「defect inspection device」に関連した英語例文の一覧と使い方(19ページ目) - Weblio英語例文検索

This defect inspection device 21 is used in a prestage for attaching a sealing film 4 to close a pocket part, after a tablet is stored in the pocket part formed in a conveyed container film 3.例文帳に追加

不良検査装置２１は、搬送される容器フィルム３に形成されたポケット部に錠剤が収容された後、ポケット部を塞ぐ密封用フィルム４が取着される前段階において用いられる。 - 特許庁

To provide a surface inspection device and method, capable of suppressing an effect of light generated by reflection of a light source, when inspecting a surface defect of a specimen by which light is regularly reflected.例文帳に追加

光が正反射する被検体の表面欠陥を検査する際に、光源が映り込んで発生する光の影響を抑制できる表面検査装置及び表面検査方法を提供する。 - 特許庁

The inspection device includes a sensor 20 having an excitation core 21 and a detecting coil for detecting a defect occurring in the deck plate 101, and a travel carrier 2 for supporting this sensor 20 and scanning the deck plate 101.例文帳に追加

デッキプレート１０１に発生する欠陥を検出するための励磁コア２１及び検出コイルを備えたセンサ２０と、このセンサ２０を支持しデッキプレート１０１を走査する走行台車２とを設ける。 - 特許庁

To provide a defect inspection device of simple structure capable of detecting a break (intermission) of a flowable substance applied onto a base body, for example, paste applied onto a paper roll conveyed at a high speed.例文帳に追加

簡易な構造でありながら基体に塗布された流動性物質、例えば高速で搬送される巻紙に塗布された糊の途切れ（抜け）を検出することのできる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

In a pattern for unevenness used in an unevenness defect inspection device, the patterns are made of the same material as the substrate and formed by the same manufacturing method.例文帳に追加

本発明の課題は、上記のような問題に鑑みてなされたものであり、実欠陥と擬似欠陥とを高精度に弁別できる検査用パターン及び検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a liquid crystal panel having no polarizing plate, by which foreign matter depositing on a polarizing plate or a diffusing plate of an inspection device can be distinguished from a defect of a liquid crystal panel.例文帳に追加

偏光板の無い液晶パネルを検査する方法において、検査装置の偏光板や拡散板に付着した異物と液晶パネルの欠陥とを識別し得る検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a soldering inspection device for a PGA (Pin Grid Array) mounting substrate capable of detecting and evaluating a defect precisely by measuring directly a solder creeping-up height on the side surface of a pin erected on a substrate.例文帳に追加

基板上に立設されたピン側面における半田はい上がり高さを直接的に計測して、欠陥を精密に検出評価できるＰＧＡ実装基板の半田付け検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a leakage inspection device for plastic bottles, which prevents misdetections where a nondefective is detected as being a defective product, which is caused by imperfect sealing that is a defect which spool-type electromagnetic valves have.例文帳に追加

スプール型電磁弁の持つ欠点であるシール性が不完全であることが原因で起こる良品を不良品と判定する誤検出を防止することができるペットボトルのリーク検査装置を提供する。 - 特許庁

To realize an electroluminescent element with improved luminous sensitivity and to realize an electroscope of a power line, a conduction display power line, and a circuit board defect inspection device using the electroluminescent element.例文帳に追加

発光感度を増大させた電界発光素子を実現し，電界発光素子利用して電力線の検電器及び通電表示電力線及び回路基板欠陥検査装置等を実現する。 - 特許庁

To inspect masks for transferring patterns by using two or more masks so as to relieve a pseudo defect in a part where no problem is caused from the viewpoint of a device while keeping the inspection accuracy in a pattern region.例文帳に追加

２以上のマスクを用いてパターン転写する場合のマスクの検査を、パターン領域の検査の精度を保ちつつ、デバイス上問題が生じない箇所での擬似欠陥を救済しながら行う。 - 特許庁

To provide a streak surface inspection device, capable of preventing the erroneous detection caused by the vibration of a streak to be inspected to accurately detect the flaw such as a defect or a stain of a linearly extending wire material.例文帳に追加

被検査線条の振動による誤検知を防止し、線状に伸びる線材の欠陥や汚れ等の欠陥を正確に検出することのできる線条表面検査装置を提供すること。 - 特許庁

To improve the reliability of defect detection sensitivity and an inspection result by removing the noise of a high frequency component resulting from detailed unevenness produced in the case of processing a semiconductor device circuit pattern.例文帳に追加

半導体装置回路パターンを加工する際に生ずる微細な凹凸に起因した高周波成分のノイズを除去することにより、欠陥検出感度・検査結果の信頼性を向上する。 - 特許庁

This defect inspection device is provided with a camera 12 picking up an image of a transparent sheet film 1 and an image processing device 14 detecting foreign matter 19 of the transparent film 1 by processing the pick-up image.例文帳に追加

透明シート状の透明フィルム１の画像を撮像するカメラ１２と、撮像された画像を画像処理を行うことにより透明フィルム１の異物１９を検出する画像処理装置１４とを有する欠陥検査装置である。 - 特許庁

The defect inspection device 21 is provided with a lighting device 22 with a light source, a camera 23 capable of imaging transmission light transmitted through the tablet, and an image processor 24 for processing an image signal output from the camera 23.例文帳に追加

不良検査装置２１は、光源を具備する照明装置２２と、錠剤を透過してくる透過光を撮像可能なカメラ２３と、カメラ２３から出力される画像信号を処理する画像処理装置２４とを備えている。 - 特許庁

A flaw detection result diagnostic device 14 performs arithmetic processing for identifying a defect signal and a virtual image signal by taking a correlation between a plurality of guide wave inspection images to a different frequency, imaged by the flaw detection result imaging device 13.例文帳に追加

探傷結果診断装置１４は、探傷結果映像化装置１３により映像化された、異なる周波数に対する複数のガイド波検査映像の相関を取り、欠陥信号と虚像信号とを識別する演算処理を行う。 - 特許庁

To provide a visual inspection device for a semiconductor device that protects adjacent non-defectives against damage by virtue of short-time and precise marking when marking a corresponding obverse surface after inspecting a defect in a reverse surface of a semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板裏面の欠陥を検査した後、対応する表面にマーキングする際に、短時間かつ精度良くマーキングを行うようにし、隣接する良品に傷を付けることのない半導体素子の外観検査装置を提供する。 - 特許庁

A coordinate difference information for each of defect inspection devices 41 and 42 is stored beforehand in an image observation SEM storage device 45, and the difference information is used to calibrate a defect position coordinate outputted from the devices 41 and 42 for a coordinate value as a coordinate value for the image observation SEM.例文帳に追加

像観察ＳＥＭの記憶装置４５に、予め欠陥検査装置４１，４２毎の座標誤差情報を記憶しておき、その誤差情報を用いて欠陥検出装置４１，４２から出力された欠陥位置座標を像観察ＳＥＭ用の座標値に校正する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device wherein detection sensitivity and throughput are improved by optimizing shape of illumination when detecting a defect such as foreign matter generated in a production process for forming a pattern on a substrate to manufacture a target object, and to provide a method therefor.例文帳に追加

基板上にパターンを形成し対象物を製作して行く製造工程で発生する異物等の欠陥を検出する際に、照明の形状を最適化することにより、検出感度およびスループットを向上する欠陥検査装置およびその方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a visual inspection method and a device for a defect part of a glass plate for simply creating conditions allowing visual observation from front without imposing impossible posture on an inspector, and reasonably, certainly, and safely detecting a defect part of a large-sized glass plate for FPD.例文帳に追加

検査者に無理な姿勢を強いることなく、正面視により目視しやすい条件を簡単に作り出すことができ、大型のＦＰＤ用ガラス板の欠陥部分を無理なく確実に安全に検出することのできる、ガラス板の欠陥部分の目視検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

The method and device inspect the defect generated in the outward appearance of the object to be inspected through the image processing and the defect is detected by comparing image data at respective inspection points of the object to be inspected with a specific mean value.例文帳に追加

検査対象物の外観に生じている欠陥を画像処理により検査する欠陥検出方法及び欠陥検出装置であって、検査対象物の各検査ポイントにおける画像データを、所定の平均値と比較することにより欠陥を検出するものである。 - 特許庁

The image defect inspection device 10 of the present invention is provided with a correlation value calculating means 20 for calculating a correlation value between a differential image in the two collated images and at least one out of the two images, and the detection of the defect is restrained in response to an increase of the correlation value.例文帳に追加

画像欠陥検査装置１０を、本発明では対比される２画像の差画像とこれら２画像のうちの少なくとも一方との間の相関値を算出する相関値算出手段（２０）を備えて構成し、この相関値の増加に応じて欠陥の検出を抑制する。 - 特許庁

The surface of the steel sheet 100 flowing the production line is inspected by a surface inspection device 20, and the surface defect of the steel sheet 100 is automatically dressed by a grinding mechanism 20 according to the type and degree of a defect without stopping the production line.例文帳に追加

生産ラインを流れる薄鉄鋼１００の表面を表面検査装置２０４により検査し、この検査により発見された薄鋼板１００の表面欠陥を、生産ラインを止めず、かつ欠陥の種類や程度に応じて、研磨機構２０７により自動的に手入れする。 - 特許庁

The TFT array inspection device 1 for inspecting a TFT array based on two-dimensional measured data obtained by driving each pixel of a TFT substrate 2, comprises a data processing means 5 determining a defect point of line defect from the two-dimensional measured data of the TFT substrate 2.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査装置１は、ＴＦＴ基板２の各画素を駆動して得られる二次元の測定データに基づいてＴＦＴアレイを検査するＴＦＴアレイ検査装置において、ＴＦＴ基板２の二次元の測定データから線欠陥の欠陥点を求めるデータ処理手段５を備える。 - 特許庁

In a device 1 for detecting the defect, a reference image showing a pattern of a die as a reference on the substrate 9 in a reference image inspection circuit 42 is compared with a plurality of selected images showing the patterns of selected dies, and a defect included in the reference image is detected.例文帳に追加

欠陥検出装置１では、基準画像検査回路４２において基板９上の基準とされるダイのパターンを示す基準画像と、それぞれが選択されたダイのパターンを示す複数の選択画像とが比較され、基準画像が有する欠陥が検出される。 - 特許庁

Troubles for presetting detailed conditions before review are saved, and proper conditions are automatically decided in a short time based on defect information delivered from a defect inspection device and information obtained in actual review.例文帳に追加

欠陥検査装置から送られてくる欠陥情報及び実際のレビュー中に得られる情報に基づき、種々の条件を自動的に決定することによって、レビュー前に予め詳細条件を設定する手間を省き自動的かつ短時間で適正な条件を決定する。 - 特許庁

To provide: an inspection method capable of specifying the portion where junction leak defect is occurred, by irradiating a semiconductor device with an electron beam at a predetermined interval a plurality of times, and optimizing conditions of junction forming process by carrying out the inspection using wafer under a semiconductor manufacturing process; a device; and the method of manufacturing the semiconductor.例文帳に追加

半導体装置に電子線を所定の間隔で複数回照射して、接合リーク不良発生箇所を特定でき、半導体製造工程途中のウエハで本検査を実行することにより接合形成プロセス条件の最適化を行うことができる検査方法及び装置、半導体の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection/analysis system which can use an infrared imaging device or both it and a laser imaging device to automatically measure the float or both the floats and cracks of wall surface in a single process and then automatically analyze the pick-up image to extract/determine a defect, in failure check of wall surface for tunnels, etc. by using an inspection vehicle.例文帳に追加

計測車によるトンネル等の壁面の不具合計測において、赤外線撮像装置或は該撮像装置とレーザ撮像装置の両方を使用して壁面の浮き或は浮きとひび割れの両方を１工程で自動計測し、撮像画像を自動解析して不具合を抽出・判定できるシステムを提供する。 - 特許庁

To enable high-speed, stable, and accurate inspection of circuit pattern having insulating materials in a method for inspection by detecting a defect, contamination, residue, or the like appearing on the circuit pattern of a semiconductor-device wafer, by radiating an electron beam onto the wafer and comparing the secondary electron image with a reference image.例文帳に追加

半導体装置等基板上で発生した回路パターンの欠陥、異物、残渣等を電子線をウエハに入射して二次電子像を比較することにより検査する方法において、絶縁材料を有する回路パターンを高速に且つ安定して高精度に検査可能とする。 - 特許庁

This defect inspection device 1 is equipped with a gray level difference detecting part 25 for detecting a gray level difference between corresponding pixels, relative to pixels whose both gray level values of the corresponding pixels are smaller than a prescribed threshold, among each pixel included in the inspection image and each pixel of the reference image, respectively corresponding to the pixel.例文帳に追加

欠陥検査装置１は、検査画像に含まれる各画素とこれら画素にそれぞれ対応する参照画像の各画素のうち、対応する画素の両方のグレイレベル値が所定の閾値より小さいものについて、対応する画素間のグレイレベル差を検出するグレイレベル差検出部２５を備える。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a substrate adaptable to a fine patterning, a mask blank and a transfer mask at a high yield, by detecting an internal defect (an optically non-uniform part) of a substrate for a mask blank at low maintenance cost and at a low inspection cost using an inspection device manufactured at low cost.例文帳に追加

低コストで製造可能な検査装置を用いて、低メンテナンスコスト及び低検査コストで、マスクブランク用基板の内部欠陥（光学的不均一部分)を検出して、微細なパターニングに適応した基板、マスクブランク及び転写用マスクを高い歩留まりで製造する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface and internal defect inspection device, capable of enhancing inspection precision by reducing the influence of the sensitivity difference and phase noise, caused by the incident position of the reflected light from the surface of an object to be inspected (or transmission light passed through the inside of the object to be inspected).例文帳に追加

被検査物の表面からの反射光（又は、被検査物の内部を透過した透過光）の入射位置による感度差や位相ノイズの影響を小さくすることにより検査精度を向上することができる表面および内部欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for visual inspection of electronic components which can securely surely decide only a real defect, without being affected by unevenness, sealed characters, etc., included in a photographed image of the package of electronic components and the recording medium, where the program for enabling a computer to actualize the visual inspection processing is recorded.例文帳に追加

電子部品のパッケージの撮影画像に含まれるむらや捺印文字等の影響を受けず、真の欠陥のみを確実に判別できる、電子部品の外観検査方法、外観検査装置及び外観検査処理をコンピュータに実現させるためのプログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁

The inspection device allows defective image during inspection to be displayed, by searching similar defects on images in case of a plurality of sheets of defective data, performing trend display of a search result, displaying a defective map by designating a sheet on the trend, and designating a defect on the defective map.例文帳に追加

複数枚の欠陥データの場合には、画像上で類似の欠陥を検索、検索結果をトレンド表示すること、トレンド上の１枚を指定することでその欠陥マップを表示し、欠陥マップ上の欠陥を指定することで検査時の欠陥画像の表示を可能とする。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection device that responds to inspection of a fillet weld section between a socket section of a small diameter elbow and a pipe, for example, and detects a defect occurring so as to become substantially parallel to an elbow-side boundary near the elbow-side boundary of the fillet weld section.例文帳に追加

例えば小口径エルボのソケット部と配管との隅肉溶接部の検査に対応することができ、隅肉溶接部のエルボ側境界付近でエルボ側境界に対しほぼ平行方向となるように生じた欠陥を検出することができる超音波検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method and the device capable of distinguishing black stains, non-black stains and tears, without determing pattern as a defect, when performing an inspection of defects, such as stains, tears and defective shape in a sheet-like article that varies widely in color reproducibility (dispersion, color unevenness and/or color fading).例文帳に追加

色の再現性に幅（ばらつき、色ムラおよび／または色あせ）のあるシート状物品における汚れ、破れ、形状不良等の欠陥検査において、模様を欠陥と判定せず、かつ、黒汚れ、非黒よごれおよび破れの判別が可能な検査方法および装置の提供。 - 特許庁

The inspection device 48 transmits the inspected result to a controller 49 as a detection signal, and the controller 49 which receives the detection signal controls the exposure conditions of an aligner 4 based on the presence or absence of the defect, or controls inspection frequency by adjusting a frequency adjusting mechanism 50.例文帳に追加

検査装置４８は検査結果を検出信号として制御装置４９に送信し，検出信号を受信した制御装置４９は欠陥の有無に基づいて露光装置４の露光条件を制御したり，頻度調整機構５０を調整して検査頻度を制御する。 - 特許庁

To provide a coordinate correction method between different apparatuses which enables access to a defective position simply and precisely with a defective review system, based on coordinate information of an arbitrary defect obtained by a shape defective inspection device, and to provide an inspection method using the coordinate correction method.例文帳に追加

外観欠陥検査装置で取得した任意の欠陥の座標情報に基づき欠陥レビュー装置で当該欠陥位置に容易に且つ精度良くアクセス可能にする異なる装置間の座標補正方法及びこの座標補正方法を用いた検査方法を提供する。 - 特許庁

In this defect inspection device 1, a lens 2 supported on an inspection axis L is sequentially illuminated by reflection type dark-field illumination devices 5_1-5_4 having LEDs 6_1-6_4 for irradiating light at different irradiation angles to the lens 2 one by one, and is imaged by a camera 4.例文帳に追加

欠陥検査装置１においては、検査軸線Ｌ上に支持されたレンズ２は、レンズ２に対して異なる照射角度で光を照射するＬＥＤ６_１〜６_４を有する反射型暗視野照明装置５_１〜５_４よって１装置ずつ順次照明され、カメラ４によって撮像される。 - 特許庁

In the angle probe 0 and the inspection device, a shoe 2 having acoustic characteristics changed by temperature to the same degree of the inspection object 4 is used, whereby the incident angle θ1 of ultrasonic wave to the shoe is equalized to the refraction angle θ2 to the inspection object 4, so that defect detection can be performed by direct scan technique.例文帳に追加

温度による音響特性変化が被検査物４と同程度のシュー２を用いることで、温度変化に関係なく超音波のシューへの入射角θ１と被検査物４への屈折角θ２が等しくなるようにし、直射法で欠陥検出ができるように斜角超音波探触子０および検査装置を構成する。 - 特許庁

When the number of pixels each brightness value of which is over a specified separation threshold is smaller than a specified determination number, relative to pixels in an inspection domain by using the striped bright domain Db in a density image acquired by the imaging apparatus 3 as the inspection domain, an image processing device 4 determines to be a void defect wherein a void amount occupied in the inspection object is excessive.例文帳に追加

画像処理装置４は、撮像装置３により得られた濃淡画像のうち縞状明領域Ｄｂを検査領域とし検査領域内の画素について、輝度値が規定の分離閾値以上である画素の個数が規定した判定個数以下のときに、検査対象に占めるボイドの量が過剰であるボイド不良と判定する。 - 特許庁

This visual inspection system has a recording means for recording information including at least defect coordinates provided from an inspection result in an automatic inspection means arranged at least one portion or more in a manufacturing process while combined to an identification code imparted on a device substrate, and a visual inspection terminal for reading out the information recorded in the recording means by the identification code to be informed to a visual inspector.例文帳に追加

製造工程の少なくとも１箇所以上に配置された自動検査手段の検査結果から得た、少なくとも欠陥座標を含む情報をデバイス基板上に付された識別コードと結び付けて記録する記録手段を有し、該記録手段に記録された情報を該識別コードによって読み出して目視検査員に通知する目視検査端末を有することを特徴とする目視検査支援システム。 - 特許庁

To provide a detecting method for gas leakage which detects a defect by a simple device, without being affected by the shape of the defective hole nor the pressure of leaking gas and the detecting device for a gas leakage for leak inspection for detecting a gas leak.例文帳に追加

漏洩気体を検出するりーク検査において、欠陥孔の形状ならびに漏れ気体の風圧に影響されずに、簡便な装置で欠陥を検出する漏洩気体の検出方法および漏洩気体の検出装置を提供する。 - 特許庁

The defect inspection device 21 is equipped with a lighting system 22 equipped with the first light source and the second light source, a camera 23 capable of imaging light transmitted through the tablet, and an image processing device 24 for processing an image signal outputted from the camera 23.例文帳に追加

不良検査装置２１は、第１光源及び第２光源を具備する照明装置２２と、錠剤を透過してくる光を撮像可能なカメラ２３と、カメラ２３から出力される画像信号を処理する画像処理装置２４とを備える。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and method capable of easily searching for defects when reviewing the defects detected from the plane to be inspected of a body to be inspected such as a semiconductor wafer by an observing device such as a scanning microscope.例文帳に追加

半導体ウェーハ等の被検査体の被検査面から検出した欠陥を走査型顕微鏡等の観察装置によってレビューする際に欠陥の探索を容易に行うことができる欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a print output method good in the visibility of defect part in a print output matter and capable of lowering the cost for print output, and to provide a printed matter inspection device to which the print output method is applied.例文帳に追加

プリント出力物における欠陥部分の視認性が良く、プリント出力のコストを低くすることができるプリント出力方法、およびその方法が適用された印刷物検査装置を提供する。 - 特許庁