「defect correction」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

DEFECT DETECTING APPARATUS AND DEFECT DETECTING METHOD FOR SOLID-STATE IMAGING ELEMENT, DEFECT CORRECTION APPARATUS AND DEFECT CORRECTION METHOD, AND IMAGING APPARATUS例文帳に追加

固体撮像素子の欠陥検出装置および欠陥検出方法、欠陥補正装置および欠陥補正方法ならびに撮像装置 - 特許庁

STYLUS FOR COLOR FILTER DEFECT CORRECTION, AND COLOR FILTER DEFECT CORRECTING DEVICE例文帳に追加

カラーフィルタ欠陥修正用針およびカラーフィルタ欠陥修正装置 - 特許庁

APPLICATION MECHANISM OF CORRECTION LIQUID AND DEFECT CORRECTION DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

修正液塗布機構およびそれを用いた欠陥修正装置 - 特許庁

CORRECTION METHOD AND CORRECTION COLOR FOR DEFECT PART OF COLOR FILTER PATTERN例文帳に追加

カラーフィルターのパターン欠陥部の補修方法および補修用カラー - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING BLACK DEFECT OF MASK CORRECTION APPARATUS例文帳に追加

マスク修正装置の黒欠陥修正方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DEFECT CORRECTION例文帳に追加

欠陥修正装置および欠陥修正方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DEFECT CORRECTION例文帳に追加

欠陥修正装置及び欠陥修正方法 - 特許庁

DEFECT CORRECTION METHOD AND CORRECTING DEVICE例文帳に追加

欠陥修正方法および欠陥修正装置 - 特許庁

DEFECT CORRECTION DEVICE FOR PATTERN SUBSTRATE, DEFECT CORRECTION METHOD THEREFOR, AND METHOD OF MANUFACTURING PATTERN SUBSTRATE例文帳に追加

パターン基板の欠陥修正装置及び欠陥修正方法並びにパターン基板製造方法 - 特許庁

CORRECTION DEVICE FOR DEFECT AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

欠陥の修正装置及びその修正方法 - 特許庁

DEFECT CORRECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

欠陥修正方法および欠陥修正装置 - 特許庁

DEFECT CORRECTION METHOD FOR PHOTOMASK HAVING GRADATION例文帳に追加

階調をもつフォトマスクの欠陥修正方法 - 特許庁

Subsequently, the defect correcting apparatus selects the defect correction method, according to the specified requirements by reading the defect correction methods from the database, on the basis of a location of the detected defect on the wiring board to perform defect correction, in accordance with selected defect correction method.例文帳に追加

そして、検出された欠陥の配線基板内における位置に基づいてデータベースから欠陥修正手法を読み出して所定の条件に従い選定し、選定された欠陥修正手法に基づき欠陥の修正を実行する。 - 特許庁

After that, the control unit reads out a defect correction method in accordance with the decision results from a database in which defect correction methods are accumulated, and controls a defect correction unit performing correction of the defect utilizing the read out defect correction method.例文帳に追加

その後、制御部が、判定結果に応じた欠陥修正手法を、欠陥修正手法が蓄積されているデータベースから読み出し、読み出した欠陥修正手法を利用して欠陥の修正を実行する欠陥修正部を制御する。 - 特許庁

SECONDARY PROCESSING METHOD FOR CORRECTION POINT OF PHOTOMASK DEFECT例文帳に追加

フォトマスク欠陥修正個所の二次処理方法 - 特許庁

SOLID-STATE IMAGE PICKUP DEVICE, PIXEL DEFECT INSPECTION DEVICE AND PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加

固体撮像装置、画素欠陥検査装置および画素欠陥補正方法 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF PHOTOMASK, MANUFACTURING METHOD, AND DEFECT CORRECTION DEVICE例文帳に追加

フォトマスクの欠陥修正方法、製造方法および欠陥修正装置 - 特許庁

DEFECT CORRECTION METHOD FOR HALFTONE MASK AND HALFTONE MASK WITH CORRECTED DEFECT例文帳に追加

ハーフトーンマスクの欠陥修正方法及び欠陥が修正されたハーフトーンマスク - 特許庁

To provide a defect correction method to locate and appropriately fix a small defect in a defect correction process of a photomask; a defect correction system of a photomask; and a defect correction program of a photomask.例文帳に追加

フォトマスクの欠陥修正工程において微小な欠陥の位置を特定し、適切に修正することが可能となるフォトマスクの欠陥修正方法、フォトマスクの欠陥修正システム及びフォトマスクの欠陥修正プログラムを提供する。 - 特許庁

CORRECTION DEVICE FOR DEFECT PIXEL DATA FOR SOLID-STATE IMAGE PICKUP ELEMENT例文帳に追加

固体撮像素子の欠陥画素データ補正装置 - 特許庁

To remove a defect derived from a correction pattern in a defect inspection of a photomask having the correction pattern.例文帳に追加

補正パターンを有するフォトマスクの欠陥検査において、補正パターンに由来する欠陥を除外すること。 - 特許庁

DEFECT PIXEL DETECTION METHOD FOR SOLID-STATE IMAGE PICKUP ELEMENT AND PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加

固体撮像素子の欠陥画素検出方法および画素欠陥補正方法 - 特許庁

Then, the defect position detected by the defect detector 2 is corrected with the use of the defect position correction expression.例文帳に追加

続いて、欠陥位置補正式を用いて、欠陥検出装置２で検出した欠陥位置を補正する。 - 特許庁

DEFECT CORRECTION METHOD AND MANUFACTURING METHOD FOR PHOTOMASK例文帳に追加

フォトマスクの欠陥修正方法および製造方法 - 特許庁

DEFECT CORRECTION APPARATUS AND METHOD FOR SOLID-STATE IMAGING DEVICE例文帳に追加

固体撮像素子の欠陥補正装置及び方法 - 特許庁

LIQUID CONTAINER ATTACHING AND DETACHING APPARATUS AND DEFECT CORRECTION APPARATUS例文帳に追加

液体容器着脱装置および欠陥修正装置 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL, AND PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD THEREFOR例文帳に追加

液晶ディスプレイパネル及びその画素欠陥修正方法 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL PANEL, AND DEFECT CORRECTION METHOD THEREFOR例文帳に追加

液晶パネルおよび液晶パネルの欠陥修正方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION CORRECTION DEVICE IN IMAGE INPUT DEVICE例文帳に追加

画像入力装置における欠陥検出補正装置 - 特許庁

CORRECTION OF SURFACE DEFECT BY INFRARED REFLECTION SCANNING例文帳に追加

赤外線反射走査による表面欠陥の修正 - 特許庁

PIXEL DEFECT SIGNAL CORRECTION CIRCUIT FOR CCD IMAGE PICKUP ELEMENT例文帳に追加

ＣＣＤ撮像素子の画素欠陥信号補正回路 - 特許庁

To improve quality of defect correction, while greatly enhancing efficiency of work in a defect correction process.例文帳に追加

欠陥修正工程の作業効率を著しく向上させつつ、欠陥修正の品質を向上させる。 - 特許庁

DEFECT DETECTING DEVICE, SENSITIVITY CORRECTION METHOD THEREOF, SUBSTRATE FOR DEFECT DETECTION SENSITIVITY CORRECTION, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

欠陥検査装置及びその感度校正方法、欠陥検出感度校正用基板及びその製造方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOMASK, METHOD FOR DETERMINING POSITION OF PHOTOMASK DEFECT CORRECTION, AND APPARATUS FOR DETERMINING POSITION OF PHOTOMASK DEFECT CORRECTION例文帳に追加

フォトマスク製造方法、フォトマスク欠陥修正箇所判定方法、及びフォトマスク欠陥修正箇所判定装置 - 特許庁

SHADING CORRECTION METHOD IN SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

表面欠陥検査装置におけるシェーディング補正方法 - 特許庁

POINT DEFECT CORRECTION DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF LIQUID CRYSTAL DEVICE例文帳に追加

点欠陥修正装置、液晶装置の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, PRODUCTION AND DEFECT CORRECTION APPARATUS例文帳に追加

アクティブマトリクス基板の欠陥修正方法、製造方法及び欠陥修正装置 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF EXPOSURE MASK, DEFECT ACCEPTABILITY DETERMINATION METHOD AND DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加

露光用マスクの製造方法、欠陥合否判定方法、及び欠陥修正方法 - 特許庁

To provide a defect correction method for a liquid crystal panel, the method correcting a defect.例文帳に追加

欠陥修正を簡便に行う液晶パネルの欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

The read defect correction method is superimposed with the defect image 34 and displayed.例文帳に追加

読み出した欠陥修正方法は、欠陥画像３４と重ねて表示装置に表示する。 - 特許庁

Then, a defect correction part for executing correction of the defects is controlled by using the defect correction method where the size and the application sequence have been optimized.例文帳に追加

そして、サイズと適用順が最適化された欠陥修正手法を利用して欠陥の修正を実行する欠陥修正部を制御する。 - 特許庁

To provide an imaging device, a defect correction apparatus, a defect correction method, and a program, which perform correction processing of image data with high accuracy.例文帳に追加

画像データの補正処理を高精度で行うことができる撮像装置、欠陥補正装置、欠陥補正方法及びプログラムを提供すること。 - 特許庁

A size of an object included in the read defect correction method and a correction execution sequence are optimized for the defect correction device.例文帳に追加

次に、読み出した欠陥修正手法に含まれるオブジェクトのサイズと修正実行順を当該欠陥修正装置に対して最適化する。 - 特許庁

IMAGE CORRECTION DEVICE, PATTERN TEST DEVICE, IMAGE CORRECTION METHOD, AND PATTERN DEFECT TEST METHOD例文帳に追加

画像補正装置、パターン検査装置、画像補正方法、及び、パターン欠陥検査方法 - 特許庁

A pixel defect correction unit 17 corrects image signals at the calculated correction position.例文帳に追加

画素欠陥補正部１７は、算出された補正位置の画像信号を補正する。 - 特許庁