「defect state」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To prevent a defect and stains by enabling a protector to be easily attached/detached in the state of contact or noncontact with a corner portion of a projected corner wall and its periphery.例文帳に追加

出角壁の角部及びその周辺に接触又は非接触状態で保護具を容易に取り付け、取り外しが出来、欠損汚れを防止する。 - 特許庁

To restrain occurrence of defect at a joined part in the case of applying a butt-joint with a friction-stir welding method under a state having the difference of the surface levels in the joining materials.例文帳に追加

被接合材を段差を有する状態で摩擦攪拌接合方法により突き合せ接合する場合に、接合部に欠陥が生じるのを抑制する。 - 特許庁

To provide: a solid-state imaging device that suppresses deterioration in pixel characteristics due to a crystal defect caused in a silicon layer; a method of manufacturing the same; and a camera.例文帳に追加

シリコン層に結晶欠陥が生じて画素特性が悪化を抑制する固体撮像装置とその製造方法並びにカメラを提供する。 - 特許庁

To provide a simulator capable of avoiding an abnormal state of simulation operation even if a circuit description to be simulated has a defect.例文帳に追加

シミュレーション対象の回路記述に不具合があっても、シミュレーション動作が異常状態に陥ることを回避することのできるシミュレータを提供する。 - 特許庁

To improve the productivity of a solid-state electrolytic capacitor and to reduce a defect in connection between an anode lead and an anode terminal and bending of the anode terminal.例文帳に追加

固体電解コンデンサの生産性を向上させると共に、陽極リードと陽極端子の接続不良や陽極端子の折れ曲がりを生じにくくする。 - 特許庁

To adjust exposure etc. of a drawing device by detecting a defect produced corresponding to variation of a state of a resist or the drawing device, in forming a photomask.例文帳に追加

フォトマスクの作成に際しレジストや描画装置の状態の変化に対応して発生している欠陥を検知し、描画装置の露光量などを調整する。 - 特許庁

To more easily detect a defect in a solid-state imaging element of an imaging apparatus having no light shielding device for shielding light, such as an iris, inexpensively.例文帳に追加

アイリス等の、光を遮光する遮光装置を有しない撮像装置の固体撮像素子における欠陥検出を、より容易かつ低コストに行う。 - 特許庁

To prevent a defect in operation in the case of battery-over state during the battery operation of computer peripheral equipment connected to a portable information processor.例文帳に追加

携帯型情報処理装置に接続するコンピュータ周辺機器のバッテリ動作中におけるバッテリ切れ時の動作不良を防止することを目的とする。 - 特許庁

To correctly inspect the discharge state of a nozzle without requiring a complicated mechanism and to enhance treating efficiency by performing detection before occurrence of the defect of the nozzle.例文帳に追加

複雑な機構を要することなくノズルの吐出状態を正確に検査し、ノズルが不良になる前に検出して処理効率の向上を図る。 - 特許庁

To reduce image degradation even in a state where pixel defect in an OB pixel region causes image degradation without changing the structure of an image sensor.例文帳に追加

撮像素子の構造を変えることなく、ＯＢ画素領域の画素欠陥によって画質劣化が起きるような状況下においても、画質劣化を軽減する。 - 特許庁

To easily and properly judge defects in a defect judging device to judge the defects of an element constituting a radiographic solid-state detector.例文帳に追加

放射線固体検出器を構成する素子の欠陥を判定する欠陥判定装置において、簡易且つ適正に欠陥を判定できるようにする。 - 特許庁

When necessity of relieving defect is tested, a low level is applied externally to the pad electrode PD, the n-channel field effect transistor TN0 is made an off-state.例文帳に追加

欠陥救済の要否を検査する場合、パッド電極ＰＤに外部からロウレベルが印加され、ｎ型電界効果トランジスタＴＮ０がオフ状態とされる。 - 特許庁

Accordingly, defect inspection can be performed in the state where a pattern of a polycrystal is not reflected on the image and a density image can be acquired only from a defective spot.例文帳に追加

このことにより、多結晶体の模様が画像に映ることがないようにし、欠陥個所のみ濃淡のある画像を得ることにより欠陥検査を行う。 - 特許庁

To perform ideal plasticization processing by promptly coping with cause investigation and a countermeasure against the deterioration of a molten state and preventing a plasticizing defect.例文帳に追加

溶融状態が不良になる原因究明と対応策を速やかに講じるとともに、可塑化不良を未然に回避して理想的な可塑化処理を実現する。 - 特許庁

When the upper electrode 15 is formed, film deposition is started under unheated state in the film deposition process thus preventing an oxygen defect in the oxide film 14 from increasing.例文帳に追加

上部電極１５を形成する際、その成膜工程では、非加熱状態で成膜を開始し、酸化膜１４中の酸素欠陥の増大を防止する。 - 特許庁

The image receiving recording medium roll 5 records information showing the defect position of the image receiving sheet 7 in the state readable by the image formation device 2.例文帳に追加

受像記録媒体ロール５は、受像シート７の不良箇所を示す情報が、画像形成装置２により読み取り可能な状態で記録されている。 - 特許庁

To provide electronic equipment capable of automatically detecting a connector setting defect and cable breakage (open state) without the need for confirmation by an inspector or a repairer.例文帳に追加

コネクタセット不良・ケーブル断線（開放状態）を検査員または修理者による確認を必要とせず、自動で検出できる電子機器を提供する。 - 特許庁

WIRING AND ELECTRODE FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE CAUSING LESS HEAT DEFECT AND PREFERABLE SURFACE STATE, AND SPUTTERING TARGET FOR FORMING THE SAME例文帳に追加

熱欠陥発生が少なくかつ表面状態の良好な液晶表示装置用配線および電極並びにそれらを形成するためのスパッタリングターゲット - 特許庁

To effectively prevent molding defect without prolonging a molding cycle by mainly putting a cavity part in a highly vacuum state for a short period of time.例文帳に追加

主に、短時間でキャビティ部を高真空状態とすることにより、成形サイクルを長くすることなく、成形不良を有効に防止し得るようにする。 - 特許庁

To provide a state monitoring system of train vehicles for capturing abnormal vibration by a small number of sensors per carriage and detecting defect of the train vehicle.例文帳に追加

各台車につき１個の少ないセンサ数で異常振動を捉え鉄道車両の不具合を検知する、鉄道車両の状態監視システムを提供する。 - 特許庁

To provide a power-supply current measuring method for a semiconductor device capable of detecting the defect generation state of a semiconductor device to be tested by a test system, and measuring stably the change of the power-supply current flowing in the semiconductor device to be tested by another testing device, while maintaining the defect generation state.例文帳に追加

テストシステムにより被試験半導体デバイスの不良発生状態を検出し、その不良発生状態を維持したまま、他の試験装置が被試験半導体デバイスに流れる電源電流の変化を安定に測定することができる半導体デバイスの電源電流測定方法を提案する。 - 特許庁

That is to say, the work RAM 18 is not only utilized as the memory, to develop the data for correcting defect pixels stored in an EEPROM 11 in a compressed state, but is also utilized as a recording memory, when the defect pixel correction is not executed.例文帳に追加

つまり、ワークＲＡＭ１８は、ＥＥＰＲＯＭ１１に圧縮した状態で格納されている欠陥画素補正用データを展開するメモリとして活用されるだけでなく、欠陥画素補正を行わない場合には記録用メモリとして活用される。 - 特許庁

This conveyance inspection device 1 is equipped with this conveyance device 2 for conveying a thin member 5 in the noncontact state by controlling a voltage applied to an electrode surface, and a defect inspection device 3 for inspecting the defect of the thin member 5 during conveyance.例文帳に追加

電極面へ印加する電圧を制御して薄状部材５を非接触の状態で搬送する搬送装置２と薄状部材５の欠陥を搬送中に検査する欠陥検査装置３とを備えた搬送検査装置１である。 - 特許庁

To provide a defect repair method for making a strong repaired part not broken even if a membrane is disposed in a hard operation state of being in continuous contact with sludge or contaminants like a dip-type membrane for sewage treatment among applications for water treatment is, and a defect repair apparatus.例文帳に追加

水処理用途の中でも下水処理用浸漬型膜のように汚泥、汚れ物質などに膜が絶えず接する過酷な運転状況下でも、補修部分が崩れない強固な欠点補修方法と欠点補修装置を提供すること。 - 特許庁

In an inspection method of the flexible container, the flexible container is irradiated with light of a light emitting diode in a state where the whole shape of the flexible container is maintained, and the defect part is detected by detecting the light transmitting through the defect part of the flexible container.例文帳に追加

フレキシブルコンテナの全体形状を保った状態で、該フレキシブルコンテナに発光ダイオードの光を照射し、該フレキシブルコンテナの欠陥部を透過する光を検出することにより欠陥部を検知することを特徴とするフレキシブルコンテナの検査方法。 - 特許庁

To efficiently correct a longitudinal line flaw of a fine level caused by a defect of a vertical transfer path which is hardly conspicuous rather than an ordinary defective pixel while avoiding the increase of a ROM capacity or the like for storing defect information on pixels of a solid-state imaging device.例文帳に追加

固体撮像素子の画素の欠陥情報を格納するＲＯＭ等の大容量化を回避しつつ、通常の欠陥画素よりも目立ち難い垂直転送路の欠陥に起因する微妙なレベルの縦線キズを効率よく補正する。 - 特許庁

The imaging device 1 includes a solid-state imaging element 3, a defect information memory 7 which stores, in advance, information relating to the types of defects of defective pixels and information relating to the defective levels of defective pixels, and a defect correction circuit 6 for correcting image data of defective pixels.例文帳に追加

撮像装置１は、固体撮像素子３と、予め欠陥画素の欠陥種類情報及び欠陥レベル情報を記憶する欠陥情報メモリ７と、欠陥画素の画像データに関する補正を行う欠陥補正回路６とを有する。 - 特許庁

The defect substitution permission attribute data indicates whether recording of user data is performed in a permitted state in which execution of defect substitution processing substituting a defective region in the user region 104 by a substitution region in the spare region 105 is permitted or not.例文帳に追加

欠陥代替許可属性データは、ユーザデータの記録が、ユーザ領域１０４内の欠陥領域をスペア領域１０５内の代替領域に代替する欠陥代替処理の実行が許可された状態で行われたか否かを示す。 - 特許庁

To provide a solid-state imaging apparatus manufacturing method which can reduce a junction leakage current on a floating diffusion layer with a silicide formed on its surface, and control the development of a white defect etc. and a solid-state imaging apparatus.例文帳に追加

表面にシリサイドが形成された浮遊拡散層での接合リーク電流を低減し、白キズ等の発生を抑制することができる固体撮像装置の製造方法および固体撮像装置を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device which is good in a connecting state, obviates the occurrence of a function defect and has high reliability by eliminating the deterioration in the connecting state under an atmosphere of high temp. and high humidity.例文帳に追加

高温高湿の雰囲気下における接続状態の劣化を解消し、接続状態が良好で機能不良の発生のない高信頼性の液晶表示装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

When the granular foreign substances (x) of transparent or translucent synthetic resins are mixed into the liquid crystal layer 19 in a manufacturing process, a number of pieces of the granular foreign substances (x) aggregate and generates an aggregation defect X, and there is the possibility that this defect is a bright point defect to transmit light at all times, regardless of the orientation state of the liquid crystal.例文帳に追加

製造工程にて液晶層１９中に透明または半透明な合成樹脂の粒状異物ｘが混入すると、その粒状異物ｘが多数個凝集して異物凝集欠陥Ｘが生じ、そこが液晶の配向状態とは無関係に光を常時透過する輝点欠陥となる可能性がある。 - 特許庁

In a surface defect inspecting apparatus for optically inspecting the surface of an object 11, a condensing point of laser beam is formed in the vicinity of the surface of the object and scanned on the surface of the object in a concentric circular state and a change in the quantity of light generated by a surface defect is detected to judge the surface defect by a signal processor 21.例文帳に追加

対象物１１表面を光学的に検査する表面欠陥検査装置であって、対象物表面近傍にレーザ光による集光点を形成し、集光点を対象物１１表面で同心円状に走査し、表面の欠陥によって発生する光量変化を検出して信号処理装置２１によって欠陥判定を行なう。 - 特許庁

To obtain a liquid crystal display device whose yield and display quality are enhanced without the need of excessive costs by repairing a line defect due to disconnection confirmed by display inspection after a CF is stuck and turning a bright spot defect into an inconspicuous black spot defect without introducing an inspection device in a TFT substrate state.例文帳に追加

TFT基板状態での検査装置を導入することなく、CF貼り付け以降の表示検査で確認された断線による線欠陥を修復、および輝点欠陥を目立たない黒点欠陥にすることで、歩留まりの向上および表示品質の向上した液晶表示装置を余分なコストをかけることなく得ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a network system where information can stably be sent without stopping an operation state even when a central control station has any defect.例文帳に追加

中央制御局に何らかの不具合が生じても稼働状態を停止することなく、安定した情報伝送をすることができるネットワークシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a mold manufacturing method for forming a mold protruded part in a highly dense state by using a hard material simultaneously with eliminating a filling defect.例文帳に追加

充填欠陥を無くすと同時に、硬質な材料を緻密で高密度な状態でモールド凸部を形成することを可能にしたモールドの製造方法を提供する。 - 特許庁

Consequently, it is simply required to confirm the fact that a defect is not generated in the nominal image under a state where both correction processing A and correction processing B are performed.例文帳に追加

よって、補正処理Ａと補正処理Ｂの双方を実施した状態のノミナル画像にディフェクトが発生していないことだけを事前に確認しておけば良い。 - 特許庁

Because of this idle transfer, an area from a defective pixel 13b-3 to a pixel at an end portion of the vertical transfer path becomes a state in which a dark current component 130 caused by defect exists.例文帳に追加

この空転送により、欠陥画素１３ｂ−３から垂直転送路の終端の画素まで、欠陥に起因した暗電流成分１３０が存在する状態となる。 - 特許庁

To resolve a communication defect caused by a failure to detect a gap in the idle state in the case that a communication network of serial connection is used to perform an arbitration process.例文帳に追加

シリアル接続の通信網を用いてアービトレーション工程を行う場合に、アイドル状態においてギャップが検出できないことに起因する通信不良を解消する。 - 特許庁

A substrate 17 that is positioned due to contact with the positioning pin 19 is gripped by the gripping mechanism 8 and the Y table 4 is driven in that state for inspecting a defect.例文帳に追加

位置決めピン９に当接することにより位置決めされた基板１７を把持機構８によって把持し、その状態でＹテーブル４を駆動して欠陥検査を行なう。 - 特許庁

To eliminate a defect by switching an auxiliary light source arranged at an optical unit to an on-state, and performing the on-switching according an inclination of a motorcycle.例文帳に追加

光学ユニットに配置される補助光源をオンに切り替え、且つ、そのオンへの切り替えを、モータサイクルの傾きに応じて行うことによって、前述した欠点を解決する。 - 特許庁

To prevent a welding defect by precisely detecting the set state of a nut and to prevent a defective conduction due to the attachment of chips of the nut on an electric insulator.例文帳に追加

ナットのセット状態を正確に検出し溶接不良を防止するとともに、ナットの切粉などが電気絶縁物に付着することによる導通不良を防止すること。 - 特許庁

At this time, as all memory cells 11 are in a non-selection state, when short circuit defect is not caused, a short circuit current is not generated independently of contents of the memory cells 11.例文帳に追加

この時、すべてのメモリセル１１は非選択状態であるので、短絡不良が無ければこのメモリセル１１の内容に拘らず短絡電流の発生はない。 - 特許庁

To provide a maintenance system for a combine harvester that compares a normal past state with abnormity at present so as to troubleshoot a defect of the combine harvester thereby allowing a user to take quick measures.例文帳に追加

正常な過去と異常な現在とを対比させてコンバインの不具合の原因を解明し、ユーザーに対して迅速な対応ができるコンバインのメンテナンスシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a resin coated metal formed product which causes no defect even if the orientation and the crystallinity of a coating resin are lowered, and the coating resin is brought into an amorphous state.例文帳に追加

被覆樹脂の配向・結晶化度を低下させた場合やアモルファス化した場合の成形品で欠陥のない樹脂被覆金属成形品の製造方法を提供する。 - 特許庁

To eliminate a defect in reading from light receiving devices, in a solid-state imaging device having a structure in which vertical transfer electrodes also serve as the read electrodes from the light receiving devices.例文帳に追加

垂直転送電極と受光素子からの読み出し電極を兼用した構造の固体撮像装置において、受光素子からの読出し時の不具合を解消する。 - 特許庁