「defect inspection device」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a pattern drawing device which is capable of early finding out a defect having a high urgency level on a mask and of shortening the inspection time of the mask.例文帳に追加

マスク上の緊急性の高い欠陥を早期に発見することができるとともに、マスクの検査時間を短縮することができるパターン描画装置を提供する。 - 特許庁

To provide a steel plate surface inspection apparatus and device each of which is capable of surely detecting a minute defect occurring on a steel plate immediately after casting.例文帳に追加

鋳造直後の鋼板に発生する微細な欠陥を確実に検出することができる、鋼板表面検査方法および装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an inspection device and method capable of inspecting an optical film by simple constitution, and capable of detecting easily a defect automatically.例文帳に追加

光学フィルムの検査を簡単な構成で行うことが可能であり、欠陥の自動検出も容易に行うことが可能な検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection device for a band like body using a time delay integration type video camera capable of carrying out image pickup by an optional angle.例文帳に追加

時間遅延積分型ビデオカメラを用いた表面欠陥検査装置であって、任意の角度で撮像することができる帯状体の表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a periodic defect inspection method and device for a strip-shaped material, which appropriately determines the degree of harmfulness of periodic defects occurring in the strip-shaped material.例文帳に追加

帯状材料に発生する周期性欠陥の有害度を適正に判定することができる帯状材料の周期性欠陥検査方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electron beam inspection method and device quick in identification without contamination and static charge, and with high accuracy in identification of a substance with structural defect.例文帳に追加

同定の時間が早く、コンタミネーションおよび帯電が無いと共に、構造欠陥の物質を同定する精度の高い電子ビーム検査方法および装置を実現する。 - 特許庁

A light shielding plate 18 is installed so as to shut off part of an optical path 12 of the argon laser beam past the collector lens 16, by which the phase difference defect inspection device described above is obtained.例文帳に追加

このコレクターレンズ１６を通過したアルゴンレーザー光の光路１２の一部を遮断するように遮光板１８を設置し、本発明の位相差欠陥検査装置を得る。 - 特許庁

To allow a position of a detected micro-defect to be marked by an inspection device itself by robot scanning during scanning of a coating face.例文帳に追加

ロボット走査による検査装置自体で、検知された微小欠陥の位置をその塗面走査中にマーキングすることを可能にする塗面検査装置用マーキング方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of inspecting precisely the presence of a defect in a wiring pattern, as to an inspected object with the wiring pattern formed on a polycrystal substrate.例文帳に追加

多結晶基板上に配線パターンが形成されてなる被検査物について、その配線パターンの欠陥の有無を精度良く検出できる検査装置を提供する。 - 特許庁

A temperature-measuring device 19 measures the surface temperature of the specimen in a time series manner and outputs the measured data to a data-recording means 13 of a defect inspection controller 10.例文帳に追加

温度計測器１９は、被検査体の表面温度を時系列で計測し、計測データを欠陥検査制御装置１０のデータ記録手段１３に出力する。 - 特許庁

To provide a servo pattern inspecting device for magnetic tape, which is suitable for inspection of a defect of a magnetized pattern, recorded on a magnetic tape 1, which is thin and long along the length of the magnetic tape 1.例文帳に追加

磁気テープ１に記録された磁化パターンのうち、磁気テープ１の長手方向の細長い欠陥を検査するのに適した磁気テープのサーボパターン検査装置を得る。 - 特許庁

To provide a pattern-inspecting device for reducing unneeded inspection time caused by the pattern defect of design-side data due to the inconveniences of a design data development circuit.例文帳に追加

設計データ展開回路の不具合による設計側データのパターン欠陥に起因する無駄な検査時間を削減することが可能なパターン検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect extraction method and a printed wiring board final appearance inspection device, supressing generation of false information due to fluctuation in manufacturing process for an object board to be inspected.例文帳に追加

被検査対象基板の製造工程のバラツキによる虚報の発生をおさえた欠陥抽出手法及びプリント配線板最終外観検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a concrete defect inspection device for easily determining where a crack exists within the concrete and whether or not repair work is needed therefor.例文帳に追加

本発明の目的はコンクリート内部のクラック（亀裂）の存在位置と補修作業の要否を容易に判定することのできるコンクリートの欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁

Further, the defect inspection device can calculate a plurality of threshold coefficients, and display the result recalculated using the respective threshold coefficients on the assist tool picture (GUI).例文帳に追加

また、複数個のしきい値係数の算出ができ、アシストツール画面(ＧＵＩ)上にそれぞれのしきい値係数で再算出した結果を表示させることができる。 - 特許庁

To provide a wire surface inspection device capable of detecting accurately a defect such as a flaw or dirt on the surface of a linearly extending wire rod (wire to be inspected).例文帳に追加

線状に伸びる線材（被検査線条）の表面の疵や汚れ等の欠陥を正確に検出することのできる線条表面検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a device and method for inspecting defects that are suitable for defect inspection of a relatively large sample imposed with strict tolerance in the height direction.例文帳に追加

比較的大きな試料であって高さ方向に厳格な公差が課せられる試料の欠陥検査に好適な欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device and method which inspects precisely and quickly a defect in an image display panel for displaying images in two or more of different directions.例文帳に追加

異なる２つ以上の方向に画像を表示する画像表示パネルの欠陥を高精度、かつ、高速に検出する検査方法、および、検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide an X-ray defect inspection device for determining normality/abnormality of inspection objects by determining the size or the volume from radiographic images of the inspection objects, capable of accurately inspecting each inspection object, even if the inspection objects are transported, in a state that a plurality of them are in contact with each other or are overlapped, and improving the yield of inspection, without performing special for transportation.例文帳に追加

被検査物のＸ線透過像からその大きさや体積を求め、正常／異常の判定を行うＸ線欠品検査装置において、被検査物が複数個接触した状態で搬送されたり、重なり合った状態で搬送されてきても、個々の被検査物について正しく検査することが可能で、検査の歩留りを向上させ、また、搬送に特別な工夫を施す必要のない装置提供する。 - 特許庁

To provide a device capable of detecting surely a projecting defect on a cylindrical inspection object, even in a case where the attitude of the cylindrical inspection object is tilted by a setting error at the positioning time or rotation deflection, when inspecting the cylindrical inspection object, especially both ends of a photosensitive body drum.例文帳に追加

円筒状被検査物、特に、感光体ドラム両端部の検査時に、位置決め時のセッティング誤差や回転振れにより円筒状被検物の姿勢が傾いた場合においても、円筒状被検物上の凸欠陥を確実に検出することができる装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method of a gray tone mask by which performance evaluation and defect inspection of a gray tone mask can be preferably carried out, to provide a method for manufacturing a gray tone mask for manufacturing a liquid crystal device by using the inspection method of a gray tone mask, and to provide a pattern transfer method.例文帳に追加

グレートーンマスクの性能評価及び欠陥検査を良好に行うことができるグレートーンマスクの検査方法を提供し、また、このグレートーンマスクの検査方法を用いた液晶装置製造用グレートーンマスクの製造方法及びパターン転写方法を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection method which rationalizes and simplifies a setup process before a defect of an anti-reflection film is observed and a cleanup process after the observation, and to provide a visual inspection device which enables visual inspection of the total length of the anti-reflection film to be manufactured at a time.例文帳に追加

反射防止フィルムの欠陥を観察するに至るまでの段取り工程及び観察後の後始末工程を合理化・簡略化する外観検査方法を提供し、同時に製造した反射防止フィルム全長の外観検査が可能な外観検査装置を提供することを目的とした - 特許庁

The defect inspection device for processing image information imaging an inspection object having a prescribed area to be inspected by a plurality of area sensors and discriminating a defect based on a characteristic amount calculated from brightness change in the area includes correction means between characteristic amount imaging systems for correcting the difference between the characteristic amounts to the same defect between the plurality of the area sensors in each area sensor.例文帳に追加

所定の被検査エリアを有する検査対象を、複数のエリアセンサにより撮像した画像情報を処理し、前記エリア内の輝度変化から計算した特徴量に基づいて欠陥を識別する欠陥検査装置において、 前記複数のエリアセンサ間の同一欠陥に対する特徴量の差を補正する、特徴量撮像系間補正手段を前記エリアセンサ毎に備える。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus, capable of measuring the temperature properties of a semiconductor sample, without limiting the movement ranges of a sample stage, and to provide a probe device with a temperature control device.例文帳に追加

試料ステージ及びプローブ装置の移動範囲が温度制御装置によって制限されることなく半導体試料の温度特性測定を行うことができる不良検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for realizing highly precise defect inspection by easily and accurately correcting the distortion of the image of an object to be detected generated due to the constitution of this device.例文帳に追加

装置構成に起因して生じる被検物体の像の歪みを簡易かつ正確に補正し、高精度な欠陥検出が行える欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a droplet discharge device, a droplet discharge method, and a method for manufacturing an electro-optical device, which allow efficient drawing on a work by shortening the time required for discharge defect inspection.例文帳に追加

吐出不良検査に要する時間を短縮し、ワークに対しての描画を効率良く行うことができる液滴吐出装置、液滴吐出方法及び電気光学装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a means capable of easily recognizing where the region is on the monitor screen in observing a defect region on a large substrate using a monitor device for visual inspection, and to provide a visual inspection system including the means.例文帳に追加

目視観察用のモニター装置を用いて、大型基板上の欠陥部位を観察するに当たり、当該部位が該モニター画面上のどこにあるのか容易に認識できる手段及びこの手段を備える目視検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a printed-state inspection device that picks up an image formed of reflected light from a printed surface by projecting light upon the printed surface, detects a printing defect from the obtained image, and is improved in inspection efficiency.例文帳に追加

印刷面に光を照射し、その反射光により形成される像を撮像し、得られた画像から印刷の欠陥を検出する印刷状態検査装置であって、検査効率の向上を図ったものを提供する。 - 特許庁

To provide a surface inspection method for a scarfed steel material, capable of certainly detecting a defect such as a non-scarfed part or a molten drip remaining on the surfaces of the steel material whose surfaces are scarfed with high accuracy, and to provide an inspection device used for the same.例文帳に追加

表面を溶削された鋼材の表面に残留する湯だれや未溶削部などの欠陥を精度良く確実に検出できる溶削済み鋼材の表面検査方法、およびこれに用いる検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus for speeding up inspection with high resolution for a technique in inspecting defects, foreign materials, residues, and steps, etc., using electron beam for a pattern on a wafer in a manufacturing process for a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上パターンの欠陥、異物、残渣および段差等を電子ビームにより検査する技術において、高分解能で、かつ検査速度の高速化を実現する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device and its method requiring no pin to be brought into contact with circuit wiring in supply of an inspection signal to the circuit wiring and allowing detection of a minute defect indistinguishable by a naked eye.例文帳に追加

回路配線に検査信号を供給するにあたり、該回路配線に接触するピンを不要とし、また、肉眼により識別できないような微細な欠陥をも検出し得る検査装置及び検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspection device of a high resolution realizing the increase of inspection speed in a technology of inspecting defects of patterns, foreign matters, remnants, steps or the like on a wafer in the course of manufacturing process by electron beams.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上パターンの欠陥、異物、残渣および段差等を電子ビームにより検査する技術において、高分解能で、かつ検査速度の高速化を実現する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer inspecting apparatus and method capable of performing defect inspection for each chip region over the whole wafer without interrupting the inspection, and to provide a semiconductor device formed after using the apparatus and the method.例文帳に追加

検査が中断されることなくウェハ全面の検査対象の各チップ領域について欠陥検査が可能な半導体ウェハ検査装置及びその検査方法及びその利用を経て形成された半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a lens defect inspection device capable of forming many parallel light sources having prescribed angles by the use of an illumination means comprising surface illuminations and a louver layer, setting most suitably a focus position of an imaging means, imaging accurately a defect on a lens appearance by the imaging means, and automating inspection.例文帳に追加

面照明とルーバー層からなる照明手段の使用により所定の角度を持った平行光源を多数形成できると共に、撮像手段のフォーカス位置を最適に設定し、レンズの外観上の欠陥を撮像手段で精度良く撮像して検査の自動化を図ることが可能なレンズ欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The light-emitting element inspecting device according to one embodiment includes an inspector for inspecting the presence of a defect by a vision inspection of a light-emitting element, and a defect rejector for discarding a light-emitting element determined as a defective element of the elements fed by the inspector, based on the inspection result by the inspector.例文帳に追加

本発明の一実施形態による発光素子検査装置は、発光素子のビジョン検査により不良の有無を検査する検査部と、前記検査部から供給された前記発光素子のうち、前記検査部の検査結果に基づいて不良と判定された発光素子を廃棄する不良リジェクト部とを含む。 - 特許庁

This pattern defect inspection device detects a defect by comparing a detection image acquired by scanning patterns, which are sequentially arranged in the line direction at equal intervals on the object under inspection and provided with the same shape, by means of an image sensor with a reference image acquired by scanning the patterns arranged adjacently in the line direction and provided with the same shape.例文帳に追加

被検査物体上に行列方向に等間隔で連続的に配列された同一形状を有するパターンをイメージセンサを走査して得られる検出画像とその行列方向に隣接する同一形状のパターンを走査して得られる参照画像とを比較して欠陥を検出するパターン欠陥検査装置である。 - 特許庁

To provide an inspection device for a display panel and the like, which inspects a defect by once imaging without generating halation and insufficient sensitivity, when defect-inspecting an inspection pattern with a gradation displayed by stepwise change patterns in every divided screen in the display panel of screen division drive.例文帳に追加

画面分割駆動の表示パネルにおいて分割画面毎に階調が段階的変化パターンにて表示される検査パターンを撮像装置にて撮像して欠陥検査する際、ハレーション及び感度不足を生じることなく一度の撮像で検査を行い得る表示パネルの検査装置等を提供する。 - 特許庁

A focus deviation detection device according to the present invention detects the focus deviation of an imaging device in a surface defect inspection device inspecting surface defects based on image data that is produced by imaging the surface of a test subject being transported with the imaging device.例文帳に追加

本発明の焦点ズレ検出装置は、搬送される被検査体の表面を撮像装置により撮像した画像データに基づいて、表面欠陥を検査する表面欠陥検査装置において、撮像装置の焦点ズレを検出する。 - 特許庁

As this device for inspecting water stain deposited on a transparent film, a water stain inspection device is used which is characterized by being equipped with a water stain imaging means imaging the water stain, a contrast improvement means improving the contrast of the water stain, and a defect determination means determining the water stain to be a defect.例文帳に追加

透明フィルムに付着した水しみを検査する装置において、水しみを撮像する水しみ撮像手段、水しみのコントラストを改善するコントラスト改善手段、水しみを欠陥として判定する欠陥判定手段を備えることを特徴とする水しみ検査装置を用いる。 - 特許庁

After the semiconductor chip is mounted an each device area followed by bonding using a bonding wire 6, a visual inspection such as on discontinuity of the bonding wire 6, is performed and a defect mark FM is posted onto the surface of the semiconductor chip 4 having a assembly-related defect.例文帳に追加

各々のデバイス領域に半導体チップ４を搭載して、ボンディングワイヤ６によるボンディング後、ボンディングワイヤ６の断線などの外観検査を行い、組み立て不良がある半導体チップ４の表面に不良マークＦＭを貼り付ける。 - 特許庁

To provide a semiconductor device defect inspection method and a system thereof which inspects predetermined risky spots using a step-and-repeat type high resolution SEM and estimates a defect occurrence frequency at the risky spots statistically with high reliability.例文帳に追加

ステップ・アンド・リピート式の高解像度ＳＥＭを用いて予め定められた危険点を検査し、危険点での欠陥発生頻度を統計的かつ信頼性を持って推定する半導体デバイスの欠陥検査方法及びそのシステムを提供する。 - 特許庁

This device is provided independently with a detection signal processing circuit for forming a large current high-speed image for detecting the existence of the defect, and a detection signal processing circuit for forming an image of a specified narrow portion detected by the defect detecting inspection hereinbefore.例文帳に追加

欠陥の存在を検出する為の大電流高速画像形成用の検出信号処理回路と、この欠陥検出検査により検出された特定の狭い部位の画像形成用の検出信号処理回路とを独立に設ける。 - 特許庁

To obtain a color filter substrate which facilitates correction of a defect in a color filter portion, which does not require a plurality of times of inspection steps in the manufacturing process and which shows no display failure even when used for a liquid crystal display device after correcting a defect.例文帳に追加

カラーフィルタ部分の欠陥修正を容易に実現できるとともに、製造過程で複数回の検査工程を必要とせず、欠陥修正後に液晶表示装置に用いても表示が不良とならないカラーフィルタ基板の実現を課題とする。 - 特許庁

To actualize an electronic display inspecting device which can accurately detect an inspection area, easily detect a linear defect, and easily correct the tilt of an electronic display display surface even if the electronic display has the linear defect.例文帳に追加

電子ディスプレイにライン状欠陥があった場合でも、正確に検査領域を検出し、ライン状欠陥を容易に検出し、電子ディスプレイ表示面の傾きも容易に補正することのできる電子ディスプレイ検査装置の実現を目的とする。 - 特許庁

To provide a foreign matter inspecting method and a foreign matter inspection device, for a wafer peripheral edge, which can accurately and quantitatively detect at which part of a wafer a defect is present and how large the defect is, and how large the foreign matter is and on which part the foreign matter sticks.例文帳に追加

ウェハのどの部分にどの程度の大きさの欠陥があるのか、又どの程度の異物がどの部分に付着しているのかを、正確、かつ定量的に検出可能なウェハ周縁端異物検査方法、及び異物検査装置を提供する。 - 特許庁