「defect state」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To prevent an image defect in a stripe state caused by a cleaning member with simple constitution without reversely rotating an image carrier.例文帳に追加

像担持体を逆回転させることなく、簡単な構成で、クリーニング部材に起因するスジ状の画像欠陥を防止する。 - 特許庁

To provide a color solid-state imaging device, a color solid-state imaging device manufacturing method, and a color solid-state imaging apparatus manufacturing method, with which it becomes possible to prevent a defect that occurs at the time of wire bonding and manufacturing.例文帳に追加

ワイヤーボンディング時及び製造時に生じる不具合を解消することができるカラー固体撮像素子、カラー固体撮像素子の製造方法及びカラー固体撮像装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To prevent a forming method for an injection-formed material so as to restrain the occurrence of internal defect (particularly, gas defect) in the case of injection-forming molten light metal in the semi-molten state at a temperature less than the melting point or the molten state at a temperature equal to or just above the melting point.例文帳に追加

軽金属溶湯を融点未満の半溶融状態、又は融点乃至融点直上の溶融状態で射出成形する場合において、内部欠陥（特にガス欠陥）の発生が抑止されるような射出成形材の成形方法を提供する。 - 特許庁

The black defect correction technique of the mask comprises recognizing the position of a black defect section of the mask by an atomic force microscope (AFM), moving the probe of the AFM upward of the black defect position, and removing the black defect by electrochemical reaction in the state of interposing an electrolyte between the probe and the black defect section as both electrodes and further comprises confirming the removal of the black defect by the AFM.例文帳に追加

本発明のマスク黒欠陥修正手法は、原子間力顕微鏡によってマスクの黒欠陥部位置を把握し、前記黒欠陥位置上方に前記原子間力顕微鏡の探針を移動させ、前記探針と前記マスク黒欠陥部を両電極とし電解液を介在させた状態で電気化学的反応により前記黒欠陥を除去するものであって、更に前記原子間力顕微鏡によって前記黒欠陥の除去を確認するものである。 - 特許庁

In the defect management region, a plurality of recording regions including an alternative region are provided as a region in which defect management information is recorded, so that the recording region can be changed according to an update frequency, an error state, and the like of the defect management region.例文帳に追加

また、ディフェクトマネージメント領域においては、ディフェクトマネジメント情報を記録する領域として、交替領域を含む複数の記録領域を設けることで、ディフェクトマネジメント領域の更新回数、エラー状況などに応じて記録領域を変化させることができるようにする。 - 特許庁

Similarly in correcting a black defect, an etching source material in a liquid state is supplied from the probe of a scanning probe microscope onto only the black defect region by a similar method to Dip-Pen Nanolithography, and an ion beam or an electron beam is supplied to etch to correct the black defect.例文帳に追加

黒欠陥修正の場合も同様に、走査プローブ顕微鏡の探針から液体状のエッチング原料をＤｉｐ−Ｐｅｎ Ｎａｎｏｌｉｔｈｏｇｒａｐｈｙと同様な方法で黒欠陥領域上のみに供給し、イオンビームや電子ビームを供給してエッチングを行い黒欠陥を修正する。 - 特許庁

To provide a charged particle microscope device capable of detecting a signal at the time when a charged state of an observation sample or an electrostatic state of a defect part becomes optimal, and to provide a control method of a charged particle beam.例文帳に追加

観察試料又は欠陥部の帯電状態が最適になった時点で信号検出をできる荷電粒子顕微鏡装置及び荷電粒子ビーム制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a broadcast television lens apparatus for facilitating the analysis of a cause to a problematic operation by detecting a state of a lens moving part and recording the state at a point of time when the occurrence of a fault or a defect is discriminated.例文帳に追加

レンズ可動部の状態を検出して、異常や故障が発生したと判断した時点で、この状態の記録行い、問題動作の原因解析を容易にする。 - 特許庁

The control part 10 determines the presence/absence of leakage in the state of making the source medicine containers 100 stand upright and determines the presence/absence of the dispensing defect in the state of turning over the source medicine containers 100.例文帳に追加

制御部１０は、元薬容器１００を正立させた状態でリークの有無を判定し、元薬容器１００を転倒させた状態で吐出不良の有無を判定する。 - 特許庁

A smooth image is prepared from an original image obtained from the solid state imaging apparatus driven in a dark imaging state and the smooth image is subtracted from the original image to prepare a point defect image.例文帳に追加

暗時撮像状態で駆動した固体撮像装置より得られた元画像より平滑画像を作成し、元画像からこの平滑画像を減算し点欠陥画像の作成を行う。 - 特許庁

To keep an air layer between plate-like members such as glass plates to a good drying state for a long period even when seal defect occurs at the worst.例文帳に追加

万一のシール不良によってもガラス板等の板状部材間の空気層を長期的に良好な乾燥状態に維持する。 - 特許庁

To provide a boiling/cooling device which can prevent circulation defect of the refrigerant, even if it is used in an inclined state.例文帳に追加

傾斜した状態で使用されたとしても冷媒の循環不良を防止することが可能な沸騰冷却装置を提供すること。 - 特許庁

Then, data after the median filter processing are summed by each pixel and the defect of the solid-state image pickup element is decided on the basis of the sum data.例文帳に追加

そして、このフィルタ処理後のデータを各画素毎に加算し、この加算データに基づいて固体撮像素子の欠陥の判定を行う。 - 特許庁

To provide an antireflection film free from an appearance defect, an optical low-pass filter, a solid state image sensor, and a digital still camera.例文帳に追加

外観不良になることを抑えることができる反射防止膜、光学ローパスフィルタ、固体撮像装置、デジタルスチルカメラを提供する。 - 特許庁

To improve recording and reproducing accuracy by reducing a reproduction error and/or recording error for a defect state of a reproduced signal of an optical disk.例文帳に追加

光ディスクの再生信号のディフェクト状態に対する再生エラー及び／又は記録エラーを低減し記録再生精度を向上する。 - 特許庁

To provide a microscopic apparatus which can easily enlarge and observe a photodetecting section of a solid-state imaging element where a defect occurs.例文帳に追加

固体撮像素子において欠陥を生じた受光部を容易に拡大して観察することができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

(iv) Damage was solely caused by a defect in the management of the aids to navigation or the signal facilities for traffic control by the state or a public entity. 例文帳に追加

四　専ら国又は公共団体の航路標識又は交通整理のための信号施設の管理の瑕疵により生じたこと。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a solid-state imaging apparatus having sufficient resistance against intrusion of moisture so as to prevent a defect of image due to exfoliation.例文帳に追加

湿気の侵入に対して十分な信頼性を有し、剥離による画像不具合を防止した固体撮像装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus that prevents a detection member which judges a paper feed state by coming into direct contact with a transfer material from electrostatically being charged and also prevents an image defect due to a transfer material conveyance defect.例文帳に追加

転写材と直接接触することによって通紙状態を判断する検出部材の帯電を防止し、転写材搬送不良による画像不良の発生を防止する画像形成装置を提供する。 - 特許庁

This method for preventing the seed from causing the defect in germination and the rosette formation comprises leaving the seed of plant causing the defect in germination or the rosette formation when growing in a high-moisture content state in a low-temperature and dark condition and then carrying out drying treatment.例文帳に追加

発芽不良、または、生育時にロゼット化を起こす植物体種子を、高水分状態で低温・暗黒条件下に放置したのち、乾燥処理する種子の発芽不良・ロゼット化防止方法。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inspecting a surface defect, capable of highly accurately inspecting a state of a disk substrate itself with wave-like distortion and a defect on a surface of a sample caused with local wave-like distortion.例文帳に追加

ディスク基板そのものがうねりを持つ状態や、局所的なうねりが生じた試料の表面の欠陥を高精度に検査できるようにした表面欠陥検査方法及びその装置を提供することにある。 - 特許庁

A state plane including the defect ratio and the covering rate is set in an evaluation arithmetic means 4, and the quality of the inspection target is specified as a coordinate point on the basis of the defect rate and the covering rate after the measurement.例文帳に追加

そして、評価演算手段４において、不良比率と網羅率を含む状態平面を設定し、計測後の不良率及び網羅率に基づき検査対象の品質を座標点として特定する。 - 特許庁

To detect and correct a pixel defect in real time in a pixel defect detecting method for a solid-state image sensor that images a plurality of polarized beams resulting from polarizing image pickup light and outputs a video signal.例文帳に追加

撮像光を分光して得られた複数分光光をそれぞれ撮像して映像信号を出力する固体撮像素子の画素欠陥検出方法において、画素欠陥を実時間で検出し、補正できるようにする。 - 特許庁

To provide a defect detection method and a defect detector for plate-shaped glass to detect cracks without being affected by an edge in a ground glass state even when cracks exist in any face of the plate-shaped glass.例文帳に追加

板状ガラスのいずれの面にカケが存在する場合にも、摺りガラス状態になったエッジに影響されずにカケを検出できる板状ガラスの欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁

The reception state analyzer 4 sequentially dials a predetermined channel which becomes a reception object and acquires reception state information, and estimates the cause of the reception defect of the digital broadcast signal based on the reception state information per channel.例文帳に追加

受信状態解析部４は、受信対象となる所定のチャンネルを順次選局して受信状態情報を取得し、チャンネルごとの受信状態情報に基づいてデジタル放送信号の受信不良の原因を推定する。 - 特許庁

In a diagnosis for the defect inspection system 10 itself, a first switch part 11 is turned to an off (opened) state, and in a state that electric connection between the inspection target and the defect inspection system 10 is interrupted, second and third switch parts 12, 13 are controlled so as to be turned on/off.例文帳に追加

この欠陥検査システム１０自体の良否の診断については、第１スイッチ部１１をオフ（開）状態とし、検査対象物と欠陥検査システム１０との間の電気的な接続を遮断した状態において、第２，第３スイッチ部１２，１３をオン／オフ制御することによって行う。 - 特許庁

On the basis of the state of all the presence of the matrix elements as the defect candidates, the presence or absence of defects in the work to be inspected is determined.例文帳に追加

更に、欠陥候補となるマトリクス要素の全ての存在状態に基いて検査対象となるワークの欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

To efficiently evaluate a state of transferring a mask defect to a wafer, and dimension and DOF of a mask on the wafer with SMO applied.例文帳に追加

マスク欠陥のウェハ転写性を効率良く評価し、ＳＭＯが適用されているマスクのウェハ上の寸法やＤＯＦを効率良く評価する。 - 特許庁

To provide a method which can detect a defect of a liquid crystal panel laminated with a polarizer without omission in a state that the liquid crystal panel is not driven.例文帳に追加

偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を、液晶パネルを駆動させない状態で、漏れなく検出できる方法を提供する。 - 特許庁

The magnetic disk device 100 is set in a read inhibition state when a servo signal defect is detected.例文帳に追加

一方で、サーボ信号記録領域に存在する突起やごみ等の欠陥が、データ記録領域に移動して欠陥を拡大するという問題がある。 - 特許庁

To solve a problem that a case is also conceivable in which a defect can not be correctly discriminated from foreign matter by using a difference in a polarized state of light in conventional technology.例文帳に追加

従来技術では、偏光状態の違いにより正しく欠陥と、異物との弁別を行うことができない場合も考えられる。 - 特許庁

To suppress malfunction and an image defect by lowering an STI level difference of a semiconductor device, especially a MOS-type solid-state imaging device.例文帳に追加

半導体装置、特にＭＯＳ型固体撮像装置のＳＴＩ段差を低くすることによって、誤作動及び画像欠陥を抑制する。 - 特許庁

To prevent defect from occurring when a quartz tube is formed into an optical fiber in a state that the hollow part of the quartz tube is contaminated by washing and cleaning.例文帳に追加

石英管の中空部が汚染した状態のままで光ファイバにした場合に発生する不具合を洗浄により浄化して防ぐ。 - 特許庁

With this arrangement, when a test for detecting a bad address is performed in a wafer state, a defect of a column selection line can be detected.例文帳に追加

これにより、ウェハ状態で行われる不良アドレスの検出試験を行う際に、カラム選択線の不良を検出することが可能となる。 - 特許庁

A defect information list 122a provided for the memory 122 stores a page including defective data and the state of the page.例文帳に追加

メモリ１２２が備える欠陥情報リスト１２２ａは、欠陥情報リスト１２２ａは、データに欠陥のあるページとそのページの状態を保存する。 - 特許庁

To provide a solid-state imaging apparatus suppressing an image defect caused by lacking a capability for resetting a potential of a capacitance element to a reference potential, and to provide a driving method of the solid-state imaging apparatus.例文帳に追加

容量素子の電位を基準電位にリセットする能力が不足することで生じる画像不良を抑制する固体撮像装置およびその駆動方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A storage element B for storing the defect information, the characteristic information, and the product information of a solid state imaging element A mounted on the solid state imaging apparatus 100 is arranged, for example, on the same chip 110.例文帳に追加

固体撮像装置１００に搭載される固体撮像素子Ａの欠陥情報、特性情報および製品情報等を記憶した記憶素子Ｂを、例えば、同一チップ１１０上に配置する。 - 特許庁

When a defect state in the RF signals is detected to produce an on state of the detection signal DFCT, a hold circuit 230 holds the preceding data from the jitter detection circuit 210.例文帳に追加

一方、ＲＦ信号のディフェクト状態が検出され、検出信号ＤＦＣＴがオンした場合には、ホールド回路２３０は、ジッタ検出回路２１０からの直前のデータをホールドした状態となる。 - 特許庁

A method for annealing a solid state sample comprises the steps of radiating an electromagnetic wave to the sample to directing excite a lattice vibration (phonon), thereby vibrating, rearranging and diffusing atoms, molecules and a lattice defect in a thermally non-equilibrium state.例文帳に追加

固体試料に、電磁波を照射して格子振動（フォノン）を直接励起することにより、熱的に非平衡な状態で原子、分子及び格子欠陥の振動、再配列及び拡散を行う。 - 特許庁

To provide a digital broadcast receiver which suitably detects a state that there is a defect in an antenna device, prompts a user to confirm the installation state of an antenna and relieves an anxiety of the user.例文帳に追加

アンテナ設置に不備がある状態を好適に検出し、ユーザにアンテナの設置状態の確認を促すとともに、ユーザの不安を軽減させるデジタル放送受信装置を提供することである。 - 特許庁

To suppress rise of a manufacturing cost by shortening a write-in time of a defective address for performing defect relieving and shortening a test time when a plurality of chip regions are measured simultaneously to relieve defect in a wafer state.例文帳に追加

ウエハ状態で不良救済のために複数のチップ領域を同時に測定しようとする際、不良救済を行うための不良アドレスの書き込み時間を短縮してテスト時間を短縮し、製造コストの高騰を抑制する。 - 特許庁

Since the defect inspection device 3 is disposed by utilizing the beam transmission part 15, the conveyance inspection device capable of performing defect inspection during conveyance in the noncontact state even when the conveyance object is a transparent material is provided.例文帳に追加

この光線透過部１５を利用して欠陥検査装置３が配設されていることにより、搬送対象物が透明材料であっても、非接触状態での搬送中に欠陥検査が行える搬送検査装置が提供される。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus for detecting a linear defect of bright and dark lines and correcting a pixel signal of the detected linear defect when the operating temperature of a solid-state image sensor is high, and to provide a correction method of the pixel signal.例文帳に追加

固体撮像素子の動作温度が高い場合、明線および暗線の線状欠陥を検出し、検出された線状欠陥の画素信号を補正する撮像装置および画素信号の補正方法を提供するにある。 - 特許庁

To provide a conveyance inspection device capable of performing defect inspection even during conveyance, and performing defect inspection during conveyance in the noncontact state even when a conveyance object is a transparent material.例文帳に追加

搬送中にも欠陥検査が行える搬送検査装置を提供すること、また、搬送対象物が透明材料であっても、非接触状態での搬送中に欠陥検査が行える搬送検査装置を提供すること。 - 特許庁

To detect pixel defects of a solid state imaging element in real time and to enable a correction of the defect in a method for detecting the pixel defect of the element for outputting a video signal by imaging a plurality of spectral lights obtained by spectrally separating an imaged light.例文帳に追加

撮像光を分光して得られた複数分光光をそれぞれ撮像して映像信号を出力する固体撮像素子の画素欠陥検出方法において、画素欠陥を実時間で検出し、補正できるようにする。 - 特許庁