「defect inspection device」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a non-destructive inspection device using an elastic wave, capable of easily and objectively inspect whether or an inspection object covering a wide range such as a concrete structure has a defect.例文帳に追加

コンクリート構造物などの広範囲の検査対象物の欠陥の有無を、容易に且つ客観的に検査し得る弾性波を利用した非破壊検査装置を提供すること。 - 特許庁

This surface inspection device converts the hues of the reference image and the inspection image read in as R, G and B signals into the hues, compares the both images converted into the hues, and detects the defect based on a result therein.例文帳に追加

Ｒ，Ｇ，Ｂ信号として取り込まれたリファレンス画像と検査画像を色相に変換し、色相に変換された両画像を比較し、その結果に基づいて欠陥を検出する。 - 特許庁

To obtain an information managing device for assembly, adjustment and inspection processes for shortening the residence time of a defective article in assemble, adjustment and inspection processes and improving the efficiency of investigation and handling of a defect cause.例文帳に追加

組立・調整・検査工程の不具合品滞留時間の短縮、不具合原因の究明・処置を効率化する組立・調整・検査工程の情報管理装置を得る。 - 特許庁

To realize a pixel inspection device and a pixel inspection method that precisely inspect at least a defect of pixel even when the number of photoreceiving elements to one pixel of a display equipment to be inspected is small.例文帳に追加

被検査表示機器の１画素に対する受光素子数が少なくとも、画素の欠陥を精度良く検査する画素検査装置および画素検査方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide inspection method and device for accurately grasping the presence or the absence, the position, and the size of a defect in a structure, regardless of the experience and knowledge of an inspection engineer.例文帳に追加

検査技術者の経験・知識によらずに、構造物内部の欠陥の有無、位置と大きさを正確に把握することができる検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁

The tool defect inspection device includes a display 30 for displaying an image picked up by the camera 26, and an image processor 28 for image-processing an inspection image of the work 12 picked up by the camera 26.例文帳に追加

カメラ２６により撮像された画像を表示する表示装置３０と、カメラ２６により撮像されたワーク１２の検査像を画像処理する画像処理装置２８を備える。 - 特許庁

To provide an automatic inspection method with high accuracy not by visual inspection, for detecting a defect on a stencil mask, in particular, detecting a foreign substance on the surface, and to provide an inspection device for obtaining a reference image for comparison inspection.例文帳に追加

ステンシルマスク上の欠陥検出、特に表面異物を検出する方法について、目視検査によらず自動的な高精度検査方法を提案すると共に、比較検査を行うための基準画像が取得できる検査装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an inspection method for shape defect or the like by which the defect of a printed wiring board or the like, especially a light transmission type electronic substrate, can be detected accurately, quickly and automatically through optical processing without paying attention to the deviation of a substrate, and to provide an inspection device.例文帳に追加

プリント配線基板等、特に光透過型電子基板の欠陥を、基板のずれを気にせずに光学的処理により高精度、迅速、かつ、自動的に検出することができる形状欠陥等の検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁

The circuit pattern inspection device independently has a detection signal processing circuit for forming a large current high-speed image for detecting the presence of the defect, and a detection signal processing circuit for forming an image in a specific narrow part detected by this defect detecting inspection.例文帳に追加

欠陥の存在を検出する為の大電流高速画像形成用の検出信号処理回路と、この欠陥検出検査により検出された特定の狭い部位の画像形成用の検出信号処理回路とを独立に設ける。 - 特許庁

To enhance defect detection sensitivity at a pattern edge portion by improving the method of determining a correction amount, as to correction of gray level difference at the pattern edge portion performed in an image defect inspection method used for a visual inspection device for a semiconductor circuit.例文帳に追加

半導体回路の外観検査装置に使用される画像欠陥検査方法で行う、パターンエッジ部分におけるグレイレベル差の補正において、補正量の決定方法を改善して、パターンエッジ部分における欠陥検出感度を向上する。 - 特許庁

To develop a defect inspection method and a defect inspection device of a polarizing plate which can accurately detect only defects caused by a popularizing plate and an adhesive layer with simple device configuration, without detecting defects which are caused by a separate film and are not problematic, when inspecting defects of a polarizing plate with a separate film.例文帳に追加

セパレートフィルム付き偏光板の欠陥を検査する際に、簡便な装置構成にて、問題とならないセパレートフィルムに起因する欠陥を検出せず、偏光板本体および粘着剤層に起因する欠陥のみを精度よく検出できる欠陥検査方法・検査装置も開発。 - 特許庁

To make a condition set efficiently, to shorten an inspection time, and to enhance reliability of inspection, in a circuit pattern inspection device for inspecting a defect, a foreign matter, a residue or the like in the same design pattern of a semiconductor device on a wafer under a production process for the semiconductor device, by an electron beam.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上の半導体装置の同一設計パターンの欠陥，異物，残渣等を電子線により検査する回路パターン検査装置において、条件設定の効率、検査時間の短縮及び検査の信頼性を向上する。 - 特許庁

To improve efficiency of condition setting, to shorten inspection time, and to improve reliability of an inspection, in a circuit pattern inspection device for inspecting, with an electron beam, a defect, foreign substance, residue, or the like of the same design pattern of a semiconductor device on a wafer in a manufacturing process of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上の半導体装置の同一設計パターンの欠陥，異物，残渣等を電子線により検査する回路パターン検査装置において、条件設定の効率、検査時間の短縮及び検査の信頼性を向上する。 - 特許庁

This pipe magnetic powder flaw detector 10 comprises an inspection liquid tank 20, a pipe vertical moving device 30 and an electrode moving device 40, and magnetizes the pipe 1 in an inspection liquid to form a magnetic powder pattern at a weld defect part.例文帳に追加

パイプ磁粉探傷装置１０であって、検査液槽２０と、パイプ上下移動装置３０と、電極移動装置４０とからなり、パイプ１を検査液中で磁化し、溶接欠陥部に磁粉模様を形成させるもの。 - 特許庁

To provide an outward appearance inspecting device which can quickly and precisely perform different kinds of defect inspection of different inspection standards, by a single inspection part irrelevantly to unevenness of a resin mold surface for protecting a semiconductor chip.例文帳に追加

半導体チップを保護するための樹脂モールド面の凹凸によらず、検査規格が異なる複数の欠陥検査を単一の検査部において、高速、かつ、高精度で行うことができる外観検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection device for optical lens capable of precisely performing inspection of optical defect or optical performance of an optical lens used for a small CCD camera or the like in a short time, and reducing the inspection cost.例文帳に追加

小型ＣＣＤカメラ等に使用される光学レンズの光学的欠陥の有無や光学性能の検査を短時間に正確に行うことができ、また、検査コストも低減させることのできる光学レンズの検査装置を提供する。 - 特許庁

A data update part 160 for inspection control changes specific standards to strict standards which are narrower in non-defect range, when there is a specific number of inspection objects that the inspection device has judged to be defective and the repair operator has judged to be normal.例文帳に追加

検査制御用データ更新部１６０は、検査装置は異常と補修作業者は正常と判断した検査対象物が所定数あるときは所定基準を正常範囲が狭くなるような厳格な基準に変更する。 - 特許庁

A substrate is lithographed under three conditions including a normal condition, a safe condition hardly causing a defect, and an acceleration condition easily causing a defect and, after forming a resist pattern, the number of defects is counted with respect to each area using the defect inspection device.例文帳に追加

基板に対して、通常条件、欠陥を発生し難い安全条件、欠陥を発生し易い加速条件の３条件で描画を行い、レジストパターンを形成した後、欠陥検査装置を用いて領域毎の欠陥数を求める。 - 特許庁

To provide a device for detecting a surface defect and a defect under the surface skin, and a method for detecting the same wherein an ultrasonic surface wave can carry out flaw detection of a whole surface by going around a width direction of an inspection object, and reflected waves from other than a defect are reduced.例文帳に追加

超音波の表面波が被検査体の幅方向を一周して全面探傷することができ、欠陥以外からの反射波を低減する表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for detecting a hole defect detecting accurately existence of a hole defect and the position if a hole defect exists, by preventing surely excessive detection of hole defects of an inspection object by a light receiving part.例文帳に追加

受光部による被検査物の穴欠陥の過剰検出を確実に防止して、穴欠陥の有無、及び穴欠陥があった場合のその位置の検出を精度良く行うことができる穴欠陥検出装置及び穴欠陥検出方法を得る。 - 特許庁

To provide a marking controller which marks a label with a pattern for identifying an inspecting device which has detected a defect in response to a plurality of defect detection signals in defect inspection of printed matter and attaches it onto the printed matter, or puts a mark on the printed matter.例文帳に追加

印刷物の欠陥検査において、複数の欠陥検出信号に対し、欠陥を検出した検査装置の判別が可能なパターンを、ラベルにマーキングし印刷物に貼付、あるいは印刷物にマーキングするマーキング制御装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a liquid crystal display device whose yield and display quality are enhanced without the need of excessive costs by repairing a line defect due to disconnection confirmed by display inspection after a CF is stuck and turning a bright spot defect into an inconspicuous black spot defect without introducing an inspection device in a TFT substrate state.例文帳に追加

TFT基板状態での検査装置を導入することなく、CF貼り付け以降の表示検査で確認された断線による線欠陥を修復、および輝点欠陥を目立たない黒点欠陥にすることで、歩留まりの向上および表示品質の向上した液晶表示装置を余分なコストをかけることなく得ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a defect correction device of an electronic circuit pattern, the correction device actualizing defect species which are difficult to be recognized by observation using a conventional correction device relative to defects detected by an electric inspection or the like, and normalizing a pixel or forming a semi-black point therefrom.例文帳に追加

電気検査等で検出された欠陥に対して、従来の修正装置での観察では認識が困難であった欠陥種を顕在化し、画素を正常化あるいは半黒点化できる電子回路パターンの欠陥修正装置の提供。 - 特許庁

To provide a defect detection device capable of easy and accurate defect detection when a plurality kinds of surface states of an inspection object to be determined to be a nondefective article exist.例文帳に追加

良品と判定されるべき被検査物の表面状態が複数種類存在する場合に容易でかつ正確な欠陥検出を行うことができる欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of suitably and rapidly detecting a defect even when the manufacturing process is varied or the periodicity of images of an area to be inspected on a sample is low.例文帳に追加

製造プロセスが変動しても、また、試料から検査対象領域を撮像した撮像画像に周期性が少なくても、良好かつ迅速に欠陥検出できる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a wafer surface defect inspection device capable of reducing instrument errors of detection sensitivity and foreign matter coordinate detection error, and capable of obtaining high position coordinate precision for a defect such as a foreign matter, and a method therefor.例文帳に追加

検出感度や異物座標検出誤差の機差が小さく、異物等の欠陥の高い位置座標精度が得られるウェハ表面欠陥検査装置およびその方法を提供することである。 - 特許庁

The processing device 3 provides a first inspection domain in the direct irradiation area on the picked-up image picked up by the imaging device 2, and sets a second inspection domain in the diffused light irradiation area, and detects a defect related to irregularities on the inspection surface B by using brightness information of at least either of the first inspection domain and the second inspection domain.例文帳に追加

処理装置３は、撮像装置２で撮像された撮像画像において直接照射エリアに第１の検査領域を設けるとともに拡散光照射エリアに第２の検査領域を設定し、第１の検査領域および第２の検査領域の少なくとも一方の輝度情報を用いて、被検査面Ｂの凹凸に関する欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide an inspection device for liquid crystal device that can easily observe right under a pressing member that is difficult to observe by the conventional one and reduce missing of detection of potential short-circuit defect, and to provide an inspection method and a method of manufacturing a liquid crystal device by which missing of detection of potential short-circuit defect is suppressed.例文帳に追加

従来、観察が困難であった押圧部材の直下を容易に観察することができ、潜在的な短絡欠陥の検出漏れを低減することができる液晶表示装置の検査装置、検査方法および潜在的な短絡欠陥の検出漏れが少ない液晶表示装置の製造方法を提供する - 特許庁

To provide a surface defect inspection device for a band like body capable of detecting a surface defect by carrying out image pickup of a band like body surface at a optional pickup angle by a light source with low light intensity in regard to a surface defect inspecting device using a time delay integration type video camera.例文帳に追加

時間遅延積分型ビデオカメラを用いた表面欠陥検査装置において、低い光強度の光源により任意の撮像角度で帯状体面を撮像し、表面欠陥を検出することができる帯状体の表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device and method for detecting a defect in a retardation film or foreign matter on the retardation film in a color filter substrate having the retardation film.例文帳に追加

位相差膜を有するカラーフィルタ基板の、位相差中の欠陥、位相差上の異物を検出する検査装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a silicon wafer inspection device for detecting a defect such as a crack occurred in a silicon wafer, especially in its edge, surely at high speed.例文帳に追加

シリコンウエハー、特にそのエッジ部に生じたクラック等の欠陥を高速度でかつ確実に検出できるシリコンウエハー検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a weld zone undercut inspection device which can easily detect existence and a magnitude of a weld defect caused by undercut of the weld zone.例文帳に追加

溶接部のアンダーカットによる溶接欠陥の存在とその大きさを検出する簡易な溶接部アンダーカット検査装置を提供すること。 - 特許庁

This honeycomb structure defect inspection device includes a straightening vane 41 and an air current forming means (an air source 92 and a header pipe 59).例文帳に追加

整流板４１と、気流形成手段（空気源９２及びヘッダ管５９）と、を具備するハニカム構造体欠陥検査装置の提供による。 - 特許庁

To provide a paper cup inspection device detecting both of a pinhole and a molding defect in a paper cup bottom part with high sensitivity.例文帳に追加

紙カップ底部のピンホールを高い感度で検出するとともに、紙カップ底部の成型不良を検出する紙カップ検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a marking device not required to remove after inspection a marking marked for the surface defect of a steel sheet by manual work or a separate removing device.例文帳に追加

鋼板の表面欠陥に施したマーキングを検査後に手作業で除去したり、個別の除去装置で除去したりする必要のないマーキング装置を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device equipped with an image processing device capable of performing defect detection processing highly accurately, even when the image width of an input image is changed.例文帳に追加

入力画像の画像幅が変化しても、高い精度にて欠陥検出処理を行うことができる画像処理装置を備えた外観検査装置を提供する。 - 特許庁

The defect inspection device is mainly formed of only the light condensing lens 13 and the CCD sensor 25 as major components, and thus the device can be reduced in size and in cost.例文帳に追加

また、集光レンズ１３およびＣＣＤセンサー２５のみを主要構成として欠陥検査装置を構成できるため、欠陥検査装置を小型化、低コスト化できる。 - 特許庁

To provide an inspection system with a scanning electron microscope for performing an inspection for the purpose of detecting a defect on a substrate with a circuit pattern of a semiconductor device, a liquid crystal, or the like formed thereon which allows the easy identification of a minute defect and a pseudo one which have been hard to identify, and an inspection method thereof.例文帳に追加

半導体装置や液晶などの回路パターンが形成された基板上の欠陥を検出する目的で検査を行う走査電子顕微鏡を搭載した検査装置において、困難となっている微細欠陥と擬似の識別を容易に実施できる検査装置及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and a PTP packaging machine capable of carrying out transmission type inspection and reflection type inspection at the substantially same position, capable of saving a space, capable of reducing a manufacturing cost and capable of enhancing inspection efficiency, when inspecting an appearance defect in a manufacturing process of a PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における外観不良を検査するに際し、透過式検査及び反射式検査を略同一位置において実施でき、省スペース化、製造コストの低減及び検査効率の向上を図ることのできる外観検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide a reticle defect inspection method and a reticle defect inspection device capable of calibrating the offset and gain of a sensor amplifier using a product reticle even though black and white regions each sufficiently wider than a TDI sensor imaging area do not exist in the product reticle.例文帳に追加

製品レチクルにＴＤＩセンサ撮像面積に比して充分な広さの黒領域及び白領域が存在しなくても、製品レチクルを用いてセンサアンプのオフセット及びゲインの調整が可能なレチクル欠陥検査方法及びレチクル欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a lens defect inspection device capable of forming many parallel light sources having prescribed angles by the effective use of surface illuminations and a louver layer, for example, imaging accurately a defect on a lens appearance by an imaging means, and automating inspection.例文帳に追加

面照明とルーバー層の効果的な使用により所定の角度を持った平行光源を多数形成でき、例えばレンズの外観上の欠陥を撮像手段に精度良く撮像できて検査の自動化を図ることが可能なレンズ欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

This device has a configuration wherein, when detecting a foreign matter or a defect on the surface of the inspection object, a parameter for digital filtering is changed dynamically during inspection, and the foreign matter or the defect is discriminated by using a result acquired by removing a low-frequency changing component which is a noise component.例文帳に追加

そして、被検査体表面上の異物や欠陥を検出する際、デジタルフィルタリングのパラメータを検査中に動的に変化させ、ノイズ成分である低周波変動成分を除去した結果を用いて、異物や欠陥を弁別する構成とする。 - 特許庁

To provide a pattern inspection method and device that can inspect a pattern defect formed on a substrate with high accuracy in a short time, and specially, sufficiently prevent degradation of detecting sensitivity and inspection accuracy of a defect to a boundary part of pattern density of an element.例文帳に追加

基板上に形成されたパターンの欠陥検査を高精度且つ短時間で行うことができ、殊に、素子のパターン疎密の境界部に対しても、欠陥の検出感度及び検査精度の低下を十分に防止できるパターン検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a means of carrying out the inspection of a fine defect at a high throughput and high reliability, and a manufacturing method of a device in which the yield of device manufacturing is improved by carrying out mask inspection by such a device.例文帳に追加

本発明は、細かい欠陥を高スループット、高信頼性で検査を行う手段を提供し、そのような装置でマスク検査を行う事によりデバイス製造の歩留りを向上させるデバイス製造方法を提供する事を目的とする。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device having a little degradation of resolution even in image shifting beyond ±75 μm and a defect inspection device having a CAD navigation function interlocking with image shifting function, in a defect inspection device combining a plurality of probes measuring electrical property of samples including minute circuit wiring patterns with a charged particle ray device.例文帳に追加

微細な回路配線パターンを含む試料の電気特性を測定する複数のプローブと荷電粒子線装置とを組み合わせた不良検査装置において、±７５μｍ以上のイメージシフトでも分解能の劣化の少ない荷電粒子線装置と、イメージシフト機能に連動したＣＡＤナビゲーション機能を有する不良検査装置の提供する。 - 特許庁