「defect inspection device」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inspection device capable of reducing a time required for collating a defective portion in an inspection object determined as a defective with a displayed defect item, and a PTP packer.例文帳に追加

不良と判定された検査対象における不良箇所と、表示される不良項目との照合に要する時間を低減させることが可能な検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device which can perform an inspection at a high speed on whether a natural defect exists or not which creates confusion with the proof pit, which is processed for protecting a copyright in an optical disk.例文帳に追加

著作権保護のために加工が施された光ディスクにおいて、証明ピットと混同を招く自然欠損が存在しているか否かの検査を高速に行うことができる検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection system and an inspection method of a cell substrate that are capable of detecting a defect in the cell substrate used in a three-dimensional image display device, while suppressing increases in a manufacturing cost and a manufacturing time.例文帳に追加

製造コスト及び製造時間の増大を抑制しつつ、三次元画像表示装置に使用されるセル基板の欠陥を検出できるセル基板の検査システム及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method and device using an electronic beam capable of preventing the incorrect detection of a defect in a sample even if the methods of acquiring a reference image and an inspection image are different from each other.例文帳に追加

本発明は、基準画像と検査画像の取得法が異なっても試料の欠陥の誤検出を防止できる電子ビームを用いた検査方法及び検査装置を提供することにある。 - 特許庁

The defect inspection method employs an inspection device having a beam source 1 for irradiating a sample 10 with a charged particle beam 2 and a detector 18 for detecting a charged particle from the sample surface.例文帳に追加

欠陥検査方法は、荷電粒子ビーム２を試料１０に照射するビーム源１と、試料表面からの荷電粒子を検出部する検出部１８とを備える検査装置を用いる。 - 特許庁

To facilitate defect detection when a defect is present in a peripheral portion having a large luminance difference in an electronic display image quality inspection device detecting the display defect by picking up an image of the display defect in a display device such as a plasma display by a camera or the like, and binarizing an image obtained by differentiating the picked-up image by spatial differentiation processing or the like.例文帳に追加

プラズマディスプレイ等の表示装置における表示欠陥をカメラ等により撮像し、撮像画像を空間微分処理等により微分した画像を２値化することにより、表示欠陥を検出する電子ディスプレイ画質検査装置において、輝度差の大きい周辺部分に欠陥が有る場合の欠陥検出を容易にすることに有る。 - 特許庁

According to the influence of the defect on a photomask 10 on the operation of the device, inspection areas (e.g. areas A and B) on the photomask are divided into two or more areas and inspection sensitivity is set for each divided inspection area.例文帳に追加

フォトマスク１０上の欠陥がデバイスの動作に与える影響に応じて、フォトマスク上の検査領域（例えば、領域Ａ及び領域Ｂ）を２つ以上の領域に分割し、この分割した各々の検査領域に対して検査感度設定を行う。 - 特許庁

In this inspection device, various characteristic quantities of a defect is extracted accurately by providing a defect detection threshold and a characteristic quantity extraction threshold which is smaller than the defect detection threshold to a differential image signal between each image signal of dies having similar brightness.例文帳に追加

明るさが近いダイ間の画像信号同士の差分画像信号に対して欠陥検出しきい値と該欠陥検出しきい値よりも低い特徴量抽出のしきい値とを設けることで、欠陥の各種特徴量を精度よく抽出する検査装置。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for electroluminescent element capable of surely discriminating RGB colors, and is further, capable of inspecting a plurality of pixel areas on a manufacturing line.例文帳に追加

ＲＧＢの色を確実に識別でき、さらに製造ライン上で複数の画素領域を検査できるエレクトロルミネッセンス素子の欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection technology, capable of determining a defect with high sensitivity up to the most peripheral part of a memory mat part of a semiconductor device or up to a peripheral circuit that has no repeatability.例文帳に追加

半導体装置のメモリマット部の最周辺部や、繰り返し性の無い周辺回路まで高感度に欠陥判定できる検査技術を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device capable of high-accuracy inspection of the defect of a photomask having a light-shielding part, light-transmitting part and fine pattern part, in a short time.例文帳に追加

遮光部と、透過部と、微細パターン部とを有するフォトマスクにおいて、短時間でかつ高精度な欠陥検査を行うことができるを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device of a can lid joint (seaming part), having superior detection accuracy, capable of detecting whatever joint defect accurately and surely.例文帳に追加

検出精度に優れ、どのような接合不良でも正確かつ確実に検出することができる缶蓋接合部（巻締め部分）の検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspection method capable of detecting a fine pattern with high resolution, and a device therefor, and a method of manufacturing a semiconductor substrate with a high yield.例文帳に追加

微細なパターンを高い分解能で検出する欠陥検査方法、その装置及び半導体基板を高歩留まりで製造する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a simple defect inspection device, capable of inspecting defects based on diffracted light and scattered light from a substrate (object to be inspected) at high throughput.例文帳に追加

基板（被検物体）からの回折光と散乱光とに基づく欠陥検査を高スループットで行える簡素な欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspecting device that embodies high resolution and a fast inspection speed for a technique for inspecting a pattern on a wafer by using an electron beam.例文帳に追加

電子ビームを用いたウェハ上パターンを検査する技術において、高分解能で、かつ検査速度の高速化を実現する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The inspection device 1 precisely inspects the defect of the inspected object having tightly arranged patterns (including rotated patterns).例文帳に追加

本検査装置１は、密接配置された絵柄（回転移動した絵柄を含む）を有する検査対象の欠陥を、高精度で検査することが可能である。 - 特許庁

To provide a core wire inspection device of a cable terminal that can exactly inspect whether or not a defect of a strand exists in the core wire exposed to the cable terminal.例文帳に追加

電線端末部に露出させた芯線に素線の欠損があるかないかを確実に検査できる電線端末部の芯線検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface inspecting device in which scan images taken at different angles are obtained without degrading efficiency in inspecting an inspection target for increasing accuracy in defect determination.例文帳に追加

被検査体の検査効率を低下させることなく異なる角度の走査画像を取得し、欠陥判定の精度を高める表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for inspecting an inspecting object under a plurality of lighting conditions while maintaining a high throughput and high sensitivity.例文帳に追加

高いスループット及び高感度を維持しながら、複数の照明条件により検査対象物の検査を行なうことが可能な欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

The inspection unit blocks are all the same size and area, and their size is determined so it can be covered by performance of defect inspecting devices used in a manufacturing line of the device.例文帳に追加

また、検査単位ブロックは全て同じ寸法面積で、その大きさはデバイスの製造ラインで使用される欠陥検査装置の性能が及ぶ程度にされる。 - 特許庁

OPTICAL INSPECTION DEVICE HAVING LENS UNIT WITH AT LEAST A PAIR OF BEAM PATHS INSIDE, AND METHOD OF DETECTING SURFACE DEFECT OF SUBSTRATE USING SAME例文帳に追加

内部に少なくとも一対のビーム経路を有するレンズユニットを具備する光学的検査装置及びこれを用いて基板の表面欠陥を検出する方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of detecting defects where the light intensity felt by the image of inspected object is not much difference from that of a normal section.例文帳に追加

被検査物体像が感じる光強度が正常部とあまり変わらない欠陥を検出することが可能な欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device capable of rapidly detecting problems by transmitting defect information such as the number of occurred defects in an easily understood manner.例文帳に追加

欠陥の発生数などの欠陥情報を分かり易く伝えることで、問題点の検知を迅速に行うことができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

The defect inspection device inputs the illuminance distribution of the light detected by the detection optical system, and calculates the thresholds by pixels of the detection optical system based upon the input data.例文帳に追加

検出光学系で検出された光の照度分布を取り込み、取り込んだデータを基に、検出光学系の画素毎にしきい値を算出する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of replenishing the learning pattern of a neural network and capable of enhancing the recognition ratio to non-learned data.例文帳に追加

ニューラルネットワークの学習用パターンの不足を補い、また、未学習データに対する認識率を高めることができる欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a mask blank inspection device and method capable of inspecting accurately and simply existence and the kind of a defect of a reflective mask blank.例文帳に追加

反射型マスクブランクの欠陥の存在および種類を正確かつ簡便に検査することができるマスクブランク検査装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electrooptical device wherein existence of point defect or the like can be easily determined by full lighting inspection before cutting short circuit lines.例文帳に追加

短絡配線を切断する前に全点灯検査により点欠陥等の有無を容易に判断できるようにした電気光学装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method and device capable of detecting a shape defect in a barrier rib of a PDP and capable of determining quality thereof, with high precision, in a short time.例文帳に追加

短時間で高精度にＰＤＰの隔壁の形状不良を検出し良否判定ができる検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and method capable of detecting a defective part difficult to be detected in a prior art, irrespective of a shape and a directivity thereof.例文帳に追加

従来検出が困難であった欠陥部について、その形状や方向性に関係なく検出可能な欠陥検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of inspecting an array substrate and an inspection device thereof, which allow a disconnection defect of a gate line to be detected even when potential is applied from both ends of the gate line.例文帳に追加

ゲート線の両端から電位を印加してもゲート線の断線不良を検知できるアレイ基板の検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of obtaining a matrix number accurately at high speed, and not requiring a complicated operation such as designation of a retrieval range.例文帳に追加

正確かつ高速に行列番号を求めることができ、かつ検索範囲を指定する等の煩雑な操作が不要になる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device for plate glass or the like capable of detecting simply an edge and capable of detecting accurately a defect such as a flaw or a stain.例文帳に追加

エッジの検出を簡便に行うことができ、傷、汚れなどの欠点の検出を正確に行うことができる板ガラスなどの検査装置を提供する。 - 特許庁

CONSTANT OF CIRCUIT ELEMENT, CONSTANT DIFFERENCE DETECTING CIRCUIT, POSITION DETECTOR USING IT, IDENTIFICATION INSPECTION DEVICE FOR DEFECT OR EXISTENCE/NONEXISTENCE OF CONDUCTOR, AND TORQUE SENSOR例文帳に追加

回路素子の定数及び定数差検出回路及びそれを用いた位置検出装置及び導体の欠陥或いは有無の識別検査装置及びトルクセンサ - 特許庁

To solve the problem that there is no ultrasonic flaw detecting device which can easily determine a defect, in the case where the inspection result, in ultrasonic flaw detection by TOFD method, is evaluated.例文帳に追加

ＴＯＦＤ法による超音波探傷において、その検査結果を評価する場合に、容易に欠陥を判定できる超音波探傷装置がない。 - 特許庁

To provide an inspecting device which can perform the defect inspection of CF as a constitution material of a liquid crystal display device and a polarizing plate in a single body state nearly as precisely as the inspection at the final stage of a liquid crystal module.例文帳に追加

液晶表示装置の構成材料であるＣＦおよび偏光板の欠陥検査を、単体の状態で、液晶モジュールの最終工程での検査と同程度の精度で行うことができる検査装置を提供する。 - 特許庁

To realize a liquid crystal display device and inspection method therefor, capable of strictly and quantitatively detecting and discriminating defect and defective states of a liquid crystal panel, a signal driver, etc., without necessitating an external inspection device.例文帳に追加

外部に検査装置を必要とすることなく、液晶表示パネルや信号ドライバ等の欠陥や不良状態を厳密かつ定量的に検出、判定することができる液晶表示装置及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device of defect inspection for accurately detecting various defects such as various flaws present on an inspection object formed of a sheet-like or plate-like material; and a linear light source device used for it.例文帳に追加

シート状もしくは板状の材料等からなる検査対象物に存在する様々な傷等の欠陥を精度良く検出できる欠陥検査の方法及び装置並びにそれに用いるライン状光源装置を提供する。 - 特許庁

To provide an abnormality inspection method in a computer device for detecting a defect inherent in the computer device without being actualized by more exactly monitoring variations in starting time to determine a defect of a hardware and its sign, and the computer device using the method.例文帳に追加

コンピュータ装置に顕在化することなく内在する障害を、起動時間のバラツキをより正確に監視することで検出し、ハードウェアの障害やその予兆を判断するためのコンピュータ装置の異常検査方法及びそれを用いたコンピュータ装置を提供する。 - 特許庁

This defect inspection device of the optical system is equipped with a light-receiving device 5 arranged on a screen 4 for receiving projected light via the hologram color filter 1, and an image-processing device 8 connected to the light-receiving device 5.例文帳に追加

光学システムの欠陥検査装置は、スクリーン４上に配置されホログラムカラーフィルタ１を経た投影光を受光する受光装置５と、受光装置５に接続された画像処理装置８とを備えている。 - 特許庁

To provide an imaging condition determination method for finding an area where the luminance difference becomes maximum in unit patterns of a periodic pattern, and to provide a defect inspection method that uses the same, and a defect inspecting device.例文帳に追加

周期性パターンの単位パターンにおいて輝度差が最大となる領域を求めるための周期性パターンの撮像条件決定方法、これを用いた欠陥検査方法、および欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a highly reliable defect inspection device for thoroughly detecting even an irregularly-shaped defect of a small curvature change caused on the surface of a transparent sheet-like object and formable at low cost and in a space saving manner.例文帳に追加

透明体シート状物表面に発生した曲率変化の小さな凹凸状欠陥でも漏れなく検出し、低コスト、かつ、省スペースで構成できる信頼性の高い欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a system for preferentially analyzing a defect with the possibility of becoming an electrical failure in the inspection of the foreign matter and pattern defect of a work forming an electronic device such as a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路などの電子デバイスを形成するワークの異物やパターン欠陥の検査において、電気的に不良になる可能性の欠陥を優先的に解析する方法とシステムを提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection method and a device for a turbine blade fitting section capable of improving defect detectability furthermore than the case where a search probe of a single element is used, and also performing defect sizing.例文帳に追加

単一素子の探触子を使用したときよりも欠陥検出性を向上させながら、欠陥サイジングも可能であるタービンロータの翼植込み部の超音波検査方法および装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a soldering defect inspection device which can position in the vicinity of a downstream side of a solder tank, and can inspect soldering defect of a printed board without stopping the flow of printed boards.例文帳に追加

この発明は、半田槽の下流側近傍に位置することが可能であり、プリント基板の流れを止めることなく、プリント基板の半田付け不良検査を行うことができる半田不良検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for assisting inspection of a defect in casting can improve discrimination precision in the kind of internal defect of casting by aligning blowhole models before and after heat treatment, and a method therefor.例文帳に追加

加熱処理前、後の鋳巣モデルの位置合わせを行うことにより鋳造品の内部欠陥の種類の判別精度向上を図ることができる鋳造内部欠陥検査支援装置及び方法を提供する。 - 特許庁