「defect state」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

The output circuit 43 in activated state makes the judge of the presence of defect by the 2nd defect judging means C4 to be effective.例文帳に追加

検反有効化状態の出力回路４３は第２の欠点有無判定手段Ｃ４の欠点有りの判定を有効化する。 - 特許庁

The quality of the solid-state imaging device to be inspected is determined based on the magnitude of the defect level.例文帳に追加

検査する固体撮像素子の良否は、欠陥レベルの大きさに基づいて行われる。 - 特許庁

To prevent the occurrence of a printing defect by making a toner cartridge mountable in a horizontal state.例文帳に追加

トナーカートリッジを水平状態で装着可能とし、印字不良の発生を防止する。 - 特許庁

To improve performance in input signal reading after the elimination of defect state etc.例文帳に追加

デフェクト状態解消後等における入力信号の読み取りパフォーマンスの向上 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING PIXEL DEFECT OF SOLID STATE IMAGING ELEMENT AND IMAGING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

固体撮像素子の画素欠陥検出方法およびその方法を用いた撮像装置 - 特許庁

To provide a disk drive which is not affected by a reading defect by storing a processing signal in a normal state all the time and by substituting it for the above reading defect when the reading defect of a disk is detected.例文帳に追加

正常時の処理信号を常に格納しておき、ディスクの読取不良（ディフェクト）を検出するとこれを代用することで、ディフェクトの影響を受けないディスク装置を提供。 - 特許庁

To avoid trouble due to a hardware fault which fixes a memory cell having a defect in a high-resistance state or a low resistance state.例文帳に追加

欠陥のあるメモリセルを高抵抗状態または抵抗状態に固定するハード障害による不具合を回避する。 - 特許庁

A defect data analytic method analyzes the defect distribution state based on defect location coordinates detected by the inspection apparatus and categorizes the defect distribution state into one of distribution feature categories including repetitive defects, aggregate defects, circular distribution defects, radial distribution defects, linear distribution defects, ring or cluster distribution defects and random defects.例文帳に追加

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、円弧状分布欠陥、放射状分布欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for a PDP substrate and a defect inspection method capable of obtaining a precise defect location even if the defect inspection is carried out with the substrate in a state of thermal expansion, and capable of improving production efficiency.例文帳に追加

基板が熱膨張した状態で欠陥検査を行っても正確な欠陥位置を得ることができ、生産効率を向上させることができるＰＤＰ用基板の欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect marking system to a thin steel sheet capable of removing a defect mark imparted by the error operation of a defect detector without stopping a line and obtaining a product at a state an effective defect only is marked.例文帳に追加

ラインを停止すること無く、欠陥検出器の誤作動によって付された欠陥マークを除去し、有効な欠陥マークのみを付した状態で成品を得ることができる薄鋼板への欠陥マーキングシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a continuous casting method for producing a steel cast slab having little bubble-state defect and inclusion-state defect below the surface skin of the cast slab, and an electromagnetic stirring device used for this method.例文帳に追加

鋳片の皮下に気泡状欠陥や介在物性欠陥が少ない鋼鋳片を製造するための連続鋳造方法並びにそのために用いる電磁攪拌装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a continuous casting method, with which an immersion nozzle is difficult to clog during casting and pin hole state defect and powder state defect are not developed on the surface of a cast slab and the cast slab excellent in cleanliness is obtd.例文帳に追加

鋳造中に浸漬ノズルが詰りにくく、鋳片表面にピンホール性欠陥やパウダ性欠陥がなく、かつ、清浄性にも優れた鋳片が得られる連続鋳造方法の提供。 - 特許庁

To prevent erroneous detection of a defect portion regardless of the state of a detection object surface, and to prevent decline of detection accuracy to the defect portion.例文帳に追加

検査対象物表面の状態にかかわらず、欠陥部位の誤検出を防止し、欠陥部位に対する検出精度の低下を防ぐ。 - 特許庁

TEG (TEST EXPERIMENTAL GROUP) FOR DETECTING PIPING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS PIPING DEFECT DETECTION METHOD, AND ITS VOID FORMATION STATE DETERMINATION METHOD例文帳に追加

半導体装置のパイピング不良検出用ＴＥＧ並びにそのパイピング不良検出方法およびそのボイド形成状態判定方法 - 特許庁

To obtain a method and an apparatus for examining defect capable of detecting a defect in high sensitivity even when a surface to be examined is in a non-mirror state.例文帳に追加

検査面が非鏡面状の場合であっても、欠陥を高感度に検出し得る欠陥検査方法及び欠陥検査装置を得る。 - 特許庁

To correct a short circuit defect between an upper electrode and a lower electrode due to a pinhole defect in an auxiliary capacitor part while the state of an active matrix substrate is present.例文帳に追加

補助容量部のピンホール欠陥による上部電極と下部電極との短絡欠陥をアクティブマトリクス基板の状態で修正する。 - 特許庁

To convey a flat inspection object, while keeping flat state, and to accurately detect defect.例文帳に追加

平坦な被検査物をフラットな状態を維持しながら搬送して、精度よく欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a solid-state imaging device that allows suppression of abnormal growth of a defect in a pixel transistor.例文帳に追加

画素トランジスタにおける欠陥の異常成長を抑制する固体撮像素子を提供する。 - 特許庁

To achieve a semiconductor memory device in which leak defect in a standby state can be suppressed.例文帳に追加

スタンドバイ状態でのリーク不良を抑制することができる半導体記憶装置を実現する。 - 特許庁

IMAGING APPARATUS HAVING CCD TYPE SOLID-STATE IMAGING DEVICE MOUNTED THEREON AND PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD THEREOF例文帳に追加

ＣＣＤ型固体撮像素子を搭載した撮像装置及びその画素欠陥補正方法 - 特許庁

To more effectively and inexpensively correct a pixel defect of a solid-state imaging device.例文帳に追加

固体撮像素子の画素欠陥の補正をより効果的に且つローコストに行なえるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit in which defect can be detected surely in a wafer state.例文帳に追加

ウェハ状態で、確実に欠陥を検出することができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To analyze a defect distribution state based on defect data detected by an inspection apparatus and easily identify a defect reason due to an apparatus or a process in a semiconductor wafer manufacturing process.例文帳に追加

半導体ウェーハの製造工程において、検査装置によって検出された欠陥データに基づいて欠陥分布状態解析を行い、装置あるいはプロセス起因の不良原因の特定を容易にする。 - 特許庁

To provide a two-dimensional color solid-state imaging element capable of easily carrying out complement processing even on the occurrence of a longitudinal line defect or a lateral line defect.例文帳に追加

縦線欠陥や横線欠陥が発生した場合であっても、補完処理を容易に行うことができる二次元カラー固体撮像素子を得る。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a defect in a substrate and to provide an inspection apparatus for rapidly measuring a defect in a noncontact state with high accuracy.例文帳に追加

非接触状態で精度よくかつ高速に欠陥を測定することができる基板の欠陥検査方法および検査装置を提供することにある。 - 特許庁

Resultantly, a state is acquired, wherein the discrimination number corresponding to the common defect is imparted only to a substrate determined that the common defect exists thereon.例文帳に追加

その結果、当該共通欠陥が存在すると判定された基板のみに、当該共通欠陥に対応する識別番号が付与された状態となる。 - 特許庁

To provide a metal ring defect detector for improving efficiency and precision, when investigating the state, size, depth, or the like of a defect 9a in detail.例文帳に追加

欠陥９ａの状態や大きさ及び深さなどを子細に調査する際の効率と精度を改善した金属リング欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide an abnormality monitoring device which prevents a defect in the connection of power wiring by monitoring the state of a part where abnormal heat generation is caused owing to the defect in the connection, etc.例文帳に追加

電源配線の接続不良などのように異常な発熱をともなう部位の状態を監視して予防する異常監視装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect pixel detection method for a solid-state image pickup element that can accurately detect a defect pixel of a white spot.例文帳に追加

この発明は、白点の欠陥画素を正確に検出することができる固体撮像素子の欠陥画素検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To realize an evaluation device for measuring the defective state of a defect of a semiconductor device identified based on optical beam induced current (OBIC) phenomenon or the like or the state of a minute area surface including the defect.例文帳に追加

ＯＢＩＣ現象等に基づいて同定した半導体デバイスの欠陥の欠損状態や、欠陥を含む微小領域表面の状態などを測定する評価装置を実現する。 - 特許庁

Thereby, a state in which the specific address is included in a refresh object is kept, and defect occurrence cause is analyzed in the state.例文帳に追加

それにより、特定のアドレスがリフレッシュ対象に含まれる状態を維持して、当該状態にて不良発生原因を解析する。 - 特許庁

To make problems of fixing defect so as to be effectively eliminated, regardless of a kind and a state of sheet state recording medium for a toner image to be fixed.例文帳に追加

トナー画像を定着すべきシート状記録媒体の種類や状態に拘らず、定着不良の問題を有効に解消する。 - 特許庁

The presence or absence of a defect in a wiring pattern is confirmed by visual observation, image processing, or the like; defect information on the position, coordinates, size, or the like is confirmed, and the type of the defect is determined; when the defect is detected; and a machining method and machining conditions are set according to the type and state of the defect (step S1).例文帳に追加

目視又は画像処理等により配線パターンの欠陥の有無を確認し、欠陥を検出した場合は、その位置、座標及び大きさ等の欠陥情報を確認すると共に欠陥の種類を判定し、欠陥の種類及び状態に応じて加工方法及び加工条件を設定する（ステップＳ１）。 - 特許庁

An evaluation part 81 evaluates the presence of the defect in the inspection portion of the infrared cut-off filter 10, based on a digital image obtained therein, and records a state of the defect such as a position and a size a shape of the defect, in an HDD 82, when the defect exists.例文帳に追加

このとき得られるデジタルな画像をもとに、評価部８１は赤外カットフィルタ１０の検査部分に欠陥があるか否かを評価し、欠陥がある場合には、その欠陥の位置、大きさ、形状などの欠陥の状態をＨＤＤ８２に記録する。 - 特許庁

To provide a solid-state image pickup device, a pixel defect inspection device and a pixel defect correction method that can properly correct a defect of a remarkable area in an image screen and satisfy a requirement for effective utilization of a defect correction performance so as to obtain an excellent image.例文帳に追加

画面での目立つ領域の欠陥補正を的確に行い、かつ欠陥補正能力の有効利用という要求を満足させて良好な画像を得ることのできる固体撮像装置、画素欠陥検査装置および画素欠陥補正方法の提供。 - 特許庁

To provide a device and method for detecting a defect of a solid-state image pickup element and a storage medium storing the program of a defect detecting method of the element, which are capable of precisely detecting a desired defect without receiving influence of a linear defect at a high output level at the time of defect detecting processing of the solid-state image pickup element.例文帳に追加

固体撮像素子の欠陥検出処理に際し、出力レベルの高い線状欠陥の影響を受けることなく、正確に所望の欠陥を検出することができる固体撮像素子の欠陥検出装置及び固体撮像素子の欠陥検出方法並びに固体撮像素子の欠陥検出方法のプログラムを格納した記憶媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a solid-state image pickup element capable of preventing an occurrence of a white spot defect.例文帳に追加

白傷欠陥の発生を抑制することができる固体撮像素子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To realize image forming corresponding to the stress state of developer and to restrain occurrence of the defect of image quality.例文帳に追加

現像剤のストレス状態に応じた画像形成を可能とし、画質ディフェクトの発生を抑制する。 - 特許庁

DETECTION DEVICE FOR DETECTING DEFECT STATE OF BATTERY SAFETY VALVE, AND BATTERY AND ASSEMBLED BATTERY HAVING DETECTION DEVICE例文帳に追加

電池安全弁の状態を検知する検知装置、その検知装置を有する電池および集合電池 - 特許庁

FLAW DETECTING METHOD OF WIDE DYNAMIC RANGE SOLID-STATE IMAGE PICKUP DEVICE, PIXEL DEFECT INSPECTION DEVICE, AND DIGITAL CAMERA例文帳に追加

広ダイナミックレンジ固体撮像素子のキズ検出方法および画素欠陥検査装置ならびにディジタルカメラ - 特許庁

To display an image with high quality by correcting a defect of a display state such as picture distortion at a low cost.例文帳に追加

低コストで画歪み等の表示状態の欠陥を補正して高品質な画像表示を行う。 - 特許庁

To inspect the defect of a scanning optical system in the single state before integration into a device.例文帳に追加

走査光学系の欠陥を、装置に組み込む前の単体の状態で検査することを可能にする。 - 特許庁

The method for evaluating the silicon crystal comprises the step of heating the crystal until a defect reaction in the crystal arrives at a metal-thermal equilibrium state.例文帳に追加

シリコン結晶を、結晶内欠陥反応が準熱平衡状態に達するまで加熱する。 - 特許庁

To provide a color solid-state imaging apparatus wherein a colored noise caused by a pixel defect or the like of a solid-state imaging device is reduced without causing an image blur.例文帳に追加

カラー固体撮像装置の固体撮像素子の画素欠陥等によリ発生する着色ノイズを画像ボケを伴わずに低減する。 - 特許庁

While removing the surface defect layer of the anode 16 the inorganic compound can maintain a state in which the surface defect is removed.例文帳に追加

スパッタ処理により、陽極１６の表面不良層を除去しつつ、無機化合物によって、表面不良層が除去された状態を保持させることが可能である。 - 特許庁