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「defect state」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索
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defect stateの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 564



例文

To obtain a metallic product having a good surface state and no defect, such as pin hole, and good yield of the product, in a casting and obtain a long service life of a die and eliminate defective filling when a projecting part is formed, and improving the yield, in a hot-forging.例文帳に追加

鋳物では、表面の状態が良く、ピンホールなどの欠陥がなくて、製品の歩留りを良くし、熱間鍛造では、金型の寿命が長く、突出部を形成する際の充填不良による欠肉をなくし、歩留を向上すること。 - 特許庁

To provide a polyester film which can evenly realize high brightness and give high quality images in a defect-less state, when used as a member for LCD, PDP, organic EL, projection display or the like, and has good optical performances and good mechanical characteristics.例文帳に追加

LCD、PDP、有機EL、プロジェクションディスプレイなどの部材として使用した際に、ムラや欠陥がなく、高度な輝度を実現し、高品質な画像を与えることができる、光学的性能および機械的特性の良好なポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

A prescribed image 7 is formed in an image space 15 in such a way that a difference in an image-forming state occurs between a surface part 5 without defects and a defective part 6 with a defect in an object surface 4 at capturing of object surface 4 from the direction of regular reflection A.例文帳に追加

物体表面4を正反射方向Aから捕らえたときに物体表面4の欠陥がない表面部分5と欠陥がある欠陥部分6とで結像状態の差が生じるように所定の像7が、像空間15に形成される。 - 特許庁

To provide an address buffer of a flash memory including a nonvolatile section selecting code cell which can select an arbitrary sector so that a normal sector can be utilized by making a memory sector in which defect occurs in a highly integrated core product a disable-state.例文帳に追加

高集積のコアプロダクトにおいて欠陥の生じたメモリセクタを不能状態(ディスエーブル)にして正常セクタを利用できるように任意のセクタを選択することができる不揮発性区域選択コードセルを含むフラッシュメモリのアドレスバッファを提供すること。 - 特許庁

例文

To prevent the occurrence of an image defect such as dot omission in next printing even when power supply is interrupted unexpectedly or when a user replaced a print head under a state where power is not supplied yet and replaced an ink tank.例文帳に追加

予期せずに電源供給が遮断された場合でも、または、電源未供給状態で使用者が印字ヘッドを交換し、インクタンクを交換した場合でも、次の印刷の際にドット抜け等の画像障害が生じないようにすることを目的とする。 - 特許庁


例文

To provide an inexpensive surface protective film which is excellent in the ability to protect an adherend (especially an optical sheet) and capable of carrying out an inspection of a defect on the adherend (in particular, the optical sheet) in high resolution, at the state that a surface-protective film (a pressure-sensitive adhesive sheet) is adhered to the adherend.例文帳に追加

被着体(特に光学シート)の保護性能に優れ、表面保護フィルム(粘着シート)を貼付した状態で、被着体(特に光学シート)の欠陥検査を精度良く行うことのできる安価な表面保護フィルムを提供する。 - 特許庁

In a region nearby a pn junction where the density of carriers injected in a forward bias state is relatively high or a region nearby an n+n junction, a polysilicon film is formed as a predetermined film having a crystal defect as a center of recombination.例文帳に追加

順バイアス状態で注入されたキャリアの濃度が比較的高いpn接合付近の領域またはn+n接合付近の領域に、再結合中心となる結晶欠陥を有する所定の膜として、ポリシリコン膜が形成されている。 - 特許庁

To prevent defect, in which a shape of adhesion unevenness is copied in a graphic, by a concise and low cost means if an adhesive applied to a reverse surface of a solid state image sensing element has its adhesion unevenness when the reverse surface of the solid state image sensing element formed on a semiconductor substrate is adhered to an element supporting surface of a package by using the adhesive such as silver paste.例文帳に追加

半導体基板に形成した固体撮像素子の裏面を、銀ペーストのような接着剤を使用してパッケージの素子支持面に接着する場合に、固体撮像素子の裏面に塗布した接着剤に付着むらがあると、その付着むらの形状が画像に写し込まれてしまうという不具合を、簡明で低コストの手段によって防止する。 - 特許庁

A quality state calculation part 50 determines a manufacturing process classification using the material defect database 600 based on the manufacturing history of the manufacturing history database 400 and material defect information of a quality information database 310, further determines a manufacturing process relating to the manufacturing process classification using the manufacturing process classification database 500, and then calculates the relationship between the manufacturing condition and quality of the metal band material.例文帳に追加

その上で、品質状況算出部50は、製造履歴データベース400の製造履歴と品質情報データベース310の品質不良情報とを基に、品質不良データベース600を用いて工程分類を判別すると共に、工程分類データベース500を用いて該工程分類に関連する工程を判別し、金属帯材料の製造条件と品質との関連性を算出する。 - 特許庁

例文

To provide a metal strip winding device capable of winding a metal strip without causing any cave-in defect occurring, in particular, in the vicinity of a far-most tail end when winding the metal strip into a coil state.例文帳に追加

本発明は、上述したような従来技術の問題を解消し、金属帯をコ イル状に巻き取るに際し、特に最尾端近傍で発生する腰折れ欠陥を発生させ ることなく金属帯を巻き取ることができる装置の提供を目的とするものであ る。 - 特許庁

例文

To obtain a thick molding having high quality without developing internal defect by a semi-molten metal injection molding method, where molten magnesium alloy is injected in a semi-molten state into a cavity in a die through a product gate to form the thick molding.例文帳に追加

マグネシウム合金の溶湯Mを、半溶融状態で金型11のキャビティ13に製品ゲート17を介して射出して厚肉成形品を成形する半溶融射出成形方法に対して、内部欠陥のない高品質の厚肉成形品が得られるようにする。 - 特許庁

When there is nondefect in the first and second transfers 150a, 150b, a specified pattern is displayed on the liquid crystal panel, however, when there is defect in the first or second transfer 150a or 150b, a pattern different from that in the normal state is displayed.例文帳に追加

第1及び第2のトランスファー150a,150bに欠陥がないときには液晶パネルに特定のパターンが表示されるが、第1のトランスファー150a又は第2のトランスファー150bに欠陥がある場合は、正常時と異なるパターンが表示される。 - 特許庁

To enable a semiconductor solid-state image pickup device to eliminate an OB pixel, shorten the period required for a clamping means, and supply a stable clamping level, with respect to dark level fluctuations due to the defect of the OB pixel and stray light.例文帳に追加

半導体固体撮像装置において、(1)OB画素が必要でなくなる、(2)クランプ手段に必要な期間を短縮できる、(3)OB画素の欠陥や迷光等によるダークレベルの変動に対して安定したクランプレベルを供給できる、ということを課題とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor substrate processing device that prevents a processing defect of a semiconductor device by speedily grasping abnormality of an operation state of a lift pin and is surely improved in yield of products by greatly reducing manufacture loss of the semiconductor device.例文帳に追加

リフトピンの動作状況の異常を迅速に把握して半導体装置の加工不良を未然に防ぐことができ、半導体装置の製造ロスを大幅に軽減して製品の歩留まりを確実に向上することができる半導体基板処理装置を提供する。 - 特許庁

In a sizing process, deformation processing is applied to a steel pipe electro-resistance-welded having a circular section in a direction wherein a fine defect in the weld is enlarged by sizing rolls for the deformation processing, and ultrasonic flaw inspection of the weld is performed in this state.例文帳に追加

サイジング工程の中で、電縫溶接された断面が円形の鋼管を、変形加工用のサイジングロールにより溶接部の微少な欠陥が拡大する方向に変形加工を施し、この状態で溶接部の超音波探傷検査を行うようにした。 - 特許庁

To provide a tester for a solar cell having a simple structure, which emits light of EL by passing forward current to the solar cell and shortens the test time of a defect test in a state where the resolution of a photographed image is excellent.例文帳に追加

太陽電池に順方向の電流を流してEL発光させる検査装置であって、構造が簡単で、撮影した画像の解像度が良好な状態での欠陥検査の検査時間を短縮することができる太陽電池の検査装置を提供する。 - 特許庁

To (1) eliminate an OB (Optical Black) picture element, (2) reduce time required for clamp method, (3) provide stable clamp level with respect to fluctuation of dark level due to defect, stray light, or the like in the OB picture element in a semiconductor solid-state image pickup device.例文帳に追加

半導体固体撮像装置において、(1)OB画素が必要でなくなる、(2)クランプ手段に必要な期間を短縮できる、(3)OB画素の欠陥や迷光等によるダークレベルの変動に対して安定したクランプレベルを供給できる、ということを課題とする。 - 特許庁

The threshold voltage of the element is prevented from varying since an impurity activating process for the source/drain area can be omitted, and no determination defect of the substrate is generated since the impurities are diffused in a solid state, so that a leak current flowing through a joint can be reduced.例文帳に追加

ソース/ドレーン領域の不純物活性化工程が省略できるので素子のスレショルド電圧変動を防止でき、固体状態で不純物を拡散させるために基板の決定欠陥が発生せず、よって接合を通じた漏れ電流を減らせる。 - 特許庁

Thus, even if thickness (average value) T1 of a ceramic green sheet is reduced to 3 μm, the worst state of projecting the aggregated particles of the maximum grain size D1 contained in the conductive layer through the ceramic green sheet is avoided, thereby preventing a short-circuiting defect.例文帳に追加

この構成によれば、セラミックグリーンシートの厚み(平均値)T1を、3μmまで薄くした場合でも、導電層に含まれる最大粒径D1の凝集粒子が、セラミックグリーンシートを突き抜けるという最悪の状態を回避し、ショート不良を防止し得る。 - 特許庁

To make detectable defects in a fine pattern on a transparent layer insulating film and on the same layer with high sensitivity while detecting the defects of a lower layer pattern and the same pattern in the defocused state to detect only the defect of a process to be originally inspected.例文帳に追加

透明な層間絶縁膜上の微細パターンおよび同一層の欠陥を感度良く検出する一方、下層のパターンおよび同一層の欠陥をデフォーカスした状態で検出し、本来検査したい工程の欠陥のみを検出可能とすること。 - 特許庁

In reviewing the defects, by irradiating the primary electron beam on the testpiece in such a state that the deflection amount of the electrostatic deflector 12 is reduced than the detection time of defects, and by forming the secondary electron microscopic picture of the defect candidate of the testpiece 19, the three-dimensional SEM image is obtained.例文帳に追加

欠陥レビュー時には、静電偏向器12の偏向量を欠陥検出時より低下させた状態で1次電子線を試料に照射して試料19の欠陥欠陥候補の2次電子画像を形成することにより立体的なSEM像が得られる。 - 特許庁

To solve the problem that a lost flag can not be obtained when the state of no error apparently occurs in a 2nd error correction code in the occurrence of media defect, in the case the loss correction of a 1st error correction code is made by using the correction positional information of the 2nd error correction code.例文帳に追加

第2のエラー訂正符号の訂正位置情報を用いて第1のエラー訂正符号の消失訂正を行う場合、メディアデフェクト発生時に第2のエラー訂正符号に見かけ上エラーがない状態が発生すると消失フラグを得ることができない。 - 特許庁

To accurately and promptly detect the leakage of an airbag for a safety tire due to a defect of a pin hole and the like, without damaging a tension supporting layer, while keeping an original function supporting a load in a run flat state in stead of a tire.例文帳に追加

張力支持層に損傷を与えず、したがってランフラット状態に荷重の支持をタイヤから肩代わりするという本来の機能を保ったままの状態で、ピンホール等の欠陥に起因する安全タイヤ用空気のうの漏れを高精度かつ迅速に検出する。 - 特許庁

To provide a solid state imaging device in which the image quality of a reproduction screen is prevented from deteriorating by reducing a leak current being generated as the interface level increases due to crystal defect, or the like, in the vicinity of the substrate surface in a region where a photodiode is fabricated.例文帳に追加

フォトダイオードが形成されている領域の基板表面近辺において、結晶欠陥などに起因する界面準位の増加によって発生するリーク電流を低減し、再生画面の画質の劣化を抑止する固体撮像装置を提供する。 - 特許庁

A CDS circuit 100 samples a small signal outputted from a pixel with a small storage amount of signal charges by emitting R and B rays to the solid-state image pickup element provided with a complimentary color checkered filter so as to discriminate presence or absence of a transfer defect from the sampled data.例文帳に追加

補色市松フィルタを配置した固体撮像素子にR光やB光を照射して、信号電荷の蓄積量の小さい画素から出力される小信号をCDS回路100でサンプリングし、そのデータ値から転送欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method with a high yield suppressing a defect at a multi-layered connection position in manufacturing a multi-layer POP structure semiconductor device by multi-layering the semiconductor device in the state of a multiple patterning wiring substrate package, and thereafter cutting it by collective cutting.例文帳に追加

多数個取り配線基板実装パッケージの状態で多層化し、その後、一括切断による個片化をおこなって多層POP構造半導体装置を製造するとき、多層化接続個所での欠陥を抑止した、高歩留りでの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a diversity antenna device by which antenna elements can be switched or selected in short period of time, and the possibility of causing reception defect due to the deterioration of a reception state can be reduced without taking time for changing the directivity of a diversity antenna.例文帳に追加

アンテナ素子の切替やアンテナ素子選択が短時間で済み、ダイバシティアンテナの指向性の変更に時間を要せず、その間に受信状態が悪化して受信不良を起こす可能性を小さくできるダイバシティアンテナ装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In a digital broadcast receiver 103, a communication control part 307 requests the broadcast distribution data substituting transmission waves 109 to the communication center 102 when receiving broadcast distribution data request signals S306a indicating the reception of the broadcast distribution data from the communication center 102 due to reception state signals S305 indicating a reception state defect.例文帳に追加

デジタル放送受信機103において、通信制御部307は、受信状態不良を指示する受信状態信号S305に起因して通信センター102からの放送用配信データの受信を指示する放送用配信データ要求信号S306aを受けると、送信波109に替わる放送用配信データ要求を通信センター102に対して行う。 - 特許庁

To provide a color solid-state imaging element that has a pixel portion where a plurality of photoelectric conversion elements are arranged on a plane in a recess region on a semiconductor substrate, the color solid-state imaging element being characterized in securing a wide normal film formation region free of a quality defect such as frame color unevenness, peeling, etc., of a color filter colored layer, having excellent color characteristics, and being made fine.例文帳に追加

半導体基板上の凹部領域に複数の光電変換素子を平面配置した画素部を有するカラー固体撮像素子において、カラーフィルタ着色層の枠色ムラや剥がれ等の品質不良の生じない正常な膜形成領域を広く確保するとともに、良好な色特性を有する微細化したカラー固体撮像素子を提供すること。 - 特許庁

In the method for detecting the surface defect of the slab by measuring the surface unevenness state of the slab by irradiating the surface of the slab 6 with a laser beam 8, the laser beam reflected from the surface of the slab 6 is detected by a laser beam detector 9 and the sinal output from the laser beam detector 9 is supplied to a surface unevenness state measuring circuit 10.例文帳に追加

スラブ6の表面にレーザ光8を照射してスラブ表面の凹凸状態を計測することでスラブ表面に発生した表面欠陥を検出する方法において、スラブ6の表面で反射したレーザ光をレーザ受光器9で受光し、レーザ受光器9から出力された信号を表面凹凸状態計測回路10に供給する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an electro-luminescence element for prematurely evaluating the acceptability of the formed state of a light emitting layer without energization in the production process for an organic EL display device and increasing a production efficiency by omitting wasteful steps after the evaluation when a defect is found.例文帳に追加

有機EL表示装置の製造過程で、通電を行わずに発光層の形成状態の良否を早期に評価することができ、不良が発覚した場合にはその後の無駄な工程を実施しないようにして生産効率を向上できる製造方法を提供する。 - 特許庁

An evaluation function including the defect ratio and the covering rate as independent variables is set as an evaluation amount for quality decision, and an evaluation function value is set to be equal to a predetermined constant value or a designation value at the time of the evaluation to calculate an evaluation reference line on the state plane.例文帳に追加

品質判定のための評価量として、不良比率及び網羅率を独立変数として含む評価関数を設定した上で、評価関数値を予め決められた一定値又は評価時の指定値に等しいとおいて、状態平面上での評価基準線を算出する。 - 特許庁

The method for manufacturing the perovskite-type dielectric oxide-reduced phase photocatalyst comprises the steps of: mixing the metal oxide having the perovskite-type structure with a carbon precursor; and firing the obtained mixture in an inert gas atmosphere to impart the oxygen defect to the metal oxide and keep the metal oxide in the reduced state.例文帳に追加

及びペロブスカイト型構造を有する金属酸化物と炭素前駆体を混合し、不活性ガス雰囲気下で焼成して該金属酸化物に酸素欠陥与え還元状態にすることを特徴とするペロブスカイト型誘電体酸化物還元相光触媒の製造方法。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus and an inspection method capable of preventing the phenomenon that no defects are found in a liquid crystal cell or liquid crystal display by its inspection, even though a defect is found by an inspection of its array board, and capable of judging to be defective when the array board is in a state of being a single component and not assembled yet.例文帳に追加

本発明は、アレイ基板の検査で不良が発見されても液晶セルや液晶ディスプレイの検査で不良が発見されない現象を防ぎ、アレイ基板の段階で不良が判定できる検査装置および検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A defect detection circuit 60 monitors a switching signal S4 that instructs on and off of a switching transistor M1 of the DC/DC converter 40 when the driving current Idrv is of, and detects a defective state of the LED string 10 based on the switching signal S4.例文帳に追加

異常検出回路60は、駆動電流Idrvがオフの状態において、DC/DCコンバータ40のスイッチングトランジスタM1のオン、オフを指示するスイッチング信号S4を監視し、当該スイッチング信号S4にもとづいてLEDストリング10の異常状態を検出する。 - 特許庁

To produce a highly dispersed composite flocculated body in which the dispersed state of a nanomaterial is instantaneously sealed, to provide a dispersion evaluation technique of objectively and totally pulling out information regarding dispersion from the highly dispersed composite flocculated body, and a defect introduction technique applying the same.例文帳に追加

ナノマテリアルの分散状態を瞬間的に封じ込めた高分散複合凝集体を作製し、高分散複合凝集体から、分散に関する情報を客観的、全体的に引き出す分散評価技術、および、それを応用した欠陥導入技術を提供する。 - 特許庁

A failure decision unit 34, when it has been detected that the d-axis current Id or the q-axis current Iq is in a zero state, performs defect detection for specifying a defective spot in an inverter based on the rotation speed θ of the electric motor detected by a rotation angle sensor 12.例文帳に追加

また、異常判定部34は、d軸電流Idまたはq軸電流Iqのゼロ状態が検出された場合に、回転角センサ12によって検出されたモータの回転角θに基づいて、インバータにおける故障箇所を特定する故障検出を行う。 - 特許庁

By doing so, a sudden increase of engine rotation and a defect that torque exceeding assumption is successively inputted to an automatic transmission are avoided by controlling the torque increasing state to a short time, even when the rotation synchronous torque is apt to be suddenly increased due to some reason such as noise and malfunction.例文帳に追加

これにより、ノイズや誤動作等の何らかの理由で回転同期トルクが急激に増加しそうになった場合にもそのトルク増加状態を短時間に抑えて、想定を超えたトルクが自動変速機に入力し続ける不都合や急激なエンジン回転上昇を回避する。 - 特許庁

To provide a method with which silicon carbide monocrystal which is excellent in dielectric breakdown property, heat resistance and radiation resistance, etc., is suitable for electronic and optical device, etc., is free from the contamination of polycrystal and polymorphism and the defect such as micropipe and is high quality can be efficiently manufactured in the form of large diameter in the state having no breakage, etc.例文帳に追加

絶縁破壊特性、耐熱性、耐放射線性等に優れ、電子・光学デバイス等に好適で、多結晶や多型の混入やマイクロパイプ等の欠陥のない高品質な炭化ケイ素単結晶を割れ等がない状態で大口径に効率よく製造し得る方法の提供。 - 特許庁

To carry out detection efficiently in terms of time and power, while securing a reliability in the detection of dirt and defect of an optical recording/reproducing device, by changing a resolution of detection in relation to a structure or condition of an optical disk recording medium, or the using state of the device.例文帳に追加

光ディスク記録再生装置の汚れ及び欠陥の検出において、光ディスクの記録媒体の構造や状態、または装置の使用状況に関連して検出の分解能を変化することで、信頼性を確保しつつ時間的電力的に効率のよい検出を行う。 - 特許庁

To provide an optical system device capable of always keeping an image state normal and easily discriminating a foreign matter when the foreign matter which can not be eliminated at a user's level is produced by providing a means for judging the existence of a defect in image printing caused by the foreign matter and providing a cleaning means.例文帳に追加

異物による画像印字の欠陥の有無を判断できる手段を有し、清掃手段を有することにより、画像の状態を常に正常に保ち、使用者レベルで解消できない異物の発生が生じた場合にその区別を容易に可能にする光学系デバイスを提供すること。 - 特許庁

To provide an optical transmission and reception module which is mounted with respective elements such as an optical wave guide and light emitting and receiving elements with high precision without trouble and can increase optical coupling efficiency while preventing an element defect, increase the response speed and transmission speed of the light receiving elements, and also stabilize the reception state.例文帳に追加

光導波路,発光,受光素子の各素子を手間をかけず高精度に実装して、素子不良を防ぎつつ光結合効率を高め、受光素子の応答速度と伝送速度を上げ、かつ受信状態を安定化できる光送受信モジュールを提供する。 - 特許庁

In the normal operation with an off state of the detection signals DFCT of a defect detecting circuit 220, a switch 240 is connected to a jitter detection circuit 210, and the jitter detection signals of the jitter detection circuit 210 are transmitted through the switch 240 to a microcomputer 300 as they are.例文帳に追加

ディフェクト検出回路220の検出信号DFCTがオフの通常動作では、スイッチ240がジッタ検出回路210側に接続されており、ジッタ検出回路210のジッタ量検出信号がそのままスイッチ240を介してマイコン300側に伝送される。 - 特許庁

By the release of oxygen from the insulation layer, the oxygen defect in the oxide semiconductor layer and the interface state between the insulation layer and the oxide semiconductor layer can be reduced; thus, a semiconductor device with less variation in electric characteristics and high reliability can be manufactured.例文帳に追加

絶縁層から酸素が放出されることにより、酸化物半導体層中の酸素欠損及び絶縁層と酸化物半導体層の界面準位を低減することができ、電気的特性の変動が小さく、信頼性の高い半導体装置を作製することができる。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device which prevents generation of a crystal defect and efficiently forms a super junction structure when burying an epitaxial layer in a trench selectively formed using a hard mask in a state wherein the hard mask is left to obtain an excellent efficiency percentage.例文帳に追加

ハードマスクを用いて選択形成したトレンチに、ハードマスクを残した状態でエピタキシャル層を埋め込む際に、結晶欠陥の発生を防ぐとともに、超接合構造を効率良く形成でき、良好な良品率が得られる半導体装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To enable elimination of a defect such as ink leakage due to an ink excessive supply, a poor image, etc. due to an ink shortage since this invention can remarkably improve the detecting accuracy of the position information of a negative pressure state displaying means and can minutely judge the positional slippage of a recording head.例文帳に追加

本発明は、負圧状態表示手段の位置情報の検出精度を格段に向上させることができ、記録ヘッドの位置ずれを精密に判断できるため、インク過供給によるインク漏れや、インク不足による画像不良などの不具合をなくすことができる。 - 特許庁

To provide an inkjet recording apparatus with a recycling system, which prevents a defect in printed matter and the destruction of a recording head due to idle ejection by suppressing the anticipated gathering of mold in recycled ink, preventing the clogging of a filter and a head, and keeping the circulation of the ink in a normal state.例文帳に追加

リサイクルシステムを有するインクジェット記録装置において、リサイクルされたインク中で予想されるカビの発生を抑制し、フィルタやヘッドの目詰まりを防止し、インクの循環を正常に保つことにより、印字物の不良や空吐出による記録ヘッドの破壊を防ぐ。 - 特許庁

To provide a sealing method of plated through holes whereby the high-quality sealing state of the plated through holes can be obtained with a high yield without generating any defect of the extension and the warp of a printed wiring board, etc. especially, even when the thin printed wiring board has the structure of the plated through holes having a narrow pitch.例文帳に追加

特に、薄いプリント配線基板で、狭ピッチなめっきスルーホール構造であっても、プリント配線基板の伸びや反りなどの不具合を生じることがなく、高品質で高い歩留まりのめっきスルーホールの封止状態を得ることができるめっきスルーホールの封止方法の提供。 - 特許庁

To provide a cell inspection apparatus and cell inspection method capable of efficiently carrying out inspection with high reliability by detecting the objective region in spite of rough positioning in correspondence to production of a small quantity in diversified kinds when carrying out the defect inspection of liquid crystal products in the state before sticking of a polarizing plate.例文帳に追加

偏光板貼付前の状態で液晶製品の欠陥検査を行う場合、多種少量生産に対応してラフな位置決めでも対象領域を検出して信頼性の高い検査を効率的に行うことが可能なセル検査装置及びセル検査方法を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a top layer film forming composition for forming a top layer film that hardly causes intermixing with a photoresist film, keeps a stable film state hardly eluting in an immersion liquid, can suppress generation of a development peeling defect, and allows formation of a resist pattern with high resolution.例文帳に追加

フォトレジスト膜とのインターミキシングが生じ難く、液浸液に溶出し難く安定な被膜を維持可能であり、現像剥離欠陥の発生を抑制することが可能であり、高解像度のレジストパターンを形成可能な上層膜を形成するための上層膜形成組成物を提供する。 - 特許庁




  
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