「defect state」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a new image forming apparatus capable of surely forming a high-quality image by surely preventing an image defect in a white spot state and the back surface staining of transfer material.例文帳に追加

白ポチ状の画像欠陥や転写材の裏面汚れの発生が確実に防止され、画質の高い画像が確実に得られる新規な画像形成装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a technology capable of preventing occurrence of a consecutive pixel defect although the capacity of a memory for storing addresses of defective pixels is selected smaller than the capacity equivalent to the number of all pixels of an solid-state imaging element.例文帳に追加

欠陥画素のアドレス記憶用のメモリの容量を固体撮像素子の全画素数相当より少ないものとしながら、連続画素欠陥を防止できるようにする。 - 特許庁

To provide a heat roller fixation type fixing device preventing a fixation defect, and shortening a first copying time when starting a fixing operation from a standby state.例文帳に追加

待機状態から定着動作を開始するときに、定着不良を防止しつつ、ファーストコピー時間を短くする加熱ローラ定着方式の定着装置を提供する。 - 特許庁

The perovskite-type dielectric oxide-reduced phase photocatalyst is a metal oxide (ABO_3-X) which has an oxygen defect and a perovskite-type structure and is in a reduced state.例文帳に追加

酸素欠陥を有する還元状態のペロブスカイト型構造を有する金属酸化物（ABO_3-x）であることを特徴とするペロブスカイト型誘電体酸化物還元相光触媒。 - 特許庁

The upper limit value of the pulling speed required to suppress the defect density within the allowable range is previously calculated from the distribution state of the grow-in defects in the cross section of the crystal.例文帳に追加

結晶断面におけるgrown-in欠陥の分布状態からその欠陥密度を許容範囲内に抑制するのに必要な引上げ速度の上限値を予め求めておく。 - 特許庁

To provide a multilayer printed wiring board where an insulating material is covered in a gap and surrounding of a thick circuit pattern in a state of high quality and can inhibit a peeling defect.例文帳に追加

厚肉回路パターンの間隙や周辺に絶縁材が高品質な状態で被覆され、かつ剥離不具合を抑制することができる多層プリント配線板の提供。 - 特許庁

To provide a solid-state image pickup device by which image quality is improved by solving the defect of the deterioration of image quality due to the incapability of the correction of 'blurring' in one field in a conventional technique.例文帳に追加

従来技術の１フィールド内の“ぼけ”を補正することができず画質が劣化していた欠点を解決し、画質が改善された固体撮像装置を実現する。 - 特許庁

If a defect is not generated under a state where both correction processing A and correction processing B are performed, content of the original image is simply approached even if any one of the correction processing A or correction processing B is reset and the possibility of generating a defect is low.例文帳に追加

補正処理Ａと補正処理Ｂの双方を実施した状態でディフェクトが発生していなければ、補正処理Ａと補正処理Ｂのいずれかを元に戻したとしても、それは原画像の内容に近づくだけであり、ディフェクトが発生する可能性は低い。 - 特許庁

When a defect in soldering is detected, the heating element 3 attached to the terminal electrode 7 having the defect in soldering is in an ON state, the temperature detecting element 16 monitors a temperature rise, and the heating element 3 is controlled to stop the BGA package from being locally overheated.例文帳に追加

半田付けの不良が発見されると、当該不良半田の端子電極７に付属している発熱素子３がオンとなり、温度検出素子１６が温度上昇を監視し、発熱素子３を制御することで、局所的なＢＧＡパッケージの過熱が阻止される。 - 特許庁

To provide a defect detecting device for highly accurately detecting a defective pixel, even in a photographing state without camera shake or even for a subject having a high frequency component, without requiring a camera shake detector, and to provide a defect detection method.例文帳に追加

手振れ検出器を必要とせず、手振れがない撮影状態においても、また高周波成分を持った被写体に対しても、高精度に欠陥画素を検出可能な欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

If one of the light emitting elements E11 to Enm for display has a defect of a short circuit, the light emitting elements EO1 to E0n corresponding to the supply lines P1 to Pn illuminate in the timing of its scan and then the defect state can be recognized.例文帳に追加

表示用発光素子Ｅ11〜Ｅnmのいずれかに短絡状態の欠陥が生じている場合には、その走査のタイミングにおいて電源供給線Ｐ1 〜Ｐn に対応した検査用発光素子Ｅ01〜Ｅ0nが点灯し、これにより欠陥状態を認識することができる。 - 特許庁

To provide a charged particle beam defect inspecting device and method for correcting a dislocation of a focal position due to a charged-up state of a sample to be observed without troubling an operator, and resultingly ensure a focused clear observation and a precise defect inspection even under a charged-up state of the sample.例文帳に追加

観察対象の試料に生ずるチャージアップに起因する焦点位置のずれを操作者の手を煩わすことなく補正することができ、その結果として試料がチャージアップしている場合であっても焦点のあった鮮明な観察及び高精度の欠陥検査を行うことができる荷電粒子ビーム欠陥検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

Firstly, strain energy in the P-type region as the base is fixed in a minimum state and secondly, a linear defect region is provided nearby an element which may cause a problem to adsorb interstitial silicon produced in an important junction part of the element by the defect IG capability.例文帳に追加

１つ目は下地となるＰ型領域内の歪エネルギーを最小の状態で固定化することで、２つ目は問題となる素子の近傍に線状欠陥領域を設け、素子の重要な接合部中に発生している格子間シリコンを欠陥のＩＧ能力で吸着せしめる。 - 特許庁

The method for detecting the pixel defect of the solid state imaging element comprises the step of detecting whether the defect is generated or not in the element imaging any of the spectral lights in response to a compared result of video signals obtained by imaging and outputting the same imaging position or near imaging position at each spectral light.例文帳に追加

分光光毎に同一撮像位置もしくは近傍撮像位置で撮像し出力した映像信号どうしを比較した結果に応じて、分光光のうちいずれの分光光を撮像した撮像素子で画素欠陥が発生しているか否かを検出する。 - 特許庁

To provide a flaw type classification boundary setting method in surface defect detection allowing even an operator without having a special technique to simply realize complicated defect classification, and enabling evaluation capable of remarkably reducing work and of rapidly responding to change of an operation state.例文帳に追加

特殊な技術をもたないオペレータでも簡便に複雑な欠陥分類が実現され、労力が大幅に削減されるとともに操業状態の変化に迅速に対応した評価が可能となるような表面欠陥検出における疵種分類境界設定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus for detecting a linear defect extended in a vertical direction produced due to a potential dip of a horizontal transfer register and correcting a pixel signal of the detected linear defect when an operating temperature of a solid-state image sensor is low, and to provide a correction method of the pixel signal.例文帳に追加

固体撮像素子の動作温度が低い場合、水平転送レジスタのポテンシャルディップに起因して発生する垂直方向に延びる線状欠陥を検出し、検出された線状欠陥の画素信号を補正する撮像装置および画素信号の補正方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus which prevents a recording material from sticking to a heating roller due to pressure does not output the recording material having an image defect in fixation regardless of the recording material and the transfer state of the recording material, and provides a high-quality output image free from image defect without degrading the productivity.例文帳に追加

加熱ローラに記録材の圧痕付着を防止し、記録材及び記録材の搬送状態にかかわらず、定着に係る画像欠陥がある記録材を出力せず、該画像欠陥がない高品質の出力画像を得ることが可能な、生産性を低下させない画像形成装置の提供。 - 特許庁

To inspect whether the defect of contact is produced or not in contact points applying cathode potential to conductor layers in substrates in a state where the substrates are set, and in the case the defect of contact is found, the substrates are reset, thus the yield can be improved.例文帳に追加

基板の導電体層に陰極電位を与える接点に接触不良が生じているか否かを、基板をセッティングした状態で検査し、接点に接触不良が生じていた場合は、基板を再度セッティングし直すことで、歩留りを向上させることができるようにする。 - 特許庁

In the recording stop period in which recording data is not performed, either or both of defect inspection of a recording scheduled area and reading inspection of an already recorded area are performed by the microcomputer of the optical disk drive 7, defect of the disk is avoided and a recording state can be held appropriately.例文帳に追加

データの記録を行わない記録停止期間において、光ディスクドライブ７のマイクロコンピュータにより、記録予定エリアの欠陥検査と記録済みエリアの読取り検査との一方または両方を行い、ディスク上の欠陥を回避し、記録状態を適正に保てるようにする。 - 特許庁

At the time, when a defect state of the RF signal is detected by a defect detecting circuit 69, a system control part 59 switches a value to be added to the focus error signal in the adder 62 to bias of an inverse direction of this value from the focus bias stored in the focus bias register 65.例文帳に追加

このとき、ディフェクト検出回路６９によってＲＦ信号のディフェクト状態が検出された場合、システム制御部５９は、加算器６２にてフォーカスエラー信号に加算する値をフォーカスバイアスレジスタ６５に格納されたフォーカスバイアスからこの値の逆方向のバイアスに切り換える。 - 特許庁

In the method for selecting the carbonization chamber, correction which considers a value obtained by subtracting an extrusion power value by combustion defect from a measured maximum extrusion resistance value as a maximum extrusion resistance value is carried out in the carbonization chamber causing combustion defect and having a combustion state-indicating value which is not smaller than a definite value.例文帳に追加

この際、燃焼不良が生じ、燃焼状態指標値が一定以上になっている炭化室については、実測された最大押出抵抗値から燃焼不良による押出電力値を控除したものを最大押出抵抗値と看做す補正をする。 - 特許庁

In the case of detecting a pixel defect, a pixel defect information acquisition section 112a provided to a system controller 112 uses an exposure control device 103 and a CCD driver 106 to control an exposure and charge storage time of a CCD imaging element 105 thereby acquiring the information with respect to the pixel defect in a prescribed operating state of the CCD imaging element 105.例文帳に追加

画素欠陥の検出時には、システムコントローラ１１２に設けられた画素欠陥情報取得部１１２ａが露出制御機構１０３およびＣＣＤドライバ１０６を用いてＣＣＤ撮像素子１０５の露光および電荷蓄積時間を制御することにより、ＣＣＤ撮像素子１０５の所定の動作状況における画素欠陥に関する情報が取得される。 - 特許庁

In the imaging apparatus (camera apparatus) employing the imaging element 13 of a CCD type or a CMOS type, a defect detection circuit 24 detects a defect by using a luminance level of the imaging element 13 when a lens 11 is in an out of focus state, a system controller 26 stores an address of the detected defective pixel and the defect is corrected at the address position.例文帳に追加

ＣＣＤ型やＣＭＯＳ型などの撮像素子１３を用いてなる撮像装置（カメラ装置）において、レンズ１１が非合焦状態にあるときの撮像素子１３の輝度レベルを用いて欠陥検出回路２４で欠陥検出を行い、その検出した欠陥画素のアドレスをシステムコントローラ２６内に保持し、そのアドレス位置で欠陥補正を行うようにする。 - 特許庁

By assuming a pseudo point defect according to various parameters based on the design of a liquid crystal display device 10, and displaying it by providing this pseudo-corrected pixel part at the time of correcting this point defect with a repair circuit with a step difference to other normal pixel parts, a state of the display of the liquid crystal display device 10 is simulated after correction of the point-like defect.例文帳に追加

液晶表示装置の設計に基づく種々のパラメータに応じて擬似的な点欠陥を想定し、かつ、この点欠陥をリペア回路によって修正した際の擬似的な修正画素部を、他の正常画素部に対し階調差を持たせて表示することにより、点状欠陥を修正した後の液晶表示装置の表示状態をシミュレーションする。 - 特許庁

The terminal device 2 receives the state/performance data stored in operation by the oxygen concentrator 1 from the oxygen concentrator 1, determines normality/defect of the oxygen concentrator 1 according to the state/performance data, and displays the determination result on the display part.例文帳に追加

また，端末装置２は，酸素濃縮器１が稼動時に記憶した状態／性能データを酸素濃縮器１から受け取り，この状態／性能データに基づいて，酸素濃縮器１の正常／不具合を判断し，判断結果を表示部に表示する。 - 特許庁

To provide a light-shielding/antireflection multilayer film which has satisfactory linearity of a film edge and is excellent in weatherability, to provide a solid-state imaging element which can reduce occurrence of spurious signals caused by stray light and is free from color defect, and to provide a simplified manufacturing method of the solid-state imaging element.例文帳に追加

膜のエッジの直線性が良好で、耐候性に優れた遮光・反射防止積層膜の提供、及び迷光による偽信号の発生が軽減され色欠陥のない固体撮像素子、及び簡略化された製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a cassette for an infusion pump with which changeover is reliably kept between a free-flow state and an anti-free-flow state, response is easily performed to naturally dropping infusion, the number of components is drastically reduced, and also a defect hardly occurs in an operation.例文帳に追加

フリーフローの状態とアンチフリーフローの状態とを確実に切り換え維持でき、自然落下による輸液にも容易に対応できるだけでなく部品点数が極めて少なく動作不良が発生し難い輸液ポンプ用カセットを提供する。 - 特許庁

To provide a solid-state image pickup device that can cope with a defective pixel even in the case of picking up an image arranged through pixel shift while notifying the arrangement of each color and to provide a pixel defect compensation method.例文帳に追加

各色の配置に着目しながら、画素をずらして配した撮像でも画素欠陥に対応することのできる固体撮像装置および画素欠陥補償方法の提供。 - 特許庁

In a first step, an area ratio of defect parts (h1-h8) present on an upper face of the ceramics substrate to the upper face of the substrate is measured in a state before the film is formed.例文帳に追加

第１の工程として、膜を形成する前の状態で、セラミックス基板の上面に存在する欠陥部分（ｈ１〜ｈ８）の面積が、基板上面に占める割合を測定する。 - 特許庁

To automate individual adjustment operations for every product based on defect information, characteristic information, and product information of the solid state imaging apparatus, and to facilitate management of the information.例文帳に追加

固体撮像装置の欠陥情報、特性情報および製品情報等に基づく製品毎の個別の調整作業を自動化すると共に、それらの情報の管理を容易化する。 - 特許庁

To provide a method, which achieves the production of an original plate for galvanizing without developing stripe defect after galvanizing under state of a high rolling efficiency in an existing rolling facility.例文帳に追加

電気亜鉛めっき後に筋状欠陥の発生しない電気亜鉛めっき用原板の製造を、既存の圧延設備において高い圧延効率の下に達成する方途について提案する。 - 特許庁

To provide a defective pixel data generating device that detects defective data together with a black flaw defect so as to effectively correct a defective pixel even after a solid-state image pickup device is mounted on an image pickup device.例文帳に追加

固体撮像デバイスを撮影装置に搭載後でも、黒キズを含めて検出し、欠陥画素の補正を効果的に行なうことができる欠陥画素データ作成装置を提供。 - 特許庁

The evaluation part 81 evaluates the quality of the inspected infrared cut-off filter 10, based on the recorded state of the defect, when finishing the inspection for the whole face of the infrared cut-off filter 10.例文帳に追加

また、赤外カットフィルタ１０の全面を検査が完了すると、記録した欠陥の状態をもとに、評価部８１は、検査した赤外カットフィルタ１０の良否を評価する。 - 特許庁

To provide an optical disk reproducing device which ensures reproducing reliability for a high-density optical disk, even in a degradation state due to the degradation of SNR (Signal to Noise Ratio) or the defect on a disk, etc.例文帳に追加

ＳＮＲ(Signal to Noise Ratio)劣化や、ディスク上の欠陥等による劣化状態においても、高密度光ディスクに対する再生信頼性を確保した光ディスク再生装置を提供する。 - 特許庁

To provide a catheter capable of preventing a drive shaft from being remained in a pulled back state in a catheter body, and preventing a defect such as a kink or the like from occurring at the catheter body.例文帳に追加

駆動シャフトがカテーテル本体内で後退移動したままの状態となることを防止し、カテーテル本体にキンク等の不具合が発生することを防止し得るカテーテルを提供する。 - 特許庁

Since a constitution enables the following liquid jet to surely reach the target in the state of being coupled with the preceding liquid jet, an extremely fine thin line can be obtained without any defect.例文帳に追加

このような構成によって後続する液体ジェットは確実に先行する液体ジェットと連結した着滴を形成できるため、非常に微細な細線を不良無く得ることができる。 - 特許庁

To provide a control device for steering rear wheels so that a vehicle straightly advances, when the vehicle is held in an inclined state in the roll direction by a control defect of an active suspension device.例文帳に追加

アクティブサスペンション装置の制御失陥により車両がロール方向に傾いた状態に保持されたときに車両が直進するように後輪を操舵する制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a control valve type lead acid storage battery of a structure in which even if used in sideways laid state, the adhesion part 3 of the battery case and the lid has no sealing defect, and leakage of the solution can be prevented.例文帳に追加

横置きに倒した状態で使用しても、電槽−蓋接着部3での密閉不良とならず、漏液を防止できる構造の制御弁式鉛蓄電池を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for treating the surface of a steel product continuously cast in the hot-state for the purpose of removing the surface defect and the surface impurities, etc., thereon.例文帳に追加

連続鋳造された鋼製品の表面欠陥、表面不純物等を除去するために熱間においてその表面を処理するための方法および装置を提供すること - 特許庁

To facilitate performing defect detection for a pixel at an image capturing apparatus having a solid-state imaging object with a plurality of pixels, without hindering improvement in the speed and without an increase in cost.例文帳に追加

複数の画素を備える固体撮像体を有する撮像装置において、高速化の妨げになることなく、しかもコストアップすることなく、容易に画素の欠陥検出を行う。 - 特許庁

To obtain a headphone constituted so that original volume can be recovered gradually from a state where the volume is narrowed down, when sound is interrupted by a radio connection defect and connected again thereafter.例文帳に追加

無線による接続不良によって音声が途絶え、その後再び接続されとき、音量が絞られた状態から徐々にもとの音量に戻すようにしたヘッドホンを得る。 - 特許庁

To enable a characteristics inspection of a plasma display panel to be carried efficiently by detecting a perfect lighting state precisely by discriminating a screen defect such as non-lighting of a discharge cell or the like.例文帳に追加

不灯の放電セルなどの画面欠陥と区別して、完全点灯状態を高精度に検出し、プラズマディスプレイパネルの特性検査を効率よく行うことができるようにする。 - 特許庁

When the formed state of the light emitting layer is not acceptable, the step is not moved to a second electrode forming step (S5) and the cause of occurrence of a defect in the light emitting layer formation step (S2) is inspected.例文帳に追加

発光層の形成状態が良好でなければ、第２の電極の形成工程(S5)へは進まず、発光層形成工程(S2)での不良発生の原因を究明する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device that suppresses an increase in chip area and reduces a leak current in a low-power (power-down) state due to a short circuit between a bit line and a word line due to a cross defect.例文帳に追加

チップ面積の増大を抑止し、クロス不良によるビット線とワード線間の短絡による、低電力（パワーダウン）時のリーク電流を削減する半導体記憶装置の提供。 - 特許庁

To provide a disk drive capable of automatically detecting and restoring an unreadable state even when a DMA (Defect Management Area) becomes unreadable after the recording operation due to a scratch, dirt, etc., of the disk.例文帳に追加

ディスクの傷や汚れ等によりＤＭＡが記録後に読み取れなくなった場合でも、自動的に読取不能を検出して修復することができるディスク装置を提供する。 - 特許庁