「defect correction」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

The correction of the background image according to the sensitivity characteristic of the imaging means can precisely match shading curves of the background image and an inspection image to implement a precise shading correction and increased accuracy of surface defect detection on a liquid crystal panel.例文帳に追加

そして、背景画像を撮像手段の感度特性に基づいて補正することで、背景画像と検査画像とのシェーディングカーブを精度よく合致させることができ、シェーディング補正を高精度に実行することができ、液晶パネルにおける表示欠陥の検出精度を向上させることができる。 - 特許庁

A weighted operation means 404 performs operation processing by applying optional weighting respectively to the projection data of the defect inspection object of this time which is obtained in the means 403 and shading correction data used for correction processing to the preceding processing object.例文帳に追加

重み付け演算手段４０４は、射影取得手段４０３にて得られた今回の欠陥検査対象物の射影データと、前回の処理対象物に対する補正処理に用いたシェーディング補正データとのそれぞれに対して任意の重み付けを行なっての演算処理を行なう。 - 特許庁

The X-ray diagnostic imaging apparatus is provided with: a part 9 for calculating the frequency of the moire included in the diagnostic image; and a defect correction pixel selection part 10 for selecting a pixel to be used for defective pixel correction from the frequency of the moire calculated in the moire frequency calculation part 9.例文帳に追加

上記課題は、診断画像中に含まれるモアレ周波数算出部9と、前記モアレ周波数算出部9にて算出されたモアレの周波数から欠損画素補正に用いる画素を選択する欠損補正画素選択部10とを備えることによって解決される。 - 特許庁

This constitution enables the displaying of a better radiation image on the image display device 56 based on the image data after the correction while allowing easier judgment of the position of the image defect corrected by displaying the radiation image on the image display device 56 based on the image data before the correction.例文帳に追加

補正後の画像データに基づいて良好な放射線画像を画像表示装置５６に表示させることができると共に、補正前の画像データに基づく放射線画像を画像表示装置５６に表示することにより補正が行われた画像欠陥の位置も容易に判別できる。 - 特許庁

A defect correcting device applying the correction material to the defective point of a panel substrate to correct the defective point is provided with an application head for applying the correction material to the defective point and a shielding mechanism inserting a shielding member between the application head and the panel substrate so that the shielding member can be retreated.例文帳に追加

パネル基板の欠陥箇所に修正材料を塗布して修正する修正装置において、修正材料を欠陥箇所へ塗布するための塗布ヘッドと、塗布ヘッドとパネル基板との間に遮蔽部材を退避可能に挿入する遮蔽機構を備えることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a coordinate correction method between different apparatuses which enables access to a defective position simply and precisely with a defective review system, based on coordinate information of an arbitrary defect obtained by a shape defective inspection device, and to provide an inspection method using the coordinate correction method.例文帳に追加

外観欠陥検査装置で取得した任意の欠陥の座標情報に基づき欠陥レビュー装置で当該欠陥位置に容易に且つ精度良くアクセス可能にする異なる装置間の座標補正方法及びこの座標補正方法を用いた検査方法を提供する。 - 特許庁

A correction circuit 143 corrects the output signal of the remarked pixel by selecting any one of correction filters 431a-431d such that the composition ratio of the output signal of the remarked pixel for the peripheral pixels of the same color becomes smaller for a higher value of defect state variable DET.例文帳に追加

補正回路１４３は、欠陥状態変数ＤＥＴの値が高いほど、同色周辺画素に対する注目画素の出力信号の合成比が小さくなるように、補正フィルタ４３１ａ〜４３１ｄのいずれかを選択して注目画素の出力信号を補正する。 - 特許庁

More particularly, in the case that the presence of scanning wiring 130A within the effective range of the critical defect 181 is discriminated, the reading out of at least the connection procedures as the correction procedure A1 is preferable.例文帳に追加

特に、致命欠陥１８１の有効範囲Ｚ内に走査配線１３０Ａが存在すると判別された場合には、修正手順Ａ１として少なくとも結線手順を読み出すことが好ましい。 - 特許庁

To provide a correction method of color filter for liquid crystal display device capable of correcting a black defect of pillar type spacer and/or orientation control protrusion without damaging a transparent conductive film.例文帳に追加

透明導電膜を損傷させることなく柱状スペーサー及び／又は配向制御用突起の黒欠陥を修正することのできる液晶表示装置用カラーフィルタの修正方法を提供すること。 - 特許庁

Thus, the accuracy of defect detection can be improved by minimizing the width of the mask 37, and the deviation correction can be performed in parallel with the surface inspection, so that the reduction in productivity is prevented.例文帳に追加

これにより、マスク３７の幅を極力細くして欠陥検出の精度を高めることができ、さらに、表面検査と並行してずれ補正を実施できるので生産性の低下が防止される。 - 特許庁

In this repair method, irradiation of charged particle beam is selectively performed at least two times to a black defect part 13 generated on the transfer pattern, and correction of the transfer pattern is performed.例文帳に追加

このリペア方法は、該転写パターンに生じた黒欠陥部１３に少なくとも２回の荷電粒子線の照射を選択的に行うことにより該転写パターンの修正を行うものである。 - 特許庁

To provide a radiation image processing unit that applies pixel defect correction of a linear prediction type to a radiation image including grid pattern information so as to suppress artifacts due to a defective pixel when an image pickup element includes the defective pixel.例文帳に追加

撮像素子に欠陥画素が含まれるとき、グリッド縞情報を含む放射線画像に対して線形予測型の画素欠陥補正を施し、上記欠陥画素によるアーチファクトを抑える。 - 特許庁

To detect information relating to shading caused by defect of a pixel of an image sensor and an optical system for the correction of a photographed image in a proper timing having no effect onto the immediacy of photographing.例文帳に追加

撮影画像の修正のための、イメージセンサの画素欠陥や、光学系に起因するシェーディングに係る情報の検出を、撮影の即時性に影響を及ぼさない適切なタイミングで行えるようにする。 - 特許庁

Thus, this improves the insulation and lowers the probability of occurrence of short circuit at the crossing parts of the rescue wiring and the signal lines to improve the probability of correction of the defect in the display area.例文帳に追加

これにより絶縁性を向上しレスキュー配線と信号線の交差部での短絡の発生確率を低下させ、表示領域の欠陥の修正が可能となる確率を向上できる。 - 特許庁

This reticle repair method has a pattern transfer section comprising an electron beam scattering body and is a method of correction processing of the pattern defect of the reticle 13 used in exposure by electron beams.例文帳に追加

本発明に係るレチクルリペア方法は、電子線散乱体から構成されたパターン転写部を有し、電子線で露光する時に用いるレチクル１３のパターン欠陥を修正加工する方法である。 - 特許庁

To prevent a film formation from fine particles produced in a laser CVD as a CVD nucleus and the film edge from swelling outside the laser irradiation pattern in a conventional correction method of fine clear defect.例文帳に追加

従来び白欠陥の修正方法では、レーザＣＶＤ時に生成した微粒子がＣＶＤの核となり膜が形成され、レーザ光の照射形状の外側に膜のエッジが膨らんでしまう。 - 特許庁

To provide a pattern defect correcting device, wherein stable operation is provided, regardless of operator, and process is stabilized for saving labor and improved correction level.例文帳に追加

作業者に関わりなく安定的に稼働させることができ、工程の安定化並びに省人化を図ることができ、かつ、修正品位を向上させることができるパターン欠陥修正装置を提供する。 - 特許庁

To provide a correction acceptance processing system of an instrument output data which is operationally efficient, which can quickly see output data of a system at a management department, and which promptly directs to correct a defect if it were.例文帳に追加

システムの出力データを管理部門で即座に見ることができ、問題があれば迅速に修正を指示できる、作業効率の高い、計器出力データ校正承認処理システムなどを提供すること。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device which has its image characteristics improved by correcting defects and also has its substantial yield increased, and a method and device for the defect correction.例文帳に追加

欠陥を修正することにより画像特性の向上および実質的な歩留りの向上が図られた液晶表示装置およびその欠陥修正方法ならびに欠陥修正装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pattern defect correcting device which can be used effectively for a correction object having a large variety of pattern shapes like a photomask used in a manufacturing process of a shadow mask.例文帳に追加

シャドウマスクの製造過程で用いるフォトマスクのように、多種多様なパターン形状を有する修正対象に対しても有効に利用することができるパターン欠陥修正装置を提供する。 - 特許庁

To realize an information recording method and an information reproducing method capable of enhancing the reliability of data by increasing the correction capability in the burst error of recorded data to be generated by the defect, dust and scratch of a disk.例文帳に追加

ディスクの欠陥やごみ、傷により生じる記録データのバースト誤りでの訂正能力を増加させ、データの信頼性を高めることが可能な情報記録方法、再生方法を実現する。 - 特許庁

The offset corrector 11 corrects offsets by level correction operation in normal reproduction, and corrects offsets by switching the operation to the HPF operation when a defect discriminator 14 detects a defective region.例文帳に追加

オフセット補正器１１は、通常再生時には、レベル補正動作によってオフセットを補正し、欠陥判別器１４が欠陥領域を検出すると、動作をＨＰＦ動作に切り替えてオフセット補正を行う。 - 特許庁

To improve the production efficiency and to reduce a manufacture cost, by deciding on the appropriate correction method for the defect of a transparent insulating film, at the time the transparent insulating film is formed on a substrate.例文帳に追加

基板上に透明絶縁膜が形成された時点で透明絶縁膜の欠陥に対して適切な修正方法を決定し、生産効率の向上及び製造コストの削減を実現する。 - 特許庁

The correction method for the color filter in which pixels or pixels and black matrix are formed is characterized by specifying a defect of the pixels or color filter, grinding and removing the minimum area including the defect, and forming a color layer into the ground and removed part by the use of the correction color for the color filter, the color layer having a color identical to that of the ground part.例文帳に追加

画素、または画素とブラックマトリックスとが形成されたカラーフィルターにおいて、上記画素またはカラーフィルターに存在する欠陥個所を特定し、該欠陥箇所を含む微小面積を研削除去し、該研削除去部分に、研削された個所と同色の着色層をカラーフィルター補修用カラーを用いて形成することを特徴とするカラーフィルターの補修方法、およびカラーフィルター補修用カラー。 - 特許庁

A correcting signal generating circuit 9 generates a correcting signal being the edge pulse signal of a signal from the signal which is outputted from a defect period detecting circuit 4 and indicates a defect period, the correcting signal is added to a TE signal by a prescribed polarity by a correction adder 10 and, then, the TE signal is corrected.例文帳に追加

ディフェクト期間検出回路４から出力されるディフェクト期間の示す信号からその信号のエッジパルス信号である補正信号を補正信号生成回路９で生成し、補正加算器１０でその補正信号を所定の極性でＴＥ信号に加算してＴＥ信号の補正を行う。 - 特許庁

To provide a defect correction method of a color filter substrate, which is free from exfoliation of a transparent conductive layer-correcting layer from a base and requires a short time for repair even when defect repair processing for a color layer and a transparent conductive layer of a color filter substrate is performed in the stage where formation of the transparent conductive layer has been finished.例文帳に追加

カラーフィルタ基板の透明導電層の形成が終えた段階で、着色層と透明導電層の欠陥修復処理を施しても、透明導電層修正層の下地からの剥離がなく、修復に要する時間が短いカラーフィルタ基板の修正方法を提供することである。 - 特許庁

An image processing apparatus 100 comprises a histogram creation part 42, a defect candidate region decision part 43, a defective region decision part 44 and a defect correction part 45 for automatically detecting and correcting a defective region which can be included in image data acquired via a film scanner 1 and an image data acquisition part 2.例文帳に追加

画像処理装置１００は、フィルムスキャナ１、画像データ取得部２を介して取得された画像データに含まれる可能性がある欠陥領域を自動的に検出して修正するために、ヒストグラム作成部４２、欠陥候補領域判定部４３、欠陥領域判定部４４および欠陥修正部４５を備えている。 - 特許庁

The reduction of the transmittance is adjusted to be equal to that of a glass or quartz part not subjected to defect correction, by the vibration amplitude, indention depth, feedback gain and scanning interval of the probe 1 of the scanning probe microscope.例文帳に追加

透過率の低下量は欠陥修正していないガラスまたは石英部分と同じになるように走査プローブ顕微鏡の探針１の振動振幅と押し込み量とフィードバックゲインと走査間隔で調整する。 - 特許庁

To provide a rubber for correcting a tire pattern model applicable for the production of a silicone rubber mold with a silicone rubber composition without causing vulcanization defect in the production of the rubber mold and enabling the correction and repair of the mold.例文帳に追加

シリコーンゴム組成物を用いたシリコーンゴム型の製造に適用し得るタイヤパターンモデルを、ゴム型製作時における加硫不良を生ずることなく、修正、修繕することができるタイヤパターンモデル修正用ゴムを提供する。 - 特許庁

In correcting a defect in a local object in an image, the object is detected and the detection information of the detected object and the image of the object before the correction are homologized and stored.例文帳に追加

画像中の局所的な対象における不具合を修正するにあたってその対象を検出し、検出された対象の検出情報と、その対象が修正される前の画像とを対応付けて保存する。 - 特許庁

A defect correction device 1 has a stage 2 having a work W placed thereon and is so configured that a surface of the work W is observed by a CCD camera 6, and defects can be removed by laser light from a laser light source 7.例文帳に追加

欠陥修正装置１は、ワークＷを載置するステージ２を有し、ワークＷの表面をＣＣＤカメラ６で観察すると共に、レーザ光源７からのレーザ光で欠陥を除去できるように構成されている。 - 特許庁

In accordance with the types of the defective pixels, correspondence between the imaging conditions and the defect levels of the defective pixels to be corrected is prepared in advance, whereby appropriate correction in accordance with the type of defective pixel can be performed.例文帳に追加

欠陥画素の種類に応じて、撮像条件と補正すべき欠陥画素の欠陥レベルとの対応を予め用意しておくことにより、欠陥画素の種類に応じた適切な補正を行うことができる。 - 特許庁

To provide a method for molding a correction lens for the exposure of a cathode ray tube excellent in ultraviolet permeable characteristics, the adhesion of an ultraviolet cured resin and a substrate thin plate, and optically having no defect by simple constitution.例文帳に追加

簡単な構成で紫外線の透過特性に優れ、紫外線硬化樹脂と基体薄板との接着性に優れ、光学的にも欠陥の無いブラウン管露光用補正レンズの成形方法を提供すること。 - 特許庁

On the occasion of photographing a still image, when exposure has been completed and a light blocking device 12b enters in operating state, a signal received by an imaging device 13 is once supplied to a defect correction unit 17 via an A/D converter 14.例文帳に追加

静止画を撮像する際、露光が完了して遮光装置１２ｂの状態になると、撮像素子１３により受光された信号がA/D変換器１４を介して一旦欠陥補正部１７、供給される。 - 特許庁

To provide a means capable of preventing pressure leakage by efficiently mending the minute casting defect generated in the rim of the vehicle wheel without performing correction working or without exerting a significant burden on the work thereof.例文帳に追加

修正加工を行わずに、又はこれらの作業に大きな負担をかけずに、効率よく、車両用ホイールのリムに生じた微小鋳造欠陥を修復し、圧漏れを防止することが可能な手段を提供すること。 - 特許庁

Then a correction coefficient is found (200) on the basis of at least one of the 1st and 2nd infrared component levels and the color components of the image of the document 7 are decomposed into visible components (200), and the level of the decomposed visible components is detected and based on the correction coefficient, the defect of the image of the document is corrected (200).例文帳に追加

そして、前記第１赤外成分レベルと前記第２赤外成分レベルとの少なくとも一方に基づいて補正係数を求めて（２００）、原稿７の画像の色成分を可視成分に分解し（２００）、分解された可視成分レベルを検出し、補正係数に基づいて前記原稿の画像の欠陥を補正する（２００）。 - 特許庁

To provide an exposure correction operation device which calculates the extent of correction for correcting the intensity of a light beam so as to accurately suppress an exposure defect caused by flare or the like in an exposure device which modulates the intensity of the light beam in accordance with picture data and irradiates a photosensitive material by the light beam to expose a picture.例文帳に追加

画像データに応じて光ビームの強度を変調させて感光材料に照射し、画像の露光を行う露光装置において、フレアなどによる露光不良を的確に抑制するように、光ビームの強度を補正するための補正量を算出する露光補正演算装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image reader that can easily detect the presence of defects include in a shading correction plate without the need for adding a specific device to a conventional shading correction circuit and for attaching a new luminous quantity adjustment function to the image reader provided with a luminous quantity adjustment function, and to provide a method for identifying defect positions in a correction member, a storage medium and a program.例文帳に追加

画像読取装置の従来からあるシェーディング補正回路に特別な装置を付加する事なく、また光量調整機能を備えた画像読取装置に新たな光量調整機能を付加する事なしに、シェーディング補正板に含まれる欠陥の存在の検出を容易にする事を可能とした画像読取装置、補正用部材欠陥位置特定方法、記憶媒体、及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an optical disk reproducing method and an optical disk drive which can improve the reproduction compatibility between various optical disk drives by enabling the correction of the substantial changes in defect transition decision thresholds even when reproducing an optical disk recorded in another optical disk drive by using a format having an optical disk defect control function.例文帳に追加

光ディスクの欠陥管理機能を有するフォーマットで記録された光ディスクを、記録された光ディスク装置以外で再生する場合であっても、欠陥遷移判定基準閾値の実質的な変化を補正することが可能となり、光ディスク装置間の再生互換性を向上させる光ディスク再生方法および光ディスク装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

White pixel defect corrections wherein the added value is subtracted are performed for image signals of respective pixels on vertical lines on a vertical transfer destination side relative to the defective pixel and white pixel defect corrections wherein the value obtained by multiplying the added value by a correction coefficient is subtracted are performed for image signals of respective pixels on the vertical transfer source side relative to the defective pixel.例文帳に追加

欠陥画素より垂直転送先側の垂直ライン上の各画素の画像信号に対しては、上乗値を減算することにより白傷補正を行い、欠陥画素より垂直転送元側の各画素の画像信号に対しては、当該上乗値に補正係数を乗算した値を減算することにより白傷補正を行う。 - 特許庁

The repair method includes: specifying processes (S101, S102) for specifying defective parts generating the bright spot defect; and applying processes (S103, S104) for applying a correction material for correcting the bright spot defect to become difficult to be viewed to the specified defective parts by an ink jet method on at least one substrate of a pair of the substrates.例文帳に追加

リペア方法は、一対の基板のうち少なくとも一方の基板について、輝点不良が生じる不良箇所を特定する特定工程（Ｓ１０１、Ｓ１０２）と、該特定された不良箇所に対して、輝点不良が視認され難くなるように修正するための修正材料を、インクジェット法により塗布する塗布工程（Ｓ１０３、Ｓ１０４）とを備える。 - 特許庁

When the number of times of detection reaches the predetermined number of times, a detected pixel position and the level in each of detection are compared (S110) and when they match each other, a pixel defect is determined and written into the memory (S111), and white flaw correction is performed (S112).例文帳に追加

検出回数が所定回数に達した場合に、検出毎の検出画素位置・レベルを比較し（Ｓ１１０）、一致していれば画素欠陥と判定し、メモリへの書き込みを行い（Ｓ１１１）、白キズ補正を行う（Ｓ１１２）。 - 特許庁

A face contained in image data is detected using a face detection means, and a defect in white balance is calculated from a color evaluated value of a face region, thus calculating a desirable white balance correction coefficient by means of usual white balance calculation and weighting addition.例文帳に追加

顔検出手段を用いて画像データに含まれる顔を検出し、顔領域の色評価値からホワイトバランスの不具合を演算し、通常ホワイトバランス演算との加重加算により所望なホワイトバランス補正係数を算出する。 - 特許庁

A correcting device 1 comprise a pattern correcting mechanism 2, image detecting mechanism 3, drive part 6, drive-part control part 7, defect discriminating circuit 11, pattern comparison circuit 12, matching identifying circuit 13, and correction pattern control circuit 14, etc.例文帳に追加

修正装置１は、パターン修正機構２、画像検出機構３、駆動部６、駆動部制御部７、欠陥選別回路１１、パターン比較回路１２、一致指摘回路１３、および修正パターン制御回路１４等を備えている。 - 特許庁

To appropriately perform an image processing using an OB (optical black region) signal in a poststage as a reference without breaking by performing signal correction of a flaw defect in an optical black region in an image pickup section carefully and finely.例文帳に追加

本発明は、撮像部のオプチカルブラック領域のキズ欠陥を丁寧かつ綺麗に信号補正することにより、後段におけるＯＢ信号を基準にした画像処理を破綻なく、かつ適切に実施できるようにすることを目的とする。 - 特許庁