「defect inspection device」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

The defect inspection device is unnecessary to be occupied for the preparation of the recipe because a semiconductor wafer to be inspected is not actually used, and the defect inspection can be carried out without lowering the throughput of the device.例文帳に追加

検査対象の半導体ウェーハを実際に使用することがないので、欠陥検査装置を前記レシピ作成のために占有することがなく、前記装置のスループットを低下させることがなく前記検査を実施することができる。 - 特許庁

To provide an optical surface defect inspection device or an optical surface defect inspection method which can achieve high sensitivity inspection by enabling improvement in S/N by a multiple dividing cell system even without performing an autofocus operation.例文帳に追加

本発明は、オートフォーカス動作を行わなくとも、多分割セル方式によるＳ／Ｎ向上を可能とし、高感度の検査を実現できる光学式表面欠陥検査装置または光学式表面欠陥検査方法を提供することにある。 - 特許庁

As in a case that a defect required to be corrected has been found but the defect is hardly located with a correction device as a result of an inspection by an image quality evaluation device, a positioning mark is formed.例文帳に追加

像質評価装置により検査を行った結果、修正すべき欠陥が発見されたがその位置の特定が修正装置では困難な場合に、位置合わせ用マークを形成する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device inspecting, in particular a defect of a magnetic recording medium where isolated magnetic dots are formed, relating to a recording device recording and playing back information by magnetism.例文帳に追加

磁気により情報を記録・再生する記録装置に関し、とくに孤立した磁性ドットを形成した磁気記録媒体の欠陥を検査する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

Defect information obtained by means of an inspection device 102 and review information obtained by means of a reviewing device 103 are stored in a defect data area 111 and a review data area 112 as individual items.例文帳に追加

検査装置１０２による欠陥情報を欠陥データ領域１１１に、レビュー装置１０３によるレビュー情報をレビューデータ領域１１２に個別の項目で記憶する。 - 特許庁

To provide a surface inspection method and surface inspection device capable of improving the accuracy for detecting a defect such as unevenness existing in a surface of an inspecting object without complicating the inspection process and the constitution of the inspection device.例文帳に追加

検査工程および検査装置の構成を複雑化させることなく、検査対象物の表面に存在する凹凸などの欠陥を検出する精度を向上させることができる表面検査方法および表面検査装置を提供する - 特許庁

To provide a pattern forming board and a pattern forming method which offer a precision inspect pattern useful to an inspection device with a broader scope of inspection, such as a defect inspection device using an ultraviolet light source or an ultraviolet laser light source.例文帳に追加

紫外光源または紫外レーザ光源を用いた欠陥検査装置のように視野が広い検査装置の精度点検パタンとして使用可能なパタン形成基板およびパタン形成方法を提供する。 - 特許庁

The reticle is transferred into a pattern defect correcting device and only the black defect on the reticle is extracted and, for example, the defect coordinate data obtained during the reticle pattern inspection and the coordinates within the defective device are opposed, by which a processing size is defined.例文帳に追加

レチクルをパターン欠的修正装置内に搬送し、レチクル上の黒欠陥のみを抽出し、例えば、レチクルパターン検査時に得た欠陥座標データと欠陥装置内の座標とを相対させて、加工サイズを定義する。 - 特許庁

To provide a silicon wafer inspection method for confirming a new defect that affect device processes and for effectively detecting such new defect, manufacturing method of a silicon wafer without the defect manufacturing method of a semiconductor device using the silicon wafer without the defect and the silicon wafer without the defect.例文帳に追加

デバイス工程に影響する新たな欠陥の確認及びその新たな欠陥を効果的に検出するシリコンウエーハ検査方法及びこの欠陥の存在しないシリコンウエーハの製造方法及びこの欠陥のないシリコンウエーハを用いた半導体デバイスの製造方法並びにこの欠陥のないシリコンウエーハを提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a device improving detection sensitivity by restraining temperature rise on a sample surface.例文帳に追加

試料表面の温度上昇を抑えて検出感度を向上させる欠陥検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a vessel appearance inspection device capable of inspecting in compliance with the actual situation, an appearance defect of a vessel including a new bottle can.例文帳に追加

ニューボトル缶を含む容器の外観不良を実情に合った検査のできる容器外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection device capable of inspecting color shading and irregularity of a sample surface with high accuracy.例文帳に追加

試料表面の色むらと凹凸とを精度よく検査を行うことのできる表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device capable of displaying inspection patterns for a plurality of defect modes at the same time.例文帳に追加

複数の不良モードに対する検査パターンを同時に表示することができる液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a glass bottle inspection device which can inspect a defect of two or more parts of an open part of the glass bottle with a high speed.例文帳に追加

ガラス瓶の瓶口の複数部位の不良を高速に検査することができるガラス瓶検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a paper cup appearance inspection device capable of detecting a shape defect generated on a top curled part of a paper cup.例文帳に追加

紙カップのトップカール部に発生する形状不良を検出することができる紙カップ外観検査装置の提供。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING GLASS SUBSTRATE FOR MASK BLANK, METHOD FOR MANUFACTURING MASK BLANK, METHOD FOR MANUFACTURING EXPOSURE MASK, AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

マスクブランク用ガラス基板の製造方法、マスクブランクの製造方法、露光用マスクの製造方法、及び欠陥検査装置 - 特許庁

To provide an inspection device capable of discriminating whether a defect of a substrate is one on a front surface or one on a rear surface.例文帳に追加

基板の欠陥が表面の欠陥なのか裏面の欠陥なのかを区別できる検査装置を提供することにある。 - 特許庁

A device 31 for implementing this defect inspection method by image recognition is constituted of an image picking-up means 13 and a computer 14.例文帳に追加

画像認識による不良検査方法を実施する装置３１は撮像系１３とコンピュータ１４から構成される。 - 特許庁

The inspection device 1 extracts a defect (dirt or chip) from the differences between the reference region image (am) and similar region images (bm).例文帳に追加

検査装置１は基準領域画像ａｍと類似領域画像ｂｍとの差異から、欠陥（汚れ、欠け）を抽出する。 - 特許庁

To provide a low-cost surface inspection device capable of measuring the shape of a minute projecting/recessed defect, and its method.例文帳に追加

微小な凹凸欠陥の形状を、計測できるようにした安価な表面検査装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

A defect analyzing apparatus 10 comprises an inspection information acquirer 11 for acquiring a defect observation image P2 in a semiconductor device, a layout information acquirer 12 for acquiring layout information, and a defect analyzer 13 for analyzing a defect.例文帳に追加

半導体デバイスの不良観察画像Ｐ２を取得する検査情報取得部１１と、レイアウト情報を取得するレイアウト情報取得部１２と、不良解析を行う不良解析部１３とによって不良解析装置１０を構成する。 - 特許庁

To provide a device and method for defect inspection, capable of inspecting a defect generated on the surface of a workpiece at high speed with high accuracy.例文帳に追加

被検査物の表面上に発生する欠陥を、高速に、かつ、高精度に検査することのできる欠陥検査装置及び欠陥検査方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a system and a method for pattern defect inspection which can speed up detailed analysis of detected pattern defect in semiconductor circuit pattern formation process, by skipping visual reinspection through a review device.例文帳に追加

半導体回路パターン形成工程において、レビュー装置による目視再検査を省略して、検出したパターン欠陥の詳細な解析を迅速化する。 - 特許庁

To provide a defect detection device and method capable of shortening an inspection time corresponding to the case where a large defect larger than a prescribed size exists.例文帳に追加

所定サイズ以上の大欠陥がある場合に対応して検査時間を短縮することができる欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of automatically detecting a defect and observing high resolution without requiring to specify a defect position by using an inspection device in advance.例文帳に追加

予め検査装置を用いて欠陥位置を特定する必要なく、欠陥の検出及び高分解能観察を自動的に行うことのできる電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

If the position of the defect measured with the wafer inspection device agrees with a vacancy-rich region of the wafer, the kind of the defect is determined as being not particles.例文帳に追加

前記ウェーハ検査装置によって測定された前記欠陥の位置が前記ウェーハのベイカンシ−リッチ領域に該当するなら、前記欠陥の種類がパーチクルでないと判定する。 - 特許庁

To achieve an inspection device of detecting a defect that is present in a silicon carbide substrate or an epitaxial layer formed in the silicon carbide substrate and classifying the detected defect.例文帳に追加

炭化珪素基板又は炭化珪素基板に形成されたエピタキシャル層に存在する欠陥を検出し、検出された欠陥を分類する検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide an inspection device that detects a defect existing in a silicon carbide substrate or an epitaxial layer formed on the silicon carbide substrate and classifies the detected defect.例文帳に追加

炭化珪素基板又は炭化珪素基板に形成されたエピタキシャル層に存在する欠陥を検出し、検出された欠陥を分類する検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide a data processor which can easily and also efficiently detect a defect of a defect inspection object and brings about a reduction in the costs of the entire device.例文帳に追加

欠陥検査対象物の欠陥を容易に且つ効率的に検出することが可能であり、装置全体のコストダウンを図ったデータ処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device of a motor coil that secures the insertion performance of the motor coil and insulation quality between the motor coils by automatically extracting the motor coil that has an insertion defect and a molding defect, and its inspection method.例文帳に追加

挿入不良あるいは成形不良のモータコイルを自動的に抽出し，モータコイルの挿入性およびモータコイル間の絶縁品質を確保するモータコイルの検査装置および検査方法を提供すること。 - 特許庁

The inspection device for the solar cell includes an IV measurement unit which measures current-voltage characteristics of the solar cell as a body to be measured and a defect inspection unit which inspects a defect of the solar cell.例文帳に追加

本発明の太陽電池セルの検査装置は、被測定物となる太陽電池セルの電流電圧特性を測定するＩＶ測定部と、前記太陽電池セルの欠陥を検査する欠陥検査部を有する構成とした。 - 特許庁

To provide a print pattern inspection method and an inspection device capable of suppressing pseudo defect detection by reducing an influence of meandering or expansion/contraction of a base material to be printed, and detecting a defect growing little by little.例文帳に追加

被印刷基材の蛇行や伸縮の影響を小さくして擬似不良検出を抑え、少しずつ成長するような不良の検出も可能な印刷絵柄検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

This tool defect inspection device has a support device 18 for supporting the work 12 by a chucking member 16, a ring illumination 32 for illuminating an inspection face of the work 12, and a camera 26 for imaging the illuminated work 12.例文帳に追加

ワーク１２をチャック用部材１６により支持する支持装置１８と、ワーク１２の検査面を照明するリング照明３２と、照明されたワーク１２を撮像するカメラ２６を有する。 - 特許庁

To provide an inspection method of a pattern and an inspection device of the pattern capable of detecting accurately a defect even when an interference fringe (moire) is generated, and a manufacturing method of an electronic device.例文帳に追加

本発明は、干渉縞（モアレ）が発生しても、欠陥の正確な検出をすることができるパターンの検査方法、パターンの検査装置および電子デバイスの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a display device inspection method that can inspect a display device in a comparatively short time under an inspection level equal to or higher than that of a conventional visual inspection, that is, the inspection without missing of a defect of a visually recognized level in place of the conven tional visual inspection by a worker and to provide a manufacturing method for the display device.例文帳に追加

従来の作業者の目視による欠陥の検査に代って、従来の目視検査と同等のレベル以上の検査、即ち視認可能なレベルの欠陥を見逃すことなく比較的短い時間で検査することが可能な、ディスプレイ装置の検査方法およびディスプレイ装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection device capable of freely setting an incident angle so as to form an optimum observation condition to each defect or pattern on a subject and further freely setting an incident direction to perform an accurate defect inspection.例文帳に追加

被検体上の各欠陥やパターンに対して最適な観察条件となるように入射角度を自由に設定でき、又これに加えて入射方向を自由に設定でき、精度の高い欠陥検査が可能となる表面欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

This defect inspection device 1 conveys a substrate W aligned by a conveying part 2 to an end face inspection part 3, to be conveyed sequentially to the end face inspection part 3 and a plane inspection part 4, and inspects an end face, a surface and a reverse face.例文帳に追加

欠陥検査装置１は、搬送部２でアライメントした基板Ｗを端面検査部３に搬送させ、端面検査部３と平面検査部４に順番に搬送し、それぞれで端面検査、表面検査、裏面検査を行わせる。 - 特許庁

A common inspection slice value 10 in all measuring channels of the defect inspection device, measuring channel correction values 11 which are the correction values for every measuring channel, and inspection head correction values 12 which are the correction values for every inspection head, are added by adders 14 to obtain an actual inspection slice value 15.例文帳に追加

欠陥検査装置の全測定チャネルで共通の検査スライス値１０と，測定チャネルごとの補正値である測定チャネル補正値１１と，検査ヘッドごとの補正値である検査ヘッド補正値１２とを加算器１４で加算して実際の検査スライス値１５を得る。 - 特許庁

To provide a method and device for defect inspection, capable of detecting the defects of an inspection member that has large surface roughness and irregularities on surface, without having to maintain the surface of the inspection member.例文帳に追加

被検査材の表面を手入れすることなく、表面粗さが大きく、表面に凹凸をもつ被検査材の欠陥を検出する欠陥検査方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an efficient defect inspection device that does not require a preparation process for special region detection for an inspection object conveyed continuously in a manufacture line, and can greatly shorten an inspection time.例文帳に追加

製造ラインを連続して搬送される被検査物に対して、特殊領域検出のために準備工程を必要とせず、検査時間の大幅な短縮が可能な、効率の良い検査装置を提供する。 - 特許庁

The surface defect inspection device comprises: the illumination part 3 equipped with a plurality of light emission elements 30; the imaging camera 4 for photographing the inspection part illuminated by the irradiation light by the illumination part 3; and the defect evaluation means for detecting the defect on the inspection surface by evaluating the output signal of the imaging camera 4.例文帳に追加

複数の発光素子３０を有する照明部３と、この照明部３による照射光によって照明された被検査面を撮像する撮像カメラ４と、撮像カメラ４の出力信号を評価して被検査面における欠陥を検知する欠陥評価手段とを備えた表面欠陥検査装置。 - 特許庁

The defect in the electric circuit of the device inside is determined when the defect is detected by electric inspection when the negative pressure of the decompression chamber 4 is sufficient, and the defect of the electric connection between the both electrodes is thereby determined discriminatedly from the defect in the electric circuit of the device inside.例文帳に追加

減圧室４の負圧が足りているときに、電気的検査により不良が検出されたときは、デバイス内部の電気回路の不良であることがわかるので、両電極の間の電気的接続の不良であるか、デバイス内部の電気回路の不良であるかが判別できる。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a mask defect with which a defect is inspected with high accuracy and within a minimum time length by automatically inspecting a minimum region on the mask to be subjected to EB defect inspection, a device for inspecting the mask defect, and a method for manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加

ＥＢ欠陥検査をしなければならないマスク上の最小限の領域を自動的に検査することを可能にし、高精度の欠陥検査を最小時間で行うマスク欠陥検査方法、マスク欠陥検査装置、および半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an FPD (Flat Panel Display) dot defect inspection method and a device, capable of detecting all dot defects from an integrated luminance image acquired by one-time photographing, relating to the FPD dot defect inspection method and the device.例文帳に追加

本発明はＦＰＤドット欠陥検査方法及び装置に関し、１回の撮影で取得した積算輝度画像から、全てのドット欠陥を検出することができるＦＰＤドット欠陥検査方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To obtain a reproduction output signal for inspection having a sufficient level even at the time of off-track of a magnetic heat for inspection, when the defect inspection of a discrete track type magnetic disk medium provided with grooves is performed by using a defect inspecting device for the present mass-production line not furnished with servo function.例文帳に追加

溝付きのディスクリート・トラック型磁気ディスク媒体の欠陥検査を、サーボ機能を備えていない既存の量産ラインの欠陥検査装置を用いて行う際、検査用磁気ヘッドのオフトラック時にも十分なレベルの検査用再生出力信号を得る。 - 特許庁