「defect position」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The position on which a defect position specified by the non-lighting inspection part is superimposed on a defect position specified by the lighting inspection part is decided as a real defect position.例文帳に追加

非点灯検査部で特定した欠陥位置と点灯検査部で特定した欠陥位置とが重なる位置を真の欠陥位置と判定する。 - 特許庁

METHOD OF DETECTING DEFECT POSITION OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウエハの欠陥位置検出方法 - 特許庁

DETECTION OF MATERIAL DEFECT AT GROUND POSITION例文帳に追加

地上位置における材料欠陥の検出 - 特許庁

DEFECT POSITION SPECIFICATION METHOD IN LAYERED PRODUCT例文帳に追加

積層体における欠陥位置特定方法 - 特許庁

A defect signal and defect position data are input to an FPGA-B 57.例文帳に追加

欠陥信号、欠陥位置データはＦＰＧＡ−Ｂ５７に入力される。 - 特許庁

A defect-full-length measuring means 10 measures the entire length of the defect based on the defect position information and the area of the defect.例文帳に追加

欠陥全長測定手段１０は欠陥位置情報及び欠陥の面積から欠陥の全長を測定する。 - 特許庁

DEFECT DETECTOR, APPARATUS FOR ACQUIRING AMOUNT OF POSITION DEVIATION, AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検出装置、位置ずれ量取得装置および欠陥検出方法 - 特許庁

The file manager makes a position of the head RUB of a physical address of an optical disk as a position P1 of Defect start RUB, makes a position of the rear as a position P10 of Defect finish RUB, makes a section from the position P1 to the position P10 as Defect RUM section, out of a plurality of RUBs, and informs them to an AV manager.例文帳に追加

ファイルマネージャは、複数のRUBのうち、光ディスクの物理的アドレスの先頭のRUBの位置をDefect開始RUBの位置Ｐ１とし、後尾のRUBの位置をDefect終了RUBの位置Ｐ１０とし、位置Ｐ１からＰ１０までの区間をDefectRUB区間とし、これをＡＶマネージャに通知する。 - 特許庁

The defect deciding section 125 and the defect position acquiring section 126 specify the defect positions on a first recording layer.例文帳に追加

欠陥判定部１２５及び欠陥位置取得部１２６は、第１記録層の欠陥位置を特定する。 - 特許庁

To evaluate marking errors in marking at a defect position of a sheet-shaped mold body including the defect position.例文帳に追加

欠陥箇所を含むシート状成形体の欠陥箇所にマーキングする際のマーキングエラーを評価する。 - 特許庁

MEDIA DRIVE AND METHOD OF GENERATING DEFECT MAP FOR REGISTERING DEFECT POSITION OF MEDIA例文帳に追加

メディア・ドライブ及びメディアの欠陥位置を登録するディフェクト・マップを生成する方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR EVALUATING METHOD AND DEFECT POSITION SPECIFYING DEVICE例文帳に追加

半導体評価方法及び欠陥位置特定装置 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING PATTERN POSITION DEVIATION AND DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

パターン位置ずれ補正方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

An image defect is detected by a defect detecting part 50 based on the image data to store defect information indicating the position of the image defect into a defect information memory area 44a.例文帳に追加

この画像データに基づき欠陥検出部５０で画像欠陥を検出し、画像欠陥の位置を示す欠陥情報を欠陥情報記憶領域４４ａに記憶する。 - 特許庁

The educated artificial neural network discriminates the type of the defect positioned in the defect position on the basis of the defect signal and a plurality of the defect approach signals to output the type of the defect positioned in the defect position.例文帳に追加

教育された人工ニューラルネットワークは、欠陥信号及び複数の欠陥近接信号に基づいて欠陥位置に位置する欠陥のタイプを識別して、欠陥位置に位置する欠陥のタイプを出力することができる。 - 特許庁

To provide an insulation defect position locating device of a linear conductor capable of locating highly accurately an insulation defect position.例文帳に追加

絶縁欠陥位置を高精度に標定可能な線状導体の絶縁欠陥位置標定装置を得る。 - 特許庁

When a defect is detected, the position of the defect is recorded as a relative position to the reference mark (step S107).例文帳に追加

欠陥が検出された場合、その位置を基準マークからの相対位置として記録する（ステップＳ１０７）。 - 特許庁

POSITION DETECTING METHOD IN DEPTH DIRECTION OF DEFECT IN GLASS SUBSTRATE例文帳に追加

ガラス基板内欠陥の深さ方向位置検出方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOMASK, METHOD FOR DETERMINING POSITION OF PHOTOMASK DEFECT CORRECTION, AND APPARATUS FOR DETERMINING POSITION OF PHOTOMASK DEFECT CORRECTION例文帳に追加

フォトマスク製造方法、フォトマスク欠陥修正箇所判定方法、及びフォトマスク欠陥修正箇所判定装置 - 特許庁

It is a defect data analysis method to analyze the defect distribution status based on defect position coordinates detected by an inspection device to classify into any one of the distribution characteristics categories among iterations defect, high density defect, line distribution defect, ring/massive distribution defect, and random defect.例文帳に追加

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁

From the stage position of a defect detected by a review device, a defect candidate close to that stage position is listed along with the defect information (defect type, defect image, defect size) provided by an inspection device, so that a defect for use in the fine alignment correction can be selected.例文帳に追加

レビュー装置が検出した欠陥のステージ位置から、そのステージ位置に近い欠陥候補を検査装置が提供する欠陥情報（欠陥種別，欠陥画像，欠陥サイズ）とともに一覧表示し、ファインアライメント補正に使用する欠陥を選択できるようにする。 - 特許庁

The pseudo-defect information used for retrieval of the pseudo-defect includes position data of the pseudo-defect and intensity data of the pseudo-defects.例文帳に追加

疑欠陥の検索に用いる疑欠陥情報は、疑欠陥の位置データと疑欠陥の強度データを含む。 - 特許庁

Defect information to indicate a position of the detected defect in the image is generated and memorized in a defect information memory part 26.例文帳に追加

検出された画像欠陥の位置を示す欠陥情報を生成して欠陥情報メモリ部２６に記憶する。 - 特許庁

RECORDING MEDIUM, IMAGE FORMING APPARATUS, IMAGE DEFECT POSITION DETERMINATION DEVICE, IMAGE FORMATION PROGRAM, AND IMAGE DEFECT POSITION DETERMINATION PROGRAM例文帳に追加

記録媒体、画像形成装置、画像欠陥位置判定装置、画像形成プログラム、及び画像欠陥位置判定プログラム - 特許庁

To exactly recognize the defect position on a photomask substrate.例文帳に追加

フォトマスク基板上の欠陥位置を正確に把握すること。 - 特許庁

Subsequently, the defect observation apparatus 3 forms a primary defect position correction expression for optimizing a defect position at the detection coordinate system, on the basis of the position deviation amount of each measurement point.例文帳に追加

続いて、欠陥観察装置３は、各測定ポイントの位置ずれ量に基づき、検出座標系での欠陥位置を適正化するための１次の欠陥位置補正式を作成する。 - 特許庁

The position specified by the defect detection process corresponds to the site where the surface defect occurs.例文帳に追加

欠陥検出処理で特定された位置が表面欠陥の発生している箇所に相当する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for a solar battery, capable of detecting a position of a defect in a short time.例文帳に追加

短時間で、欠陥部の位置を検知できる太陽電池の欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To enhance correction accuracy of phase defect by detecting a defect position accurately when a phase defect is corrected.例文帳に追加

位相欠陥修正時における欠陥位置を正確に検出することができ、位相欠陥の修正精度の向上をはかる。 - 特許庁

To surely check the defect of respective welding spots, and further to specify the position of the defect when the defect has been found.例文帳に追加

各溶接打点の欠損を確実にチェックすることができ、欠損があった場合に欠損箇所を特定しうるようにする。 - 特許庁

Discrimination between the VC defect and the surface defect is enabled by paying attention to the difference between displacement of a VC defect generation position to a hole pattern and displacement of a surface defect generation position, to thereby enable classification into each defect.例文帳に追加

穴パターンに対するＶＣ欠陥発生位置のずれ量と表面欠陥発生位置のずれ量との違いに着目することで，ＶＣ欠陥と表面欠陥とを弁別することを可能にし、それぞれに分類するようにした。 - 特許庁

For a V line defect generated in an image due to defect in VCCD of an imaging sensor, the position (initial defect position) of a V line defect generated in an initial state of activation of an imaging apparatus is previously stored in a defect address memory.例文帳に追加

撮像センサのＶＣＣＤにおける欠陥に起因して画像において発生するＶライン傷について、撮像装置の起動初期状態において発生するＶライン傷の位置（初期傷位置）を傷アドレスメモリに予め記憶しておく。 - 特許庁

A redundant signal switching part switches the first and the second pieces of defective position information supplied to the redundant switching part when a position of defect indicated by the second defect position is positioned between a position of defect indicated by the first defect position information and the first redundant memory cell.例文帳に追加

冗長信号切替部は、第２不良位置情報が示す不良の位置が、第１不良位置情報が示す不良の位置と第１冗長メモリセルとの間に位置するときに、冗長切替部に供給される第１および第２不良位置情報を入れ替える。 - 特許庁

DETECTING AND POSITION-CONFIRMING METHOD FOR SENSOR DEFECT IN AUTOMOBILE例文帳に追加

自動車におけるセンサ欠陥の検出及び位置確認方法 - 特許庁

To provide a high-precision pattern position with less defect.例文帳に追加

欠陥が少なくかつ高精度なパタン位置精度を実現する。 - 特許庁

A scan start position of CCD data is set to zero, the number of pixels up to a defect is counted, and a defect detection position is retained in a memory.例文帳に追加

ＣＣＤデータのスキャン開始位置をゼロとして欠点までの画素数をカウントし、欠点検出位置をメモリに保持する。 - 特許庁

a defect in a crystal of a semiconductor due to an electron having left its normal position 例文帳に追加

半導体の結晶で,原子価電子が欠けてできた孔 - EDR日英対訳辞書

The signal processing section 34 identifies a position of a defect caused at an exposure start position of the received image data by using a defect correction pulse 186a and applies defect correction processing to the pixel data at this position to output a normal image without a defect.例文帳に追加

信号処理部34では、供給される画像データの露出開始位置に生じる傷の位置を欠陥補正パルス186aで特定してこの位置の画素データに欠陥補正処理を施して欠陥のない正常な画像を出力する。 - 特許庁

Defect position information including sign information for showing signs combined with the reference home position M and defect coordinate information showing the calculated defect coordinates are generated.例文帳に追加

基準となった原点Ｍと組合せをなす記号を示す記号情報と、算出した欠陥座標を示す欠陥座標情報とを含む欠陥位置情報を生成する。 - 特許庁

A defect area computing means conducts labeling processing for defect position information stored in a defect position-storing means 16 to compute the number and respective areas of respective defects.例文帳に追加

欠陥面積演算手段１８は欠陥位置記憶手段１６に記憶した欠陥位置情報をラベリング処理を行い、欠陥の数と個々の欠陥の面積を演算する。 - 特許庁

To realize defect inspection data processing by which the TAT reduction of a defect inspection process is possible and the precise defect coordinate data of a defect position can be obtained.例文帳に追加

欠陥検査工程のＴＡＴ短縮が可能で、また欠陥位置の高精度な欠陥座標データを得ることができる欠陥検査データ処理を可能とする。 - 特許庁

When a defect is observed during the defect inspection, defect information such as a position, a size and a shape of the defect is recorded, and a data such as the number of the defects is displayed.例文帳に追加

欠陥検査中に欠陥を発見した場合、その欠陥の位置や大きさ、形状などの欠陥情報を記録し欠陥数などのデータを表示する。 - 特許庁

In inspecting defects of a wafer W, the defect observation apparatus 3 inputs defect position data obtained from a defect detector 2.例文帳に追加

ウェハＷの欠陥検査を行う場合、まず欠陥観察装置３は、欠陥検出装置２からの欠陥位置データを入力する。 - 特許庁

The defect area presumption section 128 presumes the defect positions on a second recording layer based on the defect positions on the first recording layer specified by the defect deciding section 125 and the defect position acquiring section 126.例文帳に追加

欠陥領域推定部１２８は、欠陥判定部１２５及び欠陥位置取得部１２６によって特定された第１記録層の欠陥位置に基づいて第２記録層の欠陥領域を推定する。 - 特許庁

To identify the position of a defect before polarization when a defect is contained in the coaxial flexible piezoelectric body.例文帳に追加

同軸状可撓性圧電体に欠陥が含まれる場合、分極前に欠陥の位置を特定できない。 - 特許庁