「defect position」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

When acquiring an image of a position specified by position information of a defect registered in the defect detection data by the imaging device, as for the repeated defect, control is performed, so as not to acquire repeatedly the image of the position of the repeated defect.例文帳に追加

欠陥検出データに登録されている欠陥の位置情報で特定される位置の画像を、撮像装置により取得する際に、重複欠陥については、当該重複欠陥の位置の画像を重複して取得しない制御を行う。 - 特許庁

This inspection data processor is displayed with a defect map 19 indicating a position of a defect on a film, and a defect histogram 21 indicating a distribution of the defects on the film.例文帳に追加

フィルム上の欠陥の位置を示す欠陥マップ１９やフィルム上の欠陥の分布を示す欠陥ヒストグラム２１が表示されている。 - 特許庁

Distribution state of defects is analyzed based on a defect position coordinate detected by an inspection equipment and classified into one distribution feature category of repetitive defect, aggregated defect, linear distribution defect, annular block distribution defect or random defect.例文帳に追加

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁

The defect list recording section 134 adds and resisters the recording position included in the defect areas presumed by the defect area presumption section 128 in the stored defect list as the defect positions required to check.例文帳に追加

欠陥リスト登録部１３４は、欠陥領域推定部１２８によって推定された欠陥領域に含まれる記録位置を、評価が必要な要評価欠陥位置として、記憶している欠陥リストに追加登録する。 - 特許庁

The picture element defect is moved into the visual field of the magnifying lens 11 in accordance with the approximate picture element defect coordinate determined by this picture element defect position instruction device 25 and the exact coordinate position is measured.例文帳に追加

絵素欠陥位置指示装置２５を用いて求めた概略絵素欠陥座標に基づいて拡大レンズ１１の視野内に絵素欠陥を移動させ、正確な座標位置を測定する。 - 特許庁

The controller 19 tracks the command, when the defect mark reaches the position of a defect mark erasing device 16, drives the defect mark erasing device 16, the defect mark is erased.例文帳に追加

制御装置１９は、この指令をトラッキングし、欠陥マークが欠陥マーク消去装置１６の位置に達したとき、欠陥マーク消去装置１６を駆動し、欠陥マークを消去する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device of a sealed honeycomb structure, capable of specifying the position of a cell having a defect and of readily grasping the defect size.例文帳に追加

欠陥のあるセルの位置を特定するとともに、欠陥の大きさを容易に把握することが可能な目封止ハニカム構造体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To specify the exacter coordinate position of a picture element defect by inspecting the presence or absence of the picture element defect of a liquid crystal display panel.例文帳に追加

液晶表示パネルの絵素欠陥の有無を検査し、絵素欠陥のより正確な座標位置を特定する。 - 特許庁

The laminate process control part specifies a carrying position of the defect portion of the film 3 based on the carrying position and the defect portion information of the film 3.例文帳に追加

ラミネート工程制御部は、フイルム３の搬送位置と欠点部位情報とに基づいてフイルム３の欠点部位の搬送位置を特定する。 - 特許庁

The defect removing equipment 20 stops running of the printed matter 10 at a position where the position of detection of the defect and the position indicated by the mark 13 coincide with each other, and performs cutting and pasting of an area of removal including the defect.例文帳に追加

欠陥除去装置２０は、欠陥検出位置とマーク１３が示す位置とが一致する位置で印刷物１０の走行を停止させ、欠陥を含む除去領域の切断及び貼り合わせを行う。 - 特許庁

Defect information including at least information on each defect position is acquired by detecting each defect on the substrate with the use of an inspection device (S302).例文帳に追加

検査装置によって基板上の欠陥をそれぞれ検出して、各欠陥の位置を表す情報を少なくとも含む欠陥情報を取得する（Ｓ３０２）。 - 特許庁

A controller obtains a position of the defect 312 on the fixing web 210.例文帳に追加

コントローラは、定着ウェブ２１０上の欠陥３１２の位置を獲得する。 - 特許庁

To eliminate the defect of cultivation soil being conveyed by a conveyor to a watering position.例文帳に追加

養土がコンベアＡによって灌水位置に搬送される不具合をなくす。 - 特許庁

Since the peak value of the variation of the photodetection position correlates with the height of the defect, the height of the defect is detected according to the variation of the photodetection position.例文帳に追加

受光位置の変動のピーク値は欠陥の高さと相関を有することから、受光位置の変化に基づいて欠陥の高さを検出している。 - 特許庁

The controller controls a relative position of a sheet 216 to the fixing web based on the position of the defect, so as to prevent the defect from influencing an image.例文帳に追加

コントローラは、この欠陥の位置に基づき、定着ウェブとシート２１６の相対的な位置を制御し、欠陥が画像に影響を与えないようにする。 - 特許庁

To analyze a defect composition in a highly precise and efficient manner by detecting the irradiation position of an electron beam coinciding with a defect position.例文帳に追加

欠陥位置に一致した電子ビームの照射位置を検出し、高精度かつ高効率に欠陥の組成分析を行なうことができるようにする。 - 特許庁

FAULTY POSITION INFORMATION COLLECTING SYSTEM, PROGRAMMING SYSTEM, AND DEFECT REMOVING SYSTEM例文帳に追加

不良位置情報収集システム、予定組システム及び不良除去システム - 特許庁

In the defect detecting apparatus 13a, the extraction of the candidate parts of the defect is performed on the basis of a signal level or the like and informations such as the signal level of defect indicating part, the position of the indicated part and the indicated length of the defect are transmitted to a defect selecting apparatus 15a.例文帳に追加

欠陥検出装置１３ａでは、信号レベルなどに基づき、欠陥候補部の抽出を行い、欠陥選択装置１５ａに対し、欠陥指示部信号レベル、指示部位置、欠陥指示長さなどの情報を伝送する。 - 特許庁

To execute an accurate defect fatalness evaluation, a yield prediction and a fault position specification in an in-line defect checking step.例文帳に追加

インラインの欠陥検査工程において、高精度な欠陥致命性評価、歩留まり予測、故障個所特定を行うこと。 - 特許庁

Further, when the operator conducts it inputting with visually checking existence of a surface defect, defect marking is done to a corresponding position.例文帳に追加

そして、オペレータが表面欠陥の存在を目視確認して入力すると、対応する位置に欠陥マーキングがなされる。 - 特許庁

The defect position is acquired (step 120) by comparing these low magnification images (6) and (7) with each other and the electron beam is deflected to irradiate the defect position to acquire the composition spectrum of the defect (step 121).例文帳に追加

そして、これら低倍画像(６），(７）を比較することにより、欠陥位置を取得し（ステップ１２０）、電子ビームを偏向させてこの欠陥位置に照射し、この欠陥の組成スペクトルを取得する（ステップ１２１）。 - 特許庁

The defect signal corresponding thereto and a plurality of the defect approach signals corresponding to the defect signal and the ultrasonic response signals from the measuring places on both sides of the defect position, are inputted to an educated artificial neural network.例文帳に追加

そして、欠陥信号及び欠陥位置の両側の測定箇所からの超音波応答信号に対応する複数の欠陥近接信号は、教育された人工ニューラルネットワークに入力される。 - 特許庁

A black spot defect position determination circuit 21 determining the position of a black spot defect on a self-luminous display panel 17 is arranged, and the black spot defect is determined by connecting a detection current source inside the black spot defect position determination circuit 21 to a pixel during a period other than a display period of a data signal.例文帳に追加

自発光表示パネル１７の黒点欠陥画素の位置を判別する黒点欠陥位置判別回路２１を設け、この黒点欠陥位置判別回路２１内の検出用電流源をデータ信号の表示期間とは別の期間に画素に接続して、黒点欠陥を判別する。 - 特許庁

The retrieval is performed under the condition of two agreements, namely, the agreement between both position data of the position data of the defect data and the position data of the pseudo-defects in the pseudo-defect information, and agreement between both intensity data of the intensity data of the defect data and the intensity data of the pseudo-defects in the pseudo-defect information.例文帳に追加

検索では、欠陥データの位置データと疑欠陥情報の疑欠陥の位置データの両位置データの合致、および、欠陥データの強度データと疑欠陥情報の疑欠陥の強度データの両強度データの合致の２つの合致を条件として行う。 - 特許庁

Next, when the defect is detected based on the defect signal, the signal based on the stored target value is output as the servo control signal when the defect exists at the defect position which has the specific positional relation with the stored defective position.例文帳に追加

次に、欠陥信号に基づいて欠陥が検出されたとき、記憶した欠陥位置と所定の位置関係を有する欠陥位置に欠陥があるときに、記憶した目標値に基づいた信号を前記サーボ制御信号として出力する。 - 特許庁

A control device determines whether or not the same defect is registered repeatedly into at least two defect detection data, based on position information of each defect registered in the defect detection data respectively, and acknowledges that a defect acknowledged to be registered repeatedly is a repeated defect.例文帳に追加

制御装置が、欠陥検出データの各々に登録されている欠陥の位置情報に基づいて、同一の欠陥が少なくとも２つの欠陥検出データに重複して登録されているか否かを判定し、重複して登録されていると認定される欠陥を重複欠陥と認定する。 - 特許庁

In a semiconductor evaluating method 100, a defect condition detecting process 110, a defect position specifying process 120 and a defect factor analyzing process 130 are successively executed.例文帳に追加

半導体評価方法１００では，不良状況検出工程１１０と欠陥位置特定工程１２０と不良原因解析工程１３０とが順次実施される。 - 特許庁

An image processor 12 detects a defect on the basis of a defect image which is obtained by picking up an image of a glass substrate 2 by an imaging section 11, and recognizes a position and an area of the defect.例文帳に追加

撮像部１１がガラス基板２を撮像した欠陥画像に基づき画像処理部１２は欠陥を検出し、欠陥の位置および範囲を認識する。 - 特許庁

The defect list includes a header 121 arranged at a fixed position, N defect entries 122 to 125 containing information regarding the positions of the defect areas, and an anchor 126.例文帳に追加

欠陥リストは、固定位置に配置されたヘッダ１２１と、欠陥領域の位置に関する情報を含むＮ個の欠陥エントリ１２２〜１２５と、アンカ１２６とを含む。 - 特許庁

To provide a memory defect treatment device and its method detecting a defect position with respect to a card type memory, and capable of using the memory card irrespective of a defect.例文帳に追加

本発明は、カード型メモリーに対する欠陥位置を検出し、欠陥にかかわらずメモリーカードが使用できるメモリー欠陥処理装置及びその方法に関する。 - 特許庁

A criterion of the cutting position previously set in accordance with the type of defect is stored in the arithmetic means, which decides, based on the type of defect outputted from the defect inspecting means and on the criterion, which is to be the cutting position, the tentative cutting position or the position of the defect outputted from the defect inspecting means.例文帳に追加

演算手段には、欠陥の種類に応じて予め設定された切断位置に関する判断基準が記憶されており、演算手段は、欠陥検査手段から出力された欠陥の種類と、判断基準とに基づき、仮の切断位置を切断位置とするか、或いは、欠陥検査手段から出力された欠陥の位置を切断位置とするかを決定する。 - 特許庁

Position information of the detected defect pixels Px is stored in the database DB as the defect pixel information R(k, m).例文帳に追加

そして、検出した欠陥画素Ｐｘの位置情報が欠陥画素情報Ｒ（ｋ，ｍ）としてデータベースＤＢに記憶される。 - 特許庁

Position information indicating the position of the 2nd spare area 108 is recorded in the defect management information area 101.例文帳に追加

第２スペア領域１０８の位置を示す位置情報が欠陥管理情報領域１０１に記録されている。 - 特許庁

In this constitution, the electric defect position data at an IC memory obtained in a semiconductor IC tester, can be converted to the real coordination, and the defect position data can be compared with defect data of productive process.例文帳に追加

この構成により、半導体ＩＣ試験装置にて取得したＩＣメモリの電気的な不良位置の情報を実座標に変換することができ、製造プロセスの欠陥データと比較することが可能となる。 - 特許庁

To provide a technology capable of implementing a position adjustment and a property test with high sensitivity and detecting defects while separating a position adjustment defect and a property defect in the case where any defect occurs.例文帳に追加

高感度に位置調整と特性試験を実施することができ、不良が生じた場合には位置調整上の不良と特性不良とを切り分けて不良を検出することを可能とする技術の提供。 - 特許庁

To the casting defect 3, specified at this position, the rotated bar-like tool 9 is pushed to this position at this time, to plastically fluid this defect while semi-melting with the friction heat.例文帳に追加

位置が特定された鋳物欠陥３に対しその都度回転している棒状ツール９を押し付けて、摩擦熱にて半溶融させながら塑性流動させる。 - 特許庁

The presence of the defect in the weld is determined by analyzing the fluctuation of the ultrasonic energy in the measuring position in the vicinity of the latent defect position.例文帳に追加

そして、潜在的欠陥位置の近傍の測定箇所における超音波エネルギーのゆらぎを解析することによって、溶接部内の欠陥の存在が決定される。 - 特許庁

MICRO PROCESSOR INTEGRATED CIRCUIT CHIP AND METHOD FOR BYPASSING DEFECT POSITION OF CACHE MEMORY THEREON例文帳に追加

マイクロプロセッサ集積回路チップおよびその欠陥キャッシュメモリ位置をバイパスする方法 - 特許庁

A pixel defect correction unit 17 corrects image signals at the calculated correction position.例文帳に追加

画素欠陥補正部１７は、算出された補正位置の画像信号を補正する。 - 特許庁

Next, an inspection is carried out for a streak image defect near the correspondence position (S26).例文帳に追加

そして、その対応位置付近について、筋状の画像欠陥を検査する（Ｓ２６）。 - 特許庁

In a correction process S16, a position of the unit region including the defect in the second stage by position coordinate, is specified and the defect of the unit region is corrected.例文帳に追加

修正工程Ｓ１６では、位置座標によって第２のステージにおける欠陥を含む単位領域の位置を特定し、単位領域の欠陥を修正する。 - 特許庁

The position coordinate of a defect in a substrate for calibration is referred to as an absolute coordinate while the position coordinate of a defect in the substrate for calibration detected by the inspection device is referred to as an inspection coordinate.例文帳に追加

校正用基板の欠陥の位置座標を絶対座標と呼び、検査装置によって検出した校正用基板の欠陥の位置座標を検査座標と呼ぶ。 - 特許庁

When a defect has been found, either a defect mark such as a punch for providing a physical mark on the paper sheet near the defect, or an electronic apparatus capable of transmitting an accurate defect position to a printing part is used.例文帳に追加

欠陥が発見された場合、本発明は、欠陥の近くの紙に物理的な印をつけるパンチ等の欠陥印か、欠陥の正確な位置を印刷部に伝達できる電子装置のいずれかを使用する。 - 特許庁

While reading out the image data from the image memory 20 and detecting image defects by a defect detector 24, a defect information that displays the position of the detected defect is generated, and is memorized by a defect information memory 26.例文帳に追加

画像メモリ部２０から画像データを読み出して欠陥検出部２４で画像欠陥を検出するとともに、検出された画像欠陥の位置を示す欠陥情報を生成して欠陥情報メモリ部２６に記憶する。 - 特許庁

On the basis of a traveling distance from a defect detection position to a working position of a long belt-like sheet and a length L of a product in a conveyance direction, which product and what position of a detected defect therein are predicted.例文帳に追加

欠陥の検出位置から長尺帯状シートの加工位置までの走行距離と、搬送方向の製品の長さＬに基づき、検出された欠陥がどの製品のどこに位置するかを予想する。 - 特許庁