「defect correction」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a defect correction method capable of correcting easily a micro pattern omission defective part, without imparting a damage in the vicinity of the defective part and without generating contamination.例文帳に追加

欠陥部の近傍にダメージを与えたり、汚染することなく、微細なパターン抜け欠陥部を容易に修正することが可能な欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

The primary defect position correction expression includes three terms of an offset component, an extension component and a rotation component of the observation coordinate system to the detection coordinate system.例文帳に追加

この１次の欠陥位置補正式は、検出座標系に対する観察座標系のオフセット成分、拡大成分、回転成分といった３つの項を有している。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus that allows a plurality of pieces of different defective type information to be properly used for defect correction on a single defective pixel.例文帳に追加

一つの欠陥画素に対して複数の異なる欠陥種類情報を適切に欠陥補正に適用させることを可能にした画像処理装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for correcting patterns capable of stably correcting a fine pattern and preventing the periphery of a defect part from being contaminated by correction fluid.例文帳に追加

微細パターンを安定に修正することができ、修正液によって欠陥部周辺が汚染されるのを防止することが可能なパターン修正方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus capable of executing defect correction of an image sensor without an error, even in the case of an image picked up with an optical system having a large distortion.例文帳に追加

大きな歪曲収差を持つ光学系で撮影された画像の場合にも、誤差なくイメージセンサの欠陥補正を行うことができる画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To attain effective defect correction without substantially causing the deterioration of resolution by effectively utilizing the information on effective pixel thereby minimizing the deterioration of S/N.例文帳に追加

有効画素の情報を無駄無く利用し、従ってＳＮの劣化を最小限にとどめつつ解像度の劣化を事実上生じない効果的な欠陥補正を可能にする。 - 特許庁

An initial defect correction means 202 corrects digital image information by using initial defective pixel position information previously known at the time of shipment from a plant or the like.例文帳に追加

初期欠陥補正手段２０２は、工場出荷時等で予め分かっている初期欠陥画素位置情報を用いて、ディジタル画像情報を補正（修正）する。 - 特許庁

To provide an image acquisition device, a defect correction device and an image acquisition method that stably focus on an electrode pattern or wiring pattern.例文帳に追加

電極パターンまたは配線パターンに安定的に焦点を合わせることができる画像取得装置、欠陥修正装置および画像取得方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus that obtains high-quality images which have been subjected to proper defect-correction and scaling processing, and achieves reduction in circuit scale and low power consumption.例文帳に追加

適切なキズ補正及びスケーリング処理を経た高品質な画像が得られ、回路規模の削減及び低消費電力化を可能とする画像処理装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a device for processing data correction which corrects a defect of defective data from a defective photoelectric converting element at high speed and whose circuit scale can be made small.例文帳に追加

欠陥のある光電変換素子からの欠陥画素データの欠陥補正を高速に行い且つ回路規模を小さくすることが可能なデータ補正処理装置を提供する。 - 特許庁

Consequently, in-plane unevenness is suppressed in all density regions and image quality defect (e.g. false contour line) caused by in-plane unevenness correction processing can be prevented from being actualized.例文帳に追加

これにより、全ての濃度領域における面内むらを抑制し、かつ、面内むら補正処理に起因する画質欠陥（擬似輪郭など）の顕在化を防止することができる。 - 特許庁

A correction part 30 is installed at a position where a defect included in either region obtained, by dividing a substrate 2 into two equal parts with a straight line in the Y-axis direction can be corrected.例文帳に追加

修正部３０は、基板２をＹ軸方向の直線で２等分した片方の領域に含まれる欠陥を修正することができる位置に設置される。 - 特許庁

To provide an image processor and a control program of the image processor which correct the influence of a defect according to the kind of a document and inform a user that the influence cannot be corrected in such a case or make no wrong correction.例文帳に追加

原稿の種類に応じて欠陥の影響を補正し、補正をすることができない場合にその旨をユーザに知らせ、又は誤補正をしない。 - 特許庁

To provide a solid-state image pickup device by which image quality is improved by solving the defect of the deterioration of image quality due to the incapability of the correction of 'blurring' in one field in a conventional technique.例文帳に追加

従来技術の１フィールド内の“ぼけ”を補正することができず画質が劣化していた欠点を解決し、画質が改善された固体撮像装置を実現する。 - 特許庁

In such a manner, the defective pixel is corrected by using the defect information stored in the memory space block 10 and image signals after the correction are sent out to output equipment.例文帳に追加

このようにして、メモリ空間ブロック１０に格納した欠陥情報を用いて欠陥画素の補正を行い、補正後の画像信号を出力機器に送出する。 - 特許庁

A disk physical distortion correction signal generating means 11 outputs a signal by which a phase compensation signal S8 is obtained through an LPF in a normal period as a disk physical distortion correction signal S11 and outputs an output signal of the LPF, sampled at a defect detection start as the signal S11 during the defect detection period.例文帳に追加

ディスク物理的歪補正信号発生手段１１は、通常期間に位相補償信号Ｓ８がＬＰＦを介して得られる信号をディスク物理的歪補正信号Ｓ１１として出力し、欠陥検出期間は欠陥検出開始時にサンプリングしたＬＰＦの出力信号をディスク物理的歪補正信号Ｓ１１として出力する。 - 特許庁

In the fine pattern correction method, laser light α, irradiated on a given position deviated from the center 32a of an objective lens 32, refracted with the objective lens 32, and directed toward a focus F is irradiated aslant from upward on a side wall face of the correction part 30 consisting of correction paste 21 coated on a rib chip defect 85.例文帳に追加

この微細パターン修正方法では、対物レンズ３２の中心３２ａから外れた所定の位置にレーザ光αを照射し、対物レンズ３２で屈折して焦点Ｆに向かうレーザ光αを、リブ欠け欠陥８５に塗布した修正ペースト２１からなる修正部３０の側壁面に斜め上方から照射する。 - 特許庁

To provide a phase defect correction method of a reflective mask and a manufacturing method of the reflective mask which can correct an absorber pattern accurately without damaging a reflective layer and leaving correction marks, and which can obtain a good transfer pattern without being affected by phase defects.例文帳に追加

反射層に損傷を与えず、修正痕を残さずに吸収体パターンを精度良く補正し、位相欠陥の影響をなくして良好な転写パターンが得られる反射型マスクの位相欠陥補正方法および製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect correction method for correcting only defects generating in each step in the manufacturing process of a color filter for an LCD, and to provide a method for manufacturing a color filter for an LCD and a color filter for an LCD using the above correction method.例文帳に追加

ＬＣＤ用カラーフィルタの製造工程の各工程で発生する欠陥のみを修正する欠陥の修正方法及びそれを用いたＬＣＤ用カラーフィルタの製造方法並びにＬＣＤ用カラーフィルタを提供することを目的とする。 - 特許庁

When side misregistration occurs, image deficiency is not caused by moving an image in a main scanning direction by an amount equivalent to a value obtained by subtracting a defect amount from a correction amount calculated by a correction amount calculation part.例文帳に追加

サイドレジずれが発生している場合、画像の位置を主走査方向に向かって、補正量算出部によって算出された補正量から欠損量を差し引いた値に相当する分だけ、画像を移動させると、画像欠損は発生しない。 - 特許庁

When data Dn of respective pixel detected when carrying out exposure in a predetermined time in a dark status exceed a defect decision value Dtha in a step S106, the pixels are defined as those pertinent to defective pixels, and set as the object of defect correction in a step S108.例文帳に追加

ステップＳ１０６で真っ暗な状態で所定時間露光したときに検出された各画素のデータＤｎが欠陥判定値Ｄｔｈａを超えるときにはステップＳ１０８でその画素は欠陥画素に該当するとして欠陥補正の対象とする。 - 特許庁

To provide an object-shape evaluating device which properly performs congruence transformation on a measurement point group and a reference point group and reducing a defect incorrect detection caused by mold correction, when detecting a defect on the basis of the shift between the reference point group and the measurement point group.例文帳に追加

測定点群と基準点群との合同変換が適正に行われるとともに、基準点群と測定点群とのずれから欠陥を検出する際に型修正に起因する欠陥誤検出が低減される物体形状評価装置を提供する。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus and a control method thereof and a program by which image quality can be improved by accurately discriminating any one of a plurality of defect factors that causes a defective pixel, and switching a correction method in accordance with the defect factor.例文帳に追加

欠陥画素が複数ある欠陥要因のうちのいずれによるものかを正確に判別し、欠陥要因に応じて補正方法を切り替えることにより画質を向上させることができる撮像装置及びその制御方法、並びにプログラムを提供する。 - 特許庁

Further, the controller 212 stores signal levels of the defective pixels, and carries out conversion of the signal level in response to each reading method so that detection of a defect by one reading method permits defect correction by a plurality of the reading methods as its control.例文帳に追加

また、コントローラ２１２は、欠陥画素の信号レベルを記憶して、各読み出し方法に応じてその信号レベルを変換することにより、１つの読み出し方法による欠陥検出によって、複数の読み出し方法の欠陥補正が行えるように制御する。 - 特許庁

In the method of correcting a photomask defect, after making an electrical continuity in an isolated pattern by a metal deposition film 7 by use of an electron beam or a helium ion beam generating from a gas field ion source, the defect 3 is corrected; and after the correction, the metal deposition film 7 is physically removed by an AFM (atomic force microscope) scratch working probe 9.例文帳に追加

電子ビームまたはガスフィールドイオン源から発生するヘリウムイオンビームを用いた金属デポジション膜7で孤立したパターンに導通を作ってから欠陥3を修正し、修正後金属デポジション膜7をAFMスクラッチ加工探針9で物理的に除去する。 - 特許庁

A device body 4 detects displacement of the workpiece W from image data on the alignment marks W1 and W2, and makes a necessary correction to data on a position where a defect has been found.例文帳に追加

装置本体４は、アライメントマークＷ１，Ｗ２の画像データからワークＷの位置ずれを検出し、欠陥の発見された位置のデータに対して必要な補正を加える。 - 特許庁

Consequently, it is not necessary to apply ink to a stylus each time ink is applied like a conventional stylus system, and the correction liquid can be deposited continuously on the white void defect part.例文帳に追加

このため、従来の針方式のように１回塗布するごとに針にインクを付け直す作業を必要とせず、白抜け欠陥部に連続して修正液を堆積させることができる。 - 特許庁

To provide an image processor, an image processing method, and a program, which appropriately make defect correction even in a pixel where color mixture occurs, and restrain an image quality from being degraded.例文帳に追加

混色が発生する画素においても、欠陥補正を適切に行うことができ、画質低下を抑制することが可能な画像処理装置、画像処理方法及びプログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a pixel defect correction device capable of accurately correcting a defective pixel in exactly real time or a small number of processing times even when there is the defective pixel among eight peripheral adjacent pixels.例文帳に追加

周囲の隣接する８画素中に欠陥画素がある場合でも、正確にリアルタイムに、若しくは、少ない処理回数で補正が可能な画素欠陥補正装置を提供する。 - 特許庁

An image processing part 30 for processing an electric signal output from an imaging element is composed of a plurality of processing blocks (1) to N such as defect pixel correction, optical black and white balance.例文帳に追加

撮像素子から出力される電気信号を処理するための画像処理部３０は、欠陥画素補正、オプティカルブラック、ホワイトバランスなど複数の処理ブロック 〜Ｎから構成される。 - 特許庁

To provide a defect correction method for correcting deformation produced in a blind-like part in a metallic thin plate having minute slit-like openings manufactured by a photo-etching method.例文帳に追加

フォトエッチング法にて製造された微細なスリット状開口部を有する金属製薄板における簾部分に生じる変形を修正するための欠陥修正方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect correction method for a distortion occurring in a reed screen type part of a thin metal sheet with very narrow slit type apertures manufactured by a photo-etching process.例文帳に追加

フォトエッチング法にて製造された微細なスリット状開口部を有する金属製薄板における簾部分に生じる変形を修正するための欠陥修正方法を提供すること。 - 特許庁

A mask defect inspecting machine obtains EB data 3 (after SUB) corresponding to OPC pattern parts by SUB-calculating the EB data 1 before OPC from the EB data 2 after optical proximity effect correction (OPC).例文帳に追加

光学近接効果補正（ＯＰＣ）後のＥＢデータ２からＯＰＣ前のＥＢデータ１をＳＵＢ演算して、ＯＰＣパターン部分に対応するＥＢデータ（ＳＵＢ後）３を得る。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a substrate capable of shortening the tact time of defect correction of a wiring pattern, and a substrate manufacturing system, and a method for manufacturing a display device.例文帳に追加

配線パターンの欠陥修正のタクトタイムを短縮することができる基板の製造方法および基板製造システム、並びにこれを用いた表示装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus that executes a defect correction processing in response to a photographing condition so as to reduce an arithmetic time performed in photographing and the power consumption.例文帳に追加

撮影条件に対応して欠陥補正の処理を実行することにより、撮影時に行う演算時間を短縮し、消費電力を低減可能とした撮像装置を提供する。 - 特許庁

The correction system employs RGB/RGB data conversion adopting matrix coefficients and places a limit on number of the conversion coefficients to avoid a defect due to excessive color conversion.例文帳に追加

色変換手段として、マトリスク係数によるＲＧＢ／ＲＧＢデータ変換を用いると共に変換係数に制限を設けて、過度な色変換による不具合が発生しないようにする。 - 特許庁

To provide an imaging device that attains effective defect correction where information of effective pixels can be utilized without waste and deterioration in the resolution cannot substantially be caused, while minimizing the deterioration in the S/N.例文帳に追加

有効画素の情報を無駄無く利用し、従ってＳＮの劣化を最小限にとどめつつ解像度の劣化を事実上生じない効果的な欠陥補正を可能にする。 - 特許庁

When there is an abnormality, according to the conditions of abnormality, a cause such as soldering defect in the related input or output terminal is estimated and abnormality is removed by correction.例文帳に追加

異常があるときには、異常の症状に応じて、関連する入力端子または出力端子のはんだ付け不良などの原因が推定され、修整して異常を取除く。 - 特許庁

To realize optimum smoothing correction by decreasing a defect of abnormality emphasized image edge by referencing pixel density data of an original image in the case of generating smoothing processing data in an image processor that applies smoothing correction to the edge part of multi- valued image data.例文帳に追加

多値画像データのエッジ部分をスムージング補正する画像処理装置において、スムージング処理データを生成する際に、原画像の画素濃度データも参照することにより、画像エッジが異常に強調される不具合を低減し、最適なスムージング補正を実現すること。 - 特許庁

Data different from data outputted by a demodulator when the amplitude of reproduction signal is lost, are arranged on the unused part of data of the 2nd error correction code, and the constitution is made so that the unused data part of the 2nd error correction code surely becomes error in the occurrence of the defect.例文帳に追加

第２のエラー訂正符号のデータ未使用部には、再生信号振幅が失われた場合に復調器が出力するデータとは異なったデータを配し、デフェクト発生時に第２のエラー訂正符号の未使用データ部が確実にエラーとなるように構成する。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus for detecting a linear defect extended in a vertical direction produced due to a potential dip of a horizontal transfer register and correcting a pixel signal of the detected linear defect when an operating temperature of a solid-state image sensor is low, and to provide a correction method of the pixel signal.例文帳に追加

固体撮像素子の動作温度が低い場合、水平転送レジスタのポテンシャルディップに起因して発生する垂直方向に延びる線状欠陥を検出し、検出された線状欠陥の画素信号を補正する撮像装置および画素信号の補正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for correcting a defect on a color filter substrate improving a defective part by locally forming a favorable transparent conductive film without damaging a periphery of a correction part when correcting it; and to provide a color filter substrate corrected by the method for correcting the defect.例文帳に追加

修正する際に修正箇所周辺に損傷を与えることなく、局所的に良好な透明導電膜の形成を行うことで、欠陥部分を良品化するカラーフィルタ基板の欠陥修正方法と、この欠陥修正方法によって修正されたカラーフィルタ基板を提供する。 - 特許庁

The digital still camera 10 includes a CCD 12 wherein pixels whose values in each of three primary colors are detected through color filters are respectively placed to each of prescribed regions and one defective pixel or below causing the temperature white defect is specified to exist in each region, and a temperature white defect correction unit 14.例文帳に追加

色フィルタを通して３原色の各色の画素値を検出する画素が所定の領域のそれぞれに配置され、温度白キズを生じる欠陥画素が各領域内に１つ以下と規定されているＣＣＤ１２と、温度白キズ補正装置１４とを備えるデジタルスチルカメラ１０。 - 特許庁

Defect position data is acquired from a plurality of kinds of examination devices such as a bus line resistance device or an electric characteristic examination device 4 and a defect examination device 3 for appearance examination and is collated in a collation part 9 to generate data obtained by narrowing down the correction objects more.例文帳に追加

バスライン抵抗装置もしくは電気的特性検査装置４、および外観検査による欠陥検査装置３など、複数種類の検査装置から欠陥位置データを取得して、照合部９にて照合することによって、修正対象をより絞り込んだデータを作成する。 - 特許庁

In the method for selecting the carbonization chamber, correction which considers a value obtained by subtracting an extrusion power value by combustion defect from a measured maximum extrusion resistance value as a maximum extrusion resistance value is carried out in the carbonization chamber causing combustion defect and having a combustion state-indicating value which is not smaller than a definite value.例文帳に追加

この際、燃焼不良が生じ、燃焼状態指標値が一定以上になっている炭化室については、実測された最大押出抵抗値から燃焼不良による押出電力値を控除したものを最大押出抵抗値と看做す補正をする。 - 特許庁