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Correction of defectの部分一致の例文一覧と使い方

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例文

The line sensor reads the calculated shading correction data at the home position on the shading correction plate, shading is corrected by the means shading correction data on the basis of the obtained read data (S12 in Figure 10), and at least a defect position of the shading correction plate is specified on the basis of the data after the correction (S17).例文帳に追加

シェーディング補正板上のホームポジションにおいてラインセンサにシェーディング補正板を読み取らせ、得られた読取データに対して、前記平均シェーディング補正用データによりシェーディング補正を行い（図１０のＳ１２）、この補正後データを基に、少なくともシェーディング補正板の欠陥位置を特定する（Ｓ１７）。 - 特許庁

To provide a black defect correction technique which can cleanly correct black defect in fine patterns in black defect correction of a mask without causing the riverbed in black defect correction of the mask, does not exert damage by ion irradiation to the mask surface, is relatively simple in the device to be used without enlarging and enables the relatively simple conduction of the work, and to provide the device capable of executing such technique.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、マスクの黒欠陥修正においてリバーベッドができず、微細なパターンにおける黒欠陥でもきれいに修正が可能で、マスク表面にイオン照射によるダメージを与えることもなく、しかも用いる装置が比較的シンプルで大型化せず、作業も比較的単純に行うことができる黒欠陥修正手法を提示すると共に、そのような手法を実行できる装置を提供することにある。 - 特許庁

The solid-state image sensor 3 is operated in a light shield state, a linear defect detection correction circuit 6 detects the linear defect of the solid-state image sensor 3 on the basis of the pixel signal of the solid-state imaging element 3, and an address of the detected linear defect is stored.例文帳に追加

固体撮像素子３を遮光状態で動作させ、固体撮像素子３の画素信号に基づいて固体撮像素子３の線状欠陥を線状欠陥検出補正回路６により検出し、検出された線状欠陥のアドレスを記憶しておく。 - 特許庁

To enhance defect detection sensitivity at a pattern edge portion by improving the method of determining a correction amount, as to correction of gray level difference at the pattern edge portion performed in an image defect inspection method used for a visual inspection device for a semiconductor circuit.例文帳に追加

半導体回路の外観検査装置に使用される画像欠陥検査方法で行う、パターンエッジ部分におけるグレイレベル差の補正において、補正量の決定方法を改善して、パターンエッジ部分における欠陥検出感度を向上する。 - 特許庁

例文

To provide a liquid container attaching and detaching apparatus capable of attaching and detaching a liquid container to and from an application mechanism located at an optional position inside a defect correction apparatus, and the defect correction apparatus equipped with the liquid container attaching and detaching apparatus.例文帳に追加

欠陥修正装置内の任意の位置にある塗布機構に対して液体容器を着脱することができる、液体容器着脱装置および当該液体容器着脱装置を備える欠陥修正装置を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a fine pattern correction device which can correct the defect of a fine pattern in a short period of time, and is low in its price, small in its installation area and high in its correction quality.例文帳に追加

微細パターンの欠陥を短時間で修正することができ、装置価格が低く、装置設置面積が小さく、修正の品質が高い微細パターン修正装置を提供する。 - 特許庁

To reduce light leakage accompanying laser beam processing when performing correction of a luminescent spot defect pixel of a liquid crystal display by using a laser beam.例文帳に追加

レーザ光を用いて液晶表示装置の輝点欠陥画素の修正を行うにあたり、レーザ加工に伴う光漏れを少なくする。 - 特許庁

As compared to the case only the relative position of the defect like heretofore, the selection of more optimum correction procedures is made possible.例文帳に追加

従来のように欠陥の相対位置のみを考慮する場合に比べて、より最適な修正手順を選択することが可能となる。 - 特許庁

Alternatively, the OB signals may be classified for every output terminal of the image pickup apparatus to perform defect correction of the OB signals for every classification.例文帳に追加

その他、撮像部の出力端子別などにＯＢ信号を区分して、その区分別にＯＢ信号の欠陥補正を行ってもよい。 - 特許庁

例文

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE OF DISK STORAGE MEDIUM, AND CORRECTION METHOD AND DEVICE OF INSPECTION SLICE VALUE例文帳に追加

ディスク記憶媒体の欠陥検査方法，ディスク記憶媒体の欠陥検査装置，検査スライス値の補正方法および検査スライス値の補正装置 - 特許庁

例文

By employing the functions of the pixel detection circuit 113 and the defect correction circuit 114 in a composite way, the designation of a marking pixel is made possible in addition to defect correction and additional functions such as marking of the optional pixel with respect to the image signal and area designation are realized.例文帳に追加

このような画素検出回路１１３および欠陥補正回路１１４の機能を複合的に用いて、欠陥補正だけでなく、マーキング用の画素指定を可能とし、画像信号に対する任意画素のマーキングや領域指定等の付加機能を実現する。 - 特許庁

To provide a setting method for setting a depression position of correction rolls for a roller leveler not causing a defect in a shape of a steel plate after correction even if the size and strength of the steel plate to be corrected is variously changed.例文帳に追加

矯正される鋼板の寸法や強度が種々異なっても、矯正後の鋼板に形状不良の生じないローラレベラ用矯正ロールの圧下位置の設定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for avoiding defect in a control program for reducing an excess cost and delay of schedule by avoiding the defect even when the defect occurs in the control program in a non-rewritable memory and a correction of the program is required.例文帳に追加

書換え不可能メモリ内の制御プログラム上に不具合が発生し修正が必要になった場合でも、不具合を回避することで余分なコストの発生や日程の遅れを軽減することができる不具合制御プログラム回避方法を提供する。 - 特許庁

To provide a laser defect correcting method and a laser defect correcting device capable of realizing high-quality defect correction without damaging a base plate by surely preventing particles scattered at the time of laser transpiration with simple constitution from adhering to the base plate again.例文帳に追加

簡単な構成でレーザ蒸散時の飛散した粒子が基板に再付着することを確実に防止して、基板にダメージを与えずに高品質な欠陥修正が可能なレーザ欠陥修正方法およびレーザ欠陥修正装置を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate correction method for repairing a defect of a substrate at high precision without requiring a complicated process.例文帳に追加

複雑な工程を必要とせずに、高精度に基板の欠陥を修復することが可能な基板修正方法を提供する。 - 特許庁

Thus, an image pickup area is sectioned by the area setting key 21, and the priority of the defect correction is attached by the priority-setting key 22.例文帳に追加

撮像領域を領域設定キー２１で区分し、その欠陥補正の優先順位を優先順位設定キー２２でつける。 - 特許庁

To form a correction film in a halftone mask so as to correct a white defect generating in a semitransmitting film of the halftone mask.例文帳に追加

ハーフトーンマスクにおいて、ハーフトーンマスクの半透過膜に発生した白欠陥を修正するための修正膜を形成する。 - 特許庁

As in a case that a defect required to be corrected has been found but the defect is hardly located with a correction device as a result of an inspection by an image quality evaluation device, a positioning mark is formed.例文帳に追加

像質評価装置により検査を行った結果、修正すべき欠陥が発見されたがその位置の特定が修正装置では困難な場合に、位置合わせ用マークを形成する。 - 特許庁

At this time, the defect correction unit 17 corrects a defective pixel based on information for a location of the defective pixel stored at a defect memory 16, and outputs the result to a camera signal processing unit 18.例文帳に追加

このとき、欠陥補正部１７は、欠陥記憶部１６に記憶されている欠陥画素位置の情報に基づいて欠陥画素を補正し、カメラ信号処理部１８に出力する。 - 特許庁

A pixel defect correction device receives pixel data from the imaging device having plural photoelectric conversion pixels to properly correct defective pixel data caused by the pixel defect of this imaging device.例文帳に追加

複数の光電変換画素を有する撮像素子からの画素データを受け、該撮像素子の画素欠陥に起因する不良画素データを適切に修正する画素欠陥修正装置である。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a mask defect by which delay caused by pseudo-error occurrence can be prevented and decrease in the accuracy of defect inspection can be prevented in the process of inspecting a mask defect carried out for the pattern obtained by optical proximity effect correction of a designed pattern.例文帳に追加

設計パタンを光近接効果補正して得たパタンに対して実施されるマスクの欠陥検査工程において、擬似的なエラー発生による遅延を防止出来ると共に、欠陥検査精度の低下をも防止出来るマスク欠陥検査方法の提供。 - 特許庁

To provide a device for correcting a defect of a reticle pattern and a correction method by which correction accuracy of a defective pattern of a reticle is improved, the efficiency is improved to reduce a correction time, and productivity is increased as well as the cost can be reduced.例文帳に追加

レチクルの欠陥パターンの修正精度を向上し、効率を向上させて修正時間の短縮を図り、生産性を向上させるとともにコスト低減を図れるレチクルパターンの欠陥修正装置および修正方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus, method, and program for accurately correcting a deviation between the effect of a defect on visible data and the effect of a defect on invisible data and reducing a computation processing amount for the correction.例文帳に追加

可視データが欠陥により受ける影響と非可視データが欠陥により受ける影響とのずれを正確に補正するするとともに、当該補正のための演算処理量を軽減する。 - 特許庁

Successively, a control unit included in the defect correction device generates a composite image for decision by compositing the defect region image with an image including information of a relevant equal potential plane of the repeated pattern.例文帳に追加

続いて、欠陥修正装置が備える制御部が、その欠陥領域画像と繰り返しパターンの該当する等電位面の情報を含む画像とを合成して判定用の合成画像を生成する。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus having a zoom function without an optical means, thereby enabling the signal correction of a defect pixel based on location information of the defect pixel preliminarily stored.例文帳に追加

あらかじめ記憶された欠陥画素の位置情報に基づく欠陥画素の信号補正を行うことが可能とされた、光学的手段を用いないズーム機能を具備する撮像装置を提供する。 - 特許庁

By eliminating the step 1a from the device pattern 1 of the photomask, correction in the event of a defect at an edge thereof can be facilitated.例文帳に追加

また、フォトマスクのデバイスパターン１から段差１ａを消失させることで、そのエッジに欠陥が発生した場合の修正の容易化が図られる。 - 特許庁

Data obtained by narrowing down the correction objects much more is generated by a computer or a work station and is downloaded to a correction device, and thus the conventionally used correction device is utilized to improve the defect correction efficiency of the display device.例文帳に追加

さらに、コンピュータまたはワークステーションによって修正対象をより絞り込んだデータを作成し、修正装置にダウンロードすることによって、従来から用いられている修正装置を利用して、表示装置の欠陥修正効率を向上させることができる。 - 特許庁

A common inspection slice value 10 in all measuring channels of the defect inspection device, measuring channel correction values 11 which are the correction values for every measuring channel, and inspection head correction values 12 which are the correction values for every inspection head, are added by adders 14 to obtain an actual inspection slice value 15.例文帳に追加

欠陥検査装置の全測定チャネルで共通の検査スライス値１０と，測定チャネルごとの補正値である測定チャネル補正値１１と，検査ヘッドごとの補正値である検査ヘッド補正値１２とを加算器１４で加算して実際の検査スライス値１５を得る。 - 特許庁

A correction similar to the correction of irradiated region with respect to the pattern matching processing from the usual secondary ion image or secondary electron image of the ion beam defect correcting device is performed and a defect region 3b which is extracted by the AFM and is subjected to fine adjustment by the conformation of the pattern for alignment is corrected by ion beams 8.例文帳に追加

イオンビーム欠陥修正装置の通常の二次イオン像もしくは二次電子像からのパターンマッチング加工に対する照射領域の補正と同様な補正を行い、AFMで抽出し、位置合わせ用のパターンの合わせ込みで微調整された欠陥領域3bをイオンビーム8で修正する。 - 特許庁

To provide an image signal processing apparatus to process an image signal from an imaging element which eliminates noise of the defect correction or the like and conducts both a resolution maintenance and an outline correction properly.例文帳に追加

撮像素子からの画像信号を処理する画像信号処理装置において、欠陥補正等のノイズ除去と、解像度維持や輪郭補正との両方を好適に行うことが難しい。 - 特許庁

Thereafter, a defect correction circuit 208 reads the stored addresses of the defective pixels according to the reading method at photographing and applies prescribed correction processing to the defective pixels.例文帳に追加

その後、撮影時に、欠陥補正回路２０８は、記憶された欠陥画素のアドレスを、その読み出し方法に応じて読み取り、その欠陥画素に対して所定の補正処理を施す。 - 特許庁

The black defect correction technique of the mask comprises recognizing the position of a black defect section of the mask by an atomic force microscope (AFM), moving the probe of the AFM upward of the black defect position, and removing the black defect by electrochemical reaction in the state of interposing an electrolyte between the probe and the black defect section as both electrodes and further comprises confirming the removal of the black defect by the AFM.例文帳に追加

本発明のマスク黒欠陥修正手法は、原子間力顕微鏡によってマスクの黒欠陥部位置を把握し、前記黒欠陥位置上方に前記原子間力顕微鏡の探針を移動させ、前記探針と前記マスク黒欠陥部を両電極とし電解液を介在させた状態で電気化学的反応により前記黒欠陥を除去するものであって、更に前記原子間力顕微鏡によって前記黒欠陥の除去を確認するものである。 - 特許庁

To provide an image reader for acquiring suitable shading correction reference data free of an image defect having a density difference in a width direction of an image formed from image data after shading correction.例文帳に追加

シェーディング補正後の画像データから形成される画像の幅方向に濃度差が表れる画像不良が発生しない、適正なシェーディング補正基準データを取得できる画像読取装置を提供する。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus for detecting a linear defect of bright and dark lines and correcting a pixel signal of the detected linear defect when the operating temperature of a solid-state image sensor is high, and to provide a correction method of the pixel signal.例文帳に追加

固体撮像素子の動作温度が高い場合、明線および暗線の線状欠陥を検出し、検出された線状欠陥の画素信号を補正する撮像装置および画素信号の補正方法を提供するにある。 - 特許庁

Based on the amount of detected movement and the pixel value of one of the phase difference detection pixels in the first pixel data, the defect correction unit 330 corrects the pixel value of the defect pixel in the second image data.例文帳に追加

そして、欠陥補正部３３０は、前記検出された移動量および前記第１の画像データにおける一方の位相差検出画素の画素値に基づいて、前記第２の画像データにおける前記欠陥画素の画素値を補正する。 - 特許庁

A defect correction apparatus 100 having a function of a substrate observation apparatus moves the relative position of an optical system 104 to a substrate 10 on the basis of first positional information which specifies the position of a defect on the substrate 10.例文帳に追加

基板観察装置の機能を有する欠陥修正装置１００は、基板１０上の欠陥の位置を指定する第１の位置情報に基づいて、基板１０に対する光学系１０４の相対的な位置を移動させる。 - 特許庁

To detect pixel defects of a solid state imaging element in real time and to enable a correction of the defect in a method for detecting the pixel defect of the element for outputting a video signal by imaging a plurality of spectral lights obtained by spectrally separating an imaged light.例文帳に追加

撮像光を分光して得られた複数分光光をそれぞれ撮像して映像信号を出力する固体撮像素子の画素欠陥検出方法において、画素欠陥を実時間で検出し、補正できるようにする。 - 特許庁

To provide a solid-state image pickup device by which image quality is improved by solving the defect of the deterioration of image quality due to the incapability of the correction of 'blurring' in one field in a conventional technique.例文帳に追加

従来技術の１フィールド内の“ぼけ”を補正することができず画質が劣化していた欠点を解決し、画質が改善された固体撮像装置を実現する。 - 特許庁

The wiring board is manufactured through a wiring part forming stage, an optical inspection stage of detecting a defective wiring part where a defect occurs, and a defect correcting stage of correcting the defect of the defective wiring and in the defect correcting stage, a defect correction procedure previously stored in a database is read out selectively corresponding to the position relation between the defect and a finite number of regions constituting a wiring.例文帳に追加

配線基板の製造を、配線部形成工程と、欠陥が生じた欠陥配線部を検出する光学検査工程と、欠陥配線部の欠陥の修正を行う欠陥修正工程とによって行い、欠陥修正工程において、予めデータベースに蓄積された欠陥修正手順を、欠陥と、配線部を構成する有限数の領域との位置関係に対応して選択的に読み出して前記修正を行う。 - 特許庁

To provide a method for correcting an output value of an imaging means, a shading correction method, a defect detection method, a defect detection program and a defect detection apparatus that can precisely calculate an input value by evaluating the sensitivity characteristic of an imaging element appropriately.例文帳に追加