「defect position」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

For example, after a correction film 8 is formed in the region including a white defect, the correction film 8 is partially removed according to the form and/or arrangement which produces the gray tone effect equivalent to the normal pattern to form a correction pattern 3a', 3b' having mutually different widths and position from the normal pattern 3a, 3b.例文帳に追加

例えば、白欠陥を含む領域に修正膜８を形成した後、正常パターンと同等のグレートーン効果を奏する形状及び／又は配列にて前記修正膜８を部分的に除去して、正常パターン３ａ、３ｂとは幅や位置が異なる修正パターン３ａ’、３ｂ’を形成する。 - 特許庁

To provide a dressing method for the surface of a continuously cast slab, by which saving in energy and equipment is realized by using at least one plasma torch corresponding to a position, a shape, and the like of a defect detected, and to provide a dressing device, by which the dressing method is effectively executed.例文帳に追加

検出された欠陥位置、形状等に応じて少なくとも一個のプラズマトーチにて対処でき、エネルギー及び設備面において節減を図ることが可能な連続鋳造鋳片の表面手入れ方法及びこの方法を効果的に実施し得る手入れ装置を提供すること。 - 特許庁

To solve a problem wherein there is similarly no reference in the result of defect inspection of a circular sample such as a disk substrate where a reference position cannot be created, so that the re-inspection of the same sample, comparing inspection between manufacturing processes, reproducibility evaluation of an inspection apparatus, and matching with other inspection apparatuses are ambiguous.例文帳に追加

ディスク基板のような基準位置を作成できない円形の試料において、欠陥検査の結果も同様に基準が無いため、同一試料の再検査、製造工程間での比較検査、検査装置の再現性評価、他検査装置との突合せなどが曖昧である。 - 特許庁

To provide a surface and internal defect inspection device, capable of enhancing inspection precision by reducing the influence of the sensitivity difference and phase noise, caused by the incident position of the reflected light from the surface of an object to be inspected (or transmission light passed through the inside of the object to be inspected).例文帳に追加

被検査物の表面からの反射光（又は、被検査物の内部を透過した透過光）の入射位置による感度差や位相ノイズの影響を小さくすることにより検査精度を向上することができる表面および内部欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image receiving recording medium roll which can reduce a manufacturing cost and time and effort of a replacement by effectively putting a part of an image receiving sheet except a defect position into practical use as much as possible even when a long-sized image receiving sheet is wound to form a roll and to provide an image formation device.例文帳に追加

長尺の受像シートを巻き取ってロールを形成した場合でも、受像シートの不良箇所以外の部分を可能な限り有効に活用して製造コストや交換の手間を削減することが可能な受像用記録媒体ロール並びに画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defective position detecting method and a seek control method performing control for making a head seek at the prescribed cylinder of a recording medium and to reduce the cost of a magnetic disk device by performing the normal positioning control of the head even when the device has the defect related to positional information at the recording medium.例文帳に追加

本発明は記録媒体の所定シリンダにヘッドをシークさせる制御を行う欠陥位置検出方法及びシーク制御方法に関し、記録媒体に位置情報に関する欠陥を有してもヘッドの正常な位置決め制御を行い、低コスト化を図ることを目的とする。 - 特許庁

When position functions corresponding to time series T1-Tn of the moving body whose defect is to be detected are expressed by X(T1)-X(Tn) (n: a natural number that is fully large) and an arbitrary natural number that is smaller than (n) and is larger than 1 is expressed by j, X (T1)=X(Tj) results.例文帳に追加

欠陥の検出対象である動体の時刻系列Ｔ１〜Ｔｎに対応する位置関数をＸ（Ｔ１）〜Ｘ（Ｔｎ）で表し（ｎは十分に大きい自然数）、ｎより小さく１より大きい任意の自然数をｊで表すと、Ｘ（Ｔ１）＝Ｘ（Ｔｊ）である。 - 特許庁

Only a component which varies in cycles longer than the size of a circuit pattern and repetition cycles in a potential contrast image obtained with the reflected electrons is imaged through lenses 8, 12, and 13 and an image signal is compared with a previously set value to find whether there is a defect and measures its position.例文帳に追加

反射電子により得られる電位コントラスト像のうち、回路パターンのサイズや繰り返し周期より長い周期で変化する成分のみを、レンズ８、１２、１３により結像し、画像信号をあらかじめ設定した値と比較することにより、欠陥の有無および位置を計測する。 - 特許庁

A display electrode repairing method uses a laser beam to cut the display electrode from the opening and along the metal line to separate a defect position and the other part on the display electrode, so that a short circuit on display electrodes is prevented.例文帳に追加

この画素電極の補修方法は、レーザを用いて前記開口部から、金属配線の方向に沿って、画素電極上における欠陥のある位置とその他部分とを分離することで、画素電極の互いの間が導通してしまうという不具合を防止するものである。 - 特許庁

To provide consumable electrode type arc welding equipment in which an excellent weld bead with no defect is available even when the position of supplying a filler wire is horizontally dislocated in a weld line direction due to the influence of the bend or the like of a filler wire in the forwarding direction of a consumable electrode wire.例文帳に追加

消耗電極ワイヤの進行方向に対するフィラーワイヤの曲がりくせなどの影響によって、フィラー供給位置が溶接線方向に対して左右にずれた状態においても、欠陥なく良好な溶接ビードを得ることのできる消耗電極式アーク溶接装置を提供すること。 - 特許庁

To enable elimination of a defect such as ink leakage due to an ink excessive supply, a poor image, etc. due to an ink shortage since this invention can remarkably improve the detecting accuracy of the position information of a negative pressure state displaying means and can minutely judge the positional slippage of a recording head.例文帳に追加

本発明は、負圧状態表示手段の位置情報の検出精度を格段に向上させることができ、記録ヘッドの位置ずれを精密に判断できるため、インク過供給によるインク漏れや、インク不足による画像不良などの不具合をなくすことができる。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus which has a structure in which a plurality of squeezing rollers are arranged in a rotating direction of an image carrier, the image forming apparatus preventing the occurrence of image defect by stabilizing moving speed of a surface of the image carrier at a squeezing position; and to provide an image forming method using the image forming apparatus.例文帳に追加

像担持体の回転方向に沿って複数のスクイーズローラーを配置した構造を有する画像形成装置および当該装置を用いた画像形成方法において、スクイーズ位置での像担持体表面の移動速度を安定化させて画像不良の発生を防止する。 - 特許庁

This constitution enables the displaying of a better radiation image on the image display device 56 based on the image data after the correction while allowing easier judgment of the position of the image defect corrected by displaying the radiation image on the image display device 56 based on the image data before the correction.例文帳に追加

補正後の画像データに基づいて良好な放射線画像を画像表示装置５６に表示させることができると共に、補正前の画像データに基づく放射線画像を画像表示装置５６に表示することにより補正が行われた画像欠陥の位置も容易に判別できる。 - 特許庁

By forming a contact hole 30 at a position above a drain electrode D on the first insulating film 27 where the film is not thinned, above the auxiliary capacitor electrode 18a so as to electrically connect the pixel electrode 20 and the drain electrode D, a bright spot defect during manufacture is reduced.例文帳に追加

なお、コンタクトホール３０を補助容量電極１８ａ上の薄肉化されていない第１の絶縁膜２７上のドレイン電極Ｄ上に位置するように形成して画素電極２０とドレイン電極Ｄとを電気的に接続すると、製造時の輝点不良も減少する。 - 特許庁

The historical defect list 8 is created for each wafer 1 and comprises a coordinates position, the number of detects, size, a cluster information, an index information of an image capturing, and the like of each defects for every inspection processes 31, 32, etc., and 3N, and every information in relation to the defects of the wafer.例文帳に追加

この欠陥来歴リスト８は、ウエハ１毎に作成され、各検査工程３_1,３_2,……,３_N毎に分けて夫々の欠陥の座標位置や検出数，大きさ，クラスタ情報，画像取得のインデックス情報などからなり、当該ウエハでの欠陥に関する全ての情報を含んでいる。 - 特許庁

To provide a droplet discharge apparatus in which the discharge defect and the displacement of the discharge position of ink are prevented even when a discharge recovery operation such as a wiping operation or a flashing operation is not carried out for a little while in the discharge of the ink on a large sized substrate using the droplet discharge apparatus, an electro-optic device and electronic equipment.例文帳に追加

液滴吐出装置を用いて大型の基板上にインクを吐出し、ワイピング操作やフラッシング操作等の吐出回復操作を暫時行わない場合でも、インクの吐出不良及び吐出位置のズレを防止した、液滴吐出装置、電気光学装置、及び電子機器を提供する。 - 特許庁

To provide a method for estimating a contact defect position where electric connection between solder balls of an integrated circuit device and a metallic foil of a printed board is different from design in a ball grid array (BGA) type integrated circuit device mounted on the printed board by using solder.例文帳に追加

プリント基板上にはんだを用いて実装されたＢＧＡ（ボール・グリッド・アレイ）タイプの集積回路デバイスが、集積回路デバイスのはんだボールとプリント基板の金属箔との間で設計通りの電気的な接続をしていない接触不良箇所を推定する方法を提供する。 - 特許庁

To eliminate a defect in a paper sheet feeding system that a sag is generated in transfer paper when a stopper located in a position to regulate a tip of the transfer paper is pushed aside by the transfer paper to require skew correction, by providing, energizedly to be freely rotatable, a stopper for the tip of the transfer paper on a register roller shaft normally rotated.例文帳に追加

常時回転するレジストローラの軸上に転写紙の先端のストッパを回動自在に付勢して設け、転写紙先端を規制する位置にあるストッパを転写紙が押しのける時に転写紙にたるみができ、スキュー補正をする給紙方式の欠点を解消する。 - 特許庁

To provide a coordinate correction method between different apparatuses which enables access to a defective position simply and precisely with a defective review system, based on coordinate information of an arbitrary defect obtained by a shape defective inspection device, and to provide an inspection method using the coordinate correction method.例文帳に追加

外観欠陥検査装置で取得した任意の欠陥の座標情報に基づき欠陥レビュー装置で当該欠陥位置に容易に且つ精度良くアクセス可能にする異なる装置間の座標補正方法及びこの座標補正方法を用いた検査方法を提供する。 - 特許庁

A caught image is subjected to feedback, and the result is displayed while desirably overlapped on the object 1 so as to confirm the the feedback result on the object 1 so that the position, etc., of the part of a defect, etc., of the object 1 can be recognized on the actual object in particular.例文帳に追加

特に、被写体１の欠陥等の部分の位置等をその実際の被写体上で知ることができるように、撮り込んだ画像にフィードバックをかけて、その結果を望ましくは被写体１上に重ねて表示し、フィードバックの結果を被写体１上で確認するようにしたもの。 - 特許庁

To provide a developing device, a developing cartridge, a process cartridge, and an image forming apparatus constituted to prevent an image defect by absorbing the tolerance of respective parts and always making the position of a developing roller in a thrust direction constant and constituted to be easily assembled.例文帳に追加

各部品の公差を吸収し、かつ現像ローラのスラスト方向位置を常に一定とすることで画像不良を防止する構成を提供するとともに、組み立てが容易な構成とした、現像装置及び現像カートリッジ及びプロセスカートリッジ及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and a PTP packaging machine capable of carrying out transmission type inspection and reflection type inspection at the substantially same position, capable of saving a space, capable of reducing a manufacturing cost and capable of enhancing inspection efficiency, when inspecting an appearance defect in a manufacturing process of a PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における外観不良を検査するに際し、透過式検査及び反射式検査を略同一位置において実施でき、省スペース化、製造コストの低減及び検査効率の向上を図ることのできる外観検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

Hereby, even if the illuminance distribution in the illumination spot by the actual illumination optical system is not necessarily the Gaussian distribution, each accuracy of the particle size calculation of the foreign matter or the defect to be detected and the coordinate position on the inspection object surface can be improved.例文帳に追加

これにより、実際の照明光学系による照明スポット内の照度分布が必ずしもガウス分布とならない場合においても、検出される異物・欠陥の粒径算出および被検査物体表面上での座標位置の精度を向上させることが可能になる。 - 特許庁

To provide a device for electronic component mounting that can correctly detect thickness abnormality of a substrate and prevent a height position error and a flatness defect of the substrate due to the thickness abnormality, and to provide a substrate underside supporting method of the device for mounting the electronic component.例文帳に追加

基板の厚み異常を正しく検出することができ、厚み異常に起因する基板の高さ位置誤差や平面度不良を防止することができる電子部品実装用装置および電子部品実装用装置における基板下受け方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To enhance reliability and productivity of semiconductor devices by preventing anomalous electrostatic charging of a circuit pattern, and controlling electrostatic charge voltage to a desired value uniformly in an electron-beam irradiation region in a method of inspecting the position and the type of defect on a wafer having a circuit pattern using a charged-particle beam during a semiconductor manufacturing process.例文帳に追加

荷電粒子線を用いて、半導体製造工程途中の回路パターンを持つウエハ上の欠陥の位置や種類を検査する方法において、回路パターンの異常な帯電を防ぎ、電子線照射領域を均一に、所望の帯電電圧に制御し、半導体装置の信頼性および生産性を高める。 - 特許庁

The control part 112 determines a position of irradiating the top of the glass substrate 102 with laser beams so that a range of irradiating the top of the glass substrate 102 with the laser beams emitted from a laser oscillator 103 includes at least one of a plurality of contact points between the external form of the defect and a circumscribing rectangle that circumscribes the external form.例文帳に追加

また、制御部１１２は、レーザ発振器１０３から出射されたレーザ光がガラス基板１０２上に照射される範囲が、欠陥の外形とその外形に外接する外接矩形との複数の接点のうち少なくとも１つを含むように、ガラス基板１０２上にレーザ光を照射する位置を決定する。 - 特許庁

To provide a method of resin sealing and molding an electronic part, which stably cuts and separates a package and a resin passage at a specific cutting and separating position, by using the resin molding die of the electronic part made in a ful consideration of the matter of a remaining gate and a package defect.例文帳に追加

ゲート残り及びパッケージ欠けの問題に十分に配慮した電子部品の樹脂封止成形用金型を用いることにより、パッケージ部分と樹脂通路部分とを特定な切断分離箇所にて安定して切断分離することができる、電子部品の樹脂封止成形方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

While the surface of the semiconductor wafer W is held at a nearly constant processing temperature T2, even a position a little deeper than the surface is raised in temperature to some extent, so the activation of implanted ions and the recovery of an introduced defect are both achieved without thermally damaging the semiconductor wafer W.例文帳に追加

半導体ウェハーＷの表面温度を概ね一定の処理温度Ｔ２に維持しつつも、表面よりやや深い位置をもある程度昇温することができるため、半導体ウェハーＷに熱的なダメージを与えることなく、注入されたイオンの活性化および導入された欠陥の回復の双方を行うことができる。 - 特許庁

In the case of moving down a lift member 1, when the lift member 1 is detected by a lower limit position detecting sensor 13 with a number of pulses less than a number of pulses applied when moving up that lift member 1, the occurrence of disconnection or connection defect in the upward movement of the lift member 1 is decided.例文帳に追加

昇降部材１が下降するとき、その昇降部材１の上昇時に与えたパルス数よりも少ないパルス数ですでに下限位置検出センサ１３により昇降部材１を検出すると、昇降部材１の上昇時に断線、接続不良が生じたと判定することを特徴とする。 - 特許庁

The concentration value in the camera coordinates for inspection acquired in the inspection is transformed into a corresponding coordinates for the inspection corresponding to the each pixel position of the flat panel display, based on the correspondence table 41, and an estimated image corresponding to a luminescent brightness of the flat panel display is formed based on the neighboring concentration distribution to inspect the defect.例文帳に追加

検査時に取得した検査用カメラ座標での濃度値を対応表４１に基づいてフラットパネルディスプレイの各画素位置に対応した検査用対応座標に変換し、近傍濃度分布によりフラットパネルディスプレイの発光輝度に対応する推定画像を形成して欠陥検査を行う。 - 特許庁

Waveform when the guide wave by the reference waveform is reflected by a defect Do at the center position of the inspection region R and is received by a guide wave transmission/reception element 1, is calculated based on the thickness and material, and transmitted waveform is created so that the calculated reception waveform is transmitted from that having larger reception time.例文帳に追加

基準波形によるガイド波が検査領域Ｒの中心位置にある欠陥Ｄｏで反射してガイド波送受信素子１で受信されるときの波形を、肉厚と材質に基づき計算し、計算した受信波形で受信時間が遅いものから順に送信するように送信波形を作成する。 - 特許庁

In the pattern inspection of a semiconductor device, a basic pattern used for correcting the mounting position of a sample substrate on a supporting base is recorded previously, the positional shift of mounting is corrected using the basic pattern, the image of a pattern formed on the sample substrate mounted on the supporting base is acquired, and then the defect of the pattern is detected from the image thus acquired.例文帳に追加

半導体装置のパターン検査において、試料基板の支持台に載置する際の載置位置の補正に用いる基本パターンを予め記録し、基本パターンを用いて載置位置のずれを補正して、支持台に載置された試料基板に形成されたパターンの画像を取得し、取得された画像から、パターンの欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a signal processing apparatus of an optical signal output device which can check reliability under influence of defect and the like on scale, while maintaining resolution and stability of position detection at a high level over a large displacement detection range, and an optical displacement detecting device including such a signal processing apparatus.例文帳に追加

位置検出の分解能及び安定性を広い変位検出範囲に渡って高いレベルで維持しつつ且つスケール上の欠陥等の影響による信頼度をもチェックできる光学式信号出力装置の信号処理装置及びそのような信号処理装置を備えた光学式変位検出装置を提供すること。 - 特許庁

The defect inspection method of the polarizing plate with the separate film which uses transmission light of a polarizing plate with the use of a light source arranged in one side of the polarizing plate and a camera arranged in the other side thereof adjusts a light-receiving direction of the camera and a position of the light source so as to prevent the transmission light from the light source from directly entering into the camera.例文帳に追加

偏光板の一方の側に配置された光源と他方の側に配置されたカメラとを用い、偏光板の透過光を利用するセパレートフィルム付き偏光板の欠陥検査方法において、光源からの透過光が直接カメラに入射しないようにカメラの受光方向と光源の位置を調整する。 - 特許庁

Linking information between component lot numbers and serial numbers is stored, and a lot number of a component is extracted from a serial number and component position information which relate to the occurrence of a defect, and a commodity using the component of the lot number is extracted, so that a defective commodity is quickly specified and a countermeasure can be quickly taken.例文帳に追加

部品ロット番号と製造番号との紐付け情報を蓄積し、不良が発生した製造番号と部品位置情報から、部品のロット番号を抽出し、さらに、そのロット番号の部品を使用した商品を抽出することで、迅速な不良商品の特定及び対策の実施が可能となる。 - 特許庁

To provide a card type electronic circuit module that can have a tall electronic component mounted on a circuit board stored in a case while an external size and a height position of a terminal electrode meet the standard, and also can have a wide mounting area on a main surface of the circuit board to hardly have a defect in continuity of the terminal electrode.例文帳に追加

外形寸法や端子電極の高さ位置を規格に準じつつ、筐体内に収納される回路基板に背の高い電子部品を実装可能であると共に、該回路基板の主面に広い実装領域を確保できて端子電極の導通不良も発生しにくいカード型電子回路モジュールを提供すること。 - 特許庁

To provide a device in which a probe can be used both for observation and correction and which can perform desired processing without injuring a normal portion, even if a next generation photomask having a ultrafine structure is used as an object, in a step of acquiring information about the position and feature of a defect, or without damaging the probe during processing.例文帳に追加

観察用と修正用とでプローブを兼用でき、次世代の超微細構造のフォトマスクを対象としても欠陥部の位置と形状の情報を取得する過程において正常部分を損傷してしまうようなことがなく、また、加工時にもプローブを傷めることなく所望の加工ができる装置を提供する。 - 特許庁

When detecting the impossibility of using a trial recording area for obtaining optimal recording/reproducing conditions in the combination of a recording medium with a recorder, trial recording is carried out in a data recording area, and management information including an address pointer indicating the position of the trial recording is recorded in a defect management area.例文帳に追加

記録媒体と記録装置の組み合わせで最適な記録再生条件を求めるための試し記録領域が使用不能と検出された場合に、データ記録領域内に試し記録を行い、試し記録が行われた位置を示すアドレスポインタを含む管理情報を欠陥管理領域に記録するようにする。 - 特許庁

In the fine pattern correction method, laser light α, irradiated on a given position deviated from the center 32a of an objective lens 32, refracted with the objective lens 32, and directed toward a focus F is irradiated aslant from upward on a side wall face of the correction part 30 consisting of correction paste 21 coated on a rib chip defect 85.例文帳に追加

この微細パターン修正方法では、対物レンズ３２の中心３２ａから外れた所定の位置にレーザ光αを照射し、対物レンズ３２で屈折して焦点Ｆに向かうレーザ光αを、リブ欠け欠陥８５に塗布した修正ペースト２１からなる修正部３０の側壁面に斜め上方から照射する。 - 特許庁

To provide a defect marking device applying marking to a defective portion detected by an inspection device of a lengthy sheet-like product carried in the longitudinal direction, only in one position without damaging the sheet-like product, so that removal or repair of the defective portion is easily performed in an after process.例文帳に追加

長さ方向に搬送される長尺のシート状製品の欠陥を検査装置により検出し、検出された欠陥部分にシート状製品に損傷を与えることなく、１か所のみにおいてマーキングを施し、後工程において容易に欠陥部分の除去又は補修をすることができる欠陥マーキング装置を提供する。 - 特許庁

A defective pixel determination unit 330 determines whether or not each of pixels in a picked-up image is a defective pixel on the basis of the position information in the defective pixel address storage unit 320, and determines whether the pixel is included in the defective pixel group or not on the basis of the pixel defect information in the defective pixel address storage unit 320.例文帳に追加

欠陥画素判定部３３０は、撮像された画像における各画素について欠陥画素アドレス記憶部３２０の位置情報に基づいて欠陥画素であるか否かを判定し、その画素が欠陥画素群に含まれるか否かを欠陥画素アドレス記憶部３２０の画素欠陥情報に基づいて判定する。 - 特許庁

This test device 1 for detecting a defect inside the processed article 5, 6 and specifying a position thereof has: heat sources 2, 7, 13, 14; sensor devices 3, 10, 11, 12 for measuring temperature distribution of the surface 8 of the processed article; and an evaluation device 4 connected to the sensor devices.例文帳に追加

本発明は、加工品（５、６）内の欠陥を検出し、その位置を特定するための試験装置（１）に関するものであり、熱源（２、７、１３、１４）と、加工品の表面（８）の温度分布を測定するためのセンサ装置（３、１０、１１、１２）及びセンサ装置に接続された評価装置（４）を有している。 - 特許庁

To provide a disk drive assembly having a stopper mechanism of an actuator suitable for the high reliability of a small-sized disk device by preventing the damage of a disk and a head by the startup defect of the actuator under a high-temperature environment and the runaway of the actuator losing position control with an extremely simple mechanism.例文帳に追加

本発明は、ごく簡素な機構で、高温環境下でのアクチュエータの起動不良及び位置制御を失ったアクチュエータの暴走によるディスク及びヘッドの損傷を防止し、小型ディスク装置の高信頼性に適したアクチュエータのストッパ機構を備えたディスクドライブ装置を提供することである。 - 特許庁

A defect correction circuit 5 specifies a defective pixel signal, corresponding to the temperature white flaw contained in a pixel signal Pix that is read out the device 3 in a photographing mode, based on the position data corresponding to the actual environmental temperature and shutter speed set in a photographing mode and then corrects the specified defective pixel signal.例文帳に追加

欠陥補正回路５が、撮影時にＣＣＤ撮像素子３から読み出される画素信号Ｐix中の温度白キズに該当する欠陥画素信号を、その撮影時の実際の環境温度とシャッター速度に対応する上記の位置データに基づいて特定し、その特定された欠陥画素信号について欠陥補正を行う。 - 特許庁

To provide a visual inspection method which digitizes the position of a defect found in a visual inspection of a construction work on the spot to be specified and writes it on a conventional inspection sheet to enable implementation of correction work only by using the inspection sheet and promote conversion of inspection results into electronic data.例文帳に追加

本発明は、建築工事の目視検査で発見された不具合の位置をその場で数値として特定する目視検査方法であり、その数値を従来の検査シートに取り込もことにより、検査シートだけで是正工事の推進を可能とすると共に、検査結果の電子データ化を促進するものである。 - 特許庁