「defect inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(22ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a defect inspection method used for determining an appropriate threshold value in counting defects.例文帳に追加

欠陥を計数する際の適正なしきい値を決定する欠陥検査方法を提供することである。 - 特許庁

An image high in resolution and reduced in a noise on the defect inspection is thereby detected.例文帳に追加

これにより、解像度が高く、欠陥検査上のノイズも低減した画像を検出することを可能にした。 - 特許庁

To precisely determine the quality of an inspection target by accurately detecting the presence of a defect.例文帳に追加

欠陥の有無を正確に検出し、検査対象物が良品であるか否かを精度よく判定する。 - 特許庁

To simply and exactly detect a defect, etc. of an inspection object without using a thick correction jig.例文帳に追加

肉厚補正治具を使用することなく簡易かつ正確に検査対象物の欠陥等を検出する。 - 特許庁

The surface defect inspection device comprises: the illumination part 3 equipped with a plurality of light emission elements 30; the imaging camera 4 for photographing the inspection part illuminated by the irradiation light by the illumination part 3; and the defect evaluation means for detecting the defect on the inspection surface by evaluating the output signal of the imaging camera 4.例文帳に追加

複数の発光素子３０を有する照明部３と、この照明部３による照射光によって照明された被検査面を撮像する撮像カメラ４と、撮像カメラ４の出力信号を評価して被検査面における欠陥を検知する欠陥評価手段とを備えた表面欠陥検査装置。 - 特許庁

To significantly improve the accuracy of inspection by improving the capability to extract a defect near an edge.例文帳に追加

エッジ付近の欠陥を抽出する能力を高めることで、検査の精度を大幅に向上する。 - 特許庁

To detect abnormality of coating development processing equipment through surface defect inspection more accurately and speedily.例文帳に追加

表面欠陥検査に基づく塗布現像処理装置の異常検出をより正確により迅速に行う。 - 特許庁

To provide inspection device of defect for detecting defects on glass surfaces of solar battery panels with full accuracy.例文帳に追加

太陽電池パネルのガラス表面上のキズを精度良く検出するキズ検査装置を提供する。 - 特許庁

For nothing is so beautiful but that it betrays some defect on close inspection.例文帳に追加

なぜならば、精密に検査しても何か欠点が現れないほど美しいものは存在しないからである。 - Tatoeba例文

To provide a lithography apparatus which is favorable in terms of the short defect inspection time of a blanking deflector array.例文帳に追加

ブランキング偏向器アレイの欠陥検査時間の短さの点で有利な描画装置を提供する。 - 特許庁

The defect inspection device 21 is equipped with an illumination device 22, a camera 23 and a image processor 24.例文帳に追加

不良検査装置２１は、照明装置２２、カメラ２３及び画像処理装置２４等を備えている。 - 特許庁

To provide an inspection method for highly precisely inspecting a defect caused by dynamic characteristics of a liquid crystal display panel.例文帳に追加

液晶表示パネルの動的特性に基づく欠陥を、精度よく検査する方法等を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection device capable of freely setting an incident angle so as to form an optimum observation condition to each defect or pattern on a subject and further freely setting an incident direction to perform an accurate defect inspection.例文帳に追加

被検体上の各欠陥やパターンに対して最適な観察条件となるように入射角度を自由に設定でき、又これに加えて入射方向を自由に設定でき、精度の高い欠陥検査が可能となる表面欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

A defect extraction part 13 discriminates defects in inspection target regions including the secondary defect candidate region, using a difference between a gradation value of picture elements in the secondary defect candidate region and a gradation value of picture elements around the secondary defect candidate region.例文帳に追加

欠陥抽出部１３は、二次欠陥候補領域を含む検査対象領域において二次欠陥候補領域に含まれる画素の濃淡値と二次欠陥候補領域の周辺の画素の濃淡値との差分を用いて欠陥を判別する。 - 特許庁

A defect analyzing apparatus 10 comprises an inspection information acquirer 11 for acquiring a defect observation image P2 in a semiconductor device, a layout information acquirer 12 for acquiring layout information, and a defect analyzer 13 for analyzing a defect.例文帳に追加

半導体デバイスの不良観察画像Ｐ２を取得する検査情報取得部１１と、レイアウト情報を取得するレイアウト情報取得部１２と、不良解析を行う不良解析部１３とによって不良解析装置１０を構成する。 - 特許庁

A common inspection slice value 10 in all measuring channels of the defect inspection device, measuring channel correction values 11 which are the correction values for every measuring channel, and inspection head correction values 12 which are the correction values for every inspection head, are added by adders 14 to obtain an actual inspection slice value 15.例文帳に追加

欠陥検査装置の全測定チャネルで共通の検査スライス値１０と，測定チャネルごとの補正値である測定チャネル補正値１１と，検査ヘッドごとの補正値である検査ヘッド補正値１２とを加算器１４で加算して実際の検査スライス値１５を得る。 - 特許庁

Further, a semiconductor device 1A which does not have passed the continuity inspection is disassemble in the disassembling step (d) and the cause of a defect is found through subsequent inspection.例文帳に追加

また、導通検査が不合格の半導体装置１Ａは分解工程ｄにおいて分解され、その後の検査で不良原因が明らかになる。 - 特許庁

To provide a hologram laminate which is excellent in visibility, which facilitates discovery of a defect in inspection and has high inspection efficiency and which is excellent in the design properties on the occasion of marketing.例文帳に追加

視認性にすぐれ、検査時に欠陥の発見が容易で検査効率が高く、また、販売時の意匠性が良好なホログラム積層体を提供する。 - 特許庁

To provide a speedy circuit pattern inspection method and a device thereof which have short inspection preparation time and can perform defect determination by image detection for one die.例文帳に追加

検査準備時間が短く、１ダイの画像検出のみで欠陥判定のできる高速な回路パターン検査方式とその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for dispensing with gain adjustment of each camera by enabling stable inspection in common threshold setting in a plurality of different imaging systems.例文帳に追加

異なる複数の撮像系において、共通の閾値設定で安定した検査ができ、各カメラでのゲイン調整を不要とした欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

To securely detect a defect of an electronic component module used for a portable telephone, a GPS receiver, etc., at its final inspection stage (electric inspection).例文帳に追加

携帯電話やＧＰＳ受信機などに用いられる電子部品モジュールにおいて、その不良を最終的な検査工程（電気検査）において確実に検出する。 - 特許庁

To provide a piping inspection device in which inspection of a defect of the piping is easily executed with simple work at a desired part of an inner face of a pipe even such the piping with a small diameter.例文帳に追加

簡単な作業で、小径の配管でも、管内面の所望箇所において配管の欠陥部を検査し易い配管検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a nozzle visual inspection apparatus capable of accurately identifying the position of a defect that occurs in a nozzle hole at low costs, and a nozzle visual inspection method.例文帳に追加

低コストでノズル穴に生じる不良箇所を精度よく特定可能なノズル外観検査装置、およびノズル外観検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device for a display device capable of easily detecting a defect and discriminating the kind of a flaw.例文帳に追加

不良の検出及び欠陥の種類の判別を容易に行うことができるようにした表示装置の検査方法及び検査用装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method of a steel plate deck capable of certainly and speedily inspecting a defect of the steel plate deck with a simple constitution, and an inspection device used for this.例文帳に追加

簡素な構成で確実且つ高速に鋼床版の欠陥を検査可能な鋼床版の検査方法及びこれに用いる検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus and a method of inspecting defects for precisely inspecting defects even if an inspection region is not divided in a width direction.例文帳に追加

幅方向に検査領域を分割しなくても精度良く検査することができる欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide an inspection method for a photomask and an inspection apparatus for a photomask, for determining a defect of a photomask for double patterning and verifying a degree of influences by defects.例文帳に追加

ダブルパターニング用フォトマスクの欠陥判定及び欠陥影響度を検証するフォトマスクの検査方法及びフォトマスクの検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus and an inspection method capable of accurately and simply detecting a radial defect in a magnetic tape wound around a tape reel.例文帳に追加

テープリールに巻回した磁気テープの放射状の欠陥を正確且つ簡便に検出することができる磁気テープの検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To shorten the time for a visual inspection by an inspector by digitizing the result of the inspection of the distribution of the defect of a semiconductor element by analyzing the distribution by a computer.例文帳に追加

半導体素子の欠陥の分布をコンピュータで解析してその検査結果を数値化し、検査員による目視検査の時間を短縮する。 - 特許庁

To improve inspection precision of a PTP sheet by reducing effects of continuous mesh on the surface of the PTP sheet on defect inspection of the sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの表面上にある連続的なメッシュがシートの欠陥検査に及ぼす影響を少なくし、ＰＴＰシートの検査の精度を上げることができる。 - 特許庁

To provide a method for defect inspection of a hollow fiber membrane module which enables the inspection of the hollow fiber membrane module for leakage with an excellent precision in a short time.例文帳に追加

中空糸膜モジュールにおけるリークの有無の検査を精度よく短時間で行うことができる中空糸膜モジュールの欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

An influence of the deformation of the inspection image caused by fluctuation of the image picking-up environment is removed to discriminate the inherent defect in the inspection image.例文帳に追加

撮像環境の変動による検査画像の変形の影響を除去して検査画像の本質的な欠陥を区別することが可能になる。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for a magnetic tape capable of identifying foreign matter as well as detecting a flaw on the magnetic tape with a nondestructive inspection.例文帳に追加

非破壊検査により磁気テープの傷の検出に加えて異物の特定も可能な磁気テープの欠陥検査装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an inspection device and an inspection method of a capillary array sheet capable of detecting surely a gel defect of a through hole of the capillary array sheet.例文帳に追加

キャピラリー・アレイ・シートの貫通孔のゲル欠陥を確実に検出することができるキャピラリー・アレイ・シートの検査装置及び検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device and a defect inspection method that efficiently adjusts a plurality of secondary electron beams.例文帳に追加

複数本の二次電子ビーム調整を、効率良く実施することのできる半導体検査装置および欠陥検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for which a threshold can be set so as to match an illuminance distribution of inspection light detected by a detection optical system.例文帳に追加

検出光学系で検出された検査光の照度分布に適合するようにしきい値の設定が可能な欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

The tool defect inspection device includes a backface reflecting plate 22 for reflecting an irradiation light emitted from the ring illumination 32 in a backface side of the inspection image of the work 12 and in the periphery thereof.例文帳に追加

リング照明３２から照射された照射光を、ワーク１２の検査面の背面側及び周囲で反射させる背面反射板２２を備える。 - 特許庁

The inspection unit 2 comprises a complement electrode pair 22 that detects a defect against a conductive pattern portion that faces an electrode of an inspection electrode pair 21.例文帳に追加

検査部２は、検査電極対２１の電極が対向する導電パターン部分に対して欠陥を検出する補完電極対２２とで構成される。 - 特許庁

To provide an inspection method which performs defect inspection of a photomask, in particular, detects presence/absence of a disconnection without damaging the photomask while reducing a burden imposed on an operator.例文帳に追加

オペレータにかかる負担を軽減し、又フォトマスクをキズつけることなくフォトマスクの欠陥検査、特に断線の有無を検出する検査方法を提供する。 - 特許庁

A defect on the inspection object 6 is inspected based on a detection signal obtained by detecting the light having passed through the inspection object 6 by a monitor camera 8.例文帳に追加

検査対象物６を経た光をモニタカメラ８で検出して得られる検出信号に基づき、検査対象物６における欠陥を検査する。 - 特許庁

To provide a pattern inspection apparatus and pattern inspection method for detecting with high sensitivity line width defect that generates error of line width in pattern transferred on a wafer.例文帳に追加

ウエハに転写されたパターンに線幅の誤差が発生する線幅欠陥を高感度に検出するパターン検査装置及びパターン検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device for a display device that enable a defect of pixels to be detected based on a current flowing to only one pixel and consequently enable the resolution of an inspection waveform to be increased to realize highly accurate inspection.例文帳に追加

一つの画素にだけ流れる電流に基づいて画素の欠陥検査を可能とし、もって検査波形の分解能を高めて精度の高い検査を行うことのできる表示装置の検査方法及び検査装置を提供すること。 - 特許庁

This defect inspection device 1 conveys a substrate W aligned by a conveying part 2 to an end face inspection part 3, to be conveyed sequentially to the end face inspection part 3 and a plane inspection part 4, and inspects an end face, a surface and a reverse face.例文帳に追加

欠陥検査装置１は、搬送部２でアライメントした基板Ｗを端面検査部３に搬送させ、端面検査部３と平面検査部４に順番に搬送し、それぞれで端面検査、表面検査、裏面検査を行わせる。 - 特許庁

To allow visual inspection for a foreign matter and the like, in addition to pattern inspection, and to accurately inspect a defect mode as to a defect.例文帳に追加

本発明の課題は、パターン検査に加えて異物等の外観検査が可能で且つ欠陥がどのような欠陥モードなのかを正確に検査することができる金属箔パターンエッチング製品の欠陥検査方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide an inspection device of a motor coil that secures the insertion performance of the motor coil and insulation quality between the motor coils by automatically extracting the motor coil that has an insertion defect and a molding defect, and its inspection method.例文帳に追加

挿入不良あるいは成形不良のモータコイルを自動的に抽出し，モータコイルの挿入性およびモータコイル間の絶縁品質を確保するモータコイルの検査装置および検査方法を提供すること。 - 特許庁