「Correction of defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a means capable of efficiently repairing a fine casting defect formed in a disk of a vehicular wheel without conducting correction processes by filling putty, sandpapering and using a lathe or without applying large load to these processes.例文帳に追加

パテ埋めやペーパーがけや旋盤による修正加工を行わずに、又はこれらの作業に大きな負担をかけずに、効率よく、車両用ホイールのディスクに生じた微小鋳造欠陥を修復することが可能な手段を提供すること。 - 特許庁

An x-ray imaging device has an adjacent defect correction unit 55 that replaces each adjacent defective pixel in which a pixel value obtained between a plurality of adjacent pixels fluctuates temporally, to an pixel value averaged by pixel values of adjacent defective pixels.例文帳に追加

Ｘ線撮像装置は、隣接する複数の画素間で得られる画素値が時間的に変動する隣接欠陥画素を、この隣接欠陥画素の各画素値で平均化した画素値にそれぞれ置き換える隣接欠陥補正部５５を備えている。 - 特許庁

When the target pixel is a defective pixel, a median (binary) calculation section 145 calualtes a median from two medians obtained from the pixel values of the eight surrounding pixels, and the defect correction section 144 corrects the pixel value of the target pixel by using the median.例文帳に追加

注目画素が欠陥画素のとき、中間値（２値）算出部１４５において周囲８画素の画素値から求められた２個の中間値から中央値を算出し、欠陥補正部１４４は、注目画素の画素値をこの中央値を用いて補正する。 - 特許庁

To provide an imaging device that attains effective defect correction where deterioration in the resolution cannot substantially be caused by utilizing information of effective pixels without waste, so as to minimize the deterioration in the S/N, without the need for provision of a complicated hardware circuit needing much load.例文帳に追加

複雑な負担の大きいハード回路を要することなく、また有効画素の情報を無駄無く利用し、従ってＳＮの劣化を最小限にとどめつつ解像度の劣化を事実上生じない効果的な欠陥補正を可能にする。 - 特許庁

In the method of correcting color material having a defect part formed on a substrate of a color filter, a through-hole is formed by removing the color material so as to include the defect part of the color material and is tapered gradually from an edge side toward the substrate side, and color material for correction is impregnated into the through-hole and is cured.例文帳に追加

カラーフィルタの基材上に設けられた欠陥部を有する色材を修正するための方法であって、前記色材の欠陥部を含むようにして、一端側から前記基材側に向かって漸次先細りとなるように、前記色材を除去して貫通孔を形成し、前記貫通孔に、修正用の色材を注入して硬化させることを特徴とする。 - 特許庁

To appropriately perform an image processing using an OB (optical black region) signal in a poststage as a reference without breaking by performing signal correction of a flaw defect in an optical black region in an image pickup section carefully and finely.例文帳に追加

本発明は、撮像部のオプチカルブラック領域のキズ欠陥を丁寧かつ綺麗に信号補正することにより、後段におけるＯＢ信号を基準にした画像処理を破綻なく、かつ適切に実施できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

Nitrogen introduced in the electron defect correction device by a gas introducing system 1 is ionized by α-rays generated by an α-ray source 2 such as polonium, and the ionized nitrogen is irradiated on a portion 4 charged up by the irradiation of electron beams, and destaticizes it.例文帳に追加

ガス導入系１で電子ビーム欠陥修正装置内に導入した窒素をポロニウムのようなα線源２から出るα線で電離し、電離した窒素を、電子ビームの照射でチャージアップした部分４に照射し除電する。 - 特許庁

Otherwise, nitrogen or water vapor introduced in the electron beam defect correction device by the gas introducing system 1 is ionized by soft X-rays and the ionized nitrogen or vapor is irradiated on the portion charged up by the irradiation of the electron beams, and destaticizes it.例文帳に追加

またはガス導入系１で電子ビーム欠陥修正装置内に導入した窒素または水蒸気を軟X線で電離し、電離した窒素または水蒸気を、電子ビームの照射でチャージアップした部分４に照射し除電する。 - 特許庁

To provide a transport device that can suppress a transport defect due to curl of a sheet-like medium when the sheet-like medium is transported to be subjected to a curl correction, and to provide a recording apparatus including the transport device.例文帳に追加

カール矯正処理を施すためにシート状媒体を搬送する際に、該シート状媒体のカールに起因する搬送不良の発生を抑制することができる搬送装置及び該搬送装置を備える記録装置を提供する。 - 特許庁

Thereby, the hung-down correction paste 10 is not required to be removed by a scratch needle, and the rib-chipping defect 36 occurred in the manufacturing process of the high definition/high luminance type PDP with a small gap between the ribs can be corrected easily.例文帳に追加

したがって、垂れた修正ペースト１０をスクラッチ針で除去する必要がないので、リブ間の隙間が小さな高精細／高輝度型のＰＤＰの製造工程で発生したリブ欠け欠陥３６も容易に修正できる。 - 特許庁

To provide a windmill blade and a method for manufacturing the same, shortening the time for correction of malfunction and lamination work by suppressing manufacturing defect generation such as misalignment and crease of fiber when manufacturing the windmill blade with a spar cap interposed between the layers of an outer skin or in the inner side thereof.例文帳に追加

外皮の層間または内側にスパーキャップを介装した風車翼の製造時において、ずれや繊維の皺などの製造欠陥の発生を抑制し、かかる不具合の修正や積層作業の時間を短縮可能にした、風車翼及びこれの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a correcting method and a correcting device for a pattern, capable of correcting a pattern defect with high accuracy and capable of suppressing deterioration of, in particular, a non-rectangular pattern shape, in the case of pattern correction of a photomask, a wafer, or the like, used in a semiconductor manufacturing process.例文帳に追加

本発明は、半導体製造工程で使用されるフォトマスクやウエハ等のパターン修正処理において、パターン欠陥を高精度に修正することができるとともに、特に非矩形形状のパターン形状の劣化を抑制することができるパターンの修正方法及び修正装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an optical disk reproducing method and an optical disk drive which can improve the reproduction compatibility between various optical disk drives by enabling the correction of the substantial changes in defect transition decision thresholds even when reproducing an optical disk recorded in another optical disk drive by using a format having an optical disk defect control function.例文帳に追加

光ディスクの欠陥管理機能を有するフォーマットで記録された光ディスクを、記録された光ディスク装置以外で再生する場合であっても、欠陥遷移判定基準閾値の実質的な変化を補正することが可能となり、光ディスク装置間の再生互換性を向上させる光ディスク再生方法および光ディスク装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an image reader that can easily detect the presence of defects include in a shading correction plate without the need for adding a specific device to a conventional shading correction circuit and for attaching a new luminous quantity adjustment function to the image reader provided with a luminous quantity adjustment function, and to provide a method for identifying defect positions in a correction member, a storage medium and a program.例文帳に追加

画像読取装置の従来からあるシェーディング補正回路に特別な装置を付加する事なく、また光量調整機能を備えた画像読取装置に新たな光量調整機能を付加する事なしに、シェーディング補正板に含まれる欠陥の存在の検出を容易にする事を可能とした画像読取装置、補正用部材欠陥位置特定方法、記憶媒体、及びプログラムを提供する。 - 特許庁

When too high transmittance is obtained in the correction of a white defect by depositing an electron beam CVD film 6 of tetramethoxysilane in a halftone phase shift mask, a focused ion beam CVD film or an electron beam CVD film using a carbon-based source gas having low transmittance is further deposited to control the transmittance.例文帳に追加

ハーフトーン型位相シフトマスクのテトラメトキシシランの電子ビームCVD膜６の白欠陥修正で透過率が高すぎる場合には透過率の低い炭素系の原料ガスを用いた集束イオンビームCVD膜または電子ビームCVD膜を積層して透過率を調整する。 - 特許庁

To provide an image pickup device capable of performing correction coping with an increase in flaws by the secular change of a solid-state image pickup device and temperature rise by detecting an image defect position on the solid-state image pickup device and occasionally updating the detection position information.例文帳に追加

従来は固体撮像素子の経年変化による画素欠陥や、製品内部の温度上昇、あるいは低輝度撮像時に映像信号の増幅率が増加した場合等、後天的な原因に基づく画素欠陥によるキズによる補正が難しい。 - 特許庁

Further, the color filter defect correcting device sticks ink on the stylus tip of the stylus for color filter defect correction, having the water-repellent part nearby the stylus tip by dipping the stylus tip in the ink, applies the ink by bringing the stylus tip into contact with the defective part of the color filter, and dips the stylus tip in cleaning liquid to clean it.例文帳に追加

また針先端の近くに撥水加工を施した部分が形成されているカラーフィルタ欠陥修正用針の前記針先端をインクに浸漬して前記針先端にインクを付着させ、カラーフィルタの欠陥箇所に前記針先端を接触することによりインクを塗布し、前記針先端を洗浄液に浸漬して洗浄するように構成したカラーフィルタ欠陥修正装置。 - 特許庁

In order to control the entire system of a video camera, a CPU 11 is provided with a key input part 12, an EEPROM control part 13, a defect detection/correction information preparation part 14, a camera signal control part 15, a TG control part 16 and a diaphragm control part 17.例文帳に追加

ビデオカメラのシステム全体を制御するためにＣＰＵ１１は、キー入力部１２、ＥＥＰＲＯＭ制御部１３、欠陥検出・補正情報作成部１４、カメラ信号制御部１５、ＴＧ制御部１６、絞り制御部１７を有している。 - 特許庁

To provide a display device which has a test circuit, having high accuracy of testing, after a counter substrate jointing stage and before shipment, and a display device which has a correction circuit in itself, when there is a defect.例文帳に追加

対向基板貼り合わせ工程後及び出荷前検査において、確度の高い検査回路を有する表示装置、また不良が発生した場合の表示装置内部における補正回路を具備する表示装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a color correction program for producing visual information, public display objects and information media widely seen by the general public with a universal design by uniformly improving color visibility even without considering the possibility, type and level of a defect in color perception.例文帳に追加

色覚障害の有無、種別、程度を個別に考慮しなくても、統一的に配色の視認性を改善し、広く一般の人々が目にする視覚情報、公共の表示物、情報メディアをユニバーサルデザイン化する色修正プログラムを提供する。 - 特許庁

The circuit board 5 is held between a substrate correction tool 12 and a substrate correction guide 13 at one or more positions at least, and the circuit board 5 is heated and pressed by a semiconductor bare chip pressing tool 14 while being corrected by pressing, thereby preventing destruction of the semiconductor bare chip to be mounted later and preventing the recognition defect and erroneous recognition.例文帳に追加

回路基板５の少なくとも１箇所以上を基板矯正ツール１２と基板矯正ガイド１３で挟み込み、押圧して回路基板５の矯正を行いながら、半導体ベアチップ押圧ツール１４にて押圧し、加熱加圧を行うことにより、後から実装する半導体ベアチップの破壊防止、認識不良及び誤認識の防止が可能となる。 - 特許庁

This image defect inspection device 10 is equipped with an image alignment part 22 for detecting a sub-pixel offset amount between two images which are objects under inspection, and a correction amount determination part 25 for determining a correction amount for a gray level difference detected by a difference detection part 26 at pattern edge parts of the two images based on the detected offset amount.例文帳に追加

画像欠陥検査装置１０は、検査対象たる２つの画像のサブピクセルずれ量を検出する画像アライメント部２２と、検出したサブピクセルずれ量に基づいて、差分検出部２６により検出されるグレイレベル差の、前記の２つの画像のパターンエッジ部における補正量を決定する補正量決定部２５とを備えることとする。 - 特許庁

Article 34 (1) If a person lacks the capacity to sue or be sued, the authority of statutory representation or delegation of powers necessary for performing procedural acts, the court shall specify a period and order the correction of such defect. In this case, if there is a risk of causing damage due to delay, the court may have such person perform a procedural act on a temporary basis. 例文帳に追加

第三十四条　訴訟能力、法定代理権又は訴訟行為をするのに必要な授権を欠くときは、裁判所は、期間を定めて、その補正を命じなければならない。この場合において、遅滞のため損害を生ずるおそれがあるときは、裁判所は、一時訴訟行為をさせることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Also, output intensity from the projectors 18, 20 is controlled by a CPU such that amounts of illumination lights reaching observation sites by the optical receivers 22, 24 are constant, by which lack of a dynamic range of the optical receivers 22, 24 is compensated for and detection of the minute defect is achieved without signal correction by the optical receivers 22, 24.例文帳に追加

また、受光器２２、２４による観察部位に到達する照明光の光量が一定となるように、投光器１８、２０側の出力強度をＣＰＵによって制御することで、受光器２２、２４側のダイナミックレンジ不足を補い、受光器２２、２４側で信号補正を行うことなく、微細傷の検出を可能にした。 - 特許庁

To provide a visual inspection method which digitizes the position of a defect found in a visual inspection of a construction work on the spot to be specified and writes it on a conventional inspection sheet to enable implementation of correction work only by using the inspection sheet and promote conversion of inspection results into electronic data.例文帳に追加

本発明は、建築工事の目視検査で発見された不具合の位置をその場で数値として特定する目視検査方法であり、その数値を従来の検査シートに取り込もことにより、検査シートだけで是正工事の推進を可能とすると共に、検査結果の電子データ化を促進するものである。 - 特許庁

Then, in image output processing, whether the pixel number of an image pickup pixel read sequentially is stored in the memory space block 10 is judged, and in the case that it is stored in the memory space block 10, the pixel signal of the defective pixel is corrected by using the defect level, the pixel signal before correction is replaced with the pixel signal after the correction, which is then outputted.例文帳に追加

次に、画像出力処理においては、順番に読み出される撮像画素の画素番号がメモリ空間ブロック１０に格納されているか否かを判定していき、メモリ空間ブロック１０に格納されている場合には、その欠陥レベルを用いて欠陥画素の画素信号の補正を行い、補正前の画素信号を補正後の画素信号で置き換えて出力する。 - 特許庁

To provide a correcting method by which a deposition layer where both an opening end part and a top end part are formed generates no thickness difference, top realize correction of white deface by which a local part does not become very fat and further to provide a correcting method by which a long beam-shaped body can be formed in correction of white defect in a silicon stencil by deposition using focusing ion beams.例文帳に追加

本発明の課題は、シリコンステンシルの白欠陥を集束イオンビームを用いたデポジションによって修正するものにおいて、開口端部も先端部も形成されるデポ層に厚さの差がでない修正方法を提供し、局部がむやみに厚くならない白欠陥を修正を実現すること、また、長い梁状体を形成できる修正方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a coating defect correcting apparatus, in which the correction of coating ununiformity occurring in the continuous coating of a flexible belt like body with a coating liquid with a prescribed thickness by a coating utensil is surely and quickly performed without a user's touching at the flexible belt like body directly.例文帳に追加

塗布工具により可撓性帯状体に塗布液を所定の厚さに連続的に塗布する際に発生する塗布むらの修正を作業者が可撓性帯状体に直接に触れることなく確実かつ迅速に行うことができる塗布不良修正装置を提供する。 - 特許庁

To eliminate a defect in a paper sheet feeding system that a sag is generated in transfer paper when a stopper located in a position to regulate a tip of the transfer paper is pushed aside by the transfer paper to require skew correction, by providing, energizedly to be freely rotatable, a stopper for the tip of the transfer paper on a register roller shaft normally rotated.例文帳に追加

常時回転するレジストローラの軸上に転写紙の先端のストッパを回動自在に付勢して設け、転写紙先端を規制する位置にあるストッパを転写紙が押しのける時に転写紙にたるみができ、スキュー補正をする給紙方式の欠点を解消する。 - 特許庁

To provide an exposure correction arithmetic unit which corrects image data so that an exposure defect due to a flare or the like is suppressed in an exposure device which performs exposure to an image by irradiating a photosensitive material with a light beam by modulating the intensity of the light beam according to the image data.例文帳に追加

画像データに応じて光ビームの強度を変調させて感光材料に照射し、画像の露光を行う露光装置において、フレアなどによる露光不良を抑制するように画像データの補正を行う露光補正演算装置を提供する。 - 特許庁

A microcomputer 240 is operated by a defective pixel selecting program stored in a program ROM 250 to execute processing of the defect detection circuit 211 several times while varying the detection level and narrows down detected pixels so that the number of detected pixels may be within the range of the preliminarily prepared maximum value of the number of pixels which can be subjected to correction processing.例文帳に追加

マイクロコンピュータ２４０では、プログラムＲＯＭ２５０内に格納された欠陥画素の選択プログラムによって動作し、検出レベルを変えながら欠陥検出回路２１１の処理を何度か実行させ、検出画素数が予め用意された処理可能補正画素数の最大値の範囲内に入るように検出画素の絞り込みを行う。 - 特許庁

To achieve the improvement in yield of an image display device and the reduction in the manufacturing cost by providing a defect correction method of the image display device, which is capable of satisfactorily correcting not only defects of pixel electrodes (switching devices) but also bright spots due to the existence of foreign matters or the like in a liquid crystal part, without damaging the image display device.例文帳に追加

画素電極（スイッチング素子）の欠陥のみならず、液晶部分に異物等が存在することによる輝点についても、画像表示素子を損傷させることなく、良好に補正することができる画像表示素子の欠陥補正方法を提供し、画像表示素子の歩留まりの向上及び製造コストの低廉化を図る。 - 特許庁

Based on these signals, the oil mist concentration correction part of the controller 10 corrects the concentration of the oil mist for each cylinder 2, an abnormality determination part determines for each oil mist sensor 3 whether mechanical defect is present or not in the source of the oil mist, and a trouble determination part determines for each oil mist sensor 3 whether a trouble is present or not.例文帳に追加

すると、上記信号に基づいてコントローラ１０のオイルミスト濃度補正部が、各シリンダ２毎に、オイルミスト濃度を補正し、異常判定部が、各オイルミストセンサ３毎に、オイルミストの発生源の機械の異常の有無を判定し、故障判定部が、各オイルミストセンサ３毎に、故障の有無を判定する。 - 特許庁

Further, while reducing the photomask verification time by reducing the number of times of executing the optical intensity simulation, those having no effect on the manufacture of a semiconductor or on the operation or the characteristics of a semiconductor element are excluded from the photomask verification result so that only the fatal defect is detected, thereby reducing the time and the number of processes related to the correction of layout pattern CAD data.例文帳に追加

加えて、光強度シミュレーションの実施回数を削減することにより、フォトマスク検証時間の削減を図りつつ、さらに半導体製造上、あるいは半導体素子の動作、特性に影響を与えないものをフォトマスク検証結果から除外し致命的な欠陥のみを検出し、レイアウトパターンＣＡＤデータの修正に関わる時間、工数を削減する。 - 特許庁

To provide a cooling state inspection method and apparatus for a furnace body cooler which enables judgment of a defect part having a leakage of cooling water and a stagnation thereof and post correction of a furnace body cooler easily and accurately measuring a temperature distribution of the cooling water flowing into the furnace body cooler from outside.例文帳に追加

炉体冷却装置内を流れる冷却水の温度分布を外部から正確に測定して、冷却水漏れや淀みが発生した欠陥部位を容易かつ正確に判断でき、その後の炉体冷却装置の補修を容易かつ確実に行うことができる炉体冷却装置の冷却状態検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

Thus, an actual CAD model which is more faithful to the shape of the prototype can be created by positioning the actually measured CAD model with the reference CAD model 32 by using a positioning processing part 22 and compensating a defect part of the actually measured CAD model by the shape information of a corresponding part of the reference CAD model 32 by using a model correction processing part 24.例文帳に追加

そこで、位置合わせ処理部２２で実測ＣＡＤモデルと基準ＣＡＤモデル３２とを位置合わせし、モデル修正処理部２４にて実測ＣＡＤモデルの欠落部分を基準ＣＡＤモデル３２の対応部分の形状情報で補完することにより、試作品の形状により忠実な実物ＣＡＤモデルを作成することができる。 - 特許庁

A defect correction unit 330 detects respective edges of a first image formed by the pixel values of image generation pixels and a second image formed by the pixel values of phase difference detection pixels among pixel values included in image data generated by an image pickup apparatus comprising plural image generation pixels and plural pairs of phase difference detection pixels.例文帳に追加

欠陥補正部３３０は、画像生成画素と一対の位相差検出画素とのそれぞれを複数備える撮像素子により生成される画像データに含まれる画素値のうち前記画像生成画素の画素値により形成される第１像と、前記位相差検出画素の画素値により形成される第２像とのそれぞれのエッジを検出する。 - 特許庁

A CCD 105 is provided with a summing read function, that reads pixel information of unit pixel while summing the pixel information items and with a pixel information correction function that corrects the pixel information after summation based on unit pixel defect information stored in an EEPROM 112.例文帳に追加

ＣＣＤ１０５に対して単位画素の画素情報を複数個加算しつつ読み出す加算読み出し機能と、ＥＥＰＲＯＭ１１２に記憶されている単位画素欠陥情報に基づいて加算後の画素情報に対する補正を行う画素情報補正機能が設けられている。 - 特許庁

A cantilever 5 used in the present invention is made of a silicon material having 400 to 500 μm length and 30 to 50 μm thickness so that during observation, the probe 4 can be in contact with the mask under 1 nN contact pressure, and in processing, defect correction can be performed by allowing the probe to be in contact with the mask under 10 nN to 1mN contact pressure.例文帳に追加

本発明に使用するカンチレバー５は、長さが400〜500μｍ、厚みが30〜50μｍとしたシリコン素材で形成し、探針４が観察時には0.1ｎＮオの接触力でマスクと接し、加工時には１０ｎＮから１ｍＮまでの接触力でマスクと接して欠陥修正を実施できるようにした。 - 特許庁

To provide a device in which a probe can be used both for observation and correction and which can perform desired processing without injuring a normal portion, even if a next generation photomask having a ultrafine structure is used as an object, in a step of acquiring information about the position and feature of a defect, or without damaging the probe during processing.例文帳に追加

観察用と修正用とでプローブを兼用でき、次世代の超微細構造のフォトマスクを対象としても欠陥部の位置と形状の情報を取得する過程において正常部分を損傷してしまうようなことがなく、また、加工時にもプローブを傷めることなく所望の加工ができる装置を提供する。 - 特許庁

Prior to defect correction of the isolated pattern 4, a conductive coil spring 3 is formed at a tip of a conductive probe 1 by a focused ion beam-induced chemical vapor-grown metal film, and the probe is conducted with the isolated pattern 4 while reducing the contact pressure with a mask pattern by the coil spring 3 to prevent the charge-up.例文帳に追加

導電性プローブ1の先端に集束イオンビーム誘起化学気相成長金属膜で導電性のコイルバネ3を形成し、コイルバネ3によりマスクパターンとの接触圧を緩和して孤立したパターン4との導通を取り、チャージアップが起こらないようにしてから集束イオンビーム7で欠陥修正を行う。 - 特許庁

The optional pattern is formed with high precision and high accuracy by patterning the photo paste, prepared by imparting photosensitive function to a functional material such as having conductivity, by printing such as offset, screen and after that, exposing, developing and removing excess parts due to the correction of the shape, the short defect or the like, drying and firing.例文帳に追加

導電等の機能材料に感光性の機能を付加したフォトペーストをオフセットやスクリーン等の印刷によりパターニングした後、露光、現像を行い、形状の補正やショート欠陥等の余分な部分を除去し、乾燥焼成により任意のパターンを高精度高精細に形成することができる。 - 特許庁

To record and reproduce data by previously protecting data from being lost owing to an after-defect on a magnetic disk and the deterioration of performance in a recording and reproducing head, dividing data information into lengths correctable by an error correction code(ECC) in order to improve the data error rate in reproduction and using a plurality of magnetic disks and magnetic heads.例文帳に追加

本発明では、磁気ディスク上の後発欠陥、及び記録再生用ヘッドの性能劣化に伴うデータの喪失を未然に保護し、再生の際のデータ誤り率を向上する為に、データ情報をエラー訂正コード（ＥＣＣ）の訂正可能な長さに分割し、更に複数の磁気ディスク、及び磁気ヘッドを使用して記録再生を行う。 - 特許庁

The defect detection apparatus can correct an output luminance value of a background image according to a sensitivity characteristic of an imaging means in a background image correction step ST3 to approximate the output luminance value to an input value and correct the background image even if the background image is captured under a long exposure time and an extremely low luminance value.例文帳に追加

欠陥検出装置は、背景画像補正工程ＳＴ３にて撮像手段の感度特性に基づいて背景画像の出力輝度値を補正することで、露光時間を長くして輝度値が極端に低い背景用画像を撮像した場合でも、その出力輝度値を入力値に近似させることができ、背景画像の補正が実行できる。 - 特許庁

The temperature white defect correction unit obtains a difference of pixel values between the pixels at positions corresponding to the two fields by each region, discriminates whether or not either of both the pixels is defective depending on the sign of the difference when the difference between both corresponding pixels exceeds a prescribed threshold range, and corrects the value of the pixel discriminated to be defective by using the pixel value of the other pixel.例文帳に追加

温度白キズ補正装置は、２つのフィールドの互いに対応する配列位置の各画素間の画素値についての差分を領域毎に求め、対応する両画素間の差分が所定の閾値範囲を越えるとき、その差分の符号に応じて、両画素のいずれか一方の画素が欠陥画素であると判定し、欠陥画素であると判定された一方の画素の画素値を他方の画素の画素値で補正する。 - 特許庁