「defect inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

In the case of a plurality of defect data, the defect map is displayed by searching for a similar defect on an image, performing trend display of the searched result, and specifying one searched result on the trend, and the defect on the defect map is specified, thus displaying the defect image in inspection.例文帳に追加

複数枚の欠陥データの場合には、画像上で類似の欠陥を検索、検索結果をトレンド表示すること、トレンド上の１枚を指定することでその欠陥マップを表示し、欠陥マップ上の欠陥を指定することで検査時の欠陥画像の表示を可能とする。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of precise inspection of defects independent of pitch of repeated pattern on a substrate.例文帳に追加

基板に形成された繰り返しパターンのピッチによらず高精度な欠陥検査が行える欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an appearance inspection device of an inspection device capable of determining presence/absence of a defect of an opening of a PET bottle with high accuracy.例文帳に追加

ペットボトルの開口部の欠陥の有無を高精度に判定することができる検査装置の外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic defect inspection device that uses a conveying device with a self-propelled conveyor for reducing inspection cost.例文帳に追加

検査費用のコストダウンを可能とする自走コンベア搬送方式の搬送装置を用いた自動欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To simplify the constitution of a surface defect inspection device for inspection by an interference phase measuring system and a scattered light detection system.例文帳に追加

干渉位相測定系及び散乱光検出系による検査を行う表面欠陥検査装置の構成を簡略化する。 - 特許庁

To accurately and quickly discriminate and detect a defect such as a flaw and a foreign matter, in inspection for an inspection object such as a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハ等被検査物の検査において、傷等の欠陥と異物とを正確かつ迅速に区別して検出する。 - 特許庁

To enable quantitative evaluation independent of intuition of a worker, great cost reduction required for inspection, and the inspection of a deep defect.例文帳に追加

作業者の勘に頼らない定量的な評価、検査に要するコストの大幅な削減、深い欠陥の検査を可能にする。 - 特許庁

Picture elements of an inspection area are divided into segments, a distribution of defect levels found in every of the segments is displayed on a monitor by a hue circle having 256 of gradations in response to the defect levels such as the defect level 0 : blue, defect level 128 : green, and defect level 255 : red.例文帳に追加

検査領域の画素をセグメントで分けて、各セグメント毎に求めた欠陥レベルの分布を、欠陥レベル０：青〜欠陥レベル１２８：緑〜欠陥レベル２５５：赤というように欠陥レベルに応じた256階調の色相環でモニタに表示される。 - 特許庁

To provide a surface defect inspecting device which secures an S/N ratio required for inspection of a surface defect by certainly removing diffracted light.例文帳に追加

回折光を確実に除去して表面欠陥の検査に必要なＳＮ比を確保できる表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To precisely set a parameter, such as defect detecting thresholds and defect detecting focus, in a short time, in detect inspection.例文帳に追加

欠陥検査において欠陥検出閾値及び欠陥検出フォーカス等のパラメータを高精度で且つ短時間に設定できるようにする。 - 特許庁

To provide a review apparatus and an inspection apparatus system for easily and visually recognizing a defect regardless of a type and a size of the defect.例文帳に追加

欠陥の種類やサイズにかかわらず、欠陥を容易に視認することのできるレビュー装置および検査装置システムを提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method capable of scanning the entire sample surface in a short time and detecting minute defect without causing thermal damage to the sample.例文帳に追加

試料全面を短時間で走査し，試料に熱ダメージを与えることなく微小な欠陥を検出することができるようにする。 - 特許庁

A control part 2 of the defect detector is provided with a reference mask generating part 200, an inspection mask generating part 201, and a defect detecting part 202.例文帳に追加

欠陥検出装置の制御部２に基準マスク生成部２００、検査マスク生成部２０１、欠陥検出部２０２を設ける。 - 特許庁

The defect detecting means 2 repeats the defect detection without inspecting the set non-inspected region, so that the inspection sensitivity can be increased.例文帳に追加

そして、欠陥検出手段２は、設定された非検査領域を検査せずに欠陥検出を繰り返すので、検査感度を高められる。 - 特許庁

To detect a defect in a groove part as a part of a manufacturing process by executing the inspection of the defect in the groove part at the stage of a film.例文帳に追加

溝部の欠陥検査をフィルムの段階で実行することにより、製造工程の一環として上記欠陥の検出を行う。 - 特許庁

To provide an inspection method of a display panel by which not only the existence of a display defect but also the cause of the display defect can be specified.例文帳に追加

表示不良の有無だけでなく、その表示不良の原因を特定することができる表示パネルの検査方法を提供する。 - 特許庁

A storage part 41 stores an image of a substrate in which a defect is detected by an automatic defect inspection device 2 and defect information showing the information related to the defect in association with a substrate ID identifying the substrate.例文帳に追加

記憶部４１は、自動欠陥検査装置２により欠陥の検出された基板の画像と、欠陥に係わる情報を示す欠陥情報とを、基板を識別する基板ＩＤと対応付けて記憶する。 - 特許庁

To provide a detection method of a crack defect which guarantes sure detection of a fine crack defect without omission, in penetrant inspection by an automatic penetrant inspection device.例文帳に追加

自動浸透探傷装置による浸透探傷検査において、微細な亀裂欠陥を漏れなく確実に検出することが保証できる亀裂欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device capable of accurately detecting defects of a mask, without being influenced by particulate matters, even if transparent particles are scattered on the surface of a photomask (mask).例文帳に追加

フォトマスク（マスク）の表面に透明粒子が散布されても、粒状物による影響なく、マスクの欠陥を正確に検出できる欠陥検査方法及び欠陥検査装置。 - 特許庁

Alternatively, a first detector for the defect detecting inspection and a second detector only for review for observing a specific narrow part detected by the defect detecting inspection are disposed.例文帳に追加

または欠陥検出検査の為の第１の検出器とこの欠陥検出検査により検出された特定の狭い部位を観察するレビュー専用の第２の検出器とを設ける。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device capable of surely detecting unevenness due to defects at a surface of an object regardless of pattern or gloss at the surface of the object.例文帳に追加

対象物の表面の模様やツヤによらず、対象物表面の欠陥による凹凸を確実に検出する欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface appearance inspection apparatus capable of surely detecting only a defect, even when both a density variation and the defect coexist on the surface of an inspection object.例文帳に追加

検査対象物の表面において濃淡ばらつきと欠陥とが混在する場合であっても、欠陥のみを確実に検出することができる表面外観検査装置を提供する。 - 特許庁

Alternatively, the device is provided with the first detector for the defect detecting inspection and the second detector exclusive for a review for observing the specified narrow portion detected by the defect detecting inspection.例文帳に追加

または欠陥検出検査の為の第１の検出器とこの欠陥検出検査により検出された特定の狭い部位を観察するレビュー専用の第２の検出器とを設ける。 - 特許庁

To provide a mask inspection method for performing rapid pattern inspection by suppressing detection of a pseudo defect included in a mask pattern and reliably detecting a real defect.例文帳に追加

マスクパターンに含まれる擬似欠陥の検出を抑制し、実欠陥を確実に検出しすることによって、迅速なパターン検査を行うことが出来るマスク検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection system which can, even when there is a luminance point defect at an alignment mark part, detect the bright point defect and a position detection system included in the inspection system.例文帳に追加

アライメントマーク部分に輝点欠陥があった場合でも、当該輝点欠陥を検出することができる検査装置および検査装置が備える位置検出装置を提供する。 - 特許庁

Consequently, the amount z of irradiation light which is optimal for inspection can be set and neither a detection omission of a pattern defect nor a dummy defect is caused to precisely perform the pattern inspection.例文帳に追加

これにより、最適な検査用照射光量ｚが設定できることになり、パターン欠陥の検出漏れや擬似欠陥も起きなくなって、精度よくパターン検査を行うことができる。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a method for manufacturing a semiconductor device for suppressing false detection due to color irregularity even when a wafer subjected to defect inspection has color irregularity on a surface thereof.例文帳に追加

欠陥検査を行うウエハ表面に色むらがある場合でも色むらによる虚報の検出を抑制できる欠陥検査方法及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To achieve high efficient defect inspection with a high defect capture rate in a surface defect inspection device for a wafer and the like by enabling detection of forward scattered light with high sensitivity and at the same time enabling detection of specularly reflected light with high sensitivity.例文帳に追加

ウエーハ等の表面欠陥検査装置において、前方散乱光を高感度で検出し、正反射光をも同時に高感度検出可能とすることで、欠陥捕捉率の高い高効率の欠陥検査を実現。 - 特許庁

When defect exists in a part contacting with the electrode means 5 for inspection, discharge is made in the defect part, whereby existence of a defect in the piezoelectric tube 3 which makes contact with the electrode means 5 for inspection can be specified.例文帳に追加

これによって、検査用電極手段５に接触する部分に欠陥が存在する場合、その欠陥部で放電するので、欠陥が検査用電極手段５に接触する部分の圧電体チューブ３に存在することを特定できる。 - 特許庁

The probe makes the ultrasonic waves expand and propagate radially inside the inspection object, whereby a defect inspection can be carried out by projecting the ultrasonic waves onto the defect S or the like existing inside the inspection object, even if the surface of the inspection object has irregularities or is made sloped.例文帳に追加

探触子は試験体内で超音波を放射状に拡大伝搬させるので、表面に凹凸や傾きが存在する試験体であってもその内部に存在する欠陥等Ｓへ超音波を照射し、その欠陥検査を行うことが可能である。 - 特許庁

To provide a pattern defect inspection device capable of detecting a defect with high inspection accuracy even when a pattern is formed with a transparent film on an object under inspection and the film thickness of the transparent film is varied according to the position on the object under inspection.例文帳に追加

被検査物体上に透明薄膜でパターンが形成されていて、その透明薄膜の膜厚が被検査物体上の位置によって変化している場合においても、高い検査精度で欠陥を検出できるパターン欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The results of an electricity inspection of a first inspection step and an optical inspection of a second inspection step are collated in a collation step and the critical defect 181 of electric shorting or disconnection is specified.例文帳に追加

第１検査工程の電気検査と第２検査工程の光学検査との結果を照合工程において照合し、電気的に短絡または断線している致命欠陥１８１を特定する。 - 特許庁

To provide an inspection method of high accuracy by correcting a scattering attenuation amount in an inspection by an ultrasonic inspection method for a defect which is generated in the jointed part of a metal pipe.例文帳に追加

金属管の接合部に生じる欠陥の超音波反射法による検査において、散乱減衰量の補正により精度の高い検査方法を提供すること。 - 特許庁

More specifically, in the inspection of the mask RM, it is possible to perform the defect inspection without performing a comparison inspection that requires a great amount of measuring time and advanced techniques.例文帳に追加

すなわち、マスクＲＭの検査において、多くの測定時間と高度な技術が要求される比較検査を行わないで、欠陥検査を行うことができる。 - 特許庁

It is thus possible to automate visual inspection of the wafer 2 to final defect classification, eliminate the need for inspection by visual observation (review), and substantially shortening the time required for inspection.例文帳に追加

このため、ウェハ２の外観検査を最終的な欠陥分類に至るまで自動化でき、目視検査（レビュー）が不要となり、検査時間を大幅に短縮できる。 - 特許庁

To provide a design method of filter, a filter, a defect inspection method and a defect inspection device capable of reducing the cost and tact time required for a defect inspection, and removing only moire fringes from an input image without losing the characteristic quantity of a defective part.例文帳に追加

欠陥検査に要するコストおよびタクトタイムの低減を図るとともに、欠陥部の特徴量を失うことなく、入力画像からモアレ縞だけを極力除去することが可能なフィルタの設計方法、フィルタ、欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method discovering early a VA pattern formation defective substrate by detecting a partial VA deficiency of VA having a line width of 5-10 μm, and improving a line production efficiency, and also to provide a defect inspection device to which the defect inspection method is adapted.例文帳に追加

線幅５μｍ〜１０μｍのＶＡの、部分ＶＡ欠損を検出することで、ＶＡパターン形成不良基板を早期に発見し、ラインの生産効率を向上させることが可能な欠陥検査方法、および、この欠陥検査方法を適応した欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device of a laminate, capable of detecting a defect of the laminate in a nondestructive/noncontact manner, regardless of the material of the laminate, and utilizable, for example, for deterioration diagnosis of for a solid oxide type fuel cell or process inspection at manufacturing.例文帳に追加

積層体の材質に左右されることなく、積層体の欠陥を非破壊・非接触で検出しることができ、例えば固体酸化物形燃料電池の劣化診断や、製造時の工程検査などに利用することができる積層体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a filter design method, a filter, a defect inspection method and a defect inspection device that can reduce cost and cycle time for defect inspection and remove only as many moire fringes as possible from an input image without losing a feature value of a defective portion.例文帳に追加

欠陥検査に要するコストおよびタクトタイムの低減を図るとともに、欠陥部の特徴量を失うことなく、入力画像からモアレ縞だけを極力除去することが可能なフィルタの設計方法、フィルタ、欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

A defect display device 4 reads the image and the defect information obtained by the automatic defect inspection device 2 from the storage part 41 on the basis of the substrate ID of a substrate to be visually inspected in a visual inspection device 3, and highlights a defect part with respect to the image.例文帳に追加

欠陥表示装置４は、目視検査装置３において目視検査を行う基板の基板ＩＤに基づいて自動欠陥検査装置２で取得された画像及び欠陥情報を記憶部４１から読み出して、画像に対して欠陥部分を強調表示する。 - 特許庁

The sorted final defect distributions and layer defect distributions obtained by each in-line inspection process 10a, 10e and 10f are compared, respectively, and the in-line inspection process 10e obtaining the layer defect distributions (such as 31b) similar to the final defect distributions (such as 26a) is specified.例文帳に追加

分類された最終欠陥分布と各インライン検査工程１０ａ、１０ｅ、１０ｆによって得られたレイヤ欠陥分布とをそれぞれ比較して、最終欠陥分布（例えば２６ａ）に対して類似するレイヤ欠陥分布（例えば３１ｂ）が得られたインライン検査工程１０ｅを特定する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus and a defect inspection method using it which accurately find the number of defects on inspected materials when quality of the inspected materials is determined based on defect information of the inspected materials respectively detected by a plurality of defect detectors and determine the quality of the inspected materials based on the number of the defects.例文帳に追加

複数の欠陥検出器がそれぞれ検出した被検査材の欠陥情報に基づいて、被検査材の合否判定を行う際、被検査材の欠陥数を正確に求めることができる欠陥検査装置およびそれを用いた欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a PTP packing machine capable of enhancing inspection precision, in particular, for a pocket part side, to enhance visual appearance quality of a PTP sheet, in defect inspection in a manufacturing process for the PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における不良検査に際し、特にポケット部側の検査精度の向上を図ることで、ＰＴＰシートの外観品質の向上を図ることができる不良検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

Since the defect inspection device 3 is disposed by utilizing the beam transmission part 15, the conveyance inspection device capable of performing defect inspection during conveyance in the noncontact state even when the conveyance object is a transparent material is provided.例文帳に追加

この光線透過部１５を利用して欠陥検査装置３が配設されていることにより、搬送対象物が透明材料であっても、非接触状態での搬送中に欠陥検査が行える搬送検査装置が提供される。 - 特許庁

To provide a mold release film preventing a foreign matter and a defect from getting difficult to be observed, when conducting visual inspection by a crossed Nicols method that is representative one for defect inspection of a polarizing plate, and attaining high inspection precision.例文帳に追加

偏光板の欠陥検査の代表的なひとつである、クロスニコル法による目視検査を行った際に、異物や欠陥等が見づらくなることがなく、高度な検査精度を実現することのできる離型フィルムを提供する。 - 特許庁