to GE in such a manner that the periods HS to HE (or a period (y)) of defect signals included in an RF signal are included based on the position information of the data having an error in retrying and that the defect processing signal G is generated only in the periods GS to GE prior to the start of the period.例文帳に追加

本発明では、リトライ時に、誤りのあるデータの位置情報に基づき、ＲＦ信号に含まれる欠陥信号の期間ＨＳ〜ＨＥ（あるいは期間ｙ）を含むように、かつ、その期間が開始される前に欠陥処理信号Ｇが期間ＧＳ〜ＧＥだけ生成され、そのＧＳ〜ＧＥの期間所定の改善処理が実行される。 - 特許庁

A wafer chuck rotatable 360° and an X-Y stage with a movable distance which is a half of the diameter of a semiconductor wafer are provided, and the regions provided by dividing a semiconductor wafer 1 into four is rotated with a wafer chuck, according to wafer's defect position coordinate and the four regions are observed sequentially with a fixed microscope 2, for defect review on the entire wafer surface.例文帳に追加

３６０度回転可能なウェハチャックと半導体ウェハ直径の半分の可動距離をもつＸ−Ｙステージとを有し、半導体ウェハ１を４分割した領域をウェハの欠陥位置座標に応じてウェハチャックを回転して、この４つの領域を順次固定された顕微鏡２により観察して、ウェハ全面の欠陥レビューを行うようにしている。 - 特許庁

To provide a charged particle beam defect inspecting device and method for correcting a dislocation of a focal position due to a charged-up state of a sample to be observed without troubling an operator, and resultingly ensure a focused clear observation and a precise defect inspection even under a charged-up state of the sample.例文帳に追加

観察対象の試料に生ずるチャージアップに起因する焦点位置のずれを操作者の手を煩わすことなく補正することができ、その結果として試料がチャージアップしている場合であっても焦点のあった鮮明な観察及び高精度の欠陥検査を行うことができる荷電粒子ビーム欠陥検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The retry determining section 11 executes: determining whether the reproducing position is a defect part or not and detecting the defect part based on a signal of a signal processing section 6, measuring the time in which defects are successively detected when the defect is detected, and determining whether to perform re-reading based on the measured time measuring and a threshold stored in the storage.例文帳に追加

リトライ判断部１１が実行する処理には、信号処理部６からの信号に基づいて、再生位置が欠陥部であるか否かを判断して前記欠陥部の検知を行う欠陥部検知処理と、前記欠陥部が検知された場合に、前記欠陥部が連続して検知される時間を計測する時間計測処理と、前記時間計測結果と、前記記憶部に記憶される閾値と、に基づいて再読み出しを行うか否かを判断するリトライ判断処理と、が含まれる。 - 特許庁

To provide a configuration for securing a normal film formation region, which is free of a quality defect such as frame color unevenness and peeling, in a color filter formed on a pixel portion of a high-sensitivity solid-state imaging element in which a pixel portion whose surface position is low and a multilayer wiring portion whose surface position is high at a periphery thereof form a step.例文帳に追加

表面位置の低い画素部とその周囲の高い多層配線部とが段差を有する高感度の固体撮像素子の画素部上に形成するカラーフィルタにおいて、枠色ムラや剥がれ等の品質不良のない正常な膜形成領域を広く確保するための構成を提供すること。 - 特許庁

This medical device to be placed at a predetermined position in a passageway in a human body is designed to be a flexible and expandable embolization device and system to be able to make an embolism of a blood vessel or a blood vessel defect such as an aneurysm or fistula, after delivered by a catheter to the predetermined position in the blood vessel.例文帳に追加

本発明は人体における通路の中の所定の場所に配置するための医療装置に関し、特に、血管内の所定の場所にカテーテルにより供給されて血管、または動脈瘤またはフィステル等の血管内の欠陥部分を閉塞できる柔軟で拡張可能な塞栓形成装置およびシステムに関する。 - 特許庁

The line sensor reads the calculated shading correction data at the home position on the shading correction plate, shading is corrected by the means shading correction data on the basis of the obtained read data (S12 in Figure 10), and at least a defect position of the shading correction plate is specified on the basis of the data after the correction (S17).例文帳に追加

シェーディング補正板上のホームポジションにおいてラインセンサにシェーディング補正板を読み取らせ、得られた読取データに対して、前記平均シェーディング補正用データによりシェーディング補正を行い（図１０のＳ１２）、この補正後データを基に、少なくともシェーディング補正板の欠陥位置を特定する（Ｓ１７）。 - 特許庁

The image processing inspection part 50 composes a composite image by synthesizing an image of dicing line, which divides a circuit pattern at the surface of the wafer, into an image of rear surface of the wafer imaged by the rear surface imaging device 130 and detects the position of the defect based on the composite image with corresponding to the position of each circuit pattern.例文帳に追加

画像処理検査部５０は、ウエハの表面において回路のパターンを分割するダイシングラインの画像を裏面撮像装置１３０により撮像されたウエハ裏面画像に合成して合成画像を生成し、この合成画像に基づいて欠陥の位置を各回路パターン位置と対応させて検出する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus in which a single sensor member can detect that a printing unit is loaded on a predetermined position and also operation defect can be suppressed by stopping printing operation from being started while the printing unit shifts in loading position.例文帳に追加

１つのセンサ部材により、印刷ユニットが所定の位置に装着されていることを検出することが可能であるとともに、印刷ユニットの装着位置がずれた状態で印刷動作が開始されるのを抑制することにより、動作不良が発生するのを抑制することが可能な画像形成装置を提供する。 - 特許庁

Then, the wiring width concerned is compared with a wiring width at a reference position corresponding to the measurement position of a confirming pattern that becomes a comparison reference being stored in a reference image memory 7 by a comparison circuit 8, and the presence or absence of a defect in the pattern to be inspected is judged based on a compared result by a judgment circuit 9.例文帳に追加

そして、比較回路８にて当該配線幅と基準画像メモリ７に記憶されている比較基準となる良品パターンの前記測定位置と対応する基準位置での配線幅とが比較され、判定回路９で比較結果に基づいて被検査パターンにおける欠陥の有無が判定される。 - 特許庁

In a method for inspecting presence/absence of a defect in a mask for semiconductor exposure, an optical system is used for making light of an arbitrary wavelength incident on the mask to acquire the dark field image, and an arbitrary partial area where an even dark field image is obtained on the mask is arranged at a defocus position separated from a just-focus position to acquire an image.例文帳に追加

半導体露光用マスクの欠陥の有無を検査する方法であって、マスクに任意波長の光を入射させ暗視野像を取得する光学系を用い、マスク上にて均一な暗視野像が得られる任意の一部領域をジャストフォーカス位置から離れたデフォーカス位置に配置して像を取得する。 - 特許庁

An ultrasonic beam B is emitted toward an artificial defect 200 formed in a position corresponding to a point of inspection object 300 in advance, and a driving electric signal S3 in which a difference in delay time is set based on the reflected wave R is prepared.例文帳に追加

事前に、検査対象箇所３００に対応した位置に形成した人工欠陥２００に向けて超音波ビームＢを発し、その反射波Ｒに基づいて遅延時間の差を設定した駆動用電気信号Ｓ３を用意する。 - 特許庁

When the number of times of detection reaches the predetermined number of times, a detected pixel position and the level in each of detection are compared (S110) and when they match each other, a pixel defect is determined and written into the memory (S111), and white flaw correction is performed (S112).例文帳に追加

検出回数が所定回数に達した場合に、検出毎の検出画素位置・レベルを比較し（Ｓ１１０）、一致していれば画素欠陥と判定し、メモリへの書き込みを行い（Ｓ１１１）、白キズ補正を行う（Ｓ１１２）。 - 特許庁

The sensors process the obtained digital images and decide the presence of the defect of the material of the artificial structure according to the specific coordinate position for finding the artificial structure in one or more obtained digital images.例文帳に追加

該センサは、取得されたデジタル画像を処理し、１つ又は複数の取得されたデジタル画像における人口構造物を突き止める所定の座標位置に従い、人口構造物における材料の欠陥の存在を判定する。 - 特許庁

Consequently the defect location is closed by pulling the outer wall anchor 20 to the direction of the inner meniscus anchor 30 by giving tension on the surgical suture 40 and the surgical suture is fixed on a prescribed position by a fixing means.例文帳に追加

したがって、縫合糸に張力が与えられることによって、外壁アンカーを内側半月板アンカーの方向に引き寄せて欠陥部位を閉じ、さらに固定手段によって前記縫合糸が所定の場所に固定される。 - 特許庁

To provide a wafer inspection device which can achieve high-speed, high-resolution visual test of semiconductor wafer and consistently prepares samples for TEM observation or various analyses with high accuracy of position from the area where any foreign material or defect exists.例文帳に追加

半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からＴＥＭ観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of feeding a filer wire for a laser beam welding machine and a device of feeding the filler wire for the laser beam welding machine with which a weld defect is easily suppressed by feeding the filler wire automatically and to an optimum position.例文帳に追加

フィラーワイヤの送り出しを自動で最適位置まで行うことにより容易に溶接不良の発生を抑えることのできるレーザ溶接機のフィラーワイヤ供給方法およびレーザ溶接機のフィラーワイヤ供給装置を提供する。 - 特許庁

To provide a clock generation circuit and an optical disk device which can set up a position for a phase window accurately, realize normal phase comparison and cover a mask accurately even to phase comparison results due to defect, and the like.例文帳に追加

的確に位相窓の位置を設定でき、正常な位相比較を実現でき、しかもディフェクト等による位相比較結果に対しても的確にマスクをかけることが可能なクロック生成回路および光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

Thus, error correction performance can be improved by monitoring the gain variations of the VGA 310 to correctly find a position where a defect has occurred, and executing error correction by RSC using this.例文帳に追加

本発明によれば、ＶＧＡ３１０の利得変動量をモニタリングして欠陥が発生した位置を正確に探し、それを利用してＲＳＣによるエラー訂正を実行することによって、エラー訂正性能を向上させることができる。 - 特許庁

To provide a technology by which the boundary between the substrate of a photo mask and a shielding material is accurately recognized and displayed and to accordingly realize the correction of a defect on the photo mask on the basis of the accurate position recognition.例文帳に追加

本発明の目的課題は、フォトマスクの基板と遮蔽物質との境界を正確に認識して表示する技術の提供、ひいてはその正確な位置認識に基づくフォトマスク上の欠陥の修正の実現にある。 - 特許庁

Thus, when the lens mount 42 of the imaging camera 14 is located at the front imaging position, a defect of part of the display panel body 13 intruding the region 44 in the vertical visual field angle can be prevented.例文帳に追加

これによって、撮像カメラ１４のレンズ装着部４２が前方撮像位置に配置された状態において、表示パネル本体１３の一部が上下方向の視野角内の領域４４に入り込んでしまうという不具合が防がれる。 - 特許庁

To prevent an image defect in a stripe state occurring because developer (toner) T adhering to an electrifying member 2 is discharged at a position corresponding to the paper edge of a medium to be recorded in a cleaner-less system image forming apparatus.例文帳に追加

クリーナレスシステムの画像形成装置において、帯電部材２に付着した現像剤（トナー）Ｔが被記録媒体の紙コバに対応する位置で吐き出されて発生するスジ状の画像不良を防止することを目的とする。 - 特許庁

To provide a defect part marking method and a device capable of replacing a marker pen and replenishing ink quickly and continuously, when marking a surface or inside flaw position on the surface of an inspection material such as a thin steel plate.例文帳に追加

薄鋼板等の被検査材表面に、表面または内部の疵位置をマーキングするにあたり、迅速かつ連続にマーカーペンの交換またはインクの補充ができる欠陥部マーキング方法および装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a position detecting mechanism for a mobile object excellent in maintenance by a simple mechanism and strong by preventing engagement of falling foreign matter by arranging a pinion on a lower side of a rack and eliminating a defect such as broken damage to a rotary shaft.例文帳に追加

ラックの下側にピニオンを配置し落下異物の噛み込みを防止すると共に、回転軸の折損等の欠点を無くし、且つ簡単な機構で保守性に優れた頑丈な移動体の位置検出機構の提供を目的する。 - 特許庁

To manage a buried pipe sufficiently by surely and directly grasping the occurrence of a defect such as corrosion or a damage of the buried pipe and its generation position, and to perform measurement simply without requiring a load.例文帳に追加

埋設管の腐食や損傷等の欠陥の発生、およびその発生位置を確実に直接的に把握して、その埋設管の管理を十分に行うことができ、また測定も労力を要さず簡単に行うことができるようにする。 - 特許庁

Thus, since the first and the second substrates are adhered with each other before they are conveyed, deviation in a position and the like are not generated and the liquid crystal display panel having satisfactory quality without any image defect and image unevenness can be manufactured.例文帳に追加

よって、接着剤により第１基板と第２基板とは搬送前に接着されることから、位置ずれ等が発生せず、画像不良及び画像ムラのない品質良好な液晶表示パネルを製造することができる。 - 特許庁

In a high-magnification inspecting step S4, the high-magnification inspecting image of the visual field region is acquired by positioning the position of the stored crystal defect in the visual field region so as to change an objective distance through the use of a high-power objective lens 14b.例文帳に追加

高倍率検査ステップＳ４では、高倍率の対物レンズ１４ｂを用いて、記憶された結晶欠陥の位置を視野領域の中に位置させて対物距離を変えて、視野領域の高倍率検査画像を取得する。 - 特許庁