「defect state」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a reticle defect inspection device and a reticle defect inspection method, which suppresses damages on a reticle by irradiation with inspection light when a reticle is inspected in a still state.例文帳に追加

レチクルを静止させた状態での検査の際の、検査光照射によるレチクルの損傷を抑制するレチクル欠陥検査装置およびレチクル検査方法を提供する。 - 特許庁

The generation state of a defect is statistically judged and the inspection region is restricted corresponding to a case getting out of an estimated distribution system to perform the inspection of a defect.例文帳に追加

欠陥の発生状況を統計的に判断し、予想される分布形式から外れた場合に応じて検査領域を制限して、欠陥の検査を行う。 - 特許庁

Furthermore, in acquiring the state of a defect, the database is referred to and the acquisition of the state of a defect is eliminated in a chip region having been already specified as a defective chip region.例文帳に追加

また、前記欠陥の状態を把握する際には、前記データベースを参照して、既に不良チップ領域であるとして特定されているチップ領域については前記欠陥の状態の把握を省略する。 - 特許庁

To provide a bonding defect detector capable of accurately recognizing the possibility of generating a bonding defect by giving a large temperature difference to the bonding part of an electronic component and a substrate, and accurately reproducing the generation state of the bonding defect; and to provide a bonding defect detection method.例文帳に追加

電子部品と基板との接合部に大きな温度差を与えることにより接合不良が発生する可能性を正確に把握したり、接合不良の発生状態を的確に再現可能な接合不良検知装置、並びに、接合不良検知方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a memory test circuit and a memory test method capable of easily obtaining a state of defect and collecting all defect information even with a small capacity of memory for storing the defect information.例文帳に追加

不良が発生した状態を容易に把握することができ、かつ不良情報を格納するメモリの容量が少なくともすべての不良情報を収集することができるメモリテスト回路及びメモリテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a solid-state image pickup device with which a defect can be more exactly detected by preventing a detection error caused by the time change of a pixel defect and the defect can be corrected without deteriorating a spatial resolution.例文帳に追加

画素欠陥の時間変化による検出誤りを防止することを通じてより正確な欠陥検出を行い、また、空間解像度を劣化させることなく欠陥補正を行うことのできる固体撮像装置を提供する。 - 特許庁

In an initial inspection, defect detection processing for the solid- state image pickup element is performed, a defect number is attached to the detected defective pixel, and defect information (a defective part and a defective level) is successively stored in a memory space block 10.例文帳に追加

初期検査時において、固体撮像素子の欠陥検出処理を行い、この検出された欠陥画素に欠陥番号を付して欠陥情報（欠陥個所、欠陥レベル）を順次メモリ空間ブロック１０に格納していく。 - 特許庁

In this case, the image data for inspection is converted in correspondence with the image state of the image for defect detection, and thus it is discriminated whether the abnormal position detected from the image for defect detection is a true defect or not.例文帳に追加

その際、検査用画像データを欠陥検出用画像の画像状態に対応させて変換することにより、欠陥検出用画像から検出される異常個所が、真の欠陥であるか否かを判定することができる。 - 特許庁

To achieve high reliability defect inspection by obtaining and correcting the setting state of a spatial filter in advance, thereby markedly enhancing precision of defect inspection in a DF defect inspection device equipped with a spatial filter.例文帳に追加

空間フィルタを備えたＤＦ欠陥検査装置において、事前に空間フィルタの設定状態を把握して補正し、欠陥検査精度を格段に向上させて信頼性の高い欠陥検査を実現することを可能とする。 - 特許庁

To provide a solid-state imaging device and data processing apparatus the memory defect of which can be effectively detected.例文帳に追加

効果的にメモリ欠陥の検出を行うことができる固体撮像装置及びデータ処理装置を提供する。 - 特許庁

To detect a state of conduction defect when a sheet material enters between a main body side connector and a unit side connector.例文帳に追加

シート材が本体側コネクタとユニット側コネクタとの間に入り込んだ際の導通不良状態を検知する。 - 特許庁

A location where the charge accumulation state is abnormal can be detected as a defect location in the semiconductor device.例文帳に追加

電荷の蓄積状態が正常でない箇所を、半導体装置の不具合箇所として検出することができる。 - 特許庁

The θ-type alumina has a large specific area, the carried noble metal has no defect of being stabilized in an oxidized state, and is easily reduced to a metal state.例文帳に追加

θ型アルミナは比表面積が大きく、担持されている貴金属は酸化状態で安定化されるような不具合がなくメタル状態へと還元されやすい。 - 特許庁

To easily and quickly set or change an optimum defect detection level according to the state change in a glass substrate, even if the state of the glass substrate is changed.例文帳に追加

ガラス基板の状態が変化しても、ガラス基板の状態変化に応じた最適な欠陥検出レベルを容易にかつ短時間に設定変更すること。 - 特許庁

To suppress deterioration in sensitivity in imaging without causing a state similar to a pixel defect in the imaging while focus state detection is possible.例文帳に追加

焦点検出が可能でありながら、撮像時に画素欠陥と同様の状態を引き起こすことがなく、しかも、撮像時の感度の低下を抑制する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor substrate capable of reducing a defect white blemish of a solid-state image-pickup equip ment and a method for manufacturing the solid-state image-pickup equipment.例文帳に追加

固体撮像装置の白傷欠陥を低減することができる半導体基板の製造方法および固体撮像装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

Next, the circuit 40 also predicts oscillation state of the TE signal when the defect is detected on the basis of the periods in an oscillation state prediction section 45.例文帳に追加

次に、振動状態予測部４５においてこれらの周期に基づいて当該欠陥が検出されるときのＴＥ信号の振動の状態を予測する。 - 特許庁

To provide an evaluation method for a solid-state image pickup device by which a noise component of a pixel signal causing an image defect separated by cause of generation can be extracted for the evaluation of the solid-state image pickup device.例文帳に追加

固体撮像装置の評価において、画像欠陥を引き起こす画素信号のノイズ成分を、発生原因別に分離して抽出する。 - 特許庁

An SEM scanning of the region provides defect information (determining whether open or short, positions of the defect electrode) of the electrode patterns based on an SEM image light-dark arrangement state of the respective extension wirings.例文帳に追加

この領域をＳＥＭ走査して、各延伸配線のＳＥＭ像明暗配列状態から、電極パターンの欠陥情報（オープン・ショートの判定、欠陥電極の位置など）を得る。 - 特許庁

To provide a defect detection method of a plate-like body capable of detecting a defect of the transparent or translucent plate-like body highly accurately without reflecting a rear surface state of the plate-like body.例文帳に追加

透明又は半透明の板状体の欠陥を、板状体の裏面の状況を反映することなく高精度で検出できる板状体の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device of solid-state imaging element and an inspection method thereof capable of conducting an electric pixel defect inspection and a pixel defect inspection through image analysis, thereby improving yield.例文帳に追加

本発明は、電気的画素欠陥検査と、画像分析による画素欠陥検査を行うことができ、歩留まりを向上させる固体撮像素子の検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To check the related state of a macro-defect part and a micro-defect part by superposing a macro-inspection image and a micro-inspection image one upon another and to enhance the inspection efficiency of a glass substrate.例文帳に追加

マクロ検査画像とミクロ検査結果とを重ね合わせてマクロ欠陥部分とミクロ欠陥部分との関連状況をチェックでき、ガラス基板に対する検査効率を向上すること。 - 特許庁

The system controller 112 confirms an opening/closing state of the eyepiece shutter prior to the defect detection and when the eyepiece shutter is opened, starts the defect detection after performing driving to close it.例文帳に追加

欠陥検出に先立ち、システムコントローラ１１２はアイピースシャッタの開閉状況を確認し、アイピースシャッタが開いている場合にはそれを閉駆動してから欠陥検出を開始する。 - 特許庁

To provide a specification defect verification system for operating a state transition model describing product specifications with all parameters, and for easily verifying a defect to be prevented for security.例文帳に追加

製品仕様を記述した状態遷移モデルを、全パラメータにより動作させ、セキュリティ上の起こるべきではない欠陥を、簡易に検証する仕様欠陥検証システムを提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection apparatus for precisely detecting a defect not larger than a size desired by a user without depending on a change and a fluctuation in a generation state of shading.例文帳に追加

シェーディングの発生状態の変化及び変動に依存せず、ユーザが所望するサイズ以下の欠陥を高精度で検出することができる欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To prevent occurrence of erroneous insertion in a terminal group of a uniform projection state defect where a uniform projection state defect occurs in each terminal, in relation to terminal inspection for inspecting a projection state of a terminal mounted to protrude to a holding member by a terminal inspection tool.例文帳に追加

保持部材に突出装着された端子の突出状態を端子検査治具で検査する端子検査について、各端子に一律的な突出状態不良を生じている一律的突出状態不良の端子群に過誤挿通が発生するのを防止できるようにする。 - 特許庁

To provide a defect detection method of a cylindrical structure applied to defect detection of the cylindrical structure in the buried state, having excellent transmission efficiency of an SH wave to be transmitted and received, and capable of detecting the defect accurately and easily.例文帳に追加

埋設状態にある円筒形構造物の欠陥の検出に適用され、送受信されるＳＨ波の伝達効率に優れ、その欠陥を精度よく容易に検出することができる円筒形構造物の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

In the review SEM (defect observation apparatus), the importance degree of images or the like is judged from information such as the classified result of a picked-up defect image, a defect feature amount calculated from the image and the imaging state of the image, and is added to each image as incidental information.例文帳に追加

レビューＳＥＭにおいて、撮像した欠陥画像の分類結果、画像から算出された欠陥特徴量、画像の撮像状態などの情報から画像の重要度等を判定し、各画像に付帯情報として付加する。 - 特許庁

To provide an inspection device which can well perform inspection of a defect in an emission state regardless of types of line heads.例文帳に追加

ラインヘッドの種類によらず良好に発光状態の欠陥検査を行うことが可能な検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device of the structure in which its internal defect is well detected even in its completed state.例文帳に追加

完成状態でも内部の不良を良好に検出することができる構造の半導体装置を提供する。 - 特許庁

To manufacture simply and economically a biological tissue prosthesis which can be filled up in a biological tissue defect part in a sound state.例文帳に追加

健全な状態で生体組織欠損部に補填し得る生体組織補填体を簡易かつ無駄なく製造する。 - 特許庁

To remarkably enhance inspection efficiency by detecting a pixel defect by an electric inspection at a substrate state.例文帳に追加

画素欠陥を基板状態での電気的な検査によって検出可能にして、検査効率を著しく向上させる。 - 特許庁

To provide a solid state image pickup device, preventing image defect due to dust and not impairing reduction in size in simple constitution.例文帳に追加

簡単な構成で、ゴミによる画像不良を防止しつつ、小型化を損なわない固体撮像装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory which can analyze easily a defective state when defect is caused at testing of a memory.例文帳に追加

メモリのテスト時に不良が生じた場合、その不良状況の解析が容易な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for detecting defects of an object to be measured for specifying a defect generating factor by detecting a detailed position of an insulation defect generating part and determining the defect state inside an apparatus such as a miniaturized power module increasing in density.例文帳に追加

小型・高密度化するパワーモジュールのような機器内部の絶縁欠陥発生箇所の詳細な位置検出および欠陥状態の判別をすることで欠陥発生要因の特定を行うことのできる被測定物の欠陥検出装置と方法を提供する。 - 特許庁

To always hold the correct operating state of a wastewater pump apparatus by detecting at least one of a defect in a wastewater pump, a defect of a motor, and the inspection time of the apparatus.例文帳に追加

排水ポンプ内の異常と電動機の異常及び点検時期の少なくとも一つを把握できるようにしたことにより、排水ポンプ装置を常に正しい運転状態に保持することを目的とする。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus for detecting a very small defect of a solid-state image sensor conspicuous as an image is brighter and correcting a pixel signal of the detected very small defect, and to provide a correction method of the pixel signal.例文帳に追加

画像が明るいほど目立つ固体撮像素子の微小欠陥を検出し、検出された微小欠陥の画素信号を補正する撮像装置および画素信号の補正方法を提供する。 - 特許庁

When the comparison circuit 43 judges the weaving stop state of the loom, the output circuit 39 cancels the judgement of the presence of defect made by a defect judging means included in the signal processing circuit board 21.例文帳に追加

比較回路４３が製織停止状態と判定したときには出力回路３９は、信号処理回路基板２１に含まれる欠点有無判定手段の欠点有りの判定を無効化する。 - 特許庁

Since at least one of the defect in the pump apparatus, the defect of the motor, and the inspection time of the apparatus can be detected, the wastewater pump apparatus can always be maintained in a correct operating state.例文帳に追加

これにより、ポンプ装置内の異常と電動機の異常及び点検時期の少なくとも一つが把握することができるので、排水ポンプ装置を常に正しい運転状態に保持することができる。 - 特許庁

To facilitate specification of a trouble caused by an inspection equipment or process by performing defect distribution state analysis based on defect data detected by the inspection equipment in the production process of a semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板の製造工程において、検査装置によって検出された欠陥データに基づいて欠陥分布状態解析を行い、装置あるいはプロセス起因の不良原因の特定を容易にする。 - 特許庁

To provide an image forming device which makes the life of the device longer by maintaining the state of preventing the occurrence of both of the fogging and contamination by an electrostatic charge defect and the ghost by a defect in scrapping off residual developers.例文帳に追加

帯電不良によるかぶりや汚染、残留現像剤のかきとり不良によるゴーストが共に発生しない状態を維持してより装置の長寿命化を図る画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device such that a defect detection test can be conducted even in a product state after a packaging process.例文帳に追加

パッケージング工程後の製品状態においても欠陥検出試験を行うことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To reduce a color noise caused by pixel defect or the like of a solid-state imaging element without any causing image blur.例文帳に追加

カラー固体撮像装置の固体撮像素子の画素欠陥等によリ発生する着色ノイズを画像ボケを伴わずに低減する。 - 特許庁

SPONTANEOUS LIGHT EMISSION MODULE, ELECTRONIC EQUIPMENT MOUNTED WITH SAME MODULE, AND METHOD FOR VERIFYING DEFECT STATE OF SAME MODULE例文帳に追加

自発光表示モジュールおよび同モジュールを搭載した電子機器、ならびに同モジュールにおける欠陥状態の検証方法 - 特許庁

To provide a digital image forming device that does not reach a fault state, even if a defect occurs in a medium.例文帳に追加

媒体に不良が発生しても異常動作にまで至らないようにすることができるデジタル画像形成装置を提供する。 - 特許庁