「defect correction」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a transport device that can suppress a transport defect due to curl of a sheet-like medium when the sheet-like medium is transported to be subjected to a curl correction, and to provide a recording apparatus including the transport device.例文帳に追加

カール矯正処理を施すためにシート状媒体を搬送する際に、該シート状媒体のカールに起因する搬送不良の発生を抑制することができる搬送装置及び該搬送装置を備える記録装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for correcting a pixel defect which makes the defective pixel generated in an image display device inconspicuous on an image display in order to improve the yield of products and an image display device which is subjected to correction of the defective pixel of the image display.例文帳に追加

製品の歩留まり向上のため、画像表示装置に発生する欠陥画素を画像表示上で目立たなくする画素欠陥補正方法、及び画像表示の欠陥画素が補正された画像表示装置を提供すること。 - 特許庁

Thereby, the hung-down correction paste 10 is not required to be removed by a scratch needle, and the rib-chipping defect 36 occurred in the manufacturing process of the high definition/high luminance type PDP with a small gap between the ribs can be corrected easily.例文帳に追加

したがって、垂れた修正ペースト１０をスクラッチ針で除去する必要がないので、リブ間の隙間が小さな高精細／高輝度型のＰＤＰの製造工程で発生したリブ欠け欠陥３６も容易に修正できる。 - 特許庁

To provide a defect correction method for a photomask using a scanning probe microscope, the method giving less damage on the photomask, and to provide a method for manufacturing a photomask using the method.例文帳に追加

本発明は、走査型プローブ顕微鏡を用いたフォトマスクの欠陥修正方法であって、フォトマスクへのダメージが少ないフォトマスクの欠陥修正方法、およびそれを用いたフォトマスクの製造方法を提供することを主目的とする。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus capable of carrying out defect correction respectively properly for a reading method wherein an electric charge storage time of each pixel is the same and a reading method wherein an electric charge storage time by each pixel group is different from each other.例文帳に追加

各画素の電荷蓄積時間が同じである読み出し方法と、画素群ごとに電荷蓄積時間が異なる読み出し方法についてそれぞれ適切な欠陥補正を行うことができる撮像装置を提供する。 - 特許庁

When black defects are corrected, assist gas or etching gas is introduced through an etching gas introduction system 6, and only a black defect region 3 is selectively irradiated with an charged particle beam 4 and etched as high as the height of a recess of the original plate for correction.例文帳に追加

黒欠陥修正はエッチング用ガス導入系６からアシストガスまたはエッチングガスを導入し、荷電粒子ビーム４を黒欠陥領域３のみに選択照射して原版の凹部の高さまでエッチングし黒欠陥３を修正する。 - 特許庁

The metal ring inspection apparatus having a defect inspection section for inspecting the surface defects of a metal ring after performing both of or one of perimeter correction and perimeter measurement comprises a determination reference generation means (threshold value selection section 49) for generating generating criteria for inspecting defects at the defect inspection section, on the basis of perimeter correction information or perimeter measurement information or other pieces of information related to the information.例文帳に追加

周長補正と周長測定の両方又はいずれか一方を行った後の金属リングの表面欠陥を検査する欠陥検査部を有する金属リング検査装置において、前記欠陥検査部における欠陥検査のための判定基準を、周長補正情報又は周長測定情報若しくはそれらの情報に密接に関連する他の情報に基づいて発生する判定基準発生手段（しきい値選択部４９）を備えたことを特徴とする。 - 特許庁

The circuit board 5 is held between a substrate correction tool 12 and a substrate correction guide 13 at one or more positions at least, and the circuit board 5 is heated and pressed by a semiconductor bare chip pressing tool 14 while being corrected by pressing, thereby preventing destruction of the semiconductor bare chip to be mounted later and preventing the recognition defect and erroneous recognition.例文帳に追加

回路基板５の少なくとも１箇所以上を基板矯正ツール１２と基板矯正ガイド１３で挟み込み、押圧して回路基板５の矯正を行いながら、半導体ベアチップ押圧ツール１４にて押圧し、加熱加圧を行うことにより、後から実装する半導体ベアチップの破壊防止、認識不良及び誤認識の防止が可能となる。 - 特許庁

This image defect inspection device 10 is equipped with an image alignment part 22 for detecting a sub-pixel offset amount between two images which are objects under inspection, and a correction amount determination part 25 for determining a correction amount for a gray level difference detected by a difference detection part 26 at pattern edge parts of the two images based on the detected offset amount.例文帳に追加

画像欠陥検査装置１０は、検査対象たる２つの画像のサブピクセルずれ量を検出する画像アライメント部２２と、検出したサブピクセルずれ量に基づいて、差分検出部２６により検出されるグレイレベル差の、前記の２つの画像のパターンエッジ部における補正量を決定する補正量決定部２５とを備えることとする。 - 特許庁

When data is recorded in an optical disk, recorded data is divided into blocks corresponding to integral multiple of sectors of an optical disk, an error correction code is added for each block, data to which an error correction code is added is recorded making a fragment having the prescribed size corresponding to integral multiple of a block as a unit detecting whether a defect exists in a sector to be recorded or not.例文帳に追加

光ディスクにデータを記録する際に、記録するデータを、光ディスクのセクタの整数倍に対応したブロックに分割し、ブロック毎に誤り訂正符号を付加し、誤り訂正符号が付加されたデータを、記録しようとするセクタに欠陥があるか否かを検出しながら、ブロックの整数倍に対応した所定サイズのフラグメントを単位として記録する。 - 特許庁

The system includes a correction system including the temporary substitution of a defective pixel by the linear interpolation of a nearby pixel value at the periphery of the defect pixel, the decision of a local gradient partially based on the obtained picture and a gradient kernel and the supply of a correction value based on the local gradient for correcting the defective pixel.例文帳に追加

このシステムは、欠陥ピクセル周囲の近傍ピクセル値の直線補間によって、一時的に欠陥ピクセルを置き換えること、部分的に取得画像およびグラディエント・カーネルに基づいて、局所グラディエントを決定すること、および欠陥ピクセルを訂正するために局所グラディエントに基づいた補正値を提供することを含む、訂正方式を含む。 - 特許庁

To provide a shading correction method wherein, in detection of surface defects using an image, a part or all of a large-area defect flatly extending over a wide range on a surface to be inspected is not removed from an image by correction, and no rebounding phenomenon occurs in the corrected image in the vicinity of a boundary between the inside and outside of the target to be inspected.例文帳に追加

画像を用いた表面欠陥検出に際し、検査対象表面上の広い範囲に平坦に広がる大面積欠陥が補正によって画像からその一部または全体が除去されず、かつ検査対象内と外との境界部付近において補正された画像に跳ね返り現象が発生しないシェーディング補正方法を提供すること。 - 特許庁

To obtain high accuracy machining, safe work, defect-free and inexpensive mechanical technology for a machine tool even if the machine tool is easily affected by various natural environment different in every country, regarding a correction method of a machining error due to thermal deformation of the machine tool.例文帳に追加

工作機械の熱変形による加工誤差の補正方法に関し、各国で異なる自然環境の影響を受けやすい工作機械であっても、高精度な加工、安全な作業、不具合の工作機械、安価な機械の技術を得る。 - 特許庁

To provide an information storage medium capable of reading defect managing information stored in DMA even when errors of an ECC block unit are caused exceeding its error correction capability and preventing user data from disapearing.例文帳に追加

ＥＣＣブロック単位でのエラーがその誤り訂正能力を超えて発生した場合であってもＤＭＡに記憶されている欠陥管理情報を読み出すことを可能とし、ユーザデータの消失を防止することができる情報記憶媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device in which the probability of correction of a defect in a display area is improved by lowering the probability of occurrence of a short circuit at crossing parts of rescue wiring and signal lines of the liquid crystal display device provided with thin film transistors.例文帳に追加

薄膜トランジスタを備えた液晶表示装置のレスキュー配線と信号線の交差部での短絡の発生確率を低下させ、表示領域の欠陥の修正が可能となる確率を向上させた液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a means capable of efficiently repairing a fine casting defect formed in a disk of a vehicular wheel without conducting correction processes by filling putty, sandpapering and using a lathe or without applying large load to these processes.例文帳に追加

パテ埋めやペーパーがけや旋盤による修正加工を行わずに、又はこれらの作業に大きな負担をかけずに、効率よく、車両用ホイールのディスクに生じた微小鋳造欠陥を修復することが可能な手段を提供すること。 - 特許庁

Accordingly, an adjacent defective pixel conventionally treated under defect correction or the like as an abnormal pixel can be utilized as a normal pixel, thus enabling improvement of image quality of an obtained radiograph image without losing pixel information of an analyte.例文帳に追加

そのため、異常画素として欠陥補正されるなどして扱われていた隣接欠陥画素を正常画素として利用できるので、被検体の画素情報を失うことなく、取得された放射線画像の画質を向上させることができる。 - 特許庁

An x-ray imaging device has an adjacent defect correction unit 55 that replaces each adjacent defective pixel in which a pixel value obtained between a plurality of adjacent pixels fluctuates temporally, to an pixel value averaged by pixel values of adjacent defective pixels.例文帳に追加

Ｘ線撮像装置は、隣接する複数の画素間で得られる画素値が時間的に変動する隣接欠陥画素を、この隣接欠陥画素の各画素値で平均化した画素値にそれぞれ置き換える隣接欠陥補正部５５を備えている。 - 特許庁

When the target pixel is a defective pixel, a median (binary) calculation section 145 calualtes a median from two medians obtained from the pixel values of the eight surrounding pixels, and the defect correction section 144 corrects the pixel value of the target pixel by using the median.例文帳に追加

注目画素が欠陥画素のとき、中間値（２値）算出部１４５において周囲８画素の画素値から求められた２個の中間値から中央値を算出し、欠陥補正部１４４は、注目画素の画素値をこの中央値を用いて補正する。 - 特許庁

To provide an imaging device that attains effective defect correction where deterioration in the resolution cannot substantially be caused by utilizing information of effective pixels without waste, so as to minimize the deterioration in the S/N, without the need for provision of a complicated hardware circuit needing much load.例文帳に追加

複雑な負担の大きいハード回路を要することなく、また有効画素の情報を無駄無く利用し、従ってＳＮの劣化を最小限にとどめつつ解像度の劣化を事実上生じない効果的な欠陥補正を可能にする。 - 特許庁

In order to control the entire system of a video camera, a CPU 11 is provided with a key input part 12, an EEPROM control part 13, a defect detection/correction information preparation part 14, a camera signal control part 15, a TG control part 16 and a diaphragm control part 17.例文帳に追加

ビデオカメラのシステム全体を制御するためにＣＰＵ１１は、キー入力部１２、ＥＥＰＲＯＭ制御部１３、欠陥検出・補正情報作成部１４、カメラ信号制御部１５、ＴＧ制御部１６、絞り制御部１７を有している。 - 特許庁

A pixel detection circuit 113 has a function of discriminating pixel signals configuring the image signal and performs the detection processing of the defective pixel and detection processing of the optional pixel replaced by the defect correction circuit 114 similarly to prior arts.例文帳に追加

画素検出回路１１３は、画像信号を構成する個々の画素信号を判定する機能を有し、従来と同様の欠陥画素の検出処理と、欠陥補正回路１１４によって置換された任意の画素の検出処理とを行う。 - 特許庁

The defect correction method of the color filters comprises a pattern transfer step of transferring at least a portion of two or more colors of color patterns on a colored image missing area on a substrate by using a transfer film having the color patterns.例文帳に追加

カラーフィルタの欠陥修正方法において、基板上の着色画像欠落領域に、２色以上の色パターンを有する転写フィルムを用いて前記色パターンの少なくとも一部を転写するパターン転写工程を設けて構成されている。 - 特許庁

To provide a display device which has a test circuit, having high accuracy of testing, after a counter substrate jointing stage and before shipment, and a display device which has a correction circuit in itself, when there is a defect.例文帳に追加

対向基板貼り合わせ工程後及び出荷前検査において、確度の高い検査回路を有する表示装置、また不良が発生した場合の表示装置内部における補正回路を具備する表示装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a color correction program for producing visual information, public display objects and information media widely seen by the general public with a universal design by uniformly improving color visibility even without considering the possibility, type and level of a defect in color perception.例文帳に追加

色覚障害の有無、種別、程度を個別に考慮しなくても、統一的に配色の視認性を改善し、広く一般の人々が目にする視覚情報、公共の表示物、情報メディアをユニバーサルデザイン化する色修正プログラムを提供する。 - 特許庁

The mask pattern correction method includes the steps of: acquiring three-dimensional information of a first portion where no black defect is present in a pattern edge of a mask pattern 5 by using a scanning probe microscope; and correcting a second portion where a black defect 2 is present in the pattern edge of the mask pattern 1 based on the three-dimensional information by using the probe of the scanning probe microscope.例文帳に追加

マスクパターン修正方法は、マスクパターン５のパターンエッジに黒欠陥が存在しない第１の部分の３次元情報を走査型プローブ顕微鏡を用いて取得するステップと、前記３次元情報に基づいてマスクパターン１のパターンエッジに黒欠陥２が存在する第２の部分を前記走査型プローブ顕微鏡のプローブを用いて修正を行うステップとを含む。 - 特許庁

In the method of correcting color material having a defect part formed on a substrate of a color filter, a through-hole is formed by removing the color material so as to include the defect part of the color material and is tapered gradually from an edge side toward the substrate side, and color material for correction is impregnated into the through-hole and is cured.例文帳に追加

カラーフィルタの基材上に設けられた欠陥部を有する色材を修正するための方法であって、前記色材の欠陥部を含むようにして、一端側から前記基材側に向かって漸次先細りとなるように、前記色材を除去して貫通孔を形成し、前記貫通孔に、修正用の色材を注入して硬化させることを特徴とする。 - 特許庁

Further, the color filter defect correcting device sticks ink on the stylus tip of the stylus for color filter defect correction, having the water-repellent part nearby the stylus tip by dipping the stylus tip in the ink, applies the ink by bringing the stylus tip into contact with the defective part of the color filter, and dips the stylus tip in cleaning liquid to clean it.例文帳に追加

また針先端の近くに撥水加工を施した部分が形成されているカラーフィルタ欠陥修正用針の前記針先端をインクに浸漬して前記針先端にインクを付着させ、カラーフィルタの欠陥箇所に前記針先端を接触することによりインクを塗布し、前記針先端を洗浄液に浸漬して洗浄するように構成したカラーフィルタ欠陥修正装置。 - 特許庁

In the pattern correcting method, when correction paste 7 is applied to an open defect portion 2a of an electrode 2 using a film 3 with a hole 3a as a mask, the thickness Ft of the film 3 and the short-axis length Sw of the hole 3a are so related that Ft>Sw.例文帳に追加

このパターン修正方法では、孔３ａの開いたフィルム３をマスクとして電極２のオープン欠陥部２ａに修正ペースト７を塗布する場合に、フィルム３の厚さＦｔと孔３ａの短軸長Ｓｗとの関係をＦｔ＞Ｓｗにする。 - 特許庁

In the correction method of a photomask, a light shielding part and a light transmitting part are formed on one side surface of the substrate with the prescribed pattern and, further, the defect on the surface of the opposite side to the surface on which the pattern is formed is filled with transparent resin.例文帳に追加

基板の片面に、遮光部と透光部が所定のパターンで形成されたフォトマスクの修正方法であって、パターンが形成された面の反対側の面上の欠点を透明樹脂で充填することを特徴とするフォトマスクの修正方法。 - 特許庁

To make high-quality correction of a defect possible even in a fine region where an etching gas or a source gas of a light-shielding film can not be efficiently supplied, without causing decrease in transmittance due to a Ga stain or changes in physical properties due to changes in the element content of the light-shielding film.例文帳に追加

エッチングガスや遮光膜原料ガスを効率的に供給できない微細領域でもＧａステインによる透過率の低下や遮光膜の元素含有量の変化による物性の変化が起こらない高品位な欠陥修正を可能にする。 - 特許庁

To provide an exposure correction arithmetic unit which corrects image data so that an exposure defect due to a flare or the like is suppressed in an exposure device which performs exposure to an image by irradiating a photosensitive material with a light beam by modulating the intensity of the light beam according to the image data.例文帳に追加

画像データに応じて光ビームの強度を変調させて感光材料に照射し、画像の露光を行う露光装置において、フレアなどによる露光不良を抑制するように画像データの補正を行う露光補正演算装置を提供する。 - 特許庁

When too high transmittance is obtained in the correction of a white defect by depositing an electron beam CVD film 6 of tetramethoxysilane in a halftone phase shift mask, a focused ion beam CVD film or an electron beam CVD film using a carbon-based source gas having low transmittance is further deposited to control the transmittance.例文帳に追加

ハーフトーン型位相シフトマスクのテトラメトキシシランの電子ビームCVD膜６の白欠陥修正で透過率が高すぎる場合には透過率の低い炭素系の原料ガスを用いた集束イオンビームCVD膜または電子ビームCVD膜を積層して透過率を調整する。 - 特許庁

To eliminate the adverse influence that the dimensional fluctuation of a resist pattern induced by consequence of the degradation in the transmittance of a defect correction portion exerts on device quality when a design pattern dimension is reduced like, for example, about 1 μm in the dimension value on the photomask.例文帳に追加

デザインパターン寸法がフォトマスク上の寸法値で例えば約１μｍという様に縮小されるときに、欠陥修正部分の透過率低下に起因して生じるレジストパターンの寸法変動がデバイス品質に悪影響を及ぼす点を改善する。 - 特許庁

In the pattern correction method, correcting ink 7 is heated by a heater 10 to make the thickness uniform, after applying the correcting ink 7 onto a white defect 6a of a pixel 6 of a liquid crystal color filter substrate 1, and a viscosity of the correcting ink 7 is reduced.例文帳に追加

このパターン修正方法では、液晶カラーフィルタ基板１の画素６の白欠陥６ａに修正インク７を塗布した後、修正インク７の厚みが均一になるように、加熱装置１０によって修正インク７を加熱し、修正インク７の粘度を低下させる。 - 特許庁

To provide an image pickup device capable of performing correction coping with an increase in flaws by the secular change of a solid-state image pickup device and temperature rise by detecting an image defect position on the solid-state image pickup device and occasionally updating the detection position information.例文帳に追加

従来は固体撮像素子の経年変化による画素欠陥や、製品内部の温度上昇、あるいは低輝度撮像時に映像信号の増幅率が増加した場合等、後天的な原因に基づく画素欠陥によるキズによる補正が難しい。 - 特許庁

Then, in image output processing, whether the pixel number of an image pickup pixel read sequentially is stored in the memory space block 10 is judged, and in the case that it is stored in the memory space block 10, the pixel signal of the defective pixel is corrected by using the defect level, the pixel signal before correction is replaced with the pixel signal after the correction, which is then outputted.例文帳に追加

次に、画像出力処理においては、順番に読み出される撮像画素の画素番号がメモリ空間ブロック１０に格納されているか否かを判定していき、メモリ空間ブロック１０に格納されている場合には、その欠陥レベルを用いて欠陥画素の画素信号の補正を行い、補正前の画素信号を補正後の画素信号で置き換えて出力する。 - 特許庁

To provide a correcting method by which a deposition layer where both an opening end part and a top end part are formed generates no thickness difference, top realize correction of white deface by which a local part does not become very fat and further to provide a correcting method by which a long beam-shaped body can be formed in correction of white defect in a silicon stencil by deposition using focusing ion beams.例文帳に追加

本発明の課題は、シリコンステンシルの白欠陥を集束イオンビームを用いたデポジションによって修正するものにおいて、開口端部も先端部も形成されるデポ層に厚さの差がでない修正方法を提供し、局部がむやみに厚くならない白欠陥を修正を実現すること、また、長い梁状体を形成できる修正方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a coating defect correcting apparatus, in which the correction of coating ununiformity occurring in the continuous coating of a flexible belt like body with a coating liquid with a prescribed thickness by a coating utensil is surely and quickly performed without a user's touching at the flexible belt like body directly.例文帳に追加

塗布工具により可撓性帯状体に塗布液を所定の厚さに連続的に塗布する際に発生する塗布むらの修正を作業者が可撓性帯状体に直接に触れることなく確実かつ迅速に行うことができる塗布不良修正装置を提供する。 - 特許庁

To provide a windmill blade and a method for manufacturing the same, shortening the time for correction of malfunction and lamination work by suppressing manufacturing defect generation such as misalignment and crease of fiber when manufacturing the windmill blade with a spar cap interposed between the layers of an outer skin or in the inner side thereof.例文帳に追加

外皮の層間または内側にスパーキャップを介装した風車翼の製造時において、ずれや繊維の皺などの製造欠陥の発生を抑制し、かかる不具合の修正や積層作業の時間を短縮可能にした、風車翼及びこれの製造方法を提供する。 - 特許庁

A CCD 105 is provided with a summing read function, that reads pixel information of unit pixel while summing the pixel information items and with a pixel information correction function that corrects the pixel information after summation based on unit pixel defect information stored in an EEPROM 112.例文帳に追加

ＣＣＤ１０５に対して単位画素の画素情報を複数個加算しつつ読み出す加算読み出し機能と、ＥＥＰＲＯＭ１１２に記憶されている単位画素欠陥情報に基づいて加算後の画素情報に対する補正を行う画素情報補正機能が設けられている。 - 特許庁

To eliminate a defect in a paper sheet feeding system that a sag is generated in transfer paper when a stopper located in a position to regulate a tip of the transfer paper is pushed aside by the transfer paper to require skew correction, by providing, energizedly to be freely rotatable, a stopper for the tip of the transfer paper on a register roller shaft normally rotated.例文帳に追加

常時回転するレジストローラの軸上に転写紙の先端のストッパを回動自在に付勢して設け、転写紙先端を規制する位置にあるストッパを転写紙が押しのける時に転写紙にたるみができ、スキュー補正をする給紙方式の欠点を解消する。 - 特許庁

By using the dark image data captured by the dark data capturing processing and conducting correction arithmetic processing, the photographed image data can be corrected with respect to image quality deterioration such as a dark current noise generated from an image pickup element and a pixel defect due to a flaw specific to the image pickup element.例文帳に追加

このダーク取り込み処理で取り込んだダーク画像データを用いて補正演算処理を行うことにより、撮像素子の発生する暗電流ノイズや撮像素子固有のキズによる画素欠損等の画質劣化に関して、撮影した画像データを補正することができる。 - 特許庁

To provide an image processing method and an image processor which accurately detect the number of defective pixels existing in an imaging device, not only the total number of the defective pixels but also the number of the defective pixels for each range of a signal level, and which minimize adverse effects of the defective pixel on picture quality and provide a suitable pixel defect correction signal.例文帳に追加

撮像素子に存在する欠陥画素の個数をその総数のみならず信号レベルの範囲毎に正確に検出し、画質に与える悪影響を最小限に抑え良好な画素欠陥補正信号を得る画像処理方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for performing batch restoration over a whole plane of a substrate without causing shape differences, property differences of a defect correction portion and a normal portion and without performing local application, exposure, development, washing, and thermosetting in the restoration of a partition defective part of a flat panel display.例文帳に追加

フラットパネルディスプレイの隔壁欠陥部の修復において、欠陥修正箇所と正常箇所の形状差、特性差を生じることなく、欠陥修復箇所に対して局所塗布、露光、現像、洗浄、熱硬化を行うことなく、基板全面に亘り一括修復を行う方法を提供すること。 - 特許庁