「defect inspection device」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

Defect/image information output from an inspection device is butted on ADR/ADC information output from an observation means on a data processor, they are listed and displayed, and a relation between the defect characteristic amount and average detection ratio is displayed using the data, and the defect characteristic amount and the number of detections are displayed every review category.例文帳に追加

検査装置から出力される欠陥・画像情報と、観察装置から出力されるADR・ADC情報とをデータ処理装置上で突き合わせをし、一覧表示させると共に、そのデータを用いて欠陥特徴量と平均検出率の関係や、レビューカテゴリごとにその欠陥特徴量と検出数を示す。 - 特許庁

The electron microscope 5 for observing the defect detected by an optical defect inspection device is mounted with an optical microscope 6 for re-detecting the defect, and has a constitution where, when focusing of the optical microscope 6 is performed, a lighting position and a detecting position of the optical microscope 6 to a sample 1 are not changed.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡５において、欠陥を再検出する光学式顕微鏡６を搭載し、この光学式顕微鏡６の焦点合わせを行う時に、試料１に対して光学式顕微鏡６の照明位置と検出位置を変化させない構成とする。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device capable of stably detecting a small defect such as a stain and a foreign matter generated in the contour vicinity even when the contour direction cannot be determined since the contour in an inspection object image is not a simple straight line shape and is a complicated shape such as a waveform in an inside surface inspection of a package.例文帳に追加

パッケージの内面検査、等において、検査対象画像における輪郭が単純な直線状ではなく波形状等の複雑形状であって輪郭の方向が定まらないような場合であっても、輪郭近傍に発生する小さな、汚れ、異物、等の欠陥を安定して検出することができる検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁

This inspection device is provided with an imaging device 11 for imaging the plurality of transmission surfaces, and an image processing part 16 for processing an image imaged by the imaging device to detect a foreign matter or a defect, in order to inspect a foreign matter or a defect on the plurality of transmission surfaces in a specimen including the plurality of laminated transmission surfaces.例文帳に追加

積層された複数の透過部材を含む被検物における複数の透過面の異物または欠陥に関して検査するために、前記複数の透過面を撮像する撮像装置１１と、前記撮像装置にて撮像した画像を処理して前記異物または欠陥を検出する画像処理部１６とを設ける。 - 特許庁

This scanning device is provided with a vehicle, the inspection camera for photographing a defect such as a crack of a concrete member and for reproducing a photographed image, a guide rail attached to the vehicle and conformed with a curvature and an angle of the concrete member, and a travel device for making the inspection camera travel along the guide rail.例文帳に追加

車両と、コンクリート部材のひび割れ等の欠陥を撮影するとともに撮影された画像を再生できる検査用カメラと、車両に取り付けられ、コンクリート部材の曲率や角度と一致するガイドレールと、ガイドレールに沿って検査用カメラを走行させる走行装置とを備えた。 - 特許庁

To obtain an unevenness defect detection method for enhancing unevenness constituents only and detecting unevenness more reliably, to provide a device for detecting unevenness defects automatically, and to provide an inspection system, or the like.例文帳に追加

ムラ成分だけを強調でき、より確実なムラ検出を行うことができるようなムラ欠陥検出方法、自動的にムラ欠陥検出を行うための装置、検査システム等を得る。 - 特許庁

To constitute an inspection light irradiation device for a painted surface for suitably detecting a defect without being influenced by bending of the painted surface, even if the painted surface is bent.例文帳に追加

塗装面の検査光照射装置において、塗装面が湾曲していても、塗装面の湾曲の影響を受けることなく、欠陥を適切に検出することができるように構成する。 - 特許庁

Coating/developing equipment 1 provided with a development processing unit for subjecting development processing to a wafer W is provided with an inspection device 48 for detecting a defect generated in the wafer W.例文帳に追加

ウエハＷに対して現像処理を施す現像処理ユニットを具備した塗布現像処理装置１に，ウエハＷに生じた欠陥を検出する検査装置４８を備える。 - 特許庁

To provide a device and method for inspection of a hard disk surface for patterned media, wherein a servo area is set and a defect of at least a data area can be detected from among the servo and data areas.例文帳に追加

本発明はサーボエリアを設定し、サーボエリア、データエリアのうち少なくとデータエリアの欠陥を検出できるパターンドメディア用ハードディスク検査装置及び検査方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a method and device for inspecting a substrate surface for easily and accurately detecting a defect existing on the substrate surface using cell inspection.例文帳に追加

本発明は、セル検査を用いて、基板表面に存在する欠陥を容易かつ高精度に検出することができる基板表面の検査方法及び検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an inspecting device capable of detecting a defect of an aperture grill, which has been performed by a complicated visual inspection by an inspecting person, in relatively simple structure and operation.例文帳に追加

検査者による煩雑な目視検査により行われていたアパーチャグリルの欠陥の検出を、比較的簡単な構成および動作により行うことができる検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method determining presence of a defect of a trench gate electrode in a semiconductor device including a peripheral voltage-resistant region making a circuit of the outside of an element region.例文帳に追加

素子領域の外側を一巡している周辺耐圧領域を備えた半導体装置のトレンチゲート電極の不良の有無を判定することができる検査方法を提供する。 - 特許庁

When setting the reference motion point of the AF mechanism prior to defect inspection, the transmission image of the mask is imaged, while displacing a focus point of the imaging device in the optical axis direction of the objective lens.例文帳に追加

欠陥検査に先立ってＡＦ機構の基準動作点を設定する際、撮像装置のフォーカス点を対物レンズの光軸方向に変位させながら、マスクの透過画像を撮像する。 - 特許庁

To provide an inspection method and device capable of discriminating an unevenness generated on an inspected object surface from a deposit for detecting only the harmful unevenness precisely as a defect.例文帳に追加

被検査対象物表面に生じる凹凸と付着物とを識別し、有害である凹凸のみを欠陥として高精度に検出可能な検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a laser excitation ultrasonic image device, capable of inspecting a defect in an inside of an inspection object and capable of analyzing structure thereof in nondestructive and noncontact manner, with nanometer order of spatial resolution.例文帳に追加

非破壊・非接触で、検査対象内部の欠陥検査や構造解析を、空間解像度がナノメータオーダでも行えるといったレーザ励起超音波画像装置を提供する。 - 特許庁

To provide an indirect-heating boiling device so designed as to prevent the peripheral environment from getting worse or prevent hygienic defect from causing, facilitate cleaning or inspection/maintenance, and obtain highly qualified boiled product.例文帳に追加

周辺環境の悪化や衛生上の不具合を防止でき、洗浄や保守点検も容易に行え、更に高品質のボイル処理製品を得ることができるボイル装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for inspecting a surface defect of a disc, capable of shortening a handling time for the disc to enhance a through-put for disc inspection.例文帳に追加

ディスクのハンドリング時間を短縮して、ディスク検査のスループットを向上させることができるようなディスクの表面欠陥検査方法および検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection method allowing grading for deciding whether delivery is allowed, in response to required quality in a customer side, and to provide a device therefor.例文帳に追加

顧客側での要求品質に応じて出荷可能なものであるかどうか判断するための格付けをすることを可能にした表面欠陥検査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

This defect inspection device 100 includes a stage 3 for supporting the semiconductor substrate 2, an electron beam irradiation part 7, a CL detector 14, an X-ray detector 19 and a data processing part 22.例文帳に追加

欠陥検査装置１００は、半導体基板２を支持するステージ３と、電子線照射部７と、ＣＬ検出器１４と、Ｘ線検出器１９と、データ処理部２２とを備える。 - 特許庁

To enable detection of a defect in a conductive pattern portion that faces an electrode, in a circuit pattern inspection device using the electrode capacitive-coupled to a conductor pattern in a non-contact state.例文帳に追加

非接触で導体パターンに容量結合する電極を用いた回路パターン検査装置において、電極と対向する導電パターン部分の欠陥を検出可能にする。 - 特許庁

To provide a method and apparatus improving image uniformity and contrast quality in detection of defects in a patterned semiconductor substrate by a charged particle utilization type defect inspection device.例文帳に追加

帯電粒子利用型欠陥検査装置によるパターン形成ずみの半導体基板の欠陥の検出に、画像の均一性およびコントラストの質を改善する方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pinhole inspection device capable of detecting highly accurately a pinhole defect generated when manufacturing a folding sheet for folding granule or the like in a high temperature state.例文帳に追加

高温な状況下において粒体などを分包する分包シートを製造する際などに生じるピンホール欠陥を高精度で検出することができるピンホール検査装置を提供する。 - 特許庁

To easily extract a defect position and identify a position especially in inspection of wirings in fine, large-scaled and multiple shapes in a semiconductor device by an absorption current method.例文帳に追加

吸収電流法による半導体装置の特に、微細・大規模・多様形状の配線の検査において、欠陥箇所の抽出・位置同定を容易に行うことを可能とする。 - 特許庁

To provide an inspection device and an inspection method that precisely detect a shape defect part of an electrode pattern formed on a glass plate through a small number of times of measurement, and a method of manufacturing a panel for image display using the same.例文帳に追加

ガラス板上に形成された電極パターンの形状欠陥部を少ない測定回数で精度よく検出できる検査装置、検査方法およびこれらを用いた画像表示用パネルの製造方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To improve throughput, and to perform accurate inspection by capturing a highly accurate image, by imaging a substrate by an imaging device in the state where a substrate is held by a conveyance member conveying the substrate, when performing defect inspection of the substrate.例文帳に追加

基板の欠陥検査を行なうにあたり，基板を搬送する搬送部材に基板が保持された状態で撮像装置によって基板の撮像を行ない，スループットを向上させるとともに，高精度の画像を取り込んで正確な検査を行なう。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of performing a defect inspection of a display panel not only for an image forming surface but also other areas, and capable of performing reduction in size and reduction in cost, and to provide a method therefor.例文帳に追加

表示パネルの欠陥検査を表示パネルの画像形成面等に限られることなく実施でき、かつ欠陥検出の精度を大きく向上させることができ、そのうえ、小型化および低コスト化が可能な検査装置および検査方法の提供。 - 特許庁

To provide a quality inspection device and a quality inspection method for detecting a failure, even when overlapping of a punched product is generated, or when a defect called as a removal residue or a scum residue is generated in the punched product.例文帳に追加

打ち抜き加工品の重なりが発生した場合や、打ち抜き加工品に除去残り或いはカス残りと呼ばれる欠陥が発生した場合でも、それらの不具合を検出することが可能な品質検査装置及び品質検査方法を提供する。 - 特許庁

To detect a fine defect with higher sensitivity, in a surface inspection device for detecting automatically the fine defect generated on the surface by imaging by an image sensor the surface which is an inspection object irradiated with parallel light by a surface light source device, and by detecting that an image signal level is lowered from a high signal level corresponding to the normal surface.例文帳に追加

面光源装置により平行光を照射された検査対象となる表面をイメージセンサで撮像して、その画像信号レベルが、正常な表面に対応する高信号レベルから低下するのを検出して表面に生じている微小欠陥を自動的に検知するための表面検査装置において、微小欠陥をさらに高感度で検出可能にする。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of obtaining a focused and clear enlarged image of a surface of a metal mold for anti-glare treatment having surface unevenness, and thereby capable of detecting a defect and determining whether the metal mold is a defect or not, with high accuracy.例文帳に追加

表面凹凸を有する防眩処理用金型の表面について焦点の合った鮮明な拡大画像を取得することができ、もって、欠陥の検出および欠陥か否かの判別を精度良く行なうことができる検査装置を提供する。 - 特許庁

In the defect inspection method for a display device, a defect is detected on the basis of lightness differences D1, D2 in an image domain of a display panel on the occasion of application of an intermediate voltage B between a first voltage A for making the transmittance approximately maximum and a second voltage C for making the transmittance approximately minimum.例文帳に追加

透過率を略最大とする第１電圧Ａと透過率を略最小とする第２電圧Ｃとの間の中間電圧Ｂを表示パネルに印加した際の表示パネルの画像領域における明度差Ｄ１，Ｄ２に基づいて、欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a printed board inspection device constituted to make a defect appear clearly on a photographed image, as to the defect with a length direction thereof near to a moving direction of a printed board in the same direction, out of the defects such as flaws existing on a surface of the printed board.例文帳に追加

プリント基板の表面に存在する傷など欠陥のうち、その欠陥の長さ方向がプリント基板の移動方向と同一方向に近似するものについて、その欠陥が撮影画像上に明確に表れるようにしたプリント基板検査装置の提供 - 特許庁

To provide a drive method and a driving device for a solid-state image pickup element that can enhance accuracy of defect inspection and function evaluation of received pixels by storing signal charges and providing an output at inspection or the like and can prevent read of the signal charges or inspection from being disabled.例文帳に追加

検査時などに信号電荷の蓄積およびその出力を行って受光画素の欠陥検査や機能評価の精度を向上することができると共に、信号電荷の読み出しや検査を行うことができなくなることを解消することができる固体撮像素子の駆動方法および駆動装置を提供する。 - 特許庁

To provide a front plate with a peeling film capable of nondestructive defect inspection of a front plate which is used as a component of a display and equipped with at least a substrate, an electrode, and a display material displaying image according to whether a voltage is applied or not or the direction of an applied voltage and to provide its inspection method and its inspection device.例文帳に追加

ディスプレイの部品として用いられ、少なくとも基板と、電極と、電圧の印加の有無又印加されたは電圧の方向により画像を表示する表示材料とを具備する前面板の欠陥検査を非破壊で行うことが可能な剥離フィルム付き前面板、及びその検査方法、検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection method and an ultrasonic inspection device allowing three-dimensional inspection data and three-dimensional shape data to be positioned on a display screen and allowing a defect echo and a shape echo to be quickly identified even when no information on the relative positions of a sensor and an object to be inspected is provided.例文帳に追加

センサと検査対象の相対位置に関する情報が無い場合においても、３次元探傷データと３次元形状データの表示位置合わせを可能にし、欠陥エコーと形状エコーの識別を迅速にできるようにした超音波探傷方法および超音波探傷装置を提供することにある。 - 特許庁

In this pattern defect inspection device, the quantity change in the ultraviolet laser beam is detected during inspection, to thereby determine the existence of an influence on the inspection, and service life prediction and abnormality of the light source are detected, and the inside of an optical system is cleaned, to thereby ensure prolongation of service life and long-term reliability of optical parts.例文帳に追加

検査中に紫外レーザ光の光量変動を検出して検査への影響の有無を判定し、かつ光源の寿命予測と異常を検知するとともに、光学系の内部を清浄化して光学部品の寿命延長と長期信頼性を確保するようにしたパターン欠陥検査装置である。 - 特許庁

To provide an imaging device (a device according to an aberration correction device) for a charge particle beam device as an electron microscope or the like used for the inspection and measurement of a semiconductor, in which a small deviation beam with a high probe current is formed to improve the resolution and throughput in EDX analysis, WDX analysis, or defect inspection.例文帳に追加

半導体の検査および計測に使用される電子顕微鏡等の荷電粒子ビーム装置用の「撮像装置」（収差補正装置に準ずる装置）であって、ＥＤＸ分析、ＷＤＸ分析、欠陥検査等の分解能およびスループットを向上させるために高プローブ電流で分散の小さいビームを形成できるようにする。 - 特許庁

When performing detection/automatic classification of a defect of the inspection object 1 having a repeated pattern such as a liquid crystal display device or a semiconductor wafer, the repeated pattern is divided beforehand into a plurality domains, and databases 71, 72, 73 for automatic classification differentiated by a domain on the repeated pattern to which a defect portion detected from an inspection image belongs are created.例文帳に追加

液晶表示装置や半導体ウェハ等の繰り返しパターンを持つ検査対象物１の欠陥を検出・自動分類する際、繰り返しパターンを予め複数の領域に分割し、被検査画像から検出された欠陥部位が上記繰り返しパターンのどの領域に属するによって異なった自動分類用データベース７１，７２，７３を作成しておく。 - 特許庁

In inspection of the bare silicon type semiconductor wafer, the semiconductor wafer is evaluated by classifying a projecting defect from a recessed defect by using a laser surface inspection device equipped with one low-angle incident system and two light receiving systems, to thereby enable to evaluate the semiconductor wafer by classifying accurately the adhering particles from the COP on the bare silicon type semiconductor wafer.例文帳に追加

ベアシリコン半導体ウエーハの検査において、１つの低角度入射系と、２つの受光系とを備えたレーザー表面検査装置を用い、凸状欠陥と凹状欠陥を分類して半導体ウエーハを評価することにより、ベアシリコン半導体ウエーハの付着パーティクルとＣＯＰを正確に分類して半導体ウエーハを評価することができる。 - 特許庁

To provide an internal defect inspection device capable of inspecting an internal defect in the depth inside a tunnel lining and easily connecting images, which are obtained by inspecting divided inspection parts of the tunnel lining, together into a final expansion plan in a short time.例文帳に追加

本発明は、トンネル覆工内の深い内部欠陥の検査が可能であり、トンネル覆工の検査部を分割して検査することにより得られたそれぞれの画像を結合して最終的な展開図にする際に、短時間で容易に画像を結合することが可能なトンネル覆工の内部欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an inspection method of a rolling device component capable of accurately inspecting whether a defect such as a ground flaw exists inside the rolling device component without being affected by a foreign substance adhering to a surface of the rolling device component.例文帳に追加

転動装置部品の表面に付着した異物の影響を受けることなく地疵などの欠陥が転動装置部品の内部に存在しているか否かを精度よく検査することのできる転動装置部品の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a board for a display device that comprises wiring for repair to restore disconnection defect occurring in a data bus line, actualizes a repaired data bus line when the wiring for repair is short-circuited, and easily performs discrimination with line defect occurring due to another cause, and to provide a liquid crystal display panel and device as well as a defect inspection method of wiring for repair.例文帳に追加

本発明は、データバスラインに生じた断線欠陥を修復するリペア用配線を備え、リペア用配線が短絡した場合にはリペア処理を施したデータバスラインを顕在化させ、他の原因で生じる線欠陥との識別を容易に行える表示装置用基板、液晶表示パネル及び液晶表示装置並びにリペア用配線の欠陥検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The electroscope is realized by forming the electroluminescent element in a tape form, and so is the conduction display power line by forming at a part of an outer package coating, and the circuit board defect inspection device is realized by laminating a transparent electrode, an electroluminescent element, and a circuit board for inspection in that order.例文帳に追加

電界発光素子をテープ状に形成して検電器を，外装被覆の一部に形成して通電表示電力線を，さらに透明電極，電界発光素子，被検査回路基板の順に積層配置して回路基板欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device for inspecting surely and efficiently a shape defect of a fine pattern in a color filter having the risk of bringing an unfavorable influence on display coming up widely by generating a plurality of small-sized defects in adjacent positions.例文帳に追加

小サイズの複数の欠陥が近接した位置に発生することにより表示上の悪影響が広く及ぶ可能性のあるカラーフィルタの微細パターンの形状欠陥を確実にかつ効率的に検査する検査方法、ならびに検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an optical member inspection device having the capability of reasonably grouping a plurality of extracted elements having the same defect factors and separated at a binarization process after binarizing image data obtained by photographing an optical member as an inspection object.例文帳に追加

検査対象光学部材を撮像して得られた画像データを２値化した後で、同一の不良要因に起因しているが二値化の過程で分離されてしまった複数の抽出要素を合理的にグループ化することができる光学部材検査装置を、提供する。 - 特許庁

A vehicle painted face inspection device is provided with an image pick-up device, and an image processing means for detecting automatically a fine defect generated on a vehicular painted face, based on a change in an image signal therefrom, and for preparing a two-dimensional defect position data projected with the fine defective position on a two-dimensional horizontal or vertical projection face.例文帳に追加

車両塗面検査装置は、撮像装置と、その画像信号の変化から車両塗面に生じている微小欠陥を自動的に検知して、この微小欠陥位置を水平もしくは垂直の二次元投影面に投影した二次元の欠陥位置データを作成する画像処理手段とを備える。 - 特許庁